• ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    印加ピンの接触確認機能により確実に印加!直接チャージ法と電界誘導法にも…

    界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-0...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(HBM・MM)試験受託サービス

    DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

    Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 高温ラッチアップ試験 製品画像

    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    (最大使用周囲温度)の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDEC(JESD78E) ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大使用周囲温度 ■JEITA{JEITA ED4701/302(試験方法306B)} ・...

    • 高温ラッチアップ1.png
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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD/Lu・CDM・GL試験 製品画像

    ESD/Lu・CDM・GL試験

    熊本事業所にて承っております

    ESD・ラッチアップ試験 【適合規格】  ◇JEDEC/JEITA/AEC/ESDA/MIL 【装置仕様】 ◇最大使用可能ピン:256ピン ◇ESD(MM・HBM):±4000V ◇LU 用電源:4電源仕様(各±30V)  ◇恒温槽   ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

  • 急速温度変化チャンバーを使った温度サイクル試験(温度勾配制御) 製品画像

    急速温度変化チャンバーを使った温度サイクル試験(温度勾配制御)

    勾配制御可能な温度サイクル槽で車載向け試験で使用できます

    JEDEC規格(JESD22-A104)に準拠した 温度サイクル試験が可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

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