コーティング剤検査装置『Sonar』

PRUVライトを使った2Dコーティング剤検査装置。独自開発AIを使った気泡…

『Sonar』は、弊社が持つ画像処理検査技術とUVライト＋RG照明を組み合わせたコンフォーマルコーティング剤検査装置です。 コーティング領域の全面検査とコーティング不可領域の任意検査に加え、自社開発AI技術を使った気泡検出機能が標準装備されています。また、レーザー変位センサを使った膜厚測定（オプション）を搭載することでワーク毎のコーティング厚のバラつきを記録することが可能になります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジュッツジャパン

フッ素膜【フッ素薄膜処理における真空蒸着法とスプレー法の違い】

PR各処理方法のメリット・デメリットを分かりやすく紹介した資料進呈。受託加…

本資料では、ガラスや金属に撥水性・撥油性・防汚性・離型性などを付与できる フッ素薄膜処理について、真空蒸着法とスプレー法の違いを説明しています。 フッ素薄膜処理は、基材の形状やコストなどの条件に応じた 処理方法の選定が求められます。 フッ素薄膜処理をご検討中の方は、ぜひ本資料をご覧ください。 【掲載内容】 ・フッ素薄膜処理とは ・真空蒸着法、スプレー法とは ・真空蒸着法...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カツラヤマテクノロジー T&K事業部

光学膜厚測定システム『DF-1045R1』

多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応！

光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD分光器の採用により、省スペース、高速スペクトル測定を実現しました。 柔軟で高機能なスペクトル解析ソフトウエアSCOUTを搭載しているため、 多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー

【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚計『FF8』

測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 イ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード

分光楕円偏光解析装置　分光エリプソメータMASS-105

多層膜など多くのパラメーターが一度に解析！小型・高速分光エリプソメータ

分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター（膜厚、屈折率、吸収係数）が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT”を標準装備し､ファイブラボ株式会社の解析ソフトを補い、より解析力がアップし、研究用としても対応しています...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

検査機『タッチパネルリニアリティテスター』

回転寿司や駅の切符売り場でもおなじみのタッチパネルを検査評価します

『タッチパネルリニアリティテスター』は、４線式抵抗膜方式の タッチパネルに対応するタッチパネルテスターです。 カーボン系のノンレアメタル抵抗膜を使って、タッチパネルの試作、及び タッチパネルCRTやタッチパネルナビを試作した実績があります。 もちろん他方式のタッチパネル向けのテスターや検査機の特注製作も 承っておりますので、ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エヌティーエス

LED測定用モバイル分光装置

光学干渉式膜厚測定により、非接触で高速計測が可能。表面または中間層の二…

昨今のLED測定アプリケーションはその使用マーケットの拡大に伴い多種多様化しており、既存の測定装置では用途に応じた対応が困難となってきています。 またLED関連企業の多くは技術的な難しさに加え、測定という新たなプロジェクトに対し多額な予算を準備することに戸惑いを持っており、LED及びLEDディスプレイの測定への高いハードルとなっています。 弊社はその現状を踏まえ、LED測定用モバイル分光測定装...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社スペクトラ・コープ

自動楕円偏光解析装置　レーザーエリプソメータMARY-102

小型・低価格・高精度・使い易さを追求した自動楕円偏光解析装置。

レーザーエリプソメータMARY-102はレーザー光による偏光解析法を用いてシリコンやガラス基板の光学特性、又はそれらを基板上の薄膜の膜厚や光学特性（屈折率など）を測定します。MARY-102は、ファイブラボ株式会社の光計測技術を基に、小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されました。 シミュレーション機能等を充実させた研究用ソフトウェアの他に、ルーチン作業に適した工業用ソフトウェアもご選択い...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚測定システム『FF8』

測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 イ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード