• ARO社 ダイアフラムポンプ FDA準拠(サニタリー)ポンプ 製品画像

    ARO社 ダイアフラムポンプ FDA準拠(サニタリー)ポンプ

    PR【医薬品・食品業界に!】 衛生性(サニタリー)が重要視される現場で活…

    信頼性と効率を追求したSUS316L製のARO社ダイアフラムポンプは、 衛生性が重要視される医薬品・食品業界で安心してご利用いただけます。 クイックノックダウン(QKD)クランプシステムを特徴としており、 クリーニング、保守メンテナンスが容易で、高い信頼性と長い製品寿命を提供します。 最小限の時間で洗浄やメンテナンスが可能となり、作業時間の短縮にも貢献します。 【用途例】 ...

    メーカー・取り扱い企業: タイヨーインタナショナル株式会社

  • 受託照射サービス(耐候性試験/環境試験/超促進/信頼性評価試験) 製品画像

    受託照射サービス(耐候性試験/環境試験/超促進/信頼性評価試験)

    PRランプメーカーの耐候性試験機を1時間から気軽に使用 【ウェザーメータ…

    自社製品の耐候性試験機を使用した、受託照射サービスを行っています。 耐候性試験機は、製品・材料の長期使用時の信頼性を確認する為の試験機です。 ■ キセノンテスター    世界の規格試験に対応。規格に沿った最終評価試験に好適 ■ UVテスター    紫外線に特化した光で劣化促進を実現。スクリーニングに好適 ■ 4Dマルチチャンバー   広い空間で完成製品や立体成...

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    メーカー・取り扱い企業: 岩崎電気株式会社 光・環境事業部

  • 【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験 製品画像

    【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験

    接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく…

    当資料では、信頼性試験の接続信頼性とマイグレーション試験について ご紹介しております。 冷熱衝撃試験結果では、スノーホール全体をはじめ、クラック発生部、 コーナー部の写真を掲載。 ホットオイル試験/...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【資料】高温動作環境下におけるはんだ付け部の信頼性 製品画像

    【資料】高温動作環境下におけるはんだ付け部の信頼性

    高温化による接合部の信頼性を、評価方法,対策,開発の面から考え提案!

    このため、接合部の高温耐久性や使用温度範囲拡大による疲労破壊などの 故障増加が懸念されています。 当資料では、はんだ付け部が高温になることで促進される破壊や高温で 発生する新たな信頼性問題とされる現象について概説しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はんだ付け部の信頼性 ■はんだクラック ■エレクトロマイグレーション ■エレクトロケミカルマイ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 大型信頼性試験装置 製品画像

    大型信頼性試験装置

    絶対的安全・環境性が求められるお客さまに、満足と安心を提供。エンジン等…

    大型の試料を試験したい、大量の試料を同時に試験したいというニーズに対するため、大型振動試験装置、大型気槽冷熱衝撃装置、大型液槽冷熱衝撃装置を保有しています。 エンジン等の大型サンプルの振動試験、パワーコントロールユニット等の大型デバイスのウィスカ、半導体寿命試験を実施できます。 【特長】 ■大型複合振動試験装置  ⇒最大積載400kg・温度-70℃まで対応  ⇒加振機仕様・恒温槽仕様...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生 製品画像

    【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生

    信頼性試験中にはんだクラックが発生、早急な脆弱箇所の特定をしたい」と…

    信頼性試験の経過に伴い、結晶方位がずれてクラックが進行していきます。 方位変化とクラックの進展は同時期に発生し相関が見られ、局所的に 応力印加される場所を特定することにより破壊箇所の予測が可能となります。 この場所を素早く特定するために「ハイスピードEBSD分析」を利用ください。 わずか数分の高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えた"EBSD検出器"を 導入しました。必要な解像度はそ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは 製品画像

    EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは

    試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・…

    EM(走査電子顕微鏡)と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と組み合わせることにより、評価初期段階での歪み発生箇所の解明、破壊メカニズムの解明などに役立ちます。 【マッピングの例】 ■IQマップ  パターンの良否により結晶性の良し悪しを表しま...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価) 製品画像

    パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価)

    パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

    チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す熱ストレスへの耐久性を 評価するために、「パワーサイクル試験」の重要性が増しています。 当社では、試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で 実施しています。 また試験サービスだけではなく、試験装置の開発・販売も 行っておりますので、ご用命の際はお気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■複数のサンプルを同時に試験できる...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション 製品画像

    ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション

    パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…

    当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • プリント基板の各種評価 製品画像

    プリント基板の各種評価

    プリント基板の品質の確認、検証に。

    】 ■はんだ付けパッド評価  ・はんだ濡れ性  ・はんだ付け性  ・めっき厚測定  ・ソフトエッチング耐食性  ・粒界腐食観察 【基板の仕上がり品質検査】 ■スルーホール評価、信頼性評価  ・スルーホール初期評価  ・スルーホール導通信頼性評価  ・絶縁信頼性評価 ※詳細に関しましては下記までお問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験:空冷システム 製品画像

    パワーサイクル試験:空冷システム

    恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹…

    冷却を 繰り返すことで、IGBT等パワー半導体に熱ストレスを与える試験です。 恒温槽を使用することで、さらに強制的な冷却が行えるため、より強い 付加を加える事が可能。試験期間の短縮や高い信頼性の確認ができます。 関連リンクでは、試験条件事例や、空冷パワーサイクル Tj温度制御事例 について画像付きでご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【パワーサイクル試験原理】 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】 製品画像

    X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

    より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

    自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が 飛躍的に増大し、開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます 要求されています。 試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、 工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のまま...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 食品中のアレルゲン分析 製品画像

    食品中のアレルゲン分析

    信頼性の高い結果を迅速に報告!表示が義務化された7品目等、アレルゲン物…

    律で表示義務が定められた7品目の特定原材料が、商品に含まれて いないかを検査。最終製品のみならず、コンタミネーションの確認にも ご利用いただけます。 消費者庁通知に則った検査方法により、信頼性の高い結果を迅速に ご報告いたします。 【食品アレルゲン分析のプロセス】 ■1.検体の前処理(1日) ■2.ELISA(エライザ)法による定量検査(2日) ■3.PCR法(3日)また...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • アバランシェ試験/連続アバランシェ試験 製品画像

    アバランシェ試験/連続アバランシェ試験

    パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体…

    ランシェ波形、電圧、クランプ時間を観測します ■ダブルパルスアバランシェ試験:  逆回復時間やスイッチング特性を確認します ■連続パルスアバランシェ試験:  誘導性負荷を駆動する場合の耐久信頼性試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 疲労試験 製品画像

    疲労試験

    高精度な試験力・変位のコントロールが可能!微小サンプルの信頼性評価に威…

    試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を 評価する『疲労試験』を行っております。 電磁力式アクチュエータにより高精度な試験力・変位のコントロールが 可能で、電子部品など微小サンプルの信頼性評価に威力を発揮。 引張・圧縮の繰り返し応力を与えますが、治具の作製により曲げ疲労試験 にも対応します。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■材料は繰返し応力を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【実験事例】無電解Ni-Sn-Pめっき液 製品画像

    【実験事例】無電解Ni-Sn-Pめっき液

    ブラックパッドの原因となる腐食を抑制することが確認できた事例をご紹介!

    電解Ni-Sn-Pめっき皮膜はブラックパッドの原因となる腐食を 抑制することを確認。また、無電解Niめっき皮膜が腐食される条件下に おいても無電解Ni-Sn-P/Auめっき皮膜は高いはんだ接合信頼性が 得られることが確認できました。 【事例概要】 <背景> ■Pbフリーはんだを使用した場合、はんだが脱落しめっき表面が黒くなる  「ブラックパッド」と呼ばれる不良が発生することがあ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス) 製品画像

    【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス)

    事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析…

    ■パワーデバイスへの対応 パワーデバイスは、通常の半導体パッケージよりも信頼性が高い樹脂を使う傾向があり、 そのため開封の難易度も高くなっています。 ここでは、弊社で実施したIGBT開封の事例を紹介しています。 ■Agワイヤを使用した半導体パッケージの開封 近年...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 断面研磨 製品画像

    断面研磨

    研究開発・品質保証のスピードアップに貢献!手間を惜しまないこだわりが、…

    クオルテックは、信頼性試験、良品解析や故障解析、理化学分析に必要な 断面試料を、短納期・高品質・低価格でご提供します。 サンプル受け取り後、7営業日で試料作製→断面観察→報告書提出まで完了。 手間暇をかけなが...

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  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化(軽量化)されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法の ご提案や、正確なデータをご提供しています。 【特長】 ■温度条件への対応 ■振...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介 製品画像

    超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介

    超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意…

    度まで。 1.剥離、ボイドの鋭敏な検査が可能 2.任意箇所の観察が可能(Z軸方向) 3.有機物の観察が可能 パッケージICの剥離調査、樹脂内ボイドの調査、基板とめっき層の界面剥離調査。 信頼性試験と組み合わせることで、不具合発生の追跡調査も可能。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    D C-SAM ・波形データを再構成、3D画像化することで異常部位等を立体的に捉えることが可能 ・材質要因等でX線での評価が困難な場合でも超音波を用いて評価できる可能性がある(使用用途) ・信頼性試験前後での内部状態の追跡(そり) ・構造解析など 使用装置:超高精度超音波顕微鏡「Gen6」 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • HAST(PCT) 製品画像

    HAST(PCT)

    当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

    -66の不飽和加圧水蒸気における 通電試験も可能。 当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です。 【概要】 ■HAST(不飽和加圧蒸気試験) ・電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と  湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法が  とられており、並列複合試験の代表的な試験方法 ■PCT(飽和加圧蒸気試験) ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶 製品画像

    株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶

    2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード:9165…

    支えて頂いた お客様、お取引先様、株主様をはじめとする皆様のご支援の賜物と心より 御礼申し上げます。 当社は、工場の品質改善、技術指導からその業務をスタートしました。 現在は、分析、信頼性試験、試料作製、再現実験、共同研究にいたる まで、「トータル・クオリティ・ソリューション」を提供しています。 化学、物理学、金属工学、電気工学、電磁気学といった学術領域を 修めたスペシャ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • TDDB(酸化膜破壊)試験 製品画像

    TDDB(酸化膜破壊)試験

    寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用…

    にかけていると、時間が経つにつれ 酸化膜の破壊が発生します。 これを酸化膜破壊(TDDB:Time Dependent Dielectric Breakdown)といい、 半導体の寿命や信頼性を考える上で、最も重要な要因のうちの一つです。 このTDDB試験においては、電圧加速による寿命試験を行います。 【特長】 ■複数電圧やドレイン-ソース電圧印加、ゲート-ソース電圧印加など...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 高電圧マイグレーション試験 製品画像

    高電圧マイグレーション試験

    1000チャンネルを超える大規模試験にも対応!解析や試験パターンの作製…

    当社で行っている信頼性試験の『高電圧マイグレーション試験』について ご紹介いたします。 当社で製作したマイグレーション監視装置は特に高電圧に特化しており、 絶縁閾値付近の精度を求め、カスタマイズしております。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 短絡耐量試験の概要および特長 製品画像

    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 ...

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