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27件 - メーカー・取り扱い企業
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PRシングルチャンバーで各種洗浄からスピン乾燥まで完結。省スペース設計で研…
『1チャンバー型薬液スピン・スクラブ洗浄機』は、 高圧スプレーや超音波スプレー、薬液等の非接触洗浄、 ブラシ等の接触洗浄など、様々な組み合わせが可能な洗浄機です。 1つのチャンバーで洗浄からスピン乾燥まで完結し、 省スペース設計のため、設置スペースとコストの削減に貢献します。 各種装置構成、薬液構成、目的とする洗浄性能やご予算など、 ニーズに応じて最適な装置構成をご提案可能です...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ゼビオス(XEVIOS CORP.,)
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PR【低温焼結・高密度化】焼結用材料に好適!超微粒α-SiCパウダー
当社独自のSiC(炭化ケイ素)微細化技術を活かしたα-SiCパウダー『GC#40000』をご提供 『Dv50(中心粒径):0.25μm』の超微粒SiCによる、優れた焼結性を示します (GC#40000を焼結体原料に使用により期待されるメリット) ・低温焼成:CO2削減、ランニングコスト低減 ・緻密化 :成形体強度の向上、ポアの抑制 ※プレス成型や金型における流動性が必要な場合、球状SiC造...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジミインコーポレーテッド
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配線の手間なし!ワークのヒートアップにも対応可能!
○配線付替え時間をなくしたい ○新開発のデバイスも即測定したい ○再現性のある条件で測定したい すべて解決できる測定治具ございます。 ○デバイスのサイズ変更に対応できる治具が良い ○電流値の変更に対応できる治具が良い ○高温環境下で使用できる治具が必要 ○デバイスをヒートアップしながら測定したい などのご希望を遠慮なくご連絡ください。 詳しくはホームページからお問い合わせ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンケイエンジニアリング 本社
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周期加熱サーモリフレクタンス法の原理や、測定装置について解説しておりま…
当資料では、サーマルマイクロスコープの原理と装置構成について 説明しております。 本装置を原理から理解したい方にお勧めの技術資料です。 傾斜機能材料の測定例や、SiCセラミックスの測定例といった事例も 掲載しております。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■周期加熱サーモリフレクタンス法の原理 ■測定装置 ■測定事例 ■まとめ ■参考文献 ※詳...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル 精密金型・金属加工事業
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使いやすさ、それはSICの基本設計思想です!
システム インスツルメンツ社より「μ7 Data Station」のご案内です。 SIC μ7 Data Stationは、手の平サイズのADCモジュールと独自のソフトウェアを市販のパーソナルコンピューター(OS:Windows)に接続する事により、高性能、マルチジョブ機能を備えた新...
メーカー・取り扱い企業: システムインスツルメンツ株式会社
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厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』
ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応
『CHRocodile 2DWシリーズ』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。ドープウエハ測定にも対応でき、インラインでも適用可能で、多くのお客様へ実績があります。サファイア、Si、SiC等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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2000A対応の積層プローブ製作実績あり!大電流・高温下への対応につい…
タクトしますので、熱によるバネ性の劣化に強いです。 絶縁フィルム(ポリイミド)も300℃クラスの常用耐熱性及び 長期耐熱性を有します。 高温下の測定環境においても対応できるため、 SIC含むパワー半導体へのコンタクトが可能です。 【特長】 ■板バネ特長を利用 ■熱によるバネ性の劣化に強い ■高温下の測定環境においても対応 ■SIC含むパワー半導体へのコンタクトが可能...
メーカー・取り扱い企業: インクス株式会社
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1730種類以上の組み合わせを誇るセミオーダーメイドのUVセンサ
高いカスタム性と短納期のお届けでお客様のニーズにお応えします。 ・最少1個~の少量生産にも対応 ・UV照射に対する高い耐性 → 長寿命...ドイツのUVセンサ専門メーカー、sglux社のユニークなセンサプローブです。 13種類のハウジング、6種類の測定波長帯、9種類の感度、4種類の出力形式からご用途に合った物をお選びいただけます。 一定のラインナップの中から選択するセミオーダー...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
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測定をより迅速・簡単・精密にします
○配線付替え時間をなくしたい ○新開発のデバイスも即測定したい ○再現性のある条件で測定したい すべて解決できる測定治具ございます。 ○デバイスのサイズ変更に対応できる治具が良い ○電流値の変更に対応できる治具が良い ○高温環境下で使用できる治具が必要 ○デバイスをヒートアップしながら測定したい などのご希望を遠慮なくご連絡ください。 詳しくはホームページからお問い合わせ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンケイエンジニアリング 本社
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400点の測定電極により、電流検出型の電気化学測定が可能!使いやすさに…
『JEC-200』は、東北大学マイクロシステム融合研究開発拠点(μSIC)にて 開発された「バイオLSIチップ(第二世代LSI測定チップ)」を動作させるための 専用小型電気化学測定装置です。 USBケーブルにより接続したPCの操作により、測定チップ作用極への...
メーカー・取り扱い企業: 日本航空電子工業株式会社
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最大ピーク電圧15kV、電流8000A! パワーデバイスの特性測定に最…
「CS-12800」「CS-15800」 は最大ピーク電圧15kVおよび最大ピーク電流8000Aを実現し、高耐圧の測定をカバーする半導体カーブトレーサです。 超大電流を必要とする高速鉄道用インバータや大規模太陽熱発電、風力発電などの大容量パ―ワ―コンディションに使用する IGBT や MOSFET、SiC、GaN を用いた最新パワー半導体などの特性評価に大きく貢献します。 【特徴】 ...
メーカー・取り扱い企業: 岩崎通信機株式会社
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多機能かつ使い易く!短時間で正確に測定ができる装置!
『MODEL EOS-3』は、鋳物砂の熱膨張量を短時間で精確に測定する装置 です。 改良に改良を重ね、さらに多機能に、かつコンパクトなボディになり、 操作も簡単で、熱膨張測定のご要望にお応えします。 その関連機器とともに飛躍的な進歩をとげ、熱膨張計のイメージを一新 しました。 【特長】 ■熱膨張ピーク値をデジタル表示 ■耐久性、耐衝撃性の向上 ■短時間でテストピースの...
メーカー・取り扱い企業: オザワ科学株式会社
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岩通計測機社製 IGBTやMOSFET・トランジスタ・ダイオードなど各…
CS-10000シリーズは、最大ピーク電圧10kV、最大ピーク電流8000Aを実現(CS-10800)、高速鉄道などで使われるパワーデバイスも含め、あらゆるパワーデバイスの測定をカバーします。 CS-5000シリーズは、最大ピーク電圧5kV、最大ピーク電流1000Aを実現(CS-5300)、耐圧3300Vのデバイスのブレークダウン特性の測定など、より高耐圧のパワーデバイスの測定をカバーします。 ま...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社マックシステムズ
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容量性カップリングによる不必要な電圧障害を減衰!的確な電流の測定が可能
『CWT Mini50HF』は、静電シールドがコイルに内蔵されており、電圧の 干渉を抑える事ができる測定器です。 当製品をお使い頂ければ、電流測定の際に一部の電圧源からの 容量性カップリングによる不必要な電圧障害を減衰させる事が可能。 結果的にノイズに影響を受けにくく、的確な電流の測定が可能となります。 また測定可能な立ち上がり時間は10~50nsとなり、HF周波数特性が (-...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社トランシー
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測定精度に優れ、操作容易、低価格を実現した熱伝導率測定システム
『LFA500型』は、リンザイス社製のライトフラッシュ方式 熱拡散率/熱伝導率/比熱測定装置です。 温度測定、パルスエネルギー、熱伝導率範囲等の仕様が向上しました。 また測定精度に優れ、操作容易、低価格を実現。 そして各種サンプルサイズのオートランプラーホルダーが用意された 応用性の高いシステムです。 【特長】 ■赤外加熱炉により高速昇降温プログラムと高安定性 ■ビジ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本サーマル・コンサルティング
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IR反射率測定ヘッドを使用可能!高スループットのエピ膜厚測定を実現した…
『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装置の稼働時間を向上してメンテナンスの必要性を減らします。 【特長】 ■ウェハーサイズ:4~12インチ ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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広い範囲の微小な高さの変化を測定可能な表面形状検査機!極めて振動に強く…
『CSM&CSYSシリーズ』は、広い測定範囲を超高感度で速く測定が可能な レーザ走査表面形状検査機です。特許技術の「レーザ表面形状検査機」で、半導体ウエハ(Si,SiC,GaN,etc.)、MEMS、ハードディスク、FPD用機能性フイルム、スパッタ薄膜などの「表面形状」「粗さ」「うねり」「パーティクル」「キズ欠陥」を高感度で、早く、広い範囲を検査して「デジタルデータ」と「3D画像データ」を表示し...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社コアシステム
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