医療向け「生体情報モニタ用アーム」米国製

PR第71回日本麻酔科学会にも出展！日本光電、フクダ電子ほか主要メーカーの…

ICWUSAは米国を代表する業務用モニターアームメーカーです。 医療、医薬、工業分野で幅広くご利用いただいています。 生体情報モニタ用アームは ・日本光電 ・フクダ電子 ・Philips ・ドレーゲル ・GEヘルスケア ・Mindray などの主要メーカー製に対応します。 ウォールチャネル、麻酔器、シーリングペンダントなどに取付可能です。 生体情報モニタ用以外にも病院でご使用いただけるモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アクアス

電子顕微鏡の老舗メーカー日本電子に学ぶアフターサービス改革

PR4万点に及ぶ部品の基本情報と関連情報をPIM/DAMで一元管理、 顧客…

顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新。 ContentservのPIM（商品情報管理）／DAM（デジタルアセット管理）を 活用して新たなシステムを構築し、それらを既存のERPやECサイトなどと 連携させることで、従来の課題を一気に解決した日本電子の事例を紹介します。 【掲載内容】 ■顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新 ■等身大でより手軽...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Contentserv

日本ミルテック　基板外観検査装置　総合カタログ

プリント基板実装＆半導体外観検査装置の総合カタログです。

SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務などを行っている、日本ミルテック株式会社の「基板外観検査装置　総合カタログ」です。 次世代微細チップ部品03015の完全検査を実現した「基板実装向け3DAOI装置 MV-9」をはじめ、さまざまなSMT実装業界及び半導体...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

ウェイゲート・テクノロジーズ 非破壊検査機器

ウェイゲート・テクノロジーズは、産業用検査ソリューション企業であり、非…

ウェイゲート・テクノロジーズは、その長い歴史において、125 年以上の経験と Krautkrämer、phoenix|x-ray、Seifert、Everest、Agfa NDT などの名門ブランドです。様々なアプリケーションに対応し、検査・品質などへの総合ソリューションを提供します。 ・Krautkrämer 超音波探傷試験（ＵＴ） ・Phoenix|x-rayコンピューター断層撮影 (...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

ビデオスコープEverest Mentor Visual iQ+

業界初AI搭載、進化したReal3D計測技術、高度なDX型接続機能とポ…

新たに進化した工業用内視鏡『Everest Mentor VisualiQ＋』は、学習に勉め、精度を向上し続ける、本体搭載稼働型のAI（ADR:傷認識アシスト機能）により検査員の判定をアシスト。 表面化された3Dポイントクラウドを用い、対象物をマッピング、測定、分析する高機能なビデオボアスコープです。従来のReal3D計測技術から進化し、２種類の計測技術と１３種類の測定方式を備えます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

全自動サーキットAOI【回路検査のインライン化が可能！！】

【回路検査のインライン化が可能！！】 標準タイプのAOI 6台分の生…

【回路検査のインライン化が可能！！】 ■人員削減/コスト削減/管理削減、自動化、2面同時測定、 標準タイプのAOI 6台分の生産能力 ■カラーカメラと特許設計の高解像度CCDを搭載し 1.4 mil;1.8 mil;2.5 milの回路に対応 ■特許設計の真空吸着コンベア及び全照式のLEDデザイン ■オンラインまたはオフラインで両方で使用可、AIサポート機能、 　グル...

メーカー・取り扱い企業： 大船企業日本株式会社

原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプ…

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

超指向性　外観検査用照明『S-Light』　★無料貸出中★

「透明体・反射面検査のデファクトスタンダード照明」

S-Lightは、フィルム（偏光/PET等）やガラスなど透明体の欠陥検査、鏡面・精密塗装面の表面検査（ヒケ，ウェルドライン，白ボケ，オーロラマーク）など、従来の照明では確認できなかった欠陥が簡単に発見できるようになります。 《特徴》 ◎新開発　光をコントロールした特殊ランプ ◎模倣光　ランプは太陽光の視認性を再現 ◎未曾有　レンズレスの照明装置 ◎広範囲　約60°の角度に均一照射 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

LEDブラックライト『Torch Light UVG2』

携帯型で、到達困難な箇所にも対応！磁粉探傷検査に使用するブラックライト

日本電磁測器の『LEDブラックライト』は、磁粉探傷検査の観察の工程で 使用する紫外線を照射するライト（紫外線探傷灯）のことです。 磁粉探傷検査において、暗室でブラックライトを試験体に照射すると、 蛍光液・蛍光磁粉の指示模様が鮮明に発光するため、微細な傷を検知する ことができます。 当製品は携帯型で、迅速な検査、到達困難な箇所に対応しています。 【特長】 ■小型・軽量のUV-Aフ...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

MACHVISION製Circuit AOI 4.0

１台で従来の検査機５台分の生産能力！

プリント回路基板の回路欠損等の外観検査を行う装置です。 【特徴】 ・基板表裏は同時にスキャンする事で生産能力は従来検査装置の５倍 ・FSD微小短絡検測システムにより、回路間の微小短絡を検出する事が可能 ・機能を大幅に強化したSBD演算設計により並外れた検査結果を提供 ・AOIの連続画像取得と同時進行で検査を実行 ・Inlineでの使用が可能...プリント回路基板の回路欠損等の外観検査を...

メーカー・取り扱い企業： 大船企業日本株式会社

定置型LEDブラックライト『MIZ-500L』

非破壊検査や汚染チェックに！面倒な配線が不要な据付型LEDブラックライ…

日本電磁測器の『MIZ-500L』は、磁粉探傷検査の観察の工程で 使用する紫外線を照射するライト（紫外線探傷灯）です。 磁粉探傷検査において、暗室でブラックライトを試験体に照射すると、 蛍光液・蛍光磁粉の指示模様が鮮明に発光するため、微細な傷を検知する ことができます。 当製品は据付型で瞬時点灯が可能。消費電力は従来機の1/5以下で ありながら、十分な紫外線照射能力を誇ります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

レーザービアAOIM【レーザービア全穴検査が可能！】

【レーザービア全穴検査が可能！】 レーザー加工後の穴漏れ、穴底状態を…

【レーザービア全穴検査が可能！】 ■デュアルCCD，アライメント不要，同解像度業界最速：25sec/枚(5um) ■Telecentric 望遠レンズを使用，角度による誤認識問題無し ■複数のプロセス、コンフォーマル、DLDで使用可能 ■高解像度2umの場合、 最小測定可能径20um ■オリジナルのワンタッチミニマリスト操作モード ■基板全面検査、ブラインドホール欠損統計分析、 ...

メーカー・取り扱い企業： 大船企業日本株式会社

携帯型極間式磁粉探傷器『スマートマグナ』

パワーを維持しつつ電流値を抑制！表面欠陥の検出に特化した携帯型磁粉探傷…

日本電磁測器の「磁粉探傷装置」は、強磁性体の表面や表層の傷を 簡単・確実・安価に検出する装置です。 『スマートマグナ』は、表面欠陥の検出に特化した軽量タイプの 携帯型磁粉探傷装置です。 従来品に比べて軽量化しました。リフティングパワーを維持しつつ、 電流値を抑えており、従来品に比べて熱くなりにくいです。 【特長】 ■表面欠陥の検出に特化 ■従来品に比べて軽量 ■入力電源80...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

LEDブラックライト『Mid Bean2.0』※磁粉探傷検査に

微細な傷もしっかり検知！ケーブルレスでの使用も可能なLEDブラックライ…

日本電磁測器の『Mid Bean2.0』は、磁粉探傷検査の観察の工程で 使用する紫外線を照射するライト（紫外線探傷灯）です。 磁粉探傷検査において、暗室でブラックライトを試験体に照射すると、 蛍光液・蛍光磁粉の指示模様が鮮明に発光するため、微細な傷を検知する ことができます。 当製品は、バッテリーでの使用も、ケーブルを繋いでの使用も可能。 スタンダードバージョンの他に、航空機対応バー...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

電子部品関連検査装置　電子部品外観検査装置

製作及び計測値編集ソフトまで一貫してご提供！ユーザー様の御要求にお応え…

日本スプリングプローブ株式会社では、電子部品外観検査装置などの 電子部品関連検査装置を取り扱っております。 ユーザー様の御要求に応え、ワークの搬送装置、検査試験装置、仕分収納装置、 環境装置、配電盤等の製作及び自動制御ソフト、計測、計測値編集ソフトまで一貫してご提供。 抵抗・コンデンサー・ダイオード・半導体等の電子部品をはじめ、 電子モジュール、電子機器の電気的性能、外観等の試験装置に関する 製品ラ...

メーカー・取り扱い企業： 日本スプリングプローブ株式会社

レーザービアAOIM紹介資料

■ レーザー加工後の穴を全穴検査出来る検査装置です！ ■穴漏れ、穴サ…

【レーザービア全穴検査が可能！】 ■デュアルCCD，アライメント不要，同解像度業界最速：25sec/枚(5um) ■Telecentric 望遠レンズを使用，角度による誤認識問題無し ■複数のプロセス、コンフォーマル、DLDで使用可能 ■高解像度2umの場合、 最小測定可能径20um ■オリジナルのワンタッチミニマリスト操作モード ■基板全面検査、ブラインドホール欠損統計分析、 ...

メーカー・取り扱い企業： 大船企業日本株式会社

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

光学式高速ボア内面穴・傷検査システム

生産ラインの各工程で、エンジンシリンダ内面の性状（穴、傷、クラック等）…

360°照射するイルミネータとレンズが一体化したプローブがシリンダ内に挿入され、移動しながらボア内面の性状を高速で歪のない画像を取得・生成します。 特に溶射ボアエンジンの各工程の品質検査で、ドイツの自動車メーカー、ツールメーカーへ数多く実績があります ■主な性能 • 360°ラウンドレンズに依るボア内表面の自動検査 • 一般的な表面欠陥の検出（ブローホール、ポロシティ、スクラッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本クラビス

NDK　非破壊検査装置　磁粉探傷検査/浸透探傷検査　他

信頼性が高く、お客様のニーズに合う豊富な非破壊検査ラインナップ

非破壊検査とは、金属をはじめとする各種の素材を「物を壊さないで、表面や内部の傷の有無やその程度を知り、その対象物を規格などの基準に照らして合格にしたり不合格にしたりすること」であり、「傷を探す」ことを探傷（たんしょう）といいます。非破壊検査の応用分野は材料・機器・構造物の製造時検査および運転後に行う検査（保守検査）など幅広い分野にわたっています。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧くだ...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

磁粉探傷装置

磁化電源装置や磁粉探傷装置、ブラックライトなどが満載！

試験体に蛍光磁粉を付着させてブラックライトを照射し、微細なキズを発見する非破壊検査装置『磁粉探傷装置』や、その検査をするために必要な『磁化電源装置』などを掲載。簡単・確実・低価格な製品と、ブラックライトなどの関連品まで取り揃えています。 【ラインアップ】 ■磁化電源装置 ■磁粉探傷装置 ■磁粉探傷関連品 ■脱磁装置・脱磁器 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせく...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社

高照度３７５Ｗメタルハライドランプ搭載ファイバー光源装置

●明るさ勝負！！

●高出力のHIDランプ採用により、業界最高クラスの高光量を実現 ●250Wメタルハライドランプ搭載光源装置により約1.8倍の高光量...●約１．８倍の高照度（PCS-UMX250比） ●長寿命２０００時間 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピー・アイ株式会社

片面超特急製造～日本最速への挑戦～［プリント基板］

片面基板（両面非TH基板）最速１２時間で完成！

『片面超特急製造』は、最速１２時間で完成し 最短でお届けするEX-SYSTEMです ★実装対応も可能です 　土日フル稼働で対応している為、有効に活用できます ※弊社カレンダーによる実働日程です ※基板単体の表面処理は水溶性プリフラックスとなり 　金めっき・半田レベラー等の日程は別途ご相談させて頂きます （基本は+１日） ※仕様書送付は前日１７：００までとさせて頂きます...

メーカー・取り扱い企業： シライ電子工業株式会社 P板開発サービス統括部

LED入射リニアブライト（伝送ライト）システム電源装置

・LED照明を入射可能な伝送ライトが誕生しました！

・伝送ライト本体は交換することなく光源ユニットを入れ替えることで、伝送ライトの均一性はそのままに長寿命をえることができます。...・伝送ライトはツインの１０００ｍｍまでが最適です。 ・２４Ｖの電源でも点灯可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピー・アイ株式会社

低価格化を実現！3D SPI（はんだ印刷後検査装置）

年間出荷台数1000台の検査機メーカーが開発。独自のXYガントリーによ…

ジュッツジャパンは中国を本社に持つ検査機メーカーの日本法人です。 中国本社は2007年設立。日本法人は2015年より装置販売を開始しました。 中国では年間1000台前後の製品を出荷しています。 『Mirage II』は、高い画像再現力を有する...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジュッツジャパン

＜薄膜金属加工製品向け＞欠陥検査装置・欠陥部材除去装置

薄膜金属加工製品の欠陥検査・欠陥部材除去を自動化。製造コスト・人件費の…

★Prest Kappar（欠陥検査装置） 半導体の検査技術および微細化製品の搬送技術を巧みに使用し、 幅広い薄膜金属加工シートの欠陥検出で活躍。 隣り合った製品同士を比較する独自アルゴリズムにより、レシピ作成も容易に行えます。 ★Razer Kappar（欠陥部材除去装置） 半導体製造工程に使用されるハンドラ搬送技術を使用し、 Prest Kapparにて欠陥検査を終えたのちに使...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

CM2030はイメージセンサーカメラモジュールの外観検査対応の検査装置になります。基本はイメージセンサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、さまざまな外観検査に対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。 ...● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査、自動テーピング装置　iSort

ダイシングウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リー…

ダイシングされたWaferから５面、６面の外観検査を行い、テーピング、リール、トレーに移し替える半導体のソーター装置になります。 ダイシング後のダイを目視で検査することは難しく、自動機によりキズやゴミなどを検査し、良品、不良品を判定し、移し替えることが可能です。 【特長】 ● ８”、１２”、切り込みウェハー/フィルムフレー（WLCSP,BGA,eWLB、QFNなど） ● テーピング、J...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。...★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動光学検査装置（AOI）『TR7500QE』

4wayデジタルアダプティブフリンジパターンプロジェクションと4sid…

最新の検査ソフトウェアは、迅速なCADベースのプログラミングを保証し、完全にカスタマイズ可能なテンプレートを備えています。 ・マルチアングル2D + 3D ・4ウェイデジタルフリンジプロジェクター ・4サイドカメラ ・最大40 mmの3D高さ範囲対応 ・高速CoaXPressイメージング ・オプションの3Dレーザーモジュール ※製品の詳細は、カタログをダウンロードしてご覧くだ...

メーカー・取り扱い企業： ティアールアイ ジャパン株式会社 日本支社

Prest Kappar　金属加工製品外観検査装置

薄膜金属加工製品の外観検査装置。VCMスプリング、リードフレームなどの…

あらゆる薄膜金属加工シートの欠陥を検出することが可能が可能で従来目視検査にて欠陥検出をしていたわずらわしさを自動機を使用することにより精度と検査時間を短縮することができます。 また、CCTECH独自アルゴリズムにより、隣り合った製品同士を比較することにより、事前に作成するレシピの作成を容易にします。Razer Kapparとの組み合わせにより欠陥部材を自動で除去することが可能です。...●対応ワ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人