• 資料『次世代半導体の今を説く~SiC・GaN解説~』【進呈中!】 製品画像

    資料『次世代半導体の今を説く~SiC・GaN解説~』【進呈中!】

    PR次世代半導体SiC・GaNの新情報がここに!

    エネルギーの効率的な利用と環境への配慮が今後ますます重要となる中で 従来のシリコン半導体よりも優れた特性を持つ次世代半導体が大きな注目を浴びています。 その中でSiC(シリコンカーバイト)・GaN(窒化ガリウム)の特徴や課題を解説しております。 次世代半導体に触れ、未来の製品開発のヒントとなれば幸いです。ぜひご活用ください。 技術革命の先駆けとなる情報が今すぐあなたの手に。お見逃しなく! ...

    メーカー・取り扱い企業: ジェルグループ【株式会社ジェルシステム/株式会社ナカ アンド カンパニー】

  • 解説資料 開発元監修『見積段階から機械動作を可視化する3D構想』 製品画像

    解説資料 開発元監修『見積段階から機械動作を可視化する3D構想』

    PR複雑する装置仕様を見える化!受注率UPと手戻り削減に貢献する3DCAD…

    機械設計向け3次元CAD「iCAD SX」の開発元が監修しました。 複雑化する装置仕様の摺合せが難しい理由や問題点を洗い出し、 "装置仕様(動き)の可視化"について解説した資料を無料進呈中です。  【資料概要】   ■製造業を取り巻く環境と、装置の複雑化   ■仕様説明時における取組と課題、目指す姿   ■打ち合わせ初期から一連の動作フローを可視化する効果   ※ 本ページのPDFダウンロード...

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    メーカー・取り扱い企業: i CAD株式会社 - 機械設計向け3DCAD(3次元CAD)開発元 -

  • SiC半導体評価装置「SemiScope」 製品画像

    SiC半導体評価装置「SemiScope」

    フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

    定することができるPLイメージング装置です。 試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。 【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○P...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンデザイン

  • Mg-SiC複合材料市場アナリストレポート 2023-2029 製品画像

    Mg-SiC複合材料市場アナリストレポート 2023-2029

    本レポートは、世界のMg-SiC複合材料市場について詳細かつ包括的に分…

    当社(Global Info Research)の最新調査によると、世界のMg-SiC複合材料市場規模は2022年に600万米ドルと評価され、レビュー期間中にCAGR 6.0%で2029年までに800万米ドルの再調整サイズになると予測されます。市場規模を推定する際には、COVID-...

    メーカー・取り扱い企業: GlobaI Info Research有限会社 Global Info Research

  • 半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料市場 製品画像

    半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料市場

    アルミニウムシリコンカーバイド(AlSiC)は、熱膨張係数(CTE)が…

    当社(Global Info Research)の最新調査によると、半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料の世界市場規模は2022年に1600万米ドルと評価され、レビュー期間中にCAGR 5.1%で2029年までに2300万米ドルの再調整規模になると予測されます。COVID-1...

    メーカー・取り扱い企業: GlobaI Info Research有限会社 Global Info Research

  • SiCウェーハ厚さ測定機 (TME-05型) 製品画像

    SiCウェーハ厚さ測定機 (TME-05型)

    ガラス板に貼り付けられたSiCウェーハの厚みと接着剤の厚み測定及び、S…

    ・厚さは、光学式プローブ/センサにて非接触測定します。 ・ポーラスチャック式ウェーハステージを採用し、薄いウェーハを均一に保持します。 ・測定データは、付属パソコンのモニタ表示の他、CSV形式で保存します。またグラフィカル表示も可能です。 ...・カメラによる外観撮像が可能です。(オプション) ・Siウェーハ(テープ付含む)の厚み測定も可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジャステム

  • 株式会社ジャステム 事業紹介 製品画像

    株式会社ジャステム 事業紹介

    測定機・加工機・専用機・自動化設備の製造販売の株式会社ジャステム

    株式会社ジャステムでは、Si、SiC、サファイア等を対象とした、ウェーハ非接触厚さ測定機、ウェーハ厚さ仕分け機、ラップ・ポリシング加工機の自動化装置、ウェーハ移載機などウェーハ製造工程における自動化・省力化機械を独自技術開発により設...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジャステム

  • 手動式ウェーハ厚さ測定機(STM-05型) 製品画像

    手動式ウェーハ厚さ測定機(STM-05型)

    φ100mm~φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定

    本機械は、φ100mm~φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定を、手動操作にて行う装置です。 厚さ測定は、高精度接触式デジタルセンサを用い、片側測定にて行います。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジャステム

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 半導体カーブトレーサ 「CS-5400」 製品画像

    半導体カーブトレーサ 「CS-5400」

    1500A/5kVにローコストで対応!最新のパワーデバイスに対応した「…

    器です。 岩通計測では、8000A/10kVを頂点とする世界最高峰の半導体カーブトレーサをラインアップ。 高速鉄道、工場用産業機器、自動車に使用されるIGBTや次世代のハイパワーデバイスであるSiC、GaNなどの特性評価に対応するため、シリーズの中間に位置する「 CS-5000シリーズ」のバリエーションの充実を図りました。 【特長】 ●1500A/5kVにローコストで対応 ●ビュー...

    メーカー・取り扱い企業: 岩崎通信機株式会社

  • 大容量 半導体カーブトレーサ CS-10000シリーズ 製品画像

    大容量 半導体カーブトレーサ CS-10000シリーズ

    パワーデバイスの特性測定に最適!高速鉄道などで使われるパワーデバイスも…

    【特長】 ○超大電流を必要とする、高速鉄道用インバータや、大規模太陽熱発電、風力発電などの 大容量パワーコンディショナに使用するIGBTやMOSFET、SiCを用いた最新パワー半導体などの特性評価に大きく貢献します。 →CS-10800(最大ピーク電圧10kV)(最大ピーク電流8,000A) →CS-10400(最大ピーク電圧10kV)(最大ピーク...

    メーカー・取り扱い企業: 岩崎通信機株式会社

  • 資料無料進呈中!半導体ICテスターの選定方法について 製品画像

    資料無料進呈中!半導体ICテスターの選定方法について

    低価格、高機能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。選定ポイン…

    0はパワー半導体製品の電気的特性を検査するのに好適です。2000V/200A、高速、 高精度なテスターで、4サイトまでの同時検査を可能にします。ダイオードやMOSFET、レギュレータ、IGBT、SiCやGaNなどの様々なパワー半導体をサポートしております。 オプションにより、DCテスト以外にも、ACテスト、アバランシェテスト、熱抵抗テスト、RgCgテストを可能にします。 主な機能 ■...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

  • 秩父電子株式会社 事業紹介 製品画像

    秩父電子株式会社 事業紹介

    半導体研磨加工の匠集団

    秩父電子株式会社は、半導体フォトマスク基板用合成石英ガラス、 GaP・GaAs等の化合物半導体、MEMS、SiC(シリコンカーバイド) サファイア、GaN(窒化ガリウム)、Siウェハーの研磨加工を軸に エピ成長、金属膜蒸着等半導体材料の加工を幅広く行っている技術集団です。 屈指の研磨技術で高硬度素...

    メーカー・取り扱い企業: 秩父電子株式会社

  • シリコンブロック内部異物検査装置 製品画像

    シリコンブロック内部異物検査装置

    シリコンブロック内部異物検査装置

    IRB-30は、赤外線を使用し、シリコンブロックの内部異物(主にSiC, SiNなど)を 検査する装置です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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