資料『次世代半導体の今を説く～SiC・GaN解説～』【進呈中！】

PR次世代半導体SiC・GaNの新情報がここに！

エネルギーの効率的な利用と環境への配慮が今後ますます重要となる中で 従来のシリコン半導体よりも優れた特性を持つ次世代半導体が大きな注目を浴びています。 その中でSiC(シリコンカーバイト)・GaN(窒化ガリウム)の特徴や課題を解説しております。 次世代半導体に触れ、未来の製品開発のヒントとなれば幸いです。ぜひご活用ください。 技術革命の先駆けとなる情報が今すぐあなたの手に。お見逃しなく！ ...

メーカー・取り扱い企業： ジェルグループ【株式会社ジェルシステム／株式会社ナカ アンド カンパニー】

【カタログ進呈！】高性能オシロスコープ　PicoScope

PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 ３ GHｚ ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8－12ビット ・メモリ４GS ・アナロ...

メーカー・取り扱い企業： Pico Technology Ltd.

ウェーハ表面パーティクルスキャナ ＹＰＩ－ＭＸーＤＣ

次世代パワー半導体ウェーハSiC/GaN用パーティクル検査装置

ノンパターンSiCバルクウェーハ　0.1μm検出。 微小スクラッチ検出。 SiCやGaNウェーハの洗浄確認に最適です。 自動搬送とマニュアル搬送が選択できます。 顕微鏡観察機能で測定後のレビューができます。...検出感度：0.1μm （SiCバルク、ベアシリコン） レーザ波長：355nm ウェーハサイズ：8インチ以下 外観寸法：(W)1530 x (D)1200 x (H)1900m...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山梨技術工房

評価ボード『EVAL-1ED3251MC12H』

スイッチングデバイスにおける寄生ターンオンを回避！2段階のスルーレート…

『EVAL-1ED3251MC12H』は、ハーフブリッジ回路のスイッチ駆動に アクティブミラークランプ機能と2段階のスルーレートコントロール機能を 搭載したゲートドライバーICを採用した評価ボードです。 スルーレート制御を使ったスイッチング方式の評価を行う事ができ、 スイッチの種類は自由に選択可能。 ゲートドライバーICを追加することで、高電圧側からロジック制御部へ 超高速の過...

メーカー・取り扱い企業： インフィニオン テクノロジーズ ジャパン　株式会社

パワーデバイス『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚、または12枚のウエハーの同…

『wafer level burn-in』は、GaN、SiCデバイスをウェーハでバーンインでき、パワーモジュールの検査ロースを大幅にカットできる設備です。 最大6枚、または12枚のウエハーの同時バーンインに対応できます。 また、治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能。完全なハードウェアで 各回路を保護します。 【特長】 ■GaN、SiCウェーハのバーンインに好適 ■治具ご...

メーカー・取り扱い企業： Semi Next株式会社

各種デバイス、素子向け『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚、または12枚のウエハーの同…

『wafer level burn-in』は、Si、GaN、SiC、セラミック等のデバイスをウェーハでバーンインでき、デバイスのバーイン効率を大幅アップ！ 最大6枚、または12枚のウエハーの同時バーンインに対応できます。 また、治具ごとに独立でburn-in条件設定が可能。完全なハードウェアで 各回路を保護します。 【特長】 ■Si、GaN、SiC、セラミック等のウェーハのバーン...

メーカー・取り扱い企業： Semi Next株式会社

マニュアル型透明基盤検査装置

ニーズにお応えする基板異物検査装置

「マニュアル型透明基盤検査装置」はYGK（山梨技術工房）製の、ワーク設置 マニュアル形式ガラス基板表面検査装置／サファイア表面検査装置です。 小型、安価でありシリコンウエハ、ガラス基板の異物測定が可能で、これまで 難しかったガラス基板の表裏分離測定やSiC表面の潜傷の検出を可能にしました。 また、お客様のシリコンウェハ／ガラス基板等、製品サンプル及び製品を お預りし、YPIシリー...

メーカー・取り扱い企業： ファーストゲート株式会社 本社、大阪オフィス、笹目倉庫

半導体プローブ評価装置

コンパクトでありながら、作業性を向上！電気計測･光学測定可能な装置をご…

当社が取り扱う『半導体プローブ評価装置』をご紹介します。 「有機半導体・EL評価装置」は、高真空から大気圧雰囲気でコンタクト プローブさせた基板を加熱しながら、電気計測･光学測定をすることが可能。 他に、SiC等のパワーデバイスを対象とした「高真空高温プローブ装置」や 「環境制御評価試験装置」もございます。 【ラインアップ】 ■有機半導体・EL評価装置 ■高真空高温プロー...

メーカー・取り扱い企業： ケニックス株式会社

評価ボード『EVAL-1ED3890MX12M』

I2Cバスを使用し、パラメータ調整、状態監視、フォールトフィードバック…

『EVAL-1ED3890MX12M』は、ゲートドライバーICを2つ搭載したハーフブリッジ構成で、 Si MOSFETやIGBT、SiC MOSFETなどのパワースイッチを駆動します。 スイッチの種類は自由に選択可能。ボードサイズは、電源スイッチを 取り付けていない状態で85×85×15mmです。 また、マイコンを搭載した評価ボードEVAL-1ED38×0DCTと併せてご使用頂くこ...

メーカー・取り扱い企業： インフィニオン テクノロジーズ ジャパン　株式会社

【RECOM社】評価ボードとリファレンスデザイン

RECOM社が提案する評価ボードとリファレンスデザイン

RECOM社はお客様に幅広い選択肢を提供し、お客様の設計と 作業を迅速に進められるサポートアイテムとして評価ボードや リファレンスデザインの提供をしております。 対象となるアプリケーションは低消費電力IoTアプリケーション、 ハイパワーIGBT、第一及び第二世代SiC MOSFET、GaN MOSFET等 多岐に渡ります。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社理経

評価ボード『EVAL-PSIR2085』

対応するEiceDRIVER絶縁型ゲートドライバ評価ボードとの併用でプ…

『EVAL-PSIR2085』は、EVAL-1ED3122MX12HなどのEiceDRIVER絶縁型ゲート ドライバ評価ボードに電源を供給するために開発された標準の電源ボードです。 MOSFET、IGBT、SiC MOSFETなどのパワー半導体が搭載されている様々な 評価ボードに対応。 産業用モータドライブをはじめ、業務用空調機器やEV充電、蓄電システム等の アプリケーションにお...

メーカー・取り扱い企業： インフィニオン テクノロジーズ ジャパン　株式会社

アイソレートゲートドライバー評価ボードEVAL-PSIR2085

使いやすい電源ボード、2つの絶縁された電源！プラグ＆プレイで使用可能

『EVAL-PSIR2085』は、EVAL-1ED3122MX12HなどのEiceDRIVER 絶縁型ゲートドライバ評価ボードに電源を供給するために 開発された標準の電源ボードです。 MOSFET,IGBT,SiC MOSFETなどのパワー半導体が搭載されている 様々なEiceDRIVER絶縁型ゲートドライバ評価ボードに対応します。 【特長】 ■2つの絶縁された電源 ■ゲート...

メーカー・取り扱い企業： インフィニオン テクノロジーズ ジャパン　株式会社

ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』

透明ウェーハも高速検査！高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出！

『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出！ ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます！ 【その他の特長】 ■高スループット（1カセット25枚を、約40分で検査） ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装

レーザ走査表面形状検査機『CSM＆CSYSシリーズ』

広い範囲の微小な高さの変化を測定可能な表面形状検査機！極めて振動に強く…

『CSM＆CSYSシリーズ』は、広い測定範囲を超高感度で速く測定が可能な レーザ走査表面形状検査機です。特許技術の「レーザ表面形状検査機」で、半導体ウエハ（Si,SiC,GaN,etc.）、MEMS、ハードディスク、FPD用機能性フイルム、スパッタ薄膜などの「表面形状」「粗さ」「うねり」「パーティクル」「キズ欠陥」を高感度で、早く、広い範囲を検査して「デジタルデータ」と「3D画像データ」を表示し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コアシステム

卓上型アライナー『GA2400』

極単純構造で製造コストを削減！4インチウェハ対応エッジグリップ仕様アラ…

『GA2400』は、PEEK樹脂製クランプでウェハ外周を把持する エッジグリップ仕様アライナーです。 ウェハ外周を把持し、光センサによる位置決めが可能。 極単純構造にすることにより、製造コストを大幅に削減できます。 また、2相ステッピングモータを使用しています。 【特長】 ■ウェハセンタリング：PEEK樹脂製クランプでウェハ外周を把持 ■ノッチ位置決め ウェハ外周を把持し...

メーカー・取り扱い企業： アテル株式会社

マクロ検査装置『ARCscan　TypeRE&ME兼用』

今まで困難だった高速・高感度・大面積のマクロ観察が可能なツール！

『ARCscan　TypeRE&ME兼用』は、ミクロ観察では困難な広い領域における パターン形状の均一性の解析・評価を可能とする装置です。 観察対象を最適化した光学条件を実現し、従来では困難であった高感度・高速・ 大面積の検査を可能としました。 パターンに最適な条件でマクロ観察が可能な『Type:RE』と、マクロ光学系でナ ノの評価が可能な『Type：ME』の兼用仕様。 【...

メーカー・取り扱い企業： スミックス株式会社

顕微鏡外観検査

最小で350μmの製品を取り扱っており、検出の難しい100μm以下の不…

顕微鏡検査においては8倍～50倍の顕微鏡と、80倍までの顕微鏡、 300倍までの顕微鏡と3種類で検査をしております。 検査をしている製品の大きさは、最小で350μmの製品を取り扱っており、 顕微鏡でしか検出の難しい100μm以下の不良を検出。 特殊品顕微鏡検査の認定取得が大変難しいため、社内でも30％の 人員しか取得していない難易度の高い検査となります。 【特長】 ■主要...

メーカー・取り扱い企業： サイトー電子株式会社 赤坂事業場