コーティング剤検査装置『Sonar』

PRUVライトを使った2Dコーティング剤検査装置。独自開発AIを使った気泡…

『Sonar』は、弊社が持つ画像処理検査技術とUVライト＋RG照明を組み合わせたコンフォーマルコーティング剤検査装置です。 コーティング領域の全面検査とコーティング不可領域の任意検査に加え、自社開発AI技術を使った気泡検出機能が標準装備されています。また、レーザー変位センサを使った膜厚測定（オプション）を搭載することでワーク毎のコーティング厚のバラつきを記録することが可能になります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジュッツジャパン

プラズマを用いた官能基修飾による表面改質で新たな機能を提供

PR難めっき樹脂・難接着樹脂へ「非粗化による直接めっき」や「接着剤レス直接…

弊社改質技術では、基材表面へ官能基を強固に結合して付与することで、 一般的なプラズマ表面処理（有機物除去、一時的な親水性の向上など）ではできない表面改質処理を提供できます。 【特長】 ○低誘電材および難めっき材への非粗化直接めっき技術 　フッ素樹脂、LCP、COP、ポリイミド樹脂などへ非粗化でシード層が介在しない直接銅めっきが可能 ○難接着材の非粗化接着剤レス・直接接着技術 　各種フッ素樹脂、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電子技研

【非磁性金属上の絶縁被膜厚の測定に】渦電流膜厚計 LH-373

小型ボディに多機能を凝縮。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く…

非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。 アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。 膜厚計として充分な機能を装備しています。 自動電源ON/OFF機能、上下限設定、統計計算等16種類の各種設定が可能です。 さらに、アプリケーションメモリ（検量線メモリ）機能を採用しました。 オプション品は、「測定スタンド」や「専用プリンタ」、「データロガーソフト」...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケツト科学研究所

光沢計『micro-Tri-gloss μ』光沢＋膜厚測定が可能

低-中-高光沢の光沢測定と膜厚測定が1台で可能！

micro-Tri-gloss μは、1台の測定器で20°/60°/85°の３つの角度と膜厚（Fe/NFe）の両方が同時に測定可能。 国際規格に準拠して、素早い品質の変動の認識が可能になります。 【特徴】 ■20°/60°/85°光沢を同時に測定 ■膜厚デュアルセンサー Fe/NFeを搭載 ■光源にはLEDを使用、光源は10年保証 ■カラーディスプレイ搭載 ■ホルダー内校正板で自...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テツタニ

コーティング検査装置『TROI-8800CIシリーズ』

反転機を通して両面検査機能が可能！コーティング膜厚の測定装置

『TROI-8800CIシリーズ』は、光の屈折を利用した精密な測定法により、 コーティング膜厚の測定が可能な検査装置です。 ユーザー利便のためのUI及び簡単なプログラミングが特長。 検査結果情報の共有及び自動連動することで、品質管理、品質向上に 活用できます。 【特長】 ■ユーザー利便のためのUI及び簡単なプログラミング ■オートティーチング、自動デバッグ ■検査結果情...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペントロンジャパン

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人