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12件 - メーカー・取り扱い企業
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レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric
PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度&高速測定で…
特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示! レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...
メーカー・取り扱い企業: マール・ジャパン株式会社
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三次元光屈折率・膜厚測定装置 プリズムカプラ SPA-3DR
試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定!FPD用フィルムやS…
の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等の3次元複屈折率測定などの用途に適しています。搭載レーザーは405nm-1550nmの範囲で、4種まで搭載可能、複屈折率測定は、X-Y軸間を、0.05°の精度で回転し、任意の位置で測定します。また、多層薄膜で、2層の光屈折率、膜厚を仮定値無しで個別に同時測定も可能です...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社マツボー
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不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有
不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサー…
e社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 ■特長 ・非接触で、不透明体の厚み測定が可能。 破壊試験が不要に。 ・最小10nm~最大1mmまでの広範囲な測定範囲。 ・1~3%以下の高精度測定が可能。 精度が不足している方にお勧め。 ・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション 自動車業界...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…
豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜(数32um)~厚膜(3900um)までカバー。(高精度な測定帯域は、16~1900um。線形性0.35um) ■高分解能(サブミクロン 最小1nm) ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高…
富なプローブラインナップで、 厚みは、光学長で薄膜(数2um)~厚膜(1000um) Siで0.5~200umまで対応。 ■高分解能(サブミクロン 最小3nm @ 光学長) ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意 ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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薄膜の膜厚、光学定数などの物質特性を精度良く測定!自動薄膜計測装置
『DLC Analyzer』は、プッシュボタン感覚で、1nm~15μmの膜厚範囲の 単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 波長450nm-1000nmをカバーしたデータ採取により、薄膜の膜厚、 光学定数(屈折率、消衰係数)などの物質特性を...
メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社
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EHL(弾性流体潤滑)領域の油膜厚さ測定【EHD油膜厚さ試験機】
弾性流体潤滑状態における油膜厚さを、光干渉法の原理を用いて測定します。…
さ試験機は、英国PCS Instruments社が提供する卓上型全自動油膜厚さ試験機で、既に実績のあるEHD1の後継機種にあたります。 【特徴】 従来の光干渉法よりも薄膜(最小油膜厚さ2nm)を測定することが可能です。 オプションの3D-SLIMを使用することで、接触部全体の油膜厚さ分布を解析することが可能です。 【主な評価内容】 油膜厚さ ストライベック曲線 (摩擦係...
メーカー・取り扱い企業: 島貿易株式会社
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【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE
Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施!…
を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜された水素を含有するDLCから、水素フリーDLCまで瞬時に非破壊測定を行い、膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数)の算出ができます。 簡単な操作で、1nm~15μmの膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 XYZ電動ステージによる面分析や、100μm以下の微小エリアの測定ができます。 イメージングシステムにより、サンプル表面状態...
メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社
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微小領域測定、透明基板対応など、様々な膜厚分布測定に対応!高速マッピン…
『MEシリーズ』は、1nm以下の膜厚変化も高速・高密度に面測定が可能な 膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータです。 φ8“ウェハまで全面測定可能。微小領域測定、透明基板対応など、様々な 膜厚分布測定に対応します...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトニックラティス
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分光器、光源やステージなどオプション豊富で、小型・軽量・安価なシステム
イバ集光系、パソコン、ソフトウェア一体型で、 面倒な作業・設定は一切必要なく、簡単に表面・薄膜測定できます。 【特長】 ■測定範囲:200A~400,000A ■波長範囲:380-850nm ■屈折率n・減衰係数k、透過・反射・色測定も可能 ■小型・軽量付属ソフトで簡単測定 ■自動XYステージ:2次元、3次元描画(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社たきぶん
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透過膜のエッチングや成膜のIn-situでの膜厚モニターに!スポットサ…
『SLI 670』は、波長が670/980nmのプラズマ装置用 エンドポイントモニターです。 プラズマ装置の上部の窓からレーザービームを照射し サンプルからの反射光を測定し膜厚を測定します。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談く...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイテック・システムズ
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小型~大型計測まで多彩なラインアップ、青色レーザー光源で外光の影響を排…
波長450 nmの高輝度青色レーザーモジュールを搭載し、外来光の影響を最大限取り除きます。レーザー三角測距には内部SoC ZynqモジュールのFPGAを使用しており、デュアルコアARMプロセッサーをアプリケーション...
メーカー・取り扱い企業: スマートビジョン株式会社 本社
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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