• 独自の安全機構でガス充満による酸欠事故を防止『グローブボックス』 製品画像

    独自の安全機構でガス充満による酸欠事故を防止『グローブボックス』

    PR真空装置メーカーの技術・経験を結集!自社設計により柔軟な仕様変更とリー…

    当社では、不純物ガス濃度1ppm以下の高純度環境を実現する 『グローブボックス』を設計・製造・販売しております。 内部のガス圧力が一定範囲になるよう制御するAPC機構や、 グローブ・圧力計の破損時に異常を検知してガス供給を停止するセイフティ機構を標準搭載。 グローブボックスの豊富な知識・経験を活かし、各種カスタマイズも承ります。 【特長】 ■自社設計により柔軟な仕様変更とリ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エイエルエステクノロジー

  • OPIE2024_ポジショニングEXPOに出展と製品のご紹介 製品画像

    OPIE2024_ポジショニングEXPOに出展と製品のご紹介

    PR高精度で1軸~多軸構成、高機能コントローラ、グラナイト製品などを統合し…

    【OPIE 2023 ポジショニングEXPO】に出展いたします。 日時:4月24日(水)〜26日(金) 10時~17時 場所:パシフィコ横浜 ブース番号:E-32 【出展製品例】 • 6軸位置決めヘキサポッドステージ • レーザー加工や計測機などに好適なXY+Z位置決めシステム • エアベアリング:XY軸ステージと回転ステージ • 高速高加速リニアモーターステージ • ナノメ...

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    メーカー・取り扱い企業: ピーアイ・ジャパン株式会社 本社

  • 受託試験 製品画像

    受託試験

    企業や大学等、幅広いお客様を対象!様々な知見やノウハウが蓄積

    当社の技術試験センターでは、「受託試験」を承っております。 試験する資料をお預かりし、試験の実施と報告書の作成を実施。 また、装置貸出も行っており、お客様ご自身で試験装置を使用して いただけます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

  • 受託不具合調査 製品画像

    受託不具合調査

    色々な角度から評価可能!多数の試験装置をそろえております

    当社の技術試験センターでは、「受託不具合調査」を行っております。 不具合品の外観調査等の初期調査結果からの"調査の方向性"、"想定しうる 故障モード"等をこれまでの知見から、お客様に合わせたアドバイス...

    メーカー・取り扱い企業: 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

  • 東京都立産業技術研究センター 車載電子機器向けEMC試験の支援 製品画像

    東京都立産業技術研究センター 車載電子機器向けEMC試験の支援

    測定から対策まで一括サポート!多摩テクノプラザのEMC支援

    東京都立産業技術研究センター(都産技研) 多摩テクノプラザでは2020年よりCISPR25に代表される車載EMC試験を開始しました。また、都内中小企業のモビリティ産業への進出を支援するためにモビリティEMC支援室を...

    メーカー・取り扱い企業: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

  • 品質技術サービス有限会社 事業紹介 製品画像

    品質技術サービス有限会社 事業紹介

    [確かな品質]信頼のサービス。非破壊検査のパイオニア品質技術サービス

    品質技術サービス有限会社は、工場や建設現場などにおいて溶接構造物の製造及び、据付工事における品質管理また非破壊検査、超音波探傷試験(UT)・放射線透過試験(RT)・浸透探傷試験(PT)等についてサービスを提...

    メーカー・取り扱い企業: 品質技術サービス有限会社

  • 株式会社ダイム技術サービス 会社案内 製品画像

    株式会社ダイム技術サービス 会社案内

    地質調査・解析、コンクリート試験・計測調査解析などを行う当社の業務内容…

    株式会社ダイム技術サービスの業務内容をご紹介します。 立体地形図の任意視点表示が可能な「3Dハザードマップ」をはじめ、 フィルダム・コンクリートダム・農業用ため池の建設や改修に伴う調査・ 試験・解析・設計や...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ダイム技術サービス

  • 品質技術トータルソリューション 製品画像

    品質技術トータルソリューション

    製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…

    ●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス  電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティング...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 独自技術と多様なアプローチによる非破壊検査ソリューション 製品画像

    独自技術と多様なアプローチによる非破壊検査ソリューション

    最新の検査装置、蓄積されたノウハウ、優れた技術者と現場対応力でプラント…

    ◆超音波探傷 ・非対称TOFD ・フェイズドアレイ ・FMC/TFM ・水素侵食HIC評価 ・配管フレキアレイ ◆ロボット技術 ・各種自走検査装置 ◆オリジナルチューブ検査 ・熱交換器細管I-UT、HI-UT ・ボイラチューブアレイHI-UT ◆石油備蓄タンク関連技術 ・底板連続板厚測定(T-RIS) ・側板...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本製鋼所M&E株式会社 営業本部

  • 得意技術『MENS微細加工』 製品画像

    得意技術『MENS微細加工』

    フェロ&ピコシステム研究部の得意とするMENS微細加工技術をご紹介!

    フェロ&ピコシステム研究部では、MEMSと磁石&磁気工学を基盤技術とし、 微量センシング、マイクロ発電、流体システム、磁石材料全般、磁気応用の 研究・開発に取り組んでおります。 また、磁石材料特性評価&解析、磁石市場&技術調査磁石材料、MEMS微細加工 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社KRI

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 3D技術代行サービス『評価・解析サービス』 製品画像

    3D技術代行サービス『評価・解析サービス』

    最新のスキャン技術とソフトウェアを用いて、形状や内部に発生している不良…

    最新のソフトウェアを用いて、欠陥解析や形状評価、非破壊検査など様々な評価・解析が可能です。検査結果は情報を集約したレポートとして提出いたします。 [特長] ■正確なデータを取得 様々なサイズ、材質、形状のワークに対応可能な3Dスキャナと、アセンブリの内部状態や、製品内部の欠陥まで取得できる高出力なX線CT(CTスキャナ)を保有。 検査目的やワークによってスキャナを使い分け、検査に必要な...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムクリエイト

  • クライオ加工 製品画像

    クライオ加工

    やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

    特徴 ・柔らかいサンプルを冷却することで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料(生体試料・高分子材料など)の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...室温では柔らかくて切削できない有機・高分子材料サンプルやゲル状の材料も冷却して硬化させること...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 食品ブランド化支援サービス 製品画像

    食品ブランド化支援サービス

    機能性成分の分析から機能性表示食品の届出までの課題解決を包括的にサポー…

    MSTでは食品中に含まれる機能性成分の分析を通して、食品のブランド化を支援するサービスを開始しました。 ・おいしいだけでなく食品ブランドとしての価値を高めたい ・健康に良いとされているが、何によって効果が出ているかよくわからない ・他の品種で機能性成分が含まれていることはわかっているが、自社栽培品では調べることができていない などのお客様の課題に対して、機能性成分の調査、商品化に向けた...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【技術資料】粉体のハンドリングにおけるトラブルで困ってませんか? 製品画像

    技術資料】粉体のハンドリングにおけるトラブルで困ってませんか?

    日頃の現場・開発で粉体を扱う技術者が必要とする「基礎的な知識とトラブル…

    技術資料『製品開発に役立つカイゼンの指標』は、通常業務で粉体を扱う技術者が必要とする基礎的な知識とトラブルに対する基本的な取り組みをわかりやすく解説した技術資料です。 測定装置で、皆様の研究開発のお役に立てる測定・技術の提供を行っている『ナノシーズ』だからこそ持っている知識、ノウハウ、多角的な視点で解説! 【こんなお悩みありませんか?】 ■現場(開発・工場共に)で、粉体(原料・ 製品)に関...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナノシーズ

  • NMR分析サービス 製品画像

    NMR分析サービス

    NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析! 検討から…

    【分析事例】 ・電池/半導体:電解液の溶液 NMR や大気非曝露での多核・固体 NMR 測定 ・樹脂/ポリマー:樹脂成分やポリマーの組成・劣化解析が可能 ・食品/環境:食品・サプリメント中の成分の定量や劣化状態の分析 ・医薬/バイオ:薬物と受容体の相互作用の有無や強弱の測定が可能...○感度良く分析できます! ・共鳴周波数600MHz (1H) での高感度測定により、不純物レベルでの分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 新型コロナウイルスPCR検査受託サービス 製品画像

    新型コロナウイルスPCR検査受託サービス

    新型コロナウイルス(COVID-19)PCR検査受託サービスを開始致し…

    こんなお悩みありませんか? ■ 会社で集団検査を実施したい ■ 直接来所して検査を済ませたい ■ 自宅で手軽に検査したい 詳しくはホームページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。 (TEL:0120-727-551) ※保険適用外となります。 ※発熱・味覚障害等の症状があり既に発症が疑われる方、  感染者との濃厚接触が疑われる方は、管轄の相談センターまたは医療機...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス 製品画像

    X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス

    加熱/冷却や応力・圧縮の負荷状態での三次元構造観察が可能です。

    様々な負荷状態下での三次元構造観察...●引張り試験 試料を引張る方向に応力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●圧縮試験 試料を圧縮する方向に圧力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●温度調節 ステージの温度を調節した状態でX線CT測定をすることが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 機能性成分の血液中成分濃度分析 製品画像

    機能性成分の血液中成分濃度分析

    血液中レスベラトロールの濃度評価事例

    測定法:LC/MS 製品分野:食品・医薬品 分析目的:組成評価・同定...レスベラトロールのサプリメントを摂取した被験者から血液を採取し、血液中のレスベラトロールを測定しました。その結果、レスベラトロールは摂取1時間後の血液中から検出されましたが、摂取後2時間後以降は検出されませんでした。レスベラトロールは体内で速やかに代謝される物質であると考えられます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • AI×機器分析による異常評価事例 製品画像

    AI×機器分析による異常評価事例

    AIの異常検知精度/処理能力を活かし、異常の本質を科学的に究明します。

    異常検知は、大量のデータの中から他のパターンとは一致しないデータを見つける技術です。 製品開発や製造に異常検知を取り入れることで、品質管理などの省力化が期待されます。 さらに、機器分析を行うことで、異常の本質を科学的に究明することができます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 複合材料 技術サービス 製品画像

    複合材料 技術サービス

    材料強度試験や積層材料の層間の物性評価など!技術サービスをご紹介

    中外テクノス株式会社では、複合材料に関する技術サービスをご提供しております。 材料強度試験では、炭素繊維複合材料の特性データの提供から、製品や部品の 不具合に対する原因・対策の考察まで、材料評価技術と経験を活かした総合的な 解析を行い...

    メーカー・取り扱い企業: 中外テクノス株式会社

  • [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法 製品画像

    [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法

    有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

    ガスクロマトグラフィー(GC)は、クロマトグラフ法の一種に分類され、固定相に対する気体の吸着性あるいは分配係数の差異等を利用し、成分を分離する手法です。 ガスクロマトグラフィー質量分析法(GC/MS)は、GCで分離した成分の検出に質量分析計を用いることで、質量情報から成分の定性及び定量を行うことが可能です。 ・分子量が比較的小さく、揮発性の高い成分の分析に有効 ・微量有機成分の定性・定量...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法 製品画像

    [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法

    イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

    液体クロマトグラフィー(LC)は、クロマトグラフ法の一種に分類され、液体状のサンプルをクロマトグラフィーの原理により成分の分離を行います。ここで分離された成分の検出を質量分析計で行うものを液体クロマトグラフィー質量分析法(LC/MS)と言います。 LC/MSは有機化合物の定性・定量を行う分析手法です。 ・分子量が比較的大きいまたは極性が比較的高い成分の分析に有効 ・イオン化方法を選択する...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像

    絶対PL量子収率測定

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能...物質に光(紫外・可視光)を照射すると...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [IC]イオンクロマトグラフ法 製品画像

    [IC]イオンクロマトグラフ法

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 ・イオン成分の定性分析、定量分析が可能 ・少量の試料(数mL)にて分析可能...イオンクロマトグフ法(IC法)は液体クロマトグラフ法(表1)の1種に分類され、液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 溶離液と呼ばれる移動相に液体試料を導入し、試料中のイオン成分を固定相である分離カラム内で分離させます。イオンクロマト...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子線誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に取り出すことができます。 この起電流をEBIC(Electron Beam Induced Current)と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ロックイン発熱解析法 製品画像

    ロックイン発熱解析法

    ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

    ・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。 ・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。 ・ロックイン信号を用いることにより高いS/Nで発熱箇所を特定でき、Slice & Viewなど断面解析を行うことができます。.....

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 製品画像

    [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

    電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

    EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴があります。 ・EDXに比べて軽元素の感度が良い ・EDXに比べてエネルギー分解能が高い ・EDXに比べて空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い ・元素によっては化学状...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像

    [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サンプルを加熱して評価することが可能...■周期構造による散...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 検査技術 製品画像

    検査技術

    精密加工部品の「サブミクロン単位」の測定・判定・検査

    創業以来メカトロ装置に取り組んでいる当社では、精密加工部品の 「サブミクロン単位」の測定・判定・検査技術を得意分野としております。 また、画像処理による測定・判定・検査技術や 空正・油圧に関する検査技術も有しております。 ご要望の際はお気軽にご相談ください。 【検査技術】 ■精密...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社緑星

  • [UV-Vis]紫外可視分光法 製品画像

    [UV-Vis]紫外可視分光法

    UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

    UV-Visは、波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です。 吸光度測定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率測定では、試料中の成分に特有の透過特性を評価できます。 ・紫外~可視~近赤外領域(波長域約190nm~約3000nm)における吸収スペクトル・透過スペクト...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 塗膜中の有害物質分析 製品画像

    塗膜中の有害物質分析

    PCB含有の可能性のある構造物に。塗膜に関することはなんでもお気軽にお…

    東海技術センターでは『塗膜中の有害物質分析』を行っています。 塗膜を剥離する際、作業される方の健康面への影響と周辺環境への飛散防止を 目的に実施する「含有量分析」をはじめ、廃棄する塗膜がPCB汚染物...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • [SSDP用加工]基板側からの測定用加工 製品画像

    [SSDP用加工]基板側からの測定用加工

    基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

    二次イオン質量分析法(SIMS)では、試料表面の凹凸、イオン照射により表面側に存在する原子が奥側に押し込まれるノックオン効果やクレーター底面粗れ等の現象により、急峻な元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側(裏面側)からSIMS分析を行うのがSSDP法(Back-Side SIMS法)です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることな...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像

    [AFM]原子間力顕微鏡法

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EMS分析(エミッション顕微鏡法) 製品画像

    EMS分析(エミッション顕微鏡法)

    故障箇所を迅速に特定

    EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...発光源としては、空間電荷領域でのキャリアの電界加速...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定量が可能 ・主成分元素の深さ方向分析・線分析・面分析の測定が可能 ・SiやAl等、幾つかの元素については酸化物状態及び金属状...

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    雰囲気制御下での処理

    サンプル本来の状態を評価することが可能

    ■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法:SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、Ra...

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    OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法)

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定可能。 ・DC電流経路を可視化。 ・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。...1.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度...

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    [UPS]紫外光電子分光法

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の定性・定量や結合状態と仕事関数値との相関を調べることが可能です。...測定試料の仕事関数値よりも高いエネルギーを持...

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    その他の探傷技術のご紹介

    検査業務を長年支えてきた技術の数々!お客様の様々なニーズにお応え

    日本電測機株式会社の、その他の探傷技術についてご紹介いたします。 検査業務を長年支えてきた技術の数々です。 一見すると従来通りに見える技術でも、 日々着実に進歩を続けています。 「技術・手法がないなら、我々の手で創る」それ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本電測機株式会社

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    [HPLC]高速液体クロマトグラフ法

    高速液体クロマトグラフ法(HPLC)は、液体中の成分を固定相と移動相の…

    ・有機酸のような高極性で比較的低分子な化合物も分析可能 ・脂質など低極性化合物も分析可能 ・ポストカラム法を用いることで、分離しきれなかった夾雑成分の影響を除くことが可能 ・高分子の定量および分子量分布測定が可能...測定対象に応じて分離方法・検出器を選択することで、低分子~高分子、低極性~高極性化合物まで様々な有機化合物の定性・定量が可能です。...

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