• ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー 製品画像

    ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー

    PR【低温焼結・高密度化】焼結用材料に好適!超微粒α-SiCパウダー

    当社独自のSiC(炭化ケイ素)微細化技術を活かしたα-SiCパウダー『GC#40000』をご提供 『Dv50(中心粒径):0.25μm』の超微粒SiCによる、優れた焼結性を示します (GC#40000を焼結体原料に使用により期待されるメリット)  ・低温焼成:CO2削減、ランニングコスト低減  ・緻密化 :成形体強度の向上、ポアの抑制 ※プレス成型や金型における流動性が必要な場合、球状SiC造...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジミインコーポレーテッド

  • 【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定 製品画像

    【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

    PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

    当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

    • 11.PNG
    • 12.PNG
    • 13.PNG
    • 14.PNG
    • 16.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所

  • TO-220/TO-247各パッケージに対応可能なソケット! 製品画像

    TO-220/TO-247各パッケージに対応可能なソケット!

    高温下でも使用可能!高耐圧・大電流のニーズに応えるTOパッケージ対応!

    『Cシリーズ』は、SiCやGaNなどを使用したパワーデバイスに求められる 高耐圧・大電流に対応可能な、耐熱設計のソケットです。 TO-220/TO-3P/TO-247の各パッケージに適合し、 TO-247向けは...

    • バスバータイプ.jpg
    • クラムシェルタイプ.jpg
    • 展示サンプル3.jpg
    • 展示サンプル4.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SDK

  • 220℃の高温下で使用可能! 【パワーデバイス用テストソケット】 製品画像

    220℃の高温下で使用可能! 【パワーデバイス用テストソケット】

    高耐圧・高電流の要求スペックを満たすパワーデバイス用のテストソケットで…

    近年パワー半導体業界では、材料にSiCを使用する等の高耐圧、高電流な製品が盛んに開発されていますが、その要求スペックを満たすソケットがありませんでした。 「Cシリーズ」は最高220℃の高耐熱と5kVの耐圧を発揮し、パワー半導体業界が...

    • Cシリーズ バスバー連結タイプ.jpg
    • 企業バナー用.JPG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SDK

  • TAB用ボンディングツール 製品画像

    TAB用ボンディングツール

    単結晶ダイヤモンドを使用したボンディングツールです。 優れた高温下で…

    (参考)銀 420、銅 398、金 320、アルミニウム 236 ビッカーズ8,000以上という繰り返し使用するツールには 欠かせない高い硬度も兼ね備えております。 (参考)セラミック(SiC)約2,300、超硬 約2,000 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シンテック

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • bnr_2403_300x300m_ur-dg2_dz_ja_33566.png
  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg

PR