• 【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC 製品画像

    【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC

    PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大5…

    attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』 製品画像

    蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能…

    『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 ...

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    • XDV-SDD(appl).jpg
    • DPPplus.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

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