受託加工サービス

PR切断をはじめ、ポリッシング、積層などの工程をご紹介！当社の受託加工のご…

脆性材の端面ポリッシング、および、端面塗布の受託加工をご案内 ショーダテクトロンでは、脆性材加工用機械装置の技術を活かして、矩形、円形、その他形状の硝材の端面ポリッシング加工、および自由形状の端面樹脂塗布の加工を受託致します。また、端面研磨に関しましては、協力工場を通して、インゴットご支給からのスライス、芯出し、端面研磨といった一貫した加工も承ります。 試作品や小ロットの加工をお考えでしたら、...

メーカー・取り扱い企業： ショーダテクトロン株式会社

小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現！】

PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置！シャッタを具備しているので安定…

『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置（デポアップ）です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系：<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化：W500×D39...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイブリッジ 東京営業所

顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能！非接触膜厚計

お持ちの顕微鏡とドッキングも可能！顕微鏡膜測定と２D分光放射オプション…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことが...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

1ライン３CH設置や、工程前後に測定が可能！多ポイント膜厚測定

多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことが...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

非接触膜厚計『FF8』※カスタム仕様等の対応可能！

測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

光干渉式膜厚測定装置『Model3100』

多数の納入実績を誇る業界標準機！リニアアレー受光素子を採用

『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アークステーション

光学膜厚測定システム『DF-1045R1』

多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応！

光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー

水中での膜厚測定されたい方必見！水中膜厚計『FF8』

空気中と水中でSi基板上のSiO2膜（シリコン酸化膜）を測定！薄膜解析…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触水中膜厚計です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプシ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚計『FF8』

測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

インライン向け膜厚測定装置

フィルムや板状の膜厚を非破壊的にライン測定

まず、各装置構成部がシンプルにできており、各御客様のニーズに対し、カスタマイズしたパッケージングでご紹介が可能であり、コストダウンにも最適かと思われます。測定算出方法もFFT法という信頼性の高い方法を採用しておりますので安心してデータ収集できます。...各酸化膜、シリコン、フォトレジスト、各種フィルム、油膜、コーティング材、接着剤、金属酸化膜、誘電体膜などを光の干渉を用いて、非接触にそれら厚みを高...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社スペクトラ・コープ

膜厚計測向け非接触式測定ソリューション『IRIX』

色彩共焦点式技術を使用した非接触式センサーで、白色光が透過するさまざま…

さまざまな測定範囲、機械的寸法、測定仕様の多様な光学プローブファミリーとコントローラーを組み合わせることで、多様なアプリケーションニーズに応えることができます。 1チャンネルの「CPS1」と2チャンネルの「CPS2」の2モデルをご用意しています。 ＜特徴＞ ・白色光を反射できるさまざまな材料（例：金属、ガラス、プラスチック、塗膜、液体）の測定が可能 ・対象に触れずに測定の必要があるすべ...

メーカー・取り扱い企業： マーポス株式会社

膜厚計

様々な膜厚み計測に対応

パソコン一体型からフラッシュランプ測定までの様々な機種を取り揃えております。１００ｎｍから１０００μｍまでの膜厚に対応できます。自社においてソフトウエア、分光計、検出器を製作しており特注計測にも十分にお応えできます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラムダビジョン 営業

【非破壊・非接触膜厚計】コートマスター FLEX

コーティングの膜厚を非接触で一瞬で測定可能なソリューション

測定原理は熱反射に類似しており、光を対象物に照射させ、熱の伝わる伝搬時間をコーティング厚さへ変換します。 特定の素材や材料に左右されず測定が可能で、紛体・液体も問わず測定が可能です。 ...・非破壊、非接触でコーティング厚さの測定が可能 ・金属、樹脂、木材、コンクリート等材料に左右されず、測定が可能 ・コーティングの状態（紛体・液体）を問わず測定が可能 ・曲面やエッジなどの測定しづら...

メーカー・取り扱い企業： エフティーエス株式会社

分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！ 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率（N,K値）波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理特性】 ■厚さ光学屈折率 ■屈折率の勾配と材料組成 ■ドー...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易　…

『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

分光楕円偏光解析装置　分光エリプソメータMASS-105

多層膜など多くのパラメーターが一度に解析！小型・高速分光エリプソメータ

分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター（膜厚、屈折率、吸収係数）が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT”を標準装備し､ファイブラボ株...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

薄膜測定システム

分光放射照度測定をはじめ、多様なアプリケーションにお応え致します

■ 物質、屈折率、消衰係数を入力するだけで、簡単に膜厚測定が可能 ■ 膜厚範囲：10nm〜 ■ 真空チャンバー中でのモニタリングも可能 ■ 測定項目の径時変化測定により、コーティング過程モニタリングが可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ミロクロ

低価格　光学式薄膜測定装置

反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた、光学式薄膜測定装置。

法とカーブフィット法を組み合わせた光学式薄膜測定装置 ■□■特徴■□■ ■透明または半透明な薄膜の表面と基板との界面からの反射を 　 解析することにより、数秒で解析が簡単に行える ■膜厚の他、光学定数の測定もこの１台で行えるので、 　 オリジナル材料の登録が可能であり、ユーザーの使用用途に沿った 　 運用ができる ■パワフルでシンプルな低価格システム ■詳細については、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター システムビジネスユニット

LED測定用モバイル分光装置

光学干渉式膜厚測定により、非接触で高速計測が可能。表面または中間層の二…

昨今のLED測定アプリケーションはその使用マーケットの拡大に伴い多種多様化しており、既存の測定装置では用途に応じた対応が困難となってきています。 またLED関連企業の多くは技術的な難しさに加え、測定という新たなプロジェクトに対し多額な予算を準備することに戸惑いを持っており、LED及びLEDディスプレイの測定への高いハードルとなっています。 弊社はその現状を踏まえ、LED測定用モバイル分光測定装...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社スペクトラ・コープ

ファイバー入射型分光器用光源、光ファイバー、アクセサリー

分光器と組み合わせてあらゆる計測用途に対応する校正・計測用光源や光ファ…

Avantes社の光源、光ファイバー、アクセサリーは、ファイバー入射型分光器と合わせて種々の計測のシステムを構成します。 各種測定構成： カラー測定、UV/VIS吸収・透過測定、発光測定、膜厚測定、ラマン分光 AvaLight-HAL-S-MINIは、可視域～近赤外域でベストな光源が得られるタングステン・ハロゲン光源 特長 ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波長...

メーカー・取り扱い企業： フォトテクニカ株式会社

自動楕円偏光解析装置　レーザーエリプソメータMARY-102

小型・低価格・高精度・使い易さを追求した自動楕円偏光解析装置。

レーザーエリプソメータMARY-102はレーザー光による偏光解析法を用いてシリコンやガラス基板の光学特性、又はそれらを基板上の薄膜の膜厚や光学特性（屈折率など）を測定します。MARY-102は、ファイブラボ株式会社の光計測技術を基に、小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されました。 シミュレーション機能等を充実させた研究用ソ...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

精密機器

精密機器のことなら当社におまかせください

【取扱製品】 ■レーザー機器 　・半導体レーザー装置 　・半導体レーザー励起固体レーザー装置 　・フラッシュランプ励起固体レーザー装置　など ■光学機器 　・顕微鏡 　・蛍光X線膜厚測定器 　・色差計・光沢度計 　・リードフレーム全自動外観検査装置　など ■高周波電源 　・半導体工場向けおよび研究機関向け高周波電源 　・高周波増幅器 　・整合器　など ※詳しく...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アライズテクノロジー

光損失測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

有限会社テクノ・シナジー　会社概要

既存の枠にとらわれることなく「いいものは使い、無いものは作る」

【取扱製品(抜粋)】 ■光学膜厚測定システム(テクノ・シナジー) ■顕微分光システム(テクノ・シナジー) ■有機太陽電池パラメーターアナライザー(テクノ・シナジー) ■高輝度照射分光システム(テクノ・シナジー) ■NSO...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー

分光放射照度・色測定システム

分光放射照度・色測定システム

らは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ミロクロ

反射率・表面色測定システム

反射率・表面色測定システム

らは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ミロクロ

LED測定システム

LED測定システム

らは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ミロクロ

【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚測定システム『FF8』

測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

膜厚-光屈折率-光伝搬損失　測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

分光楕円偏光解析装置　分光エリプソメータMASS-103

サンプル水平置きタイプで、多彩なサンプルに対応が可能！

用 ○解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →オプティカルエンコーダとホールモータの組み合わせにより高再測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準の数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式：回転位相子法 ○光源：150Ｗ Ha ランプ ○ビーム経：約φ1～5mm ○入射角：約70・60・5...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社