ケーブル放射ノイズ測定可視化システム『WM9520』

PRケーブルから放射されるノイズを特定しつつ周波数成分と強さを自動で可視化…

『WM9520』は、CISPR25に対応し、磁界プローブまたは電界プローブを使用して ケーブルから放射されるノイズを高精度で自動測定し、周波数成分とレベルの 強さをマップ表示機能により簡単に可視化することが可能なシステムです。 測定可能なケーブル長は2000mmで、プローブの位置決め精度は±1mmの メカニカルパフォーマンス。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【仕様(一部)】...

メーカー・取り扱い企業： 森田テック株式会社

パナメトリクス製 耐圧防爆型液体流量計 PanaFlow LC

PR石油・ガス・化学業界で、配管の外側から超音波で測定可能な流量計！耐候（…

耐候（IP６６）・耐圧防爆構造・本質安全防爆構造・SIL規格に対応の液体流量計です。 防爆エリア内に設置しハイドロカーボンや化学溶液などプラント内の様々な液体の流量を配管の外側から測定可能。 流量計本体前面部からマグネットスタイラスでタッチすることでカバーを開けずに、防爆地域でも安全に操作できます。 【トレンド情報】 ■業界で早期にSIL認証を取得したパナメトリクスの超音波流量計が、この度、クラ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

顕微鏡用ターゲット一覧

在庫販売で短納期！全品1個から販売

エドモンド・オプティクスは、高解像力顕微鏡用ターゲットを ディストーション評価用にご用意しています。 高解像力ターゲットは、高倍率顕微鏡システム用にデザインされ、 利便性のため標準的な顕微鏡用スライドガラスの寸法をベースに 作られています。 ターゲット用のパターンは、スライド内に物理的に固定されています。 ■詳細は下記リンクよりエドモンド・オプティクスの公式サイトにてご確認...

メーカー・取り扱い企業： エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社

200mm高精度手動プローブシステム『WL-210-LE』

正確な測定のためのローカルエンクロージャー付 Signatone社製プ…

当社では、ローカルエンクロージャー付きで、高い信頼性を誇る200mm高精度手動プローブシステム『WL-210-LE』を取り扱っております。 故障解析（FA）、RF及びmmWウェーハレベルの信頼性、デバイス特性評価など、様々なアプリケーションに対応。 ローカルエンクロージャーは低ノイズに加え、低静電容量の測定に 優れたEMIシールド及び遮光環境を提供する高性能環境チャンバーです。 【特長（例：...

メーカー・取り扱い企業： 東機通商株式会社

蛍光寿命イメージングシステム　MicroTime 200

高性能TCSPCモジュール搭載の高性能Fluorescence Mic…

【主な特長】 ○高性能TCSPCモジュールを搭載 ○Time-TaggedモードによるFLIM、FCS、FCCSなどの測定可能 ○Laser Scaning Microscopeへのアップグレードシステム化 →所有の顕微鏡に、光学系、ディテクター、TCSPCモジュールを組合わせにより実現可能。 蛍光寿命イメージングシステム　「MicroTime 200」は高性能TCSPC（Time ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

顕微分光システム『DF-1037』シリーズ

分光システムと顕微鏡システムを高い次元で融合！広帯域顕微分光測定を実現

『DF-1037』シリーズは、高性能な分光システムと高機能な顕微鏡システムを 高い次元で融合させた顕微分光システムです。 新設計コールドフィルターWECFの採用による広いスペクトル測定レンジ(約380～960nm)、 高解像度デジタル画像撮影、スペクトル解析ソフトウエアSCOUTを用いた 薄膜サンプルの膜厚・光学定数解析など、 高度なご要求にお答えする充実した機能が搭載されています。...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー

IRイメージングシステム『Spotlight 400』

イメージング測定とポイント測定を1台で可能！IRイメージングシステムの…

『Spotlight 400』は、低波数650cm^-1(透過・反射測定時)まで測定が できるIRイメージングシステムです。 ポイント測定・イメージ測定モードは、透過/反射/ATR。イメージングエリア を、100μm×100μm～50mm×50mmの領域で任意に設定できます。 また、多彩な表示形式でイメージデータは様々な表示方法によって可視化 できます。 【仕様(抜粋)】 ...

メーカー・取り扱い企業： PerkinElmer Japan合同会社

蛍光寿命測定装置・蛍光スペクトル測定装置

蛍光寿命測定装置を要望に合わせてカスタマイズ

当社オリジナルの蛍光寿命測定装置･蛍光スペクトル測定装置は、TCSPC : Time Correlated Single Photon Counting（時間相関単一光子計数法）を採用し、ナノ秒からマイクロ秒までの蛍光寿命測定が可能です。 高感度分光用CCD検出器や高性能分光器を組み合わせることで、PLスペクトル測定やPLE測定に対応。 また、ラマン測定などを組み合わせた複合化も対応可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

両面顕微鏡システム『TOMOS-50』

表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました

『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売もしております。 お問い合わせください。 【特長】 ■コンパクトタイプ ■約300万画...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フローベル

測定器、観察機器、試験機器

様々な測定器を駆使し、測定及び試験を行っております！

ハイライトでは、各種測定器を活用し測定及び試験を行っております。 測定及び試験できる寸法につきましては、 材質、形状により測定及び試験できないものもありますので、 詳細については当社までご連絡ください。 【測定器、観察機器、試験機器】 ■デジタルマイクロスコープ VHX-2000 ■エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-7000 ■原子吸光分析装置 アナリティクイエナジャ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイライト

多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM

アクティブ防振内蔵！ステージ交換だけで電気化学測定や環境制御などに対応…

『CoreAFM』は、高いパフォーマンスと、どのような測定にも対応する 拡張性を兼ね備えた多機能コンパクト原子間力顕微鏡です。 トップビューカメラにより測定対象への位置合わせを容易に行うことができ、 サイドビューカメラによりカンチレバーとサンプル間の距離を目視可能。 また、カンチレバーホルダーはAFMヘッドユニットから簡単に着脱可能で、 ホルダーだけを安全に清掃したり洗浄すること...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

原子間力顕微鏡（AFM）

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能…

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡（AFM）』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

顕微ラマン測定装置『EGR-100』

約25kgの小型軽量設計！免震機構、高性能小型グリーンレーザ搭載の顕微…

『EGR-100』は、コンパクトな顕微ラマン測定装置です。 免震機構、マイナス70℃以下まで冷却可能な電子冷却CCDを備え、 高性能小型532nmグリーンレーザを内蔵し、メカニカルインターロック 機構により安全性を確保しています。 大型顕微ラマン装置と同等のラマンスペクトルが得られる コストパフォーマンスの高い製品です。 【特長】 ■小型軽量・低価格で高性能 ■免震機構...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトサイエンス

小型･高精度ラマン分光器　EnSpectr Rシリーズ

携帯型プローブシステムの利点と研究用機器の性能を兼ね備えたユニークなラ…

【特長】 ・高感度、低ノイズ ・非接触・リアルタイム測定 ・持ち運び容易 ・簡単操作 ・SERSによる超低濃度の解析(オプション) 532nmと1064nmの2種類の励起モデルから選択可能。 マクロ測定の他、顕微鏡に取り付けて顕微ラマンに換装も可能。(オプション)...EnSpectr Rシリーズは、携帯型プローブシステムの利点と研究用機器の性能を兼ね備えたユニークなラマン分光装...

メーカー・取り扱い企業： MSHシステムズ株式会社

3D内菅検査計測システム

2D/3Dでの内菅の内部側面の状態を観察及び測定が可能な検査計測システ…

『3D内菅検査計測システム』は、フランスフェイスビュー社の光顕微鏡に 内視鏡光学ユニットを組込み、金属内部の側面の凹凸を計測及び検査する システムです。 精度は数ミクロンから(対物レンズによる)高精度に内菅の状態を 検査計測できます。 【特長】 ■2D/3Dでの内菅の内部側面の状態を観察及び測定が出来ます。 ■顕微鏡や光顕微鏡に内視鏡ユニットをマウントして側面の状況を 　検...

メーカー・取り扱い企業： ヴァーヴビジュアルソリューション株式会社

複合SEM-AFMシステム

表面とナノ構造を測定する機能！ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…

走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、既存のシステムを 簡単なドア交換で更新できます。 【特長】 ■SEM...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

一体型FT-IR顕微鏡LUMOSによる微小試料の分析

【無料プレゼント】誰もが使える優れた操作性。FT-IR顕微鏡の技術資料

各種工業製品に発生する不具合の原因特定において、異物や汚染物質の 同定は、非常に重要です。また、化学捜査の分野では、事故や事件の現場に 残された繊維や塗料等の断片に関する分析の結果が、重要な証拠となる 場合があります。 当社の新型顕微FT-IR「LUMOS」は、誰もが使える優れた操作性と、満足する 高い分光性能を併せ持ち、短時間で精度の高い分析結果を提供します。 当資料では「L...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

断層画像撮影システム【SS-OCT】

HIGH SPEED SWEPT SOURCE を用いたプローブ型OC…

自社設計製造で、ご要望に合った装置構成とソフトウェア開発により、ベストなシステムをご提供します。 【特長】 ■ 近赤外線を利用、Ｘ線による被ばくの心配無く、非接触で高速測定が可能 ■ 被ばく対策、線源管理や超音波用ジェル使用などの煩雑さが不要 ■ 計測可能深さ：5～10nm、分解能：4～13μm (深さ方向) ■ リアルタイム2D画像の観測で位置決め、シームレスに3D画像計測へ 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

Spotlight 150i/Spotlight 200i

透過・反射・ATR 測定を標準装備！CCD観察機能なども搭載した赤外顕…

『Spotlight 150i/Spotlight 200i』は、赤外顕微鏡システムです。 「Spotlight 150i」は、セミオートシステムで、透過、反射、ATRを測定。 「Spotlight 200i」は、フルオートシステムで、マッピング、ラインスキャン を行います。 光学系はトリプルカセグレン鏡で、可視光源は白色LEDとなっております。 【仕様(抜粋)】 ■光学系...

メーカー・取り扱い企業： PerkinElmer Japan合同会社

顕微鏡デジタルカメラシステム『image X Earth』

ファストモード搭載！使いやすさと高機能を追求した顕微鏡デジタルカメラシ…

『image X Earth』は、圧倒的な指示を得た自動エッジ検出機能が、 ライブ映像上でも使用可能な顕微鏡デジタルカメラシステムです。 500万画素「USB3」カメラを新たにラインアップ。 検鏡像の「測れる化」と「見える化」をより強力にサポートします。 【特長】 ■より高精細な測定・解析処理なら1000万画素タイプ ■高速転送なら25fpsの130万画素タイプ ■両者を...

メーカー・取り扱い企業： 菊池光学株式会社

両面位置確認顕微鏡　DVM－400NEW

被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせズレ量を比較観察し、メ…

被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせ、そのズレ量を比較観察し、 メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡です。 対物レンズは観察倍率50倍から1000倍まで5種類で多種多様な試料に対応できます。 NIR可視/赤外透過タイプ。 カメラ位置合成装置もあります。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...【特徴】 ○被検物の像を重ね合わせて観察できズレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイティ・テック

ウエハチップ自動搬送・自動撮影システム『YATシリーズ』

顕微鏡メーカーを問わず搬送可能！

『YATシリーズ』は、顕微鏡メーカーを問わず、検査側に ウエハ・ガラス関連製品を自動搬送・自動撮影できるシステムです。 自動ステージとの組合せでフルオート搬送でき、マニュアル搬送モード 単体機としても搬送可能です。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【特長】 ■専用ソフトウエアによるカセット単位での完全自動搬送 ■搬送側での測定ウエハの選択・マニュアル搬送可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヤマトハンズ

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

断層画像撮影システム【SD-OCT】

生体組織の観察や工業材料評価などに適した高解像度OCTシステム

OCTシリーズの中間的性能を持つSD-OCT、低価格でコンパクト、フルシステムから組み込み型のサブシステム、ユーザー独自の設計でＯＥＭ供給も可能です。 卓上に設置可能な顕微鏡モデル、計測位置が自由なハンディプローブモデルがあり目的に合わせて選択できます。 既設の顕微鏡へのadd onのご相談も受付ます。 【特長】 ■ 目視確認が困難な異物、キズなど、簡単に断層画像が撮像できます...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

【AFM・SPM用】校正用グレーティング

各種SPMシステムの校正やSPMプローブの評価。測定の標準サンプルとし…

AFM・SPM校正用の基準サンプルです。御用途に合わせて最適なものを選択できます。 ・X軸、Y軸、Z軸較正 ・ノンリニアリティ検出 ・横方向、垂直方向のノンリニアリティの検出 ・角変形の検出 ・tip 形状のパラメーター（アスペクト比、曲率半径）、tipの劣化、コンタミネーションコントロールの決定。 ・ヒステリシス、クリープ、クロスカップリング効果の検出 ・tip特性 ・スキャニン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

『SPR顕微鏡』

分子間相互作用解析と明視野イメージングの融合システム！

『SPR顕微鏡』は、表面プラズモン共鳴（SPR）を利用した分子間相互作用の解析と、 明視野でのイメージングを同時に実施する革新的なシステムです。 in vitro環境下ラベルフリーで細胞上の膜タンパク質の結合活性および細胞動態を 計測するシステムとしてデザインされています。 そのため、結合活性の分布（SPR二次元マッピング画像）と細胞構造（明視野画像）を 同時に取得でき、細胞レベ...

メーカー・取り扱い企業： キコーテック株式会社

LL Tech社製【FF-OCTシステム Light-CT】

非破壊・前処理なしで試料内部の3D断層画像を撮影！顕微鏡に匹敵する超高…

『FF-OCTシステム Light-CT』はマイケルソン干渉計で構成されたFF-OCTで、非接触・非破壊・前処理なしで試料内部の断層画像を撮影できるOCT断層画像撮影システムです。生体組織検査や術中の迅速病理診断に活躍します。また、皮膚学・再生医学・発生学・植物学等の研究で細胞レベルのイメージングが行えます。 【特長】 ■ 超高分解能: 縦方向1μm、横方向1.5μm ■ 1cm2を5分...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPar...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

サブミクロンフィードバックステージコントローラ　FC-111

100nm分解能で位置決め！リニアエンコーダによる位置フィードバックで…

フルクローズドループ）制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 そのため、再現性が必要な精密検査や研究等で使用されています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

10nmフィードバックステージコントローラ　FC-511

10nm分解能で位置決め制御！検査や研究の再現性向上に！

されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック（フルクローズドループ）制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

WITec alpha300シリーズ

妥協のない速度、感度、解像度を実現したモジュール型共焦点ラマン顕微鏡シ…

『WITec alpha300シリーズ』は、FMや高分解能ラマン測定に対応 することが可能なモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システムです。 レーザー波長をUVからNIRまで選択可能な｢alpha300 R｣や、 高品質で超精密な光学部品の｢alpha300 access｣などをご用意。 お客様の個々の要件に合わせて各システムを構成できるため 将来の研究課題に応じたフレキシビリティを...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

200mm手動プローブシステム『WL-170-THZ』

業界も認める高い信頼性で様々な測定アプリケーションに対応 Signat…

当社では、広く強化したプラテンで「大面積ポジショナー」を搭載したSignatone社製200mm手動プローブシステム『WL-170-THZ』を取り扱っております。 RF /mmW、DC、IV-CV、ハイパワーテスト試験計測が可能です。 多種の差動／広帯域、周波数エクステンダー、自動インピーダンスチューナーに対応。エクステンダー/チューナーのロバスト設計とシームレスな統合で様々な測定アプリケーショ...

メーカー・取り扱い企業： 東機通商株式会社

鑑識分析装置『ffTA/GRIM3 ガラス微細片屈折率測定装置』

確かな技術！システムアップが可能なガラス微細片屈折率測定装置

『ffTA/GRIM3』は、ガラス屈折率測定以外にも、顕微分光分析装置、顕微 ラマン分析装置にシステムアップをすることが可能な、ガラス微細片屈折率 測定装置です。 警察での犯罪鑑識、入国管理局での検査、金券、証券などのセキュリティー 印刷、保険調査、図書館、資料検査などの分野においての検査で威力を発揮。 確かな技術と長年の豊富な経験によるサポート、サービスで、安心してお使い い...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社セントラル科学貿易

10nmフィードバックステージコントローラ　FC-514

10nm分解能で位置決め。スローダウン機能搭載

スローダウンセンサが搭載されており、高速にロングストロークを高分解能に位置決めすることができるため、測定データの範囲が広くすることができます。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

マイセック　ダイジェストカタログ　2021＜画像関係＞

光学燃焼解析システムやマイクロスコープなどを掲載！画像関係製品を豊富に…

当カタログは、マイセックが取り扱う、画像関係の製品を ダイジェストカタログから内容を一部抜粋してご紹介しています。 高性能CMOSカメラによる高画質な検査画像により、熟練度に依存しない 判断が可能なポータブルビデオスコープ「VTecXシリーズ」をはじめ、 レーザー顕微鏡専用レンズを搭載した3D測定レーザー顕微鏡「OLS5100」 などを多数ラインアップ。 この他にも、「組合せ曲...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マイセック

サブミクロンフィードバックステージコントローラ　FC-414

50nm分解能で位置決め！ロングステージ向けコントローラ

とORGセンサの信号入力に対応しています。 ロングスケールサブミクロンフィードバックステージを使用する場合にはこのコントローラを使用します。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

サブミクロンフィードバックステージコントローラ　FC-114

100nm分解能で位置決め！ロングステージ向けコントローラ

とORGセンサの信号入力に対応しています。 ロングスケールサブミクロンフィードバックステージを使用する場合にはこのコントローラを使用します。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

サブミクロンフィードバックステージコントローラ　FC-411

50nm分解能で位置決め！フィードバック制御で再現性に優れ、検査効率向…

されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック（フルクローズドループ）制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社