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PRキャスター付きで移動できる小型触媒式脱臭装置!触媒式だからこそ、フィル…
トルエン、キシレン、酢酸エチル等のVOC(揮発性有機化合物)ガスや悪臭を含んだ排気ガスを、 酸化分解処理することによりVOCの除去や脱臭を行う『小型触媒式脱臭装置』です。 局所排気や一時使用を可能にするため、軽量・コンパクト化を実現し、 キャスターを付けることで必要な場所へ移動させて使用できる、可搬式脱臭を可能とした装置です。 【特徴】 ・処理風量 1Nm3/min、3Nm3/min、 5Nm3...
メーカー・取り扱い企業: TESSHA株式会社
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半導体製造装置用サファイアカスタム品のご提案【技術データ進呈】
PRどんな複雑なサファイア加工依頼にも挑戦します。1個からでもお気軽にお問…
創業77年の老舗サファイア製造メーカーです。 サファイアの大型結晶を自社で育成しているため、1mm以下の微細な製品から 写真のような300mm程度の大型窓の製作も可能です。 設計段階からお客様のご要求に寄り添い、品質的/コスト的に最適なカスタム製品を共に作り上げていくことが得意です。 1個からのお問い合わせも歓迎しておりますので、ご遠慮なくお問い合わせください。 切断、研削、研磨といった基本的...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社信光社
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FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ・ピラーの径:φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…
●表面を保護するサンプリング法により、端子表面の付着物層(20nm程度)が損失なく確認可能 ●EDS分析結果より、付着物の主成分はC(炭素)、O(酸素)であるため接点不良は有機物汚染によるもの判断 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてく...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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<PDF資料DL可>【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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GD-OES(グロー放電発光分析)によりステンレス(SUS)の表面をス…
●試料表面をスパッタして、深さ方向の組成情報を調査可能 ●nm オーダーの高い深さ分解能で測定をすることが可能...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査
X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…
X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…
・手法:GD-OES(グロー放電発光分析) ・結果:ステンレス基板表面のC元素(カーボン)が減少しており洗浄効果を確認 ■XPSによる表面汚染分析 〈XPSの特長〉 ・試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色の分析、 表面処理の評価に有効 ・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 ・分析事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【資料DL可:XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しまし…
【掲載内容詳細(抜粋)】 ■XPSによる材料表面の変色調査 〈特長〉 ・試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効 ・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 ・分析事例 ■XPSによるPET表面改質評価 ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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