結晶 | イプロスものづくり

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業：日本NER株式会社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方でハイダイナミックレンジを提供。ウェハー深さ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

X線回折による配向評価

配向材料の評価に有効な方法！極点測定による配向評価についてご紹介！

金属材料の多くは、製造プロセスや加工によって結晶の向きが特定の方向に揃う性質があります。結晶の向きが揃った状態は配向や集合組織と呼ばれ、同じ組成の材料でも、配向性が異なると強度などの機械的性質が変化します。そのため、機械的性質...

メーカー・取り扱い企業：川重テクノロジー株式会社

【労働災害事例】アセトニトリルを用いて結晶を洗浄する作業中の中毒

アセトニトリルを用いて遠心分離機内の結晶を洗浄する作業中、中毒に罹って…

反応釜で生成した結晶を遠心分離機に移し結晶をろ過後、アセトニトリルをかけながら洗浄しましたが、洗浄が不十分だったため、遠心分離機内に手を入れて行う、練り洗いの方法に切り替えました。作業に邪魔な遠心分離器...

メーカー・取り扱い企業：理研計器株式会社本社

X線結晶構造解析装置の世界市場レポート YH Research

『無料サンプル』を入手可能！関連リンクから詳細をご覧になり、直接お申…

YH Research株式会社（本社：東京都中央区）は調査レポート「グローバルX線結晶構造解析装置のトップ会社の市場シェアおよびランキング 2024」を2月8日に発行しました。本レポートでは、X線結晶構造解析装置市場の製品定義、分類、用途、企業、産業チェーン構造に関する情報を提供しま...

メーカー・取り扱い企業： YH Research株式会社

多目的X線回折装置 Empyrean（エンピリアン）

開発から品質管理まで！さまざまな形態の試料解析を可能にした超高性能のX…

【アプリケーション】１．粉末多結晶試料のアプリケーション ●結晶相定性分析、定量分析（リートベルト法） ●結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化 ●２Ｄ検出器のよるデバイ環による結晶状態確認、温度・湿度・圧力な...

メーカー・取り扱い企業：スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

エックス線回折式残留応力測定装置用『応力試験片』

使いやすさと手軽さを両立した低応力及び高応力試験片

【仕様】 [高応力試験片] ◆Feベース・結晶格子　BCC ・応力値(Mpa)　-400～-500 ◆Niベース・結晶格子　FCC ・応力値(Mpa)　-800～-900 ◆Tiベース・結晶格子　HCP ・応力値(Mpa)　-...

メーカー・取り扱い企業：プロトマニュファクチュアリング株式会社

中赤外＋可視光同時測定・カスタムATRファイバープローブ

2つの波長レンジを同時測定できるプローブです。

、化学分析において物理的現象と波長領域の点で大きく異なりなます。それ故両方の測定に対応できるプローブを開発することは、一筋縄ではいかないミッションです。artが提案したソリューションは、精密なATR結晶の光学構成をベースに両方の測定法に対応する共通のインターフェースになれる設計です。本プローブにはジルコニア結晶が採用されました。固有の蛍光が少ないことに加えて高い屈折率（ダイヤモンドに近い）、両方の...

メーカー・取り扱い企業：サンインスツルメント株式会社本社

結晶欠陥検出装置フォトルミネッセンスイメージング装置

ウエハの全面測定での欠陥検出に

た後に再発光する現象を観察する手法です。フォトルミネッセンスイメージング装置は、高い解像度でフォトルミネッセンス画像（PL画像）を取得するだけではなく、分光情報も得られます。そのため半導体ウエハの結晶欠陥の位置を確認することが可能です。装置はエントリーモデルから、ウエハの全面測定やカラーフォトルミネッセンス画像、量産工程用のモデルなど各種モデルをラインナップしております。...

メーカー・取り扱い企業：西華デジタルイメージ株式会社

結晶欠陥検出装置ラマン測定装置・歪シリコン測定装置

高性能顕微サンプル室を装備しており,高精度ラマン分光測定を実現

ラマン測定装置とは、物質に光を照射した際に、物質の散乱光に入射光とは異なる波長の光（ラマン錯乱:RamanScattering）を測定し、その分光情報を基に結晶化の程度や結晶格子の歪み、シリコン基板の応力測定を、顕微サンプル室を標準装備することで高精度な測定を実現しています。高性能顕微サンプル室を装備しており高精度測定を実現。波数分解能、空間分解能、短波長...

メーカー・取り扱い企業：西華デジタルイメージ株式会社

微小部X線回折測定

X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微…

X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象をピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。「微小部X線回折装...

メーカー・取り扱い企業：川重テクノロジー株式会社

卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（エアリス）

【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XR…

パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。今回のリニューア...

メーカー・取り扱い企業：スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

X線単結晶方位測定装置 s-Laue

省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです！

単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。【特長】・小型・軽量で省スペース・測定時間：約60秒・低出力X線...

メーカー・取り扱い企業：パルステック工業株式会社

蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

れたエネルギー分解能】エネルギー分解能が10eV程度と高いため、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。【微量元素（±数100ppm～数1,000ppmの定量精度）の分析】分光結晶のチャンネル1つに対して1元素を分析することから、±数100ppm～数1,000ppm（0.01～0.1%オーダー）の微量な元素の分析に適しています。金属試料の材料判別や含有率の低い不純物の分析...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社

近赤外歪検査器『LSM-9100WNIR』

有色樹脂の品質管理が可能！樹脂フィルム/シートや水晶/石英/光学結晶な…

WNIR』は、サイズφ100mmを面分布で数分で評価する近赤外歪検査器です。これまで評価が困難であった、色の着いた樹脂製品の歪分布評価が可能。樹脂フィルム/シートや、水晶/石英/光学結晶なども評価対象となります。当社ではサンプル評価を承っておりますので、お気軽にご連絡ください。【特長】 ■有色樹脂製品の歪分布評価 ■サイズφ100mmを面分布で数分で評価 ■樹...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ルケオ

「残留応力」を“非破壊・非接触”で測ります。※お試し計測可能！

金属やセラミックなどの残留応力、残留オーステナイト、半価幅などを高速測…

の計測も可能に！ ◎試料のセットが簡単　 ◎測定が約９０秒と短時間　 ◎比較的狭い部分の測定が可能 ◎単一入射のためゴニオ機構が不要　 ◎回折環全てのデータを観察することで応力と同時に粗大結晶粒、配向など結晶レベルの情報が画像で確認可能　 ◎装置が小型・軽量で可搬性に優れ、大きな試料・大型建造物でもオンサイト・非破壊で検査可能　 ◎Ｘ線出力は３０ｋＶ・１ｍＡと低出力で空冷を実現(Ｘ線...

メーカー・取り扱い企業：パルステック工業株式会社

世界最長10m・ATRファイバープローブ

中赤外レンジにおいてかつてない長さのATRファイバープローブを製作しま…

----------------------------- モデル：FlexiSpecR ● タイプ：スタンダード / ラボ向け（PEEK製シャフト）/ 高温対応 / ファイバ脱着 ● ATR結晶別波長レンジ　ダイヤモンド：5.3-16.7μm(600-1900cm-1) 　シリコン・ゲルマニウム・ジンクセレン：3.2-16.7μm(600-3100cm-1) 　ジルコニア：1.1-...

メーカー・取り扱い企業：サンインスツルメント株式会社本社

ムラビューワー

ナノクラスの微細な変化も見逃さない！半自動で欠陥を判別して可視化するこ…

」欠陥を「くっきり・鮮やかに」に確認できる新感覚のスコープです。ガラス・水晶・サファイア等の表面に残るナノサイズの微細な研磨痕・オレンジピール・スクラッチや内部にある微細な脈理・結晶欠陥等も、目視による検査・評価が可能になり、表面粗さの管理・研磨条件の設定、蒸着後の歩留まりが確実に向上します。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社三明本社、東京支店、大阪支店、神奈川営業所、山形営業所、浜松営業所、名古屋営業所、長野営業所、八戸営業所

フラットチップ・ダイヤモンドATRファイバープローブ

プローブ先端のダイヤモンドATRチップがフラットなので、接触測定がしや…

メーカー：art photonics（ドイツ）プローブ先端ダイヤモンド結晶がフラットなタイプです。表面が平らなサンプルにしっかり接触させることができます。またクリーニングも容易にできます。中赤外ファイバATRプローブは、あらゆるタイプのFTNIR・FTIR、その他の赤外分...

メーカー・取り扱い企業：サンインスツルメント株式会社本社

波長1.1-17μm・ローコスト・ラボ用ATR光ファイバプローブ

Bayer、BASF、bp、Chevron、Dow、Pfizerなどで…

--------- 特徴 ------------------------------------------------- 死角なしのエバネセント吸収スペクトル用途に合わせた最適なATR結晶の選定インライン反応モニタリングに高いコストパフォーマンス ------------------------------------------------- プローブタイプ -----...

メーカー・取り扱い企業：サンインスツルメント株式会社本社

X線ウェーハバンプ自動検査装置『Six-3000』

ウェーハ内部のボイドへX線を用いて透過！基準値以上のボイドについての良…

否を自動判定検査。 X線源にはマイクロフォーカスX線管を用いてX線受像部にはX線デジタルカメラを採用し、高解像度の画像を抽出。高精度ボイド検査が可能です。この他に、シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置『X-CAS-2』もご用意しております。【Six-3000特長】 ■ウェーハ上のバンプを自動で検査、判定を行うX線自動検査装置 ■ウェーハ内部のボイド（気泡）をX線...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイビット

UltraDry EDS 検出器

インプットレートは1,000,000カウント／秒！より迅速でより正確な…

、外部からの冷却や液体窒素による冷却を必要としません。【特長】 ■優れた性能を実現する驚異的な操作スペース ■実質的に電子ノイズを除去するためのより小型化された一体型FET ■結晶活性領域による、今日市場に出ている検出器の中で最大級の収集立体角 ■Be(ベリリウム)までの軽元素に対する感度 ■冷却水やファンなどの補助冷却や液体窒素は不要 ※製品の詳細については、直接...

メーカー・取り扱い企業：サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…

■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象 ■発熱観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

高温時の物質形態変化の観察（高温X線回析測定）

測定温度の間隔を細かくすることで、⽣成する温度も知ることが可能！高温X…

物質は、加熱や冷却により化合形態や結晶構造が変化し、高温X線回折装置により観察することができます。当社所有の装置では、半導体検出器による超高速（数分）の測定、室温から1200℃までの測定などが可能。また、昇降温速度、 ...

メーカー・取り扱い企業：川重テクノロジー株式会社

【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生

「信頼性試験中にはんだクラックが発生、早急な脆弱箇所の特定をしたい」と…

信頼性試験の経過に伴い、結晶方位がずれてクラックが進行していきます。方位変化とクラックの進展は同時期に発生し相関が見られ、局所的に応力印加される場所を特定することにより破壊箇所の予測が可能となります。この場...

メーカー・取り扱い企業：株式会社クオルテック

分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

定　○ロールツーロール測定　○FTIRオプション　○光学式細孔率　○細孔分布測定　などあらゆる製品をご提案可能【薄膜太陽電池向け分光エリプソメーター】 ○アモルファスシリコン　○微結晶シリコン　○GIGS　○CdTe　○DSSC　○有機物等の、光学特性の測定が可能　○ITO膜【測定可能な物理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k)　○屈折率の勾配と材料組成 ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

れたエネルギー分解能】エネルギー分解能が10eV程度と高いため、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。【微量元素（±数100ppm～数1,000ppmの定量精度）の分析】分光結晶のチャンネル1つに対して1元素を分析することから、±数100ppm～数1,000ppm（0.01～0.1%オーダー）の微量な元素の分析に適しています。金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析など...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社