VCG-1 車載ネットワークゲートウェイ

PRVCG-1 は、マルチポート、マルチバスの メッセージルーティング…

VCG-1 Vehicle Communication Gatewayは、設定が簡単なマルチポート、マルチバスの メッセージルーティングおよびデータ変換デバイスです。 通常はスタンドアロンで動作するように設計 されており、システムがCAN-FDや車載イーサネットなどの新しい通信バスやテクノロジーに移行するときに、複数のモジュールをブリッジするのに役立ちます。ユーザーが作成したスクリプト...

メーカー・取り扱い企業： ATI Worldwide LLC 日本支社

オーダーメイド型スパッタリング成膜装置

PR難しい材料、様々な基板形状、用途にも！非常に幅広い基板サイズに対応可能

当社では、研究・試作から量産まで対応可能な「オーダーメイド型 スパッタリング成膜装置(PVD)」を取り扱っております。 フレキシブルエレクトロニクス、光通信技術、薄膜太陽電池や バッテリー等の薄膜デバイスの研究開発から量産まで装飾や 表面保護のためのコーティングにも対応。 サンプルサイズ、成膜対象マテリアル、バッチプロセス等、お客様の 用途に応じて組み立てることが可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

当社が行っている『高温ラッチアップ試験』についてご紹介します。 近年､デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加。 特に、車載部品用のAEC規格では、ClassII（最大使用周囲温度）の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

デバイス、基板の特性評価、機能評価　「EVA100」

測定したい環境に持ち込み、ICや実機の機能・特性評価が可能に。 アナ…

当社は、アドバンテスト社製の複合型計測器「EVA100」を用いた ICや実機、基板、モジュールのテスト・評価サービスを提供しています。 デジタルICに加え、アナログICや、ADC/DACを搭載したミックスドシグナルICの テスト・評価に対応。「EVA100」には評価作業に必要な複数の機能が 搭載されているため1台で作業を完結でき、工期短縮やコスト削減に貢献します。 【特長】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社プリバテック

非破壊分析サービス　2018年4月より開始のお知らせ

樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観察・質...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワーモジュール向けアジレント・カーブトレーサー先着5社対象！

最大電流1500Aを150μ秒で連続パルス通電が可能。アジレントB15…

【Agilentパワーデバイス向けカーブトレーサB1505A導入キャンペーン】を実施中！キャンペーン期間中にB1505Aを使用する実験・測定サービスをご利用の場合、先着5社に限り、測定料が【無料】です。お早めにホームページから...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 酸化ガリウム（Ga2O3）は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

テスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 SiCやGaNより大きなバンドギャップを持つ酸化ガリウム（Ga2O3）は新たなパワーデバイス材料として注目されている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

高電圧絶縁信頼性評価装置　HVU-3000

最大５０ＣＨの独立電源を採用！　絶縁信頼性試験、評価試験装置

最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 　高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 　１つのサンプルが短絡しても、他のサンプルが継続試験できます。 ◇多チャンネル　最大５０個 　１筐体で５０個までのサンプル評価ができるため、 　デバイス...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

短絡耐量試験の概要および特長

パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価

発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます

キャリアライフタイムとは、電子デバイスの動作の際に生じる過剰キャリアの内、少数キャリアが1/eになるまでの時間です。これを適切に制御することがデバイスの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析

様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です

SIMS分析で不純物濃度を求めるためには、分析試料と同じ組成の標準試料を使うことが必要です。紫外LEDやパワーデバイスに使われているAlGaNについて、様々なAl組成のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。 市販深紫外LEDを解体後、SIMS分析を行い、ドーパン...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板につい...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

ング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50Lの装置の特徴と分析事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．分析装置の概要 ３．毛髪断面の分析事例 ４．SiC半導体デバイスの分析事例 ５．まとめ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel juncti...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】撥水箇所の成分分析

TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が高くなります。その特性を用いて急速充電器などで活用されています。 本資料では、ノーマリーオフ型のGaN HEMTデバイスを解体・評価しました。 分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。 測定法：SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：微量濃...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電界センシング受託計測サービス

レーダーやアンテナなどの計測、設計や評価における困り事は当社まで！

布計測と放射パターン推定 　・バンパーの配置や塗料、凹みや傷などが近傍界分布と放射パターンへ 　　与える影響の計測 　・近傍界計測によるミリ波レーダのエイミング ■波源に信号を入力できないデバイスの近傍界分布計測と放射パターン推定 　・アンテナと回路が集積化されたオンチップアンテナデバイスの評価 　・アンテナ端子を持たない5G 基地局からの放射パターン計測　など ※詳しくはPDF...

メーカー・取り扱い企業： シンクランド株式会社

SLAM技術を活用！【歩きながら3D受託サービス】

ウェアラブル型計測デバイスを身につけ歩きながら3Dスキャン。短時間で広…

当社では、ウェアラブル型計測デバイス「NavVis VLX」を用いて 短時間で広範囲の空間情報を取得できるサービスを行っています。 歩きながら点群データを取得していくため、従来の地上型3Dレーザースキャナーを用いる方法に比べ...

メーカー・取り扱い企業： 大浦工測株式会社 ［東京本社・横浜支店・九州支店・関西支店・仙台営業所 ］

技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 近年、各種デバイスの高集積化に伴い、局所領域における評価が製品開発、機能向上のために極めて重要と考えられている。この度、東レリサーチセンターに導入した新規RBS装置では、高速イオンビームを最小1 μmφまで収束可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせることにより、局所領域の組成・状態分析なども可能 ■短所 ・試料を薄片化する必要がある（一部の試料において薄片...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

デバイスの内部で発生する熱を検出し、故障箇所を特定する半導体故障解析装置となります。高感度赤外検出器にて検出した発熱画像と、IRコンフォーカルレーザ顕微鏡で取得した高解像度なパターン画像を重ね合わせて表示することにより、高感度かつ高い位置精度で故障箇所を迅速に特定します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パワーデバイス,LSI・メモリ,電子部品 分析目的：劣化調査・信頼性評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析｜受託分析

熱分解GC/MSによる有機成分の同定

リチウムイオン二次電池は、金属、無機から有機物質、固体から液体と多種多様な材料が使用されています。各材料の物性や組合せはデバイスの特性・信頼性に大きく反映されますので、材料の正確な解析・評価が必要となります。今回、リチウムイオン二次電池の負極を熱分解GC/MS（pyro-GC/MS）で測定した結果、本バインダ材料はSBR（...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EV関連分析事例

分析でEV開発のEVolutionを！

車載電池、デバイスをはじめとするEVに不可欠な部材に対して、好適な分析メニューをご提供します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線透過観察サービス｜JTL

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

X線透過観察サービスでは、X線での非破壊観察により試料の内部構造を観察・検査・計測を行うことができます。電子部品や実装部品などの不具合解析によく用いられる手法です。 JTLでは、電子デバイスの他に各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズにご対応します。 【X線透過装置の構造】 X線は電波や太陽の光と同じ電磁波の一種です。 電...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

技術情報誌 202303-02 イオンモビリティ質量分析計

東レリサーチセンターで導入したイオンモビリティ質量分析計の特徴と、ジス…

ビリティ質量分析計の特徴と、ジスルフィド結合位置解析及び糖鎖構造解析の実例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．分析法の概要 ３．分析実例 ４．おわりに 【図表】 図１　TIMSデバイスの概略図 図２　断片化された抗体のヒンジ部 図３　ペプチド2種類のモビログラム 図４　同一質量の糖鎖標準品2種類の混合物のモビログラム 図５　クリーンナップ処理によるバックグラウンドの低減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

ガス・水蒸気透過度測定装置MORESCO-SuperDetect

水蒸気、酸素、水素などのバリア性を高速・高感度・高精度で測定可能。豊富…

　本装置は迅速・高感度かつ高精度で、フィルムのガスパリア性が測定可能な装置です。高い水蒸気バリア性が求められる有機デバイスや太陽電池、酸化による品質劣化を防ぐために酸素バリア性が重要な食品・医薬品包装分野など、様々な分野での研究開発や品質管理に貢献します。 　サッカーグラウンド10面と同じ面積のサンプ丿レ(フィルム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社MORESCO

高電圧絶縁信頼性試験装置『HVUαシリーズ』

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも…

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご活用頂けます。 また印加電圧は、1チャンネル単位で100V～40...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

6G時代に向けた開発環境～330GHz 測定・評価サービス

100GHz超に対応する大型電波暗室を横浜市に開設 2023年10月…

頼性が要求される電源・熱対策・通信制御の設計技術を発揮。 ◎画像センシング 　多種多様なカメラの開発を通じて長年積み上げた 　画像の撮像・伝送・解析における画像処理技術を駆使。 ◎スマートデバイス 　決済端末、ウェアラブル端末などをはじめ、様々なご要望に合った 　スマート端末の試作～製品開発を当社の電気・機構・ソフト技術者がサポート。 ※詳しくはお気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パナソニック システムネットワークス開発研究所

6G時代に向けた開発環境～330GHz 測定・評価サービス

100GHz超に対応する大型電波暗室を横浜市に開設 2023年10月…

頼性が要求される電源・熱対策・通信制御の設計技術を発揮。 ◎画像センシング 　多種多様なカメラの開発を通じて長年積み上げた 　画像の撮像・伝送・解析における画像処理技術を駆使。 ◎スマートデバイス 　決済端末、ウェアラブル端末などをはじめ、様々なご要望に合った 　スマート端末の試作～製品開発を当社の電気・機構・ソフト技術者がサポート。 ※詳しくはお気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パナソニック システムネットワークス開発研究所

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信号の強度はキャリア濃度に線形に相関するため、定量性が高いことが特徴です。 ・Si デバイスの場合、1015～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・キャリア濃度に線形に相関した信号が得られるため、仮定のもとに定量 評価(半定量)が可能 ・AFM像の取得も可能 ・Si,...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

熱解析の受託サービス

業界初の熱解析手法で、費用を抑えた製品設計＆放熱対策をご提案！

かけていませんか？ Q）製品に実施している放熱対策は、妥当でしょうか？（過剰対策になっていませんか） 「熱解析の受託サービス」は放熱対策にかかる費用の削減を実現します。 熱源である半導体デバイスの熱特性の真値を求め、極限まで温度マージンを抑えた放熱対策を提案させて頂きます。 半導体エンジニアと熱設計エンジニアの知見を合わせ、独自技術（特許出願中）を用い、正しい解を導き出します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

技術情報誌 202102-01 新規蛍光分光装置

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

蛍光分光装置の外観 図２　PE光劣化前後の3次元発光 スペクト 図３　Nd3+ドープガラスの近赤外発光 図４　単層CNT分散液の近赤外発光 図５　近赤外発光による一重項酸素の検出 図６　デバイス中のAlq3, TPBi発光強度の時間変化...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

微小電流測定技術

ピコアンペアレベルの微小電流測定技術、ボード設計（回路/基板設計）をご…

ウェアラブルなどのIoT向け省電力デバイスや分子レベルを取り扱う バイオテクノロジー分野では、ピコアンペア（pA）オーダーの微小電流を 精度良く測定する技術が求められます。 日立情報通信エンジニアリングは、微小電流を容易に測定で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日立情報通信エンジニアリング

受託測定　依頼測定ご利用条件

レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定。熱を使ったデュアルモード観察が…

サーマルイメージングスコープ　ＴＳＩは、デバイス内部の熱特性を可視化、相対数値化することで界面の熱拡散性の評価を可能としました。熱を使ったデュアルモード観察が可能です。詳しくはお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測…

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

ESD/Lu・CDM・GL試験

熊本事業所にて承っております

SDA/MIL 【装置仕様】 ◇最大使用可能ピン：256ピン ◇ESD（MM・HBM）：±4000Ｖ ◇LU 用電源：４電源仕様(各±30Ｖ) 　◇恒温槽　　 ：　MAX125℃ デバイス帯電モデル試験 【適合規格】　◇JEITA/EIAJ/JEDEC/EOS/AEC 【装置仕様】 　◇最大使用可能ピン数：1024ピン 　◇印加電圧　　：　0～±4000V 　　　　　　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所