熱・電磁界解析ソフト【μ-EXCELフリーのデモ版・無料体験版】

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【現場の声は、色々なアイデアをまずは素早く確認したいはず！】 ・解析ソフトを使って、このアイデアを確認出来ないか？ ・でも現場で使いこなせるかしら、専門部署に依頼しますか？ ・導入するにしても予算を計画しなければ？ ・結果を解釈できる専門家が必要では？ そんな方へ、μ-EXCELシリーズがお勧めです！ 　■操作を出来るだけ簡単にして早く結果を出すコンセプト！ 　■サブスク月額9,...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミューテック

ヒートシンクの『熱設計/解析サービス』　※ご利用の手引きを進呈中

PR業歴25年以上のザワードが、放熱問題の伴走者に！熱以外の項目にリソース…

ザワードの『熱設計/解析サービス』は、熱問題に関するご相談から 熱解析、放熱器の設計までワンストップで行うサービスです。 ダウンロードデータは、当社が提供する『熱設計/熱解析サービス』について説明する資料です。 【主なコンテンツ】 ◇放熱に関するよくある課題 →放熱に苦労する理由は〇〇？ ◇放熱器設計の3つのステップ →放熱問題解決までの道筋をチェック✓ ◇熱解析前...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ザワード

ICの不良解析

不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Viewerによ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶パネルの不良解析

点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気（E...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンド...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD（a-Si TFT／LTPS TFT）,OLED 車載,モニター,モバ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

海外製 液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となりま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

発光解析のための半導体の裏面研磨

様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます

裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの 裏面研磨を行います。 これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。 裏面から解析することで、不良を保持したまま発光を検出できるだけで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LEDの故障解析

高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用！不点灯や輝度劣化の原…

当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

化学反応機構研究所材料劣化解析（PETの分解・劣化）

ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案！

株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。 ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。 材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を 適切にすることで製品の寿命を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効！不良解析事例をご紹介します

ACアダプターのX線観察による不良解析事例をご紹介します。 出力が安定しないACアダプターをX線観察装置（YXLON社製Cheetah EVO） により観察したところ、断線部位が発見されました。 透視観察で、内部の部品や実...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

【金ワイヤーボンド接合部　解析例】 ■逆極点図方位マップ(Inverse Pole Figure:IPFマップ) ■逆極点図を基にした結晶方位マップ ■Grain Reference Orientation Deviati...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部（スポット溶接）

溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できた解析例をご紹介！

ポット溶接したサンプルについて、 溶接部の断面を作製し、EBSD分析を実施。 結晶粒サイズの分布では、母材部に比べ、溶接部は大きな 結晶粒が多く分布していることが確認できました。 【解析概要】 ■結晶粒の可視化 ・母材部に比べ、溶接部は結晶粒の形状や大きさが異なることが分かる ■結晶粒サイズの分布 ・母材部に比べ、溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できる ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】液晶材料とその分析技術

分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子（LCP）をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、およ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が 逃さず観察します。 【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

るSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かり…

用される スーパーエンプラポリアミドイミド（PAI）膜の変色原因を機器分析、 および反応機構により解明した事例をご紹介します。 素材ポリアミドイミドをはじめ、IR装置による分析結果、データ解析、 および反応機構などを掲載。 製品の製造において、原料となる材料の保存安定性は必須であるが、 加工プロセスにおける環境条件が不具合を誘発させることがあります。 ぜひ、ご一読ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析

試料に特殊な試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が…

で通常では検出困難な物質の検出が可能になります。 例えば、ポリマーの分析では、ポリマーを熱分解すると非常に多くの熱分解 生成物が検出され、試料によっては他の添加剤とピークが重なってしまい 解析が困難になりますが、反応熱分解GCMSを行うことでモノマーのメチル エステルを検出出来、また添加剤と切り分けて解析を行う事が出来ます。 このように、分析対象物が通常の分析では検出が難しい場合...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します

装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを 受託分析いたします。 【サービス一覧】 ■機械研磨 ■CP加工 ■ミクロトーム ■FIB加工 ■半導体拡散層の解析　など ※詳しくはPDF資料をご覧いた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析

熱脱着GC-MS分析により感度良く分析する事が可能！不具合症状や目的に…

ポリマーには安定性や加工性を向上させる為に様々な添加剤が使用されていますが、 環境負荷や長期保管により添加剤成分がポリマー表面に析出したり、 添加剤そのものが化学変化を起こし変色や劣化の原因となる事があります。 当資料では、添加剤のブリードアウト、UV照射による添加剤成分の化学変化を 熱脱着GC-MSにより分析した例を紹介します。 添加剤成分はポリマー主成分に対して少量しか含まれ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

超微⼩硬度計による材料評価

経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…

ルが得られる ■圧⼦を材料中に押し込む侵⼊深さと、除荷後回復する荷重／侵⼊深さ曲線 　より硬さ値を求めるため、硬度以外にヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・ 　クリープなどの多くの物性を解析可能 ■測定n数を増やして硬さなどのばらつきを標準偏差によって表すことができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

ーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【装置仕様】 ■装置：日本電色工業株式会社製 ■対応規格：JIS K7136／JIS K7136-1／JIS K71...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶中の微量金属元素分析

パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可…

事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？

NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分…

造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます。 もう一歩踏み込んだ有機分子構造解析を当社技能集団がご対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります！…

当社では、短波⻑レーザを⽤いたSiCデバイスのOBIRCH解析を 行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ないパワーデバイス であり注目を集めていますが、Si半導体とは物性が異なるため、 故障解析も新たな手法が必要となり...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

角型Liイオン電池の構造解析

光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察！詳細な構造の解析や元素…

市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電池の詳細構造観察を写真を用いてご紹介しております。 【解析概要】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、 粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しました。 Cuパッド/はんだ界面にはCu6Sn5やAg4Sn等の化合物が成長しており、 ヒストグラムにより結晶サイズや結晶傾角の分布を示すことができます。 また、マップにHigh l...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSDによる解析例（セラミック）

「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を…

セラミック（Al2O3）について、EBSDによる解析例を紹介致します。 「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、 マップよりSiが点在している様子が観察されました。 「EBSDによる解析」では、EBSD法に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】Chip

Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配向性が見られました。 法線方位が分布して...

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【EBSDによる解析例】カニカン

長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介！

長期の使用により破損したカニカンの破断部について、観察、 元素分析、EBSDによる解析を行いましたので紹介致します。 EDXによる元素分析では、マッピング分析の結果、Pb結晶の 粒界にSbの分布が見られました。 また、EBSD法により結晶粒の配向性や方位差を確認できまし...

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【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹…

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマ...

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【EBSDによる解析例】高融点はんだ

EBSDにて結晶構造を観察！それぞれの金属で各データの取得ができます

高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる 解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 それぞれの金属で各データの取得ができ...

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【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜ...

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【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が大きいと推測 ・ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も観察 ※詳しく...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】パイプ

パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

株式会社アイテスは、パイプのEBSDによる解析を実施しています。 EBSD法により結晶サイズの分布を確認することや、配向性を 確認することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた 特長を可視化で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】鉄板

グラフに現れた特長を可視化！結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

鉄板(Fe)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSD法により結晶サイズの分布や...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ビア

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス