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FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比5倍高速・高…
超広視野共焦点型・高分解能1μm、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ワイ・ドライブ
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画像センサ『CHRomatic Vision Camera』
振動の影響不要!環境に依存せず簡単な操作性を実現します!ウエハ検査用途…
『CHRomatic Vision Camera』は、ラインカメラをベースとして 色収差共焦点原理を応用した製品です。 コンパクトで組込みシステムをコンセプト(外部光源不要)で chromatic対物レンズは用途やレンジによって交換可能。 ラインセンサーのすべての利点を採用し...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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先端の光応用技術を使用!インラインバンプ検査装置などをラインアップ
独自方式で基板収納状態に追従した三次元計測を実現する 「TVIシリーズ」や、高精度検査性能を保ちながら高速で個片基板検査が 可能な「CVIシリーズ」などを掲載。 当社の製品は独自の共焦点光学系センサを採用し、計測時間を短縮化して インライン計測を可能とする高速性を実現しました。 【掲載内容】 ■イントレイタイプ インラインバンプ検査装置 ■インデックスタイプ インライ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東光高岳 光応用検査機器事業本部 検査機器営業部 営業G
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DWFritz Metrology社による複数の非接触センサを使用し同…
な分析の統合 ■面取り部、ナイフ、エッジ、アンダーカット、ボアのような複雑な形状を含んだGD&T測定 ■欠陥検出能力 ■下記を含む構築可能な計測センサブリッジ ・レーザー及びクロマティック共焦点センサ ・多スペクトル光による高分解能カメラ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イリス 東京本社、大阪支店、名古屋支店
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歩留り低下を誘引する欠陥情報を速やかにマップ化する自動検査装置
微小凹凸欠陥(チャック痕・放電痕・打痕・接触痕等)を高感度・高速に検出 ■裏面全面検査(EE=1mm) ■画像処理とマスクによる候補欠陥抽出 ■広いダイナミックレンジと高い処理能力 ■共焦点顕微鏡による自動欠陥レビューと3D計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティマ https://www.optima-1.co.jp/
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“全数検査”が実現します!1枚トレイ供給タイプの三次元・二次元外観検査…
PVI-500』は、BGA/CSP/WLCSPの二次元三次元の外観検査を高速高精度で 行なうための装置です。 二次元外観は上面、下面をCCDカメラで検査、三次元外観は非走査マルチビーム 共焦点3Dセンサーで検査します。 統計機能が豊富で品質管理、良品率アップが実現でき、コンパクトな装置サイズで 設置場所を取りません。 【特長】 ■三次元外観検査では特にコプラナリテイ、ス...
メーカー・取り扱い企業: 新光エンジニアリング株式会社
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対流加熱式でリフロープロセスを再現!20℃~300℃までの任意温度に加…
『HVI-S10000C』は、計測範囲160×136mmでバンプ除去不要の 広視野温度可変反り検査装置です。 共焦点法を用いており、サンプルへの塗装や部品を除去する必要がなく、 バンプ高さ、コブラナリティに加え、基板の変形も同時に高精度な検査を実現。 Zステージに設けられたナノ分解能のリアルスケールによ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東光高岳 光応用検査機器事業本部 検査機器営業部 営業G
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