• 無料プレゼント!『ノイズ対策 ハンドブック』 製品画像

    無料プレゼント!『ノイズ対策 ハンドブック』

    PRプリント基板設計での“ノイズ対策”のポイントが満載!ハンドブック無料進…

    アート電子では、プリント基板を扱う電子回路の設計・開発者のための 『ノイズ対策 ハンドブック』を無料プレゼント中! そもそも「ノイズとは?」といった基本から、ノイズ対策の方法、 プリント基板の回路設計におけるポイントなど、 実践的な内容がたっぷり詰まった大充実の1冊です。 【掲載内容】 ■ノイズについて ■ノイズ対策の方法 ■プリント基板設計から行なうノイズ対策 ■プリン...

    メーカー・取り扱い企業: アート電子株式会社 本社

  • 函館電子の技術紹介『Auスタッドバンプ加工』 製品画像

    函館電子の技術紹介『Auスタッドバンプ加工』

    PR少量加工に対応可能。実装面積を抑えられ、製品の小型化に貢献。正確・迅速…

    当社は半導体製造で実績があり、IC一貫製造で培った技術をもとに 『Auスタッドバンプ加工』をはじめとした半導体の組み立て加工を手掛けています。 正確・高品質で、スピーディーかつリーズナブルな加工体制を実現しており 仕様や用途に合わせて条件出しを行った上で、少量品から対応できます。 【特長】 ■実装面積を小さく抑えられ、製品の小型化が可能 ■直径25μmの極小径加工が可能 ■パ...

    • s1.jpg
    • s2.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 函館電子株式会社

  • エクソソームの電子顕微鏡解析 製品画像

    エクソソームの電子顕微鏡解析

    約2週間でメールにて速報をお届け!電子顕微鏡で可視化することによって形…

    当社では、『エクソソームの電子顕微鏡解析』を行っております。 電子顕微鏡で可視化することによって形態やサイズの確認が可能です。 ご用意いただくものは、サンプル50μL程度。(サンプル量はご相談) 培養上清の場合はエ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(S...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 製品画像

    [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

    電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

    EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』 製品画像

    医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』

    透過型電子顕微鏡による安全性試験!長年積み重ねてきた経験と実績がありま…

    花市電子顕微鏡技術研究所では、電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』の 受託を行っております。 GLP/GMPに準拠した厳正な管理の下、ウイルス安全性試験を実施。 例としてCHO細胞を使用して...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • シミュレーション解析 製品画像

    シミュレーション解析

    富士電子工業では、シミュレーション解析の専任スタッフがおり、高周波焼入…

    富士電子工業のシミュレーション解析は、永年蓄積されたデータに基づいて選定された周波数・電圧などの条件入力からワークの温度分布・温度履歴・電力等を計算出力します。 焼入パターンの推測・最高温度・内部温度・コ...

    メーカー・取り扱い企業: 富士電子工業株式会社

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子線誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • TDS装置 受託測定 製品画像

    TDS装置 受託測定

    電子科学製のTDSを使用した受託測定!

    TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置:2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置:1台...測定モード  Bar (定性・定量測定)  SIM (m/z...

    メーカー・取り扱い企業: 電子科学株式会社

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [ED]電子回折法 製品画像

    [ED]電子回折法

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像

    [UPS]紫外光電子分光法

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クライオ電子顕微鏡ハンドブック 製品画像

    クライオ電子顕微鏡ハンドブック

    2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…

    研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス

  • 【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価 製品画像

    【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

    製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

    GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT(High Electron Mobility Transistor)」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層(2DEG)が得られ、電子移動度が...

    • img_c0702_1.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価 製品画像

    【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

    Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

    GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT(High Electron Mobility Transistor)」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層が得られ、電子移動度が高くなります...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】電子回折の種類と特徴 製品画像

    【分析事例】電子回折の種類と特徴

    TEM:透過電子顕微鏡法

    透過電子顕微鏡での電子回折法は、試料への電子線の入射の仕方によって3つに分類されます。それぞれの特徴とデータ例を示します。評価対象物のサイズや分析目的に応じて、適切な手法を選択する必要があります。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 破面分析に 走査型電子線マイクロアナライザ 製品画像

    破面分析に 走査型電子線マイクロアナライザ

    分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

    【走査型電子線マイクロアナライザ 主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    ても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS 二次イオン質量分析法 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES オージェ電子分光法 SEM 走査電子顕微鏡法 EBIC 電子線誘起電流法 ほか ○振動分光...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...

    • 発熱解析_2.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得るこ...

    • 1.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品 製品画像

    ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

    低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体

    5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信タ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 電子基板・部品の解析 製品画像

    電子基板・部品の解析

    高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!電子基板の解析事例をご紹介

    電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの...

    メーカー・取り扱い企業: イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

  • 株式会社アウトソーシングテクノロジー 事業紹介 製品画像

    株式会社アウトソーシングテクノロジー 事業紹介

    様々な産業のイノベーションを支援し、働きがいの持てる社会を実現する

    当社は、「機械・輸送機器・ロボティクス」「電気・電子、半導体」 「IT・ソフトウェア」「化学・医療・バイオ」といった幅広い技術分野において、 当社のエンジニアリソースを活用したサービスを展開しております。 お客様のニーズ対し、機電系・IT系...

    • 07_P7.png
    • 07_P10.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アウトソーシングテクノロジー

  • [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像

    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界(対応粒界)の観察が可能 特定結晶方位の抽...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価 製品画像

    【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

    AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

    装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 走査電子顕微鏡-X線分析 製品画像

    走査電子顕微鏡-X線分析

    試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

    走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察す...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社DJK

  • SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察 製品画像

    SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

    GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

    GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 電子機器の加速劣化試験サービス 製品画像

    電子機器の加速劣化試験サービス

    お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施!加速劣化試…

    電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が 加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを 代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。 当社は、各種公的規格に準拠した試験は勿論、長年、各種電子機器の 品質保証で培ってきた試験・ノウハウを ベースに、お客様のご要望に 即した加速劣化試験を実施いたします。 製品の使われ方やお悩み事項等の...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • ハイスピードカメラ出張撮影サービス 製品画像

    ハイスピードカメラ出張撮影サービス

    高速動作をハイスピードカメラで撮影/解析

    視認不可能な高速動作をハイスピードカメラで撮影/解析いたします。 原因不明な不具合の解決に貢献いたします。 お気軽にお問い合わせください。...【使用設備】 KEYENCE VW-9000...

    メーカー・取り扱い企業: 東部電子工業株式会社

  • 透過型電子顕微鏡 製品画像

    透過型電子顕微鏡

    透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能…

    弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。...TEM観察 ・ナノオーダーの構造把握や格子像の観察を行います。 ・TEM画像を使用した解析・評価、EDXによる局所的元素分析を行っております。 TEM画像を用いた解析、評価 ・高分解能TEM像による結晶欠陥の解析や歪みマッピング評価を行います。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

    微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

    『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に...

    • image_18.png
    • image_20.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像

    [XPS]X線光電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electr...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 表面分析ガイド 製品画像

    表面分析ガイド

    様々な表面分析手法!異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役…

    当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 ...

    • 2021-08-20_10h05_24.png
    • 2021-08-20_10h05_46.png
    • 2021-08-20_10h06_15.png
    • 2021-08-20_10h06_23.png
    • 2021-08-20_10h06_34.png
    • 2021-08-20_10h06_45.png
    • 2021-08-20_10h06_57.png
    • 2021-08-20_10h07_07.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Lab Solutions 「開発~量産立ち上げのパートナー」 製品画像

    Lab Solutions 「開発~量産立ち上げのパートナー」

    LIB材料(電極材、ラミネート包材)を持ち込み頂き、弊社保有金型にてサ…

    その他、標準保有型多数有り。 ユーザ様仕様での新規製作も可能です。 保有設備 1、3t、5tサーボ成形装置 2、接触式3次元測定器 3、非接触式3次元測定器(OGP) 4、走査型電子顕微鏡(SEM) その他、工作機械含め多数保有り。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 双葉電子工業株式会社

  • 電子顕微鏡による形態観察・成分分析のご案内 製品画像

    電子顕微鏡による形態観察・成分分析のご案内

    試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分…

    一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まず...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ナイロン6.10の構造解析 製品画像

    ナイロン6.10の構造解析

    特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明か…

    にない高い強度や 耐久性を持ちます。 その特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで 解き明かしていきます。 【ナイロン6.10 界面重合反応機構】 1.塩素の電子吸引により隣接炭素の電子が不足 2.アミンの非共有電子が炭素を求核攻撃する 3.酸素原子が活性化して不安定な中間体を形成 4.塩化水素が脱離して、アミド結合を形成 5.界面重合が進み、ポリマ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】解析事例 製品画像

    【資料】解析事例

    リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など!30nmから5μmの切片…

    当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った解析事例を 掲載しています。 「ウルトラミクロトーム」では、30nmから5μmの切片作製が可能。 生物組織、金属メッキ層や無機蒸着層を含む複合材料、ナノ粒子など ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 受託分析評価サービス 製品画像

    受託分析評価サービス

    長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します!

    見いだすことを常に念頭に置きながら、経験豊富な技術者集団が 先進の分析機器・分析技術、今まで培ってきたノウハウを活かし、 好適な分析手法をご提案いたします。 【分析分野】 ■半導体 ■電子部品 ■工業材料 ■環境分析 など ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社

  • 機構・筐体 設計サービス 製品画像

    機構・筐体 設計サービス

    医療用X線装置や家電製品などのことなら当社にお任せください

    ーの視点に立って、様々なジャンルの商品の 「構造」「機構」「筐体」でお客様にご満足いただける設計を実現します。 【請負設計業務】 ■Mechanical Design (機構設計)  ・電子装置や機器等の構造・機構・筐体設計を請け負います。 ■Computer Aided Engineering (解析による好適化)  ・構造解析、静的応力解析による好適設計を行います。 ■Mod...

    メーカー・取り扱い企業: フォーテック株式会社

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常加工サイズ:~20μm程度) ・SEM・SEM-STEM...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 2方向可視化金型 製品画像

    2方向可視化金型

    Futaba Labo Solutions

    「Futaba Labo Solutions」と称し、「見える!センシング金型」を目指した新たな商品サービスをご紹介いたします。...1、可視化金型 射出成形型で樹脂の流動を目視で確認できます。 弊社試験型及びお客様仕様の型で可視化が可能です。 弊社保有成形機で成形試験、高速度カメラでの撮影も可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 双葉電子工業株式会社

  • 可視化金型 PPS樹脂 製品画像

    可視化金型 PPS樹脂

    可視化金型 PPS樹脂 コアピンによる樹脂流動の比較

    ハイスピードカメラ5000fpsで撮影した可視化金型です。PPS樹脂のコアピンによる樹脂流動の比較を紹介しています。...1、可視化金型 射出成形型で樹脂の流動を目視で確認できます。 弊社試験型及びお客様仕様の型で可視化が可能です。 弊社保有成形機で成形試験、高速度カメラでの撮影も可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 双葉電子工業株式会社

  • 株式会社三井化学分析センター『分析受託業務』 製品画像

    株式会社三井化学分析センター『分析受託業務』

    「工業材料分野」「情報電子分野」においての分析受託業務!高分子分析およ…

    当社では、「工業材料分野」「情報電子分野」において、分析受託業務を 承っております。工業材料分野では、お客様の抱える技術課題を豊富な経験と分析技術を生かし、高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決。また、情報電子分野では、半導体...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三井化学分析センター 営業統括部

1〜45 件 / 全 268 件
表示件数
45件
  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg

PR