【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

PRmm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社新興製作所

デジタル顕微鏡・工業用内視鏡　※2024年版総合カタログ無料進呈

PR様々な現場で活用されているデジタル顕微鏡と工業内視鏡の最新ラインアップ…

当社は、デジタル顕微鏡や工業内視鏡の専門企業として、さまざまな状況に対応できる製品をラインアップしております。 今回はその最新の製品のリスト・スペックから導入業界のご紹介などを掲載した総合カタログを公開！ 製品詳細や比較表をご確認いただき、貴社のニーズに最適な選択をお手伝いさせていただきます。 もちろん、製品についてご不明な点は専門のスタッフが直接お伺いいたしますので、ご気軽にお問い合わせくださ...

メーカー・取り扱い企業： スリーアールソリューション株式会社

液晶パネルの不良解析

点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。 【解析例】 ■良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性⽐較 ・砲弾型LEDのレンズ部を研磨にて平坦化し、輝度比較を行ったところ、 　ダークエリ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

非破壊解析技術　C-SAM（2D～3D）

2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

非破壊解析技術である「C-SAM（2D～3D）」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

フトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

海外製 液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

不良解析サービス

多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介

■外観検査、断面検査、X線検査、SEM（走査型電子顕微鏡）解析 ■EDX（エネルギー分散型X線分析装置）による元素解析 ■FTIR(フーリエ変換赤外分光法)　　　　　　　等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

角型Liイオン電池の構造解析

光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察！詳細な構造の解析や元素…

市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹…

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【テクニカルレポート】金属の破面解析

マイクロスコープやFE-SEMにて破面解析を行うことで、破壊現象の推定…

機械部品として使用される金属材料は、使用方法や使用環境によって 壊れてしまう事があります。 マイクロスコープやFE-SEM（電界放出型走査電子顕微鏡）にて破面解析を 行うことで、破壊現象の推定を行うことができます。 当資料では、SNCM420（ニッケルクロムモリブデン鋼）が使用されている ピニオンシャフトで発生した折損についての解析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アサヒテクノリサーチ