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16件 - メーカー・取り扱い企業
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明か...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESD…
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC に対し ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） の両方に対応します...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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NAND FlashとControllerを1パッケージ化した、JED…
Super Talent eMMC製品は、JEDEC eMMC 5.1規格に準拠しています。 eMMCは、スマートフォン、タブレット、PDA、電子ブックリーダー、デジタルカメラ、レコーダー、MP3、MP4プレーヤー、電子学習製品、デジタルテレビ...
メーカー・取り扱い企業： Super Talent Technology, Inc. Ｓｕｐｅｒ Ｔａｌｅｎｔ Ｊａｐａｎ Ｏｆｆｉｃｅ
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車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現！3D/2D寸法検査で高精度欠…
3×3～30×30mm ・QFP、SOP：5×5～35×35mm ・QFN：3×3～12×12mm ■対象ボール径/ボールピッチ：Φ0.15mm以上/0.3mmピッチ以上 ■対象トレイ：JEDEC、JEITAトレイ ■検査項目 ＜BGA/CSP＞ ・浮き・端子高さ・スタンドオフ・反り・全高・端子中心位置・端子径 全長/全幅・パッケージ中心ズレ・パッケージ端・位置度A・端子ピッチ...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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品質総合管理が更に高速化！計測アルゴリズムの充実により、幅広い基板の検…
【その他の特長】 ■標準ライブラリーの充実(JEDEC 規格部品用ライブラリの拡張等)により検査準備設定時間の更なる短縮 ■従来の他社製品では正しく製作された電子基板とのパターン比較により合否判定をしているが、 独自の画像計測解析ソフトにより...
メーカー・取り扱い企業： 協立電機株式会社
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検査自動化により、目視検査レスを実現！イメージセンサの全６面微細欠陥検…
【主要諸元】 ■対象デバイス：CMOSイメージセンサ/CCDイメージセンサ（3×3～40×40mm） ■対象端子：DIP，QFP，SOP，LCC，LGA，PGA ■対象トレイ：JEDECトレイ（薄型、厚型） ■サイクルタイム：2sec／pcs 【検査項目】 ■寸法検査 ・端子浮き・スタンドオフ・端子曲り・端子中心位置・端子ピッチ・全長／全幅・端子径・パッケージ中心...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1
高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。 【検出欠陥モード】 異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良 等 〇その他特徴 ・JEDECトレイ対応 ・多彩なオプションラインナップ 側面検査機能、テーピング収納機能、異物除去機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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省スペースで検査の自動化を実現！高精度2次元＆3次元寸法計測が可能な検…
【仕様】 ■対象トレイ：JEDECトレイ ■装置サイズ：1,230（W）×1,235（D）×1,500（H）mm ■装置重量：約900kg ■処理能力：1,000uph（3.6sec／個） ■供給電源：三相AC200V±...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』
余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能！ 基本機能に特化し、省スペース…
【仕様】 ■対象トレイ：JEDECトレイ ■装置サイズ：1,310（W）×1,660（D）×1,670（H）mm ■装置重量：約900kg ■処理能力：1,200uph（3.0sec／個） ■供給電源：三相AC200V±...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…
■高度加速寿命試験 5台 ■冷熱衝撃試験 24台 ■恒温恒湿試験 22台 ■液槽冷熱衝撃試験 3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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FC-BGA基板向け/外観検査装置『BBMaster 9000』
トレイ上の個片基板の自動振り分け機能付き！FC-BGA専用装置
『BBMaster9000』は、JEDEC規格のトレイ搬送が可能な FC-BGA専用の基板外観検査装置です。 トレイ上の個片基板の自動振り分け機能を搭載しており、 振分時は独自ノウハウでタイムロスを最小限にすることが可能。 ...
メーカー・取り扱い企業： クラボウ（倉敷紡績株式会社）
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対流加熱モードや、強力ヒータ搭載！優れた温度均一性を実現します
してコントロール可能なヒーターを使用し、 優れた温度均一性を実現。 高速加熱ヒーター&対流加熱モードのほか、微細解析のための 超高解像度カメラを搭載しております。 【特長】 ■JEDEC/JEITA/IPC規格基準 ■幅広いアプリケーションに対応 ■高速加熱ヒーター&対流加熱モード ■微細解析のための超高解像度カメラ ■自動レンズ切り替え機能(キャリブレーション不要) ...
メーカー・取り扱い企業： 明治電機工業株式会社
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ダイシングウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リー…
どを検査し、良品、不良品を判定し、移し替えることが可能です。 【特長】 ● ８”、１２”、切り込みウェハー/フィルムフレー（WLCSP,BGA,eWLB、QFNなど） ● テーピング、JEDEC/ワッフルトレー対応 ● スループット：20,000 pph ● 検査項目 ・ダイ/半田ボール/バンプのコプラナリティ検査 ・5面検査 ・ダイサイズ ・切込ラインエッジ検査 ...
メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
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“全数検査”が実現します！1枚トレイ供給タイプの三次元・二次元外観検査…
【対象物】 ■ボール径：0.25〜0.76mm ■ピッチ：0.4mm〜 ■PGK外形：3〜55mm ■PGK厚さ：最大5mm ■対象トレイ：JEDEC ■トレイ供給数：1枚 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 新光エンジニアリング株式会社
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半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気…
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ダイシング後のウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/…
置になります。 可視光と赤外光の検査が可能です。 【特長】 ● ８”、１２”、切り込みウェハー/フィルムフレーム（WLCSP,BGA,eWLB、QFN、COGなど） ● テーピング、JEDEC/キャニスタ対応 ● スループット：40,000 pph ● 検査項目 ・ダイ/半田ボール/バンプのコプラナリティ検査 ・バンプ欠陥検出 ・IR、赤外線外観検査 ・5面検査 ...
メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
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