電流導入端子

PR高真空、超高真空へ の電流導入端子です！

米国MPFプロダクト社の電流導入端子のご紹介です。 ■MIL丸型、C-Sub型のマルチピン、熱電対、高電流・高電圧タイプ、同軸タイプ等各種電流導入端子を取り扱っております。 ■電流導入端子と併せて使用するコネクタ、ケーブル等もお取り扱いがございます。 ■標準品のカスタマイズ（フランジの変更、ピン長さの変更等）にも対応しております。まずはお問い合わせ下さいませ。 ※詳しくはカタログを...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクサム

◆パイロット　ファインセミックス◆　＜展示会出展＞

PR高純度アルミナ、ジルコニアのセラミックスで微細孔・多孔貫通孔の押出成形…

パイロットはシャープ芯の押出成形技術を生かし、 微細な貫通孔のセラミックス製造を得意としています。 単孔のパイプ状から多孔のフィルター状の物まで製作いたします。 外径Φ0.2～Φ8、内径Φ0.005～、長さ120mm程度までの 高純度アルミナ、ジルコニア、窒化アルミを提供。 異なる孔径の組合せや異なる外形状と内形状の組合せなども可能ですので お気軽にご相談ください。 【セラミックの性質】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パイロットコーポレーション

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応 ■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能 ■印加ピンの接触確認機能により確実に印加 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

滑り摩耗試験

JIS K7218 A法(リング対ディスク、リング対リング)および、B…

JIS K7218 A法(リング対ディスク、リング対リング)および、B法(ピン対ディスク)の両方に対応しています。 A法は、試験片の組合せとしてリング対ディスク、またはリング対リングがあり、別名「鈴木-松原式」と呼ばれる摺動試験です。 B法は、ピン対ディスクの摺動試験で、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

ESD（CDM）試験受託サービス

デバイス帯電モデル（Charged　Device　Model）のESD…

A（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） 　の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。（要相談）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

絶縁体の抵抗率測定

体積抵抗率、表面抵抗率は試験片の形状要因が反映されるのに対して、絶縁抵…

体積抵抗率、表面抵抗率は試験片の形状要因が反映されるのに対して、絶縁抵抗はテーパーピン間の抵抗値（Ω）で直に示します。 測定方法：絶縁体の体積抵抗率、表面抵抗率測定と同様に、テーパーピンの電極間に500Vの電圧を印加し、1分後の抵抗を測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

非破壊検査：金属疲労検査

射抜きピンの金属疲労測定！射抜きピンの使用回数（金属疲労）に相関した測…

射抜きピンの金属疲労測定！射抜きピンの使用回数（金属疲労）に相関した測定が可能です。 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

テストオペレーションサービス

お客様のニーズに合わせたトータルソリューションを提供します！

Flash） 　・豊富なDRAMテストの実績に基づく技術力 　・工場内でのプローブカードメンテナンス対応 ■ロジック（CPU、SoC） 　・ウエハテストからファイナルテストまで対応 　・小ピンから多ピン製品まで対応 ■イメージセンサー（CIS、CCD） 　・CCD/ハイススピードCISに対応 　・MIPIのアライアンスメンバ 　・専用クリーンルームによるテスト環境 　・経験豊富...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テラプローブ

ESD/Lu・CDM・GL試験

熊本事業所にて承っております

ESD・ラッチアップ試験 【適合規格】 　◇JEDEC/JEITA/AEC/ESDA/MIL 【装置仕様】 ◇最大使用可能ピン：256ピン ◇ESD（MM・HBM）：±4000Ｖ ◇LU 用電源：４電源仕様(各±30Ｖ) 　◇恒温槽　　 ：　MAX125℃ デバイス帯電モデル試験 【適合規格】　◇JEITA...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

キあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が 逃さず観察します。 【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有無の判定 ■外観観察にてウィスカが検出されたらデジタルマイクロスコー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただけ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【事例】3DレーザスキャナとX線CT装置のスキャン精度の比較

3DレーザスキャナとX線CT装置のスキャン精度の比較についてご紹介しま…

、大きな歪みも無く、リバースエンジニアリングのデータとして申し分ないレベルにあるかと思います。 　今回の検証で良い結果が出た3Dレーザスキャナも、光沢のあるサンプルや内部の形状、奥まった箇所、ピン角になった箇所等を苦手としています。一方、X線CT装置は外部だけでなく内部の形状データも同時に取得することができますが、樹脂＋金属のような複合材料サンプルではノイズの影響で形状データを正確に取得でき...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社MTI.Network

ESD（HBM・MM）試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス