欠陥検査 | イプロスものづくり

PRベテラン技術を見える化・データ化し、継承するスマートグラス。ヒューマン…

アイトラッキンググラス『Eye Tracking Core＋』は、人の眼球の動きを追跡・可視化し、様々な角度から分析する事ができるメガネ型のデバイスです。製造業を中心に、国内実績１００ユーザーを超え、幅広い分野で活用されています！技能継承の課題の一つとして挙げられる"技能の「見える化」"について、このアイトラッカーを活用して、積極的に取り組まれている弊社ユーザー様事例をご紹介。特に、...

メーカー・取り扱い企業： SiB株式会社

X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得

PRギガキャストなど大型製品のＸ線検査に対応！

KILTではX線CTと透過X線の異なるタイプのＸ線装置を保有しており、様々な材質やサイズの製品のX線検査に対応しています。最新鋭のＸ線ＣＴシステム「FF85」は、国内最大クラスの出力を誇る600kVミニフォーカスX線管と高精細なX線撮影に最適な225kVマイクロフォーカスX線管を搭載、また、ラインセンサとフラットパネルの２つの検出器を搭載しており、あらゆる対象物のCTスキャンを行って...

メーカー・取り扱い企業： TANIDA株式会社かほく本社工場

最大2100万画素 SWIRカメラ

高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易化。 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率の違いにより異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方でハイダイナミックレンジを提供。ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

ED SCOPE Til　イーディースコープタイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。・スクラッチ、クラック、ディンプル、ウォーターマーク、スリップ、ソーマーク、ボイド、異物...等の検出。・自動タイリングステージにより...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上…

『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。対象製品例）パワーデバイス、IC、イ...

メーカー・取り扱い企業：日精株式会社本社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

μm、高スループット仕様38μmの画素分解能で、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適化照明 ● カメラアングル可変式を採用、明視野～暗視野像の検査 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8/12インチ対応 ● オプション機能により、ウェハ裏面検査に対応...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が…

「低価格版ウエハ・チップ外観検査装置 HMWF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。【特長】 ■多様なパターンのチップ検査が可能です。 ■不良項目毎に画...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン

半導体欠陥検査装置産業の世界市場調査報告書2024

半導体欠陥検査装置の世界市場：メーカー、地域、タイプ、アプリケーション…

グローバル市場調査レポート出版社であるQYResearchは「世界の半導体欠陥検査装置の供給、需要、主要メーカー、2024 ～ 2030 年レポート」レポートには、世界市場、主要地域、主要国における半導体欠陥検査装置の販売量と販売収益を調査しています。同時に、半導体欠陥検査装置...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

ASMPT社製 AOI検査装置　Skyhawkシリーズ

自動光学検査可能装置を取り扱っております

特徴：・ダイボンディング後のダイのキズ、汚れや　ワイヤーボンディング後のワイヤー高さやボールなど　最大33項目の検査が可能・先進の2Dおよび3Dオールインワンビジョンシステムを搭載・2つの独立した検査システムを備えたデュアルヘッド・欠陥のあるダイのリジェクトや欠陥のあるワイヤーをカットする機能付　き・ディープラーニング及びAI機能・オートフォーカス機能〇...

メーカー・取り扱い企業：兼松ＰＷＳ株式会社

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適照明 ● カメラアングルを評価時に設定、装置を小型化 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8インチ対応...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

X線TV検査装置『SFXシリーズ』

高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現！コンパクトなX線TV検査装置

『SFXシリーズ』は、世界最小クラスの超微小焦点X線源と、高感度軟X線I.I.カメラとのカップリングにより、高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現したコンパクトな検査装置です。 BGAやCSP、電子デバイス等の試料内部の微小欠陥や、プラスチックパッケージのボイド、クラック等をリアルタイムで、より鮮明に描画する能力を備えております。高倍率は開放管タイプ、高濃度分解能は封入管タ...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

〇特集〇小型・高速・長距離伝送が可能な高画素カメラシリーズ

基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレ…

★小型・軽量、W29×H29×D29mmのCubeサイズ。(2CXP6M/R、5CXP3M/R、5CXP7M/Rは、D55mm) ★グローバルシャッター CMOSセンサー ★インターフェース CoaxPress出力(CXP3)。 2CXP6M/R、 5CXP3M/R、5CXP7M/Rは、CXP6。 ★長距離伝送100ｍ ★映像出力BNCコネクター。 ★ケーブル1本で高速フレームレート・長距離伝送が...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

X線検査装置『アドオン型CTユニット』

画像再合成時間が約10秒！標準型X線装置内部に組込可能な3次元CTユニ…

『アドオン型CTユニット』は、標準型X線装置内部に組み込み可能な 3次元CTユニットです。 CT画像の再合成とレンダリングソフト（3次元表現）を一体化、欠陥など3次元立体画像として表示できます。フォーカシング機能により、回転軸キャリブレーションが不要です。【特長】 ■演算処理高速化・画像高品質化を実現 ■画像再合成が約10秒＜500×500画素・深さ8Bit＞ ■現在...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

自動テーピング装置　Hexa EVO+

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピン…

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの３Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。【特長】 ● 100mm以下のパッケージの外観検査 ● スループット、90,000 uph ● デュアルテーピング出力対応 ● 自動位置補正 ● 欠陥部品...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

乾燥・焼成制御システム『フォトマスク・リペア装置』

先進のプリント基板用リペア装置もご用意！最小修正線幅5umの乾燥・焼成…

『フォトマスク・リペア装置』は、黒欠陥をレーザー加工による修正及び白欠陥に修正材料塗布による修正を目的とした乾燥・焼成制御システムです。前工程の検査装置の座標位置のデータを受信し、欠陥座標位置に近い所に移動。最小修正線幅は5umとなっています。この他にも、先進のプリント基板用の「PCBレーザーリペア装置」も取り扱っています。【特長】 ■前工程の検査装置の座標位...

メーカー・取り扱い企業： A-Tech System Co., Ltd.

自動テーピング装置　AT468

半導体、ダイ、パッケージソーター。チューブ、トレイ、テーピング/リール…

、ボールフィーダー、テーピング/リール対応 ● 対応パッケージ：SOIC,QFN、TSSOP、MEMS等 ● 検査項目　〇銅などがむき出しになっているリード欠陥　〇マーキング、外観欠陥検査 　〇 2台のカメラによる５面、２D/3Dリード、パッド検査　〇表裏外観検査　〇装置内８か所のテストサイト...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

全自動レーザーリペア装置

ＦＰＤのセルパネル欠陥に対し、ＩＴＯパターンをカットして修正可能。

＜PDP−ITO膜パターン修正レーザー装置＞ ■概要 PDPセルリペア装置は、点灯検査後のセルパネル欠陥に対し、ガラス越しにITOパターンをカットし、輝点を原点にし、パネルの修正を全自動にて行います。下地の誘電体等々の材料、またパターンに影響はありません。 ■特長１．本装置は、大型ステージに明視野顕微鏡を搭載したレーザーリペア＆レビュー装置です。２．ITO膜の欠陥箇所...

メーカー・取り扱い企業：株式会社清和光学製作所

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

「SemiScope」は、1μｍ以下の分解能でフォトルミネッセンス(PL)画像を測定することができるPLイメージング装置です。試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。【特徴】 ○SiC半...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトンデザイン

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。...★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置　『MIYABI 7』

スルーホールやレーザービア（LVH）検査に多くの実績あり。長年の知見と…

◆スルーホールやレーザービア（LVH）をパターンと同時に全穴検査 ◆あらゆる基板を高精度に検査する新開発の照明系 ◆パッド・ラインを個別に条件設定、欠陥検出精度を向上 ◆フロントソフトウェアセットアップ時間短縮(約15分)...光源：LED（R, B, IR）積載可能サイズ：720(X)×740(Y)mm 最大検査エリア：720(X)×740(Y)mm ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社SCREEN PEソリューションズ本社

【展示会出展】レンズ研磨機と平面形状測定装置のご紹介

さまざまな光学面にも対応可能なレンズ研磨機や、平面形状を裏面の影響を受…

のラインナップ ■OptoFlat：平面形状測定用反射・透過波面測定　低コヒーレンス干渉計 ■【新登場】非球面金型検査装置：金型のDLC膜抜け・ドロップレットを自動検出 ■ガラスレンズプリフォーム欠陥検査装置：レンズPFの欠陥を自動で検出沢山の皆様の御来場をお待ちしておりますので、ぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。 ※関連リンクよりお申し込みください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社マブチ・エスアンドティー

研磨装置　フラットパネルディスプレイ　ポイント研磨

突起の形状を認識し研磨中心位置を補正、確実に突起修正を行います。

カラーフィルター突起修正装置は、カラーフィルター上の突起欠陥の修正を行います。本機の持つ突起高さ計測システムにより、許容高さまで突起をポイント研磨修正を行います。検査装置を接続して自動化も可能です。その場合は、突起データに基づき、突起確認を行い、突起の形状を認識し、研磨中心位置を補正し、確実に突起修正を行います。リトライ機能を付加する事も可能です。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧...

メーカー・取り扱い企業：株式会社サンシン

万能ダイヤモンド研磨機『ND-10』

あらゆる研磨方向に対応可能な万能ダイヤモンド研磨機！単結晶ダイヤモンド…

『ND-10』は、ダイヤモンドのチッピングレス研磨に最適な研磨機です。未経験者でもダイヤモンド研磨が可能で、様々な研磨方向に対応できます。スカイフ板（ダイヤ砥石）振動の無い研磨環境でチッピングレスを実現しました。また、ABICOスコープにより、機械上で工具の形状検査が可能です。【特長】 ■未経験者でもダイヤモンド研磨が可能 ■様々な研磨方向に対応 ■NCによる自動研磨が可能 ■ダイ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アビコ技術研究所

ハンドヘルドテスタ『MIZ-21C』

パワフルな渦電流探傷をその手に！広い運用形態に柔軟に適応するハンドヘル…

『MIZ-21C』は、表面検査用アレイプローブを使用できる性能を持った、ハンドヘルドテスタです。幅広い選択肢のプローブとスキャナに対応しており、お客様の検査要件とご予算に応じる3つのモデルをご用意。人間工学に基づいた設計、長時間駆動可能なバッテリ、および直観的なタッチスクリーンにより、ストレスを感じることなく広範囲を素早く検査することを手助けします。【特長】...

メーカー・取り扱い企業：株式会社テクノ電子本社

半導体加工

試作・量産承ります！極小、極細チップに対応するトレイ詰めや外観検査など…

株式会社ニチワ工業が行っている半導体加工についてご紹介いたします。「ICウェハの裏面加工」では、インフィード方式により仕上げ厚みを安定させることが可能。各種シリコンウェハ向け砥石を取り揃えており、ご要望に合わせた研削ができます。この他にも「ICチップのトレイ詰め」や、「ICチップの外観検査」なども承っております。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。【加工内...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ニチワ工業

ナノ・ソルテック株式会社　事業紹介

お客様の立場に立って、優れた製品、サービスを適正な価格で提供します。

→輸送搬入据付 ○遊休設備買取 →不要な遊休設備の買取りまたは委託販売 ○KLA保守部品販売 →部品販売：新古品(未使用品)や中古整備パーツでコスト削減が可能 →保守サービス ○表面欠陥検査ソリューション →中古装置を利用した安価でタイムリーな装置サポート体制を提供 ○段差測定装置 →高品質の中古段差測定装置を新品価格の半額以下で提供 ○検査装置レンタル →短期使用をご希望...

メーカー・取り扱い企業：ナノ・ソルテック株式会社

【フォトマスク】0.5μmまでのパターンを作りたい

様々な現場で使われるフォトマスク。お客様のニーズに合わせた好適な製品を…

【フォトマスク仕様】＜マスクタイプ：レチクル、ワーキング・マスク＞ ■露光方法：レーザー描画 ■最小線幅：0.5µm～ ■線幅精度：±0.05µm～ ■位置精度：±0.05µm～ ■欠陥検査規格：0.5µm以上 0個～ ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：日本フイルコン株式会社

赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！

高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとエンハンサソフトウェアにより各種シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。 ....

メーカー・取り扱い企業：ディスク・テック株式会社本社

ED SCOPE　イーディースコープ

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。・スクラッチ、クラック、ディンプル、ウォーターマーク、スリップ、ソーマーク、ボイド、異物...等の検出。 ...◇ 原理：光...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

PV-Cell外観検査システム

独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出可能！

PV-Cell外観検査システムは、PVセルを高画素のカラーカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出します。独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出する事が可能です。印刷パターン、Crack、欠け、寸法などの検査が可能で、インライン検査にも対応可能です。用途に応じて高画素2次元カメラとラインセンサーを選択して使用します。また、自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン

真空配管、粗引配管設計及び制作

真空配管にて重要な欠陥であるフランジ部のキズなど、出荷前の外観検査にて除去し、リークテストは全数実施しています。製品完成後は洗浄工程を通り、減圧脱気梱包を施したものを納品させて頂きます。【他に・・・】 ◆半導体・各種産業向けの蒸着装置、スパッタ装置、ＣＶＤ装置等の成膜装置の設計・製作を　行っております。 ◆装置完成後の現地搬入・立ち上げ、稼動後の保守を含めたトータルでの...

メーカー・取り扱い企業：株式会社コスモ・サイエンス