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75件 - メーカー・取り扱い企業
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83件
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PR独自開発のSCADAを中心とした作業と情報管理の総合的自動化・省人化
当社は株式会社日進製作所の代理店として 製造業界向けの工場DXソリューションをご紹介いたします。 本ソリューションは "Tier1部品メーカー"、"老舗工作機械メーカー"、"IoTシステムベンダー" という3つの顔を持つ日進製作所の深い現場理解に基づき開発されました。 SCADAシステム*を核にした総合的自動化・省人化というコンセプトのもと ・オーケストレーションによる工程間搬送のシステム提案...
メーカー・取り扱い企業： 三菱商事テクノス株式会社 本社
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【組み立て作業などの工程管理】Android作業実績管理システム
PR最新の. NET Maui&Blazorで構築し、マルチデバイ…
Androidハンディ端末（現場作業用端末）とPC端末やタブレット端末（管理業務用端末）を使用する、作業実績管理システムです。 組み立て作業を伴うセル生産方式の工場などでの活用を中心とした工程管理・作業実績の分析に効果を発揮します。 【特長】 ■Webをベースとした、見やすく分かりやすいユーザーインタフェース ■工程を組み立て、製品に対する作業工程を設定し、現場への作業指示が可能 ■各マスタの設...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イー・ビー・エル
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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ IR-OBIRCH...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析
デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供
パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM（走査型顕微鏡法）で評価した事例をご紹介し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介
当社では、他社の製品サンプルを含め、様々な不良に対する詳細な不良解析サービスを行っております。 広範囲に及ぶ多様な解析手法を用いて、不良の原因を詳細に調査します。 FTIR（フーリエ変換赤外分光法）などの専門的な材料解析技術を利用し、材料自体の問題や不具合を特定することも可能です。 また、必要に応じて工業試験所などの外部設備を利用し、社内設備で対応できない特殊な解析も可能です。 依...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所
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不良箇所を推測しながら的を絞って観察！素早く結果を報告し課題の早期解決…
当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察でき...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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異物の成分分析・不良解析！異物混入の原因を究明しサポート
当社は、長年の分析を活かした経験により異物混入の原因究明を分析を通してサポートしております。 SEMによる形状観察は、光学顕微鏡より焦点深度、異物の微細な情報を得ることができ、写真上にミクロンバーが表示されるため異物の大きさも計測可能です。 【事例】 ○試料外観察 ○SEMによる形状観察 ○EDXによる元素分析FT-IRによる有機化合物分析 ○分析結果の報告 詳しくはお問...
メーカー・取り扱い企業： 湖西テストラボ合同会社
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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能
アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加していた現象を見出しました。このようにTOF-SIMSでは元素分...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EM...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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製品・材料に係る規制に適合しているか否かの分析・評価も実施します。 …
「モノづくり」を追求するためには、最も上流に位置する材料の品質確保が重要な要素となります。弊社では、製品における環境負荷物質(フタル酸エステル類、重金属、ハロゲン類など)の分析および製品の付着物、異物、腐食、劣化、変色などを調べ、製品の不具合・不良の原因解析など、樹脂・金属材料の組成分析による品質評価を行っています。また、製品・材料に係る規制(RoHS指令など)に適合しているか否かの分析、評価も行...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社タツタ環境分析センター
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金属部品に付着している残留油分量の測定が可能です。
金属部品は製造工程で様々な「油」が使用されますが、表面に付着した油が塗装、表面処理等の後工程で不良の原因となる場合があります。不良の発生を避けるために、部品に付着した油分量の管理が重要となります。FT-IRを用いることにより残留油分定量が可能です。 ...部品に付着している油を回収して、溶媒（四塩化炭素）中に漬けて、超音波洗浄を行います。分析対象油を溶媒中で希釈し数種類、標準溶液を用意します。F...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ
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共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調査が可能！ラマン分光分析装置…
当社では、塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞を 行っております。 塗装不良のひとつとして仕上げ面に異物が混入し、突起状に観察される 「ブツ」があります。この原因としては塗料に起因する塗ブツの他に、 ほこり・繊維くず等が考えられます。 異物は塗膜内部に存在するため通常は破壊調査が行われますが、光が透過する 塗膜に対しては共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ
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医療用塩ビチューブ内に存在する異物の分析事例！
医療用塩ビチューブ内に存在する異物の分析事例をご紹介します。 ■お客様より異物発生に関して頂いた情報 ・異物の発生状況 ⇒製造過程の検査中に発見 ・異物の材質、大きさ、色 ⇒樹脂、数１００μｍ、黒っぽい ・想定している異物の内容 ⇒樹脂焼け、もしくは製造途中で異物混入 ・その他の情報 ⇒特になし ■結果 正常部と異常部のＩＲスペクトルの結果より、 異物部...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター
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ロック剤の有無、硬化の度合いを推定！利用頻度の高いロック剤については硬…
当社では提供頂いた不具合ボルトのネジ部より残存物質を採取し、機器分析を 行うことにより、不具合原因の推定を行っています。 ネジロック剤の不具合原因は主にロック剤の塗布漏れ、ロック剤の塗布量不足、 異材混入による硬化不良です。 未硬化のネジロック剤（原液）、硬化後のネジロック剤について赤外分光分析を 行った例では、不具合ボルトのネジ部より回収した物質のスペクトルを照合する ことに...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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材料由来の不具合の原因分析、材料開発。ナノレベルの構造／表面分析により…
故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであっても、ユーロフィンFQLは それを追求します。 透過型電子顕微鏡をはじめ、原子数個の大きさを調べる分析装置と 材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援。 “製品や部品に付着した異物の正体を特定したいが、方法がわからない” などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【特長】 ■故障や製造不良の原因が原子...
メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社
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自動車部品メーカーの解析技術を低価格で提供します。
株式会社ミツバの子会社であるミツバ環境ソリューションでは、 自動車部品メーカーの解析技術を低価格でご提供いたします。 100μm以上の異物に対応いたします。 それ以下のサイズにつきましてはご相談ください。 電子顕微鏡で形状、状態観察し、元素分析を行います。 有機物は官能基レベルでの構造推定を行います。 異物・変色・付着物の調査事例は弊社Webサイトまたはカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション
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液晶パネル製品の不良にお困りのお客様に対しまして、各種請負検査を行って…
当社では、液晶表示パネル及び液晶表示モジュール製品の検査作業を お請け致しております。 日本国内のお客様がご要望される品質基準は、国外で生産される製品の 品質基準と結果的に異なる事があり、当社では他社製品をご購入されて お困りのお客様向けに、不良の分析、製品検査、製品選別などの作業を お請け致します。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【主な内容】 ■品質不良解析・品...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本サブコントラクト
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TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します
粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…
元素分析を行う際、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。 本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。 mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成を算出することで金属材料の推定を行いまし...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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微小領域の分布評価が可能です
回路の微細化にともない微小化する層間接続ビアの設計開発では、充填の良好性を把握することが求められます。TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、Cuを充填したサンプルを分析した事例を示します。正イオン分析結果より、CuおよびSiの分布が確認...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…
TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。例えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン（PDMS）について、...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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鮮明な写真を撮影しご報告！分析機器を使用して、異物の正体を調査解析いた…
異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りでは ないでしょうか？異物の正体が判れば、異物の混入経路解明の 重要な手がかりとなります。 当社は分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告。 外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察を行い、 有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析を...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社環境アシスト
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Slice＆Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice＆Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法：Slice＆View・SEM-EDX・EMS 製品分野：パワーデバ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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≪鋳造部品のガス量・成分分析≫ ダイカスト品の鋳造欠陥対策に！
アルミ鋳造品のガス量測定・成分分析により、鋳造欠陥の原因を特定する指標…
ガス分析は鋳造品の品質改善をサポートします。 アルミ鋳造品の品質で以下のようなお困り事はありませんか？ ・加工面の鋳巣 ・塗装後の膨れ ・メッキのピンホール ・湯じわ ・湯廻り不良 ガス量測定・成分分析をすると以下のような原因を特定する指標となります。 ・鋳造方案の不適 ・鋳造条件の不適 ・プランジャーオイル過多 ・離型剤過多 ≪ガス分析とは≫ ガス分析とは、アル...
メーカー・取り扱い企業： 橋本エンジニアリング株式会社
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溶接材料の選定ミスや溶接後の不良にお悩みの方必見！溶接試験事例集プレゼ…
当社では蛍光X線分析法による『PMI検査』を行っています。 検査材を送付していただく「社内検査」か、もしくは 当社から技術者を派遣する「オンサイト検査」を選択可能です。 溶接で使用する線材、鋼材、溶接金属などの事前チェックや 使われた溶接材が適切であったかなどを非破壊で調査できるため、 金属加工や機械製作、配管など様々な業種での異材混入防止や不良、腐食対策に最適です。 ★豊...
メーカー・取り扱い企業： コベルコ溶接テクノ株式会社
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液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です
日常の様々な場所で電子機器が使われるようになり、製品の信頼性確保が重要となっています。 プリント基板は高温・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー（IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このよ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定視野となりますが、ステージを動かしながら測定することで、...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに！損傷原因を明らか…
IHI検査計測社が取り扱う部品の損傷調査と原因究明サービスのご紹介です。損傷を受けた部品を詳細に調査することで、損傷原因が明らかになります。損傷原因を明らかにして、対策を立てないと、再発します。IHI検査計測社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。 【損傷調査の実施方法】 ■外観観察：損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察：破断面を走査電子顕微...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測
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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能
X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、Ｘ線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検出され、そこからリークが起きていることが示唆されました。 測定法...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様の“こんなことで困っている”に対して、信頼性の高い解析データを提…
当社では、長年にわたって培った障害解析の経験、高度な解析評価技術を 駆使して、皆様の抱える様々な問題解決のお手伝いをさせて頂きたいと 考えています。 大きな特色として、お客様の“こんなことで困っている”に対して、 分析・解析、評価方法を当社の経験豊かな技術スタッフがコンサルティング。 信頼性の高い解析データを提供します。 【具体的な対応例（抜粋）】 ＜表面分析＞ ■金属表面...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社環境技研 本社
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複数手法の分析結果より、複合的に評価
製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。 異物を適切に分析・評価することで発生原因を究明し、不具合を改善することができます。本資料では、Siウエハ表面に付着した汚染をICP-MSとSWA-GC/MS※で複合的に分析した事例をご紹介します。 ※SWA（シリコンウエハアナライザー）-GC/MSとは、ウエハごと電気炉で加熱して有機物をガス化し、GC...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】リチウムイオン電池電解液中のフッ化物イオン濃度評価
NMRを用いてフッ化物イオンの定量分析が可能です。
リチウムイオン電池の電解液主成分であるLiPF6（六フッ化リン酸リチウム）は、水分との反応で加水分解を起こし、フッ化物イオンを発生させることが知られています。本資料では、対象化合物の標品を用いずに絶対定量が可能な19F-NMRを用いて、電解液（1M LiPF6 , EC:EMC = 3:7 v/v)の大気曝露によって生成したフッ化物イオン濃度を評価した事例を示します。 測定法：NMR 製品分野...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します
シリコーン製品からアウトガスとして発生するシロキサンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。。...詳し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GC/MSによる液体成分のノンターゲット分析が可能です
スマートフォンケースに液体を入れた商品が販売されていますが、この液体が漏れて化学火傷等の皮膚障害事故や、異臭により体調不良を訴える事故が発生しています。これを受けて2016年4月に国民生活センターから注意喚起がなされ、場合によっては成分を変更した液体が使用されています。 ここでは注意喚起がなされる前に市販されたケース内の液体についてGC/MSでノンターゲット分析を行いどのような成分が入っているか...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析（TDS）
めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いま...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
キャリアライフタイムとは、電子デバイスの動作の際に生じる過剰キャリアの内、少数キャリアが1/eになるまでの時間です。これを適切に制御することがデバイスの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化
医療機器のパンフレット等に洗浄方法を記載する際には、その洗浄方法の妥当性を確認する必要があります。今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン（BSA）をアセチルセルロース（TAC）のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。
半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】CFRP炭素繊維強化プラスチック内部の繊維配向解析
X線CTによるCFRPの解析事例
CFRP(炭素繊維強化プラスチック)は炭素繊維を強化材として用いた樹脂材料であり、軽量かつ高い強度や剛性を持つことが特長です。 CFRP内部の繊維構造についてX線CTを用いて観察しました。その結果、直径約7μmの炭素繊維の集まりを観察することができ、また繊維の配向性解析を行いました。 測定法：C-SAM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス・LSI・メモリ 分析目的：形状評価・故障解析・...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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手袋由来の汚染の評価
半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋A, Bと似た傾向が見られました。更に、標準試料の手袋をSiウエハに付着させて検証をしました。その結果、手袋Aに類似していることがわか...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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微小領域を狙った測定が可能
製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。異物を適切に分析・評価することで、発生原因を究明し、不具合を改善することができます。 本資料では、金属部材上に付着した異物の成分をRaman分析により評価した結果をご紹介します。 Ramanは約1μmの微小領域の測定が可能であり、狙った箇所の分子構造や結晶構造に関する情報を得られることから、まばらに存在...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多変量解析を用いた試料間比較により、製品特性や劣化成分を評価します。
品質管理の一環として、産地や品種に特徴的な成分、ロット間で不良原因となっている成分などについて調べたい場合、複数の試料間での比較が必要になります。LC/MS測定で得られたデータを多変量解析を用いて統計的に処理することで、多数の成分の中から試料に特徴的な成分を見つけることができます。今回は多変量解析の一つである主成分分析（PCA分析）を用いて、リンゴの品種が異なるリンゴジュース3製品間で特徴的な成分...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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原因調査から問題解決まで！適切な分析・試験・評価について提案・実施しま…
分析によって問題解決したいが、何をどう分析したらよいかわからない。 異物の特定、原因調査、対策までを実施したい。 電子顕微鏡やガスクロマクトグラフ質量分析計等を所有しているが、前処理法や使用方法がよくわからない。 など分析に関するご相談を承ります。 【サービス内容】 ○加熱炉による評価試験、各種ガスによる加熱処理、 熱処理、熱処理条件検討等のご相談。 ○分析方法のご相談 ○サ...
メーカー・取り扱い企業： 湖西テストラボ合同会社
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<PDF資料DL可＞【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。 そこで表面に敏感な手法であるX線光電子分光分析(XPS)による表面分析を実施しました。 この事例では「XPSによるポリイミド表面汚染分析」を紹介いたします。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本WP...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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豊富な調査実績を基にした調査！短期間での調査等、ご要望に応じ柔軟に対応…
川重テクノロジーでは、『異物調査』を行っております。 異物の発生源の特定や、発生プロセスの推定等、周辺情報などを総合的に考察し情報を提供。 当社は多種多様な製品を製造する川崎重工業グループの調査機関として多くのデータを蓄積しており、これらをもとに調査を行い、技術者によるサンプリングの対応や短期間での調査等、ご要望に応じ柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■単なる成分分析ではな...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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デジタル化でお客さまの「業務の効率化」「コスト削減」「生産性向上」に貢…
本サービスはドローンとソフトウエアを活用し、点検業務をデジタル化することで、お客さまのOPEX縮減および発電収益向上をサポートします。 ＜サービスの特長＞ ■ドローンによる効率的な検査／作業コスト低減による生産性の向上 オペレーターがサーモカメラを使い検査する従来方式では、1日1MWpが限界だったのに対し、 ドローンを活用することによって、1日最大15MWpの撮影が可能に。 ま...
メーカー・取り扱い企業： オリックス・リニューアブルエナジー・マネジメント株式会社
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SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析
SEM像の3D化でリークパスを確認
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice＆Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice＆Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法：Slice＆View・EMS 製品分野：パワーデバ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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内部解析、不良検査など幅広く対応。1点から対応可能。デモ施設も新オープ…
当社では、電子部品や自動車部品、3Dプリント品、バッテリーなどの X線CT測定・解析を行う『産業用CTスキャン受託サービス』を提供しています。 樹脂や複合材、金属、セラミック、新素材など材質を問わず、 最少1点からご要望に合った測定をご提案。 試作品の完成度チェックや不良品の検査、リバースエンジニアリング用の計測、 高解像度の断面図・3D画像の提供、各種解析など多種多様なニーズに...
メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社 ＆ GEエナジー・ジャパン株式会社
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官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、UV硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）の硬化度を評価した事例をご紹介します。 接着剤における紫外線照射時間の検討や、製品に剥離が発生した際の硬化状態の評価に有効です。...詳しいデータはカタ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査
X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…
X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケルめっき)の変色調査」を紹介します。 ニッケルめっきの変色という不良に対してXPSによる表面分析で変色の理由を探りました。 ぜひPDF資料を...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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健康保菌者の確認・体調不良の原因究明・食中毒の感染経路調査などを行いま…
調理従事者等には感染防止の観点から、検便検査が法律的に義務付けられています。 食環境衛生研究所では、感染症として指定された項目（赤痢菌、パラチフスA菌や腸チフス菌を含むサルモネラ属菌、腸管出血性大腸菌Ｏ157）以外にも、腸管出血性大腸菌（Ｏ111・Ｏ26・Ｏ128）やカンピロバクター等の項目も実施しており、ノロウイルスに関しても、リアルタイムPCR法やイムノクロマト法等から、検査方法を選択できま...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社食環境衛生研究所
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【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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蓄電池の不良個所を非常に高い精度で特定し、蓄電池の品質管理・故障解析・…
当社では、蓄電池内部の電流密度分布を瞬時に非破壊映像化する技術を用いた 抜き取り検査装置による蓄電池品質の受託検査、及び同検査装置の販売を 行っております。 お客様の蓄電池を当社のテクニカルスタッフが検査・分析いたします。 結果は、サンプル受領後2週間程度（※）でご報告が可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■一検体から対応可能 ■試作開発品、量...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社T&Tエナテクノ
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包装技術開発センター『カナエ・グッドアンサー・ラボ』のご案内
パッケージのお悩み・課題解決窓口！包装の技術・経験・ノウハウを結集し、…
包装技術開発センター『カナエ・グッドアンサー・ラボ』は、「あなたのもうひとつのラボ」として、「貴社にとってもっと身近でオープンな存在」を目指しております。 包装のお悩みをご相談いただければ、我々の設備や知識・ノウハウを基にお客様のラボとして一緒に問題を解決いたします。 【カナエ・グッドアンサー・ラボのサービス】 ■共創サービス オリジナルパッケージ開発や高品質サンプル作製で「製品の...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社カナエ 本社
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