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PR【無料サンプル進呈中】新素材のカーボンナノチューブ(CNT)を塗料化し…
ニクロム線など金属系素材を使用した面状発熱体とは違い、 全面発熱する素材です。 HEATNEXはCNTを抵抗体として使用しフィルムに印刷することで フレキシブルな発熱素材を実現しました。 透明度の調整により透明に近づけ 光を通す仕様にも対応可能です。 【特長】 ■全面で均一に発熱させることが可能なフレキシブルな発熱素材です。 ■面状発熱の伝熱と遠赤外線の輻射熱により効率的に...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アドバネクス
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フレキシブル半導体製造装置『SHUTTLELINEシリーズ』
PR薄膜堆積用PECVD・ドライエッチング・故障解析用プロセス対応。多機能…
『SHUTTLELINE(R)シリーズ』は、RIE/ICP-RIE、PECVD/ICP-CVDに対応し コンパクトながら高性能かつ多機能な半導体製造装置です。 成膜とエッチングプロセスを一台で実現し、様々なウエハサイズと形状に対応可能。 シャトルシステムにより、異なるサンプルサイズでもハードウェアの変更が不要です。 世界で広く採用されており、Plasma-Therm LLCの グ...
メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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AFMでは極めて微小な表面形態(凹凸)を捉えて測⾧することが可能です
AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型X線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報(原子番号を反映したコントラスト像)が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥(転位、双晶等)の情報の獲得 本事例では...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画
FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置ではマスクレスで任意形状のパターン描画(パターン形成)を行うことが可能です。 ・エッチングによるパターン描画では、1ドットあたり0.1μm程度の大きさで描画が可能です。(加工を行う材質、加工条件により最小サイズは変わります) ・ マスクレスでイオン注入を行うことが可能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…
当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定)」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 (ラマン分光分析)」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価(GD-...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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<資料DL可>【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置では自動で断面を連続で作製し、断面写真を取得することが可能です。この機能を用いて、表面からでは判別が難しい試料内部に存在する異常個所を特定することが可能です。 この事例では 「FIB装置の連続自動断面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…
弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIB...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ・ピラーの径:φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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高分子材料などの材料の実体に触れたい方へ硬化度測定や融解測定などDSC…
熱分析とは、物質の温度を変化させながらその物質のある物理的性質の温度依存を測定する技法です 手法の一例: ●DSC:試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用可能 ●TG/DTA:試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ● TMA:試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 当事例集では、その『熱分析』...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。…
示差熱熱重量同時測定装置(TG/DTA)では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。 この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します。 我々はお客様から状況をお聞きして適切な測定雰囲気を提案いたしますが、その背景となります。 本比較を活用すれば樹脂で”その試料そのものが燃焼しているのか”、”その試料から放出されたガスなのか...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可/TMA】プラスチックの圧縮応力による変形・破断の推定
プラスチック製ワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による変形・破断…
●試料:プラスチック製のワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による、変形・破断の様子を推定 ●手法:TMA(熱機械分析)・応力ひずみ測定装置による圧縮クリープ測定、応力ひずみ測定 ●結果:クリープ曲線、応力ひずみ曲線から、試料の圧縮による変形の様子が分かりました ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はTMAの他に、DSC、TG/DTAの各種熱分析も強みとしております ●DSC...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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