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13件 - メーカー・取り扱い企業
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PR医療分野や産業分野など広い分野で使用!より高精度なフィルターとして位置…
当社では、フィルター内の全開孔サイズを「絶対に正確な寸法で形成されて いることを保証する」という「絶対寸法フィルター」を取り扱っております。 X線を用いた高精度なフォトリソグラフィ及び電鋳加工技術を駆使し、 全孔の開孔寸法をφD±0.3μmという超高精度で製作。 また、粒子への傷防止や目詰まり低減を目的とした加工(R/テーパー加工) や、CTC(血中癌細胞)補足用の特殊孔形状の加...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプトニクス精密
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小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現!】
PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置!シャッタを具備しているので安定…
『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置(デポアップ)です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系:<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化:W500×D39...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイブリッジ 東京営業所
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測定器も健康診断が必要です。ペリテックの校正サービス
計測器に使用されている電子部品の精度は自然に時間の経過とともに変動します。 また、メーカーは一定期間毎に計測器を校正することを推奨しています。 (株)ペリテックでは、測定器単体(PXIモジュール、箱型計測器等)からシステム(装置)としての校正も承りますので、是非ご相談下さい。現在御使用中のものが誤使用中とならないためにも校正をお勧め致します。 ●NI認定の校正手順を使用して測定性能を検証...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
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50MHz~6GHz帯の20~40MHz BWをノートPCに連続収録・…
狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、50MHz~6GHz帯の20~40MHz BWをノートPCに連続収録・再生することができます。 NI-USRPとノートPCを使用することで従来品よりも数分の一の価格を実現。データ収録には厳選したSSDを使用することで、極力データ落ちのない収録を行います。 複雑な操作は不要。 ソフトを起動し周波数を設定しボタンを押すだけの3...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ドルフィンシステム
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何らかの原因でCuメッキが異常成長!その上にNiメッキが施されたと推察…
プラスチック製グリル表面の欠陥調査についてご紹介します。 表面観察では、欠陥の一部は表面から伸びており、その伸張した突起物が もげたと思われる跡が認められ、その跡の中心はCuでありその周囲にNiを検出。 断面観察では、Cu部内の空孔は大きく、欠陥直下および欠陥の極近傍の Cu/プラスチックに間隙があり、この間隙部からC(Mg,Si)が検出されました。 結果、欠陥は、何らか(プ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ
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Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析(TDS)
、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いました。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ppmレベルの添加物の分布を高感度に評価可能
携帯端末などの電子機器に用いられる鉛フリーはんだの接合部には高い耐衝撃性が求められています。 この課題を解決するため、Niなどの元素を微量に添加したはんだ合金が開発されています。本資料ではSn-Ag-Cu系の鉛フリーはんだに、微量のNi、Geが添加された5元系はんだと、添加物無の3元系はんだについて、高感度分析を得意と...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です
原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化
粉末X線回折データから結晶構造の精密化が可能です
本資料では、リチウムイオン二次電池の正極活物質として利用されているLi(Ni,Mn,Co)O2の粉末X線回折データに対するリートベルト解析事例を紹介します。シミュレーションによって実測の粉末X線回折データを再現するような結晶構造モデルを求めることで、格子定数・各サイトの占有...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GD-OES(グロー放電発光分析)によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…
グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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ご要望に合わせたコンタミ物質の評価方法を提案します!
要望に合わせたコンタミ物質の評価方法をご提案。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【試験対象物質】 <試験項目:対象成分> ■金属元素:Na、K、Al、Si、Ca、Fe、Cu、Ni、Zn など ■酸性ガス:F-、Cl-、NO3-、NO2-、SO42-など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社環境アシスト
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【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…
当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定)」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 (ラマン分光分析)」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価(GD-...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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導通検査のフレキシブル基板・フレキ基板・FPCです。 FPC
FPC配線上にCi-Niバンプを形成しました。 主に、フリップチップ実装等のベアチップ実装、 ファインピッチ端子の導通検査、試験用冶具としてご使用頂いています。 FPC...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア
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大気非暴露環境下で解体・サンプリングし、劣化・変質を抑えた測定が可能で…
AES(オージェ電子分光法)ではサブミクロン以下の元素マッピング(面分析)が可能なため、3元系材料(Co, Mn, Ni)の元素分布を明確に確認することができます。また、バインダ・導電助剤由来の炭素の分布も高感度で測定することができます。今回、正極活物質について、装置導入までの一連の処理を大気非暴露環境(不活性ガス雰...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価
の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜(厚さ数十nm~数百nm程度)について、上記測定を行った結果、(1)表面側にFe酸化成分が多い、(2)Cr酸化成分がFe酸化層の下側に存在、(3)Ni酸化成分はほとんど存在していないことがわかりました。 ※スパッタによる結合状態変化を含むため、相対比較での評価が主となります。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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