ICタグによるクリーンウェア管理サービス

PRICタグによりウェア管理業務を省力化！ 洗濯回数が把握できるようにな…

当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社菱進

Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】

PR「液晶」「LCDコントローラIC」でお困りのお客様、お気軽にご相談下さ…

◆必見◆ ・LCDコントローラICの入手でお困りのメーカー様 ・他社製LCDコントローラICの生産中止等でお困りのメーカー様 ・液晶の生産中止や仕様変更などでお悩みのメーカー様 〇小ロット、長期生産のお客様向けの製品です。 〇液晶の生産中止、LCDコントローラICのデバイスの生産中止に対して強力な解決案となっています。 〇弊社製品は基本的に1pcsからご購入可能です。 【S...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ケニックシステム 東京オフィス

燃焼-イオンクロマトグラフィ－分析(燃焼-IC)

ハロゲン（F、Cl、Br）、硫黄の分析が可能です

燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン（F、Cl、Bｒ）や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることに...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例

IC（イオンクロマトグラフ）法でアミン類の測定が可能です

半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC（イオンクロマトグラフ）法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［IC］イオンクロマトグラフ法

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

イオンクロマトグフ法（IC法）は液体クロマトグラフ法（表1）の1種に分類され、液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 溶離液と呼ばれる移動相に液体試料を導入し、試料中のイオン成分を固定相である分離カラム内で分離させ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

実績：  MEMSセンサ（圧力センサ、加速度センサ、流量センサ、赤外線センサ、音響センサ など）  MEMSアクチュエータ（マイクロミラー、RF MEMS など）  各種半導体（IC、パワーデバイス など）  光学素子（アパーチャ、レンズ など）  機能構造（poly-Si TSV など） 加工場所： オムロン株式会社　野洲事業所（滋賀県野洲市） ～　8インチ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】IC法による溶液中の有機酸の分析

溶液中の有機酸の定性・定量分析が可能です

などの分野で幅広く利用されています。 特にメッキ液中の有機酸濃度は、使用の過程でバランスが随時変化し、このバランスがメッキの品質に影響を与えることから、精度よく制御することが重要です。 ここではIC法（イオンクロマトグラフィー）を用いた有機酸分析の事例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［TOC］全有機体炭素測定

TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を…

TOC計は、試料中の全炭素量（TC：Total Carbon） 、全有機体炭素量（TOC：Total Organic Carbon)、無機体炭素量（IC：Inorganic Carbon）を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量（TOC）として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量（TC：Total...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製

FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…

装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【事例】リニアホールICを用いた磁場の強さ（Oe）検出精度向上

静磁場環境の前提下において、磁気シールドプレートのシールド効果検証に活…

磁場（磁界）の強さ（Oe）に対するシールドプレートの効果検証過程で、リニアホールICを使った検討を実施。 　1（Oe）以下での変動状況を捉える必要がありましたが、市場にあるセンサでは単体性能が出ないため、計測側のソフトウエア 　処理と高精度計測　モジュールの組み合わせにより、高...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)

PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA）光…

PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser d...

メーカー・取り扱い企業： CTflo株式会社

【良品解析事例】Agワイヤ使用ICのパッケージ開封

ダメージを抑えたパッケージ開封方法の開発により、ボンディング形状の観察…

Agワイヤ使用ICの樹脂除去においては、ワイヤの薬品ダメージが 大きいことが問題となります。 当社では、飽和法の原理を用い、ダメージを抑えたパッケージ 開封方法の開発により、ボンディング形状の観察を可能とい...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

アニオン分析の受託サービス｜JTL

ICを用いて、無機イオンの測定を行い、腐食の原因調査や不具合解析をしま…

アニオン分析サービスでは、IC（イオンクロマトグラフ）を用いてF⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻といったハロゲンに加えてNO₂⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、PO₄³⁻といった無機イオンを測定します。これらの無機陰イオンは腐食の原因となり得る...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

ハロゲン分析の受託サービス｜JTL

IC、またはICPでハロゲン測定を実施します。

ハロゲン分析サービスでは、F⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻のハロゲン4項目をICまたはICPを用いて分析いたします。 ハロゲンは腐食に影響するため、不具合の原因となることがあります。また、樹脂製品のハロゲンフリー化が進んでいることからもハロゲンを含まない製品の証明としてハロゲ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

溶出試験の受託分析｜JTL

特定の条件下で溶出する元素、イオン、化合物などの測定を実施します。

製品から溶出する不純物として、元素、イオン、有機化合物を測定します。樹脂などの製品に対し、ご指定頂いた条件やご要望に応じた条件で溶出試験を行った後、試験液中の各項目の測定を行います。測定項目に応じてICP、IC、GC-MSといった装置を使用して分析を行います。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【分析事例】プリント基板からの溶出成分の分析

液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です

・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー（IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このようにICは固体試料表面の腐食成分の評価に有効な手法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬（過酸化水素水＋鉄イオン共存溶液）により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素量測定

固体中の有機体・無機体炭素量を評価することが可能です

全有機体炭素測定計（TOC計）は、試料中の全炭素（TC：Total Carbon） 、無機体炭素（IC：InorganicCarbon）をそれぞれ分けて定量することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

清浄度分析の受託サービス｜JTL

ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します…

清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【資料DL可：FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画

FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…

能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 この事例では FIB装置で実際にシリコン基板上へパターンをどのように描画するか を紹介しています。 尚、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおりです。 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を適切に短納期で行い、お客様...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

＜資料DL可＞【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法

FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…

面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※なお、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよび...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

作製を紹介しています。 ・円形：φ5μm ・ピラーの高さ：700nm/650nm/600nm ・ピラーの径：φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 を短納期で行い、お客様のICおよびLSI...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【良品解析事例】超音波探傷装置による非破壊検査

超音波探傷は微小な隙間や内部の状態を観察するのに有効！良品解析事例のご…

超音波探傷装置でIC内部の剥離を見ることは知られていますが、 複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 その為、IC以外の製品でも剥離状態を確認する事ができ、今まで エックス線では透過してしまい観察...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察！数値による評価が可能とな…

IC等におけるワイヤーボンディング部の接合状態を正しく評価するためには、 接合面での金属間化合物の生成状態を観察する必要があります。 金属間化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングさ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

樹脂材料（半導体 LED用途）の分析

樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能！

株式会社アイテスでは、樹脂材料（半導体 LED用途）の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション

パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…

良の原因解明、詳細な不良解析を行う ■信頼性試験 ・多様な信頼性試験装置を保有(恒温恒湿、ヒートショック、複合振動、塵埃など) ■パネルの評価・解析 ・パネル画素回路、ドライバ回路、ドライバICの接合状態を調査、解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析

IC：イオンクロマトグラフィー

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 また、固体（部材）表目に付着しているこれらの成分は、純水に浸して抽出することで測定します。 MSTでは液体試料に含まれるイオンや有機酸の定性・定量分析、部材表面から溶出するイオン量評価、部材の腐食原因調査が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

水分析

安定操業への貢献のために！様々な水を貯留層評価や操業トラブルの解決に役…

【分析・評価】 ■前処理・湿式分析 ■機器分析(IC、ICP、LC、IRMS) ■地層水の分類と油ガス貯留層水つき評価 ■スケール析出リスクの評価 ■坑井刺激作業の評価 ※詳しくは弊社ホームページ／技術サービス（https://www.j...

メーカー・取り扱い企業： 石油資源開発株式会社

腐食分析の受託サービス｜JTL

金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析により、お客様の問題解決をサポートし…

を比較分析ができます。 ●錆の原因調査、予防、防止 鉄鋼・非鉄部材で錆が発生した場合、製造工程で使用する水、洗浄液、切削油に含まれるClやSが原因となることがあります。 このような分析にはICが活用できます。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【イオンミリング(CP)/クライオ】分析と観察の前処理事例集

断面加工や分析および観察の前処理などイオンミリング加工、クライオ加工の…

P加工）の紹介 　・分析事例 ■イオンミリングによる微小部断面加工 　・目的：イオンミリング法によりワイヤ中央付近で断面を作製しての観察 　・手法：イオンミリング、FE-SEM 　・試料：ICチップワイヤボンディング部で加工 　・結果：ワイヤ（25μm）中心にて断面作製・観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料】解析事例

リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など！30nmから5μmの切片…

GC-MS（ガスクロマトグラフ質量分析計） ■GC-MS/MS（ガスクロマトグラフ質量分析計） ■LC-MS/MS（液クロマトグラフ質量分析計） ■TG/DTA（熱重量測定/示差熱分析） ■IC（イオンクロマトグラフ） ■ICP-AES（高周波誘導結合プラズマ発光分光分析） ■ICP-MS（高周波誘導結合プラズマ質量分析） ■ICP-MS/MS（高周波誘導結合プラズマ質量分析） ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

【故障解析事例】ロックイン発熱解析方法のご紹介

非破壊で行う部品内部の異常発熱個所の特定には、ロックイン発熱解析装置が…

つ観察装置による 解析が効果的です。 下記カタログでは、異常個所を特定した事例をご紹介しています。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【事例】 ■チップコンデンサ ■電源IC ■プリント基板 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

【資料】しるとくレポNo.24＃BGAパッケージの評価と解析方法

基板上に電極を設け上にはんだボールを形成し、パッケージ側の電極と接合さ…

とくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、『BGAパッケージ』の解析手法について、お話をしましょう。 「BGA」というのは、“Ball Grid Array”の略で、集積回路（IC）の パッケージの一種。 簡単に言えば、基板上に電極（ランド）を設け、この上にはんだボールを 形成してパッケージ側の電極と接合させる構造の表面実装パッケージです。 詳細については、ぜ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

ソリューション　評価・解析

プロジェクトを成功へ導く　半導体評価集団です。

【特徴】 ○ICパッケージ開封処理。 ○内部解析。 ○電気特性解析。 ○信頼性試験受託（提携先豊富）。 ●詳しくはお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日出ハイテック

【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像など...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

PCB基板・FPC基板解析サービス＜部品表＞

レイアウト上の搭載位置などを確認可能！コスト調査を目的とした部品表のみ…

の特定を行います。 部品番号は、「回路図」や「搭載部品位置」と共通の番号なので、部品の仕様、回路での 使われ方、レイアウト上の搭載位置が確認可能。 当社独自のデータベースにより、大半のICは機能を特定できますが、ASICのような特殊な ICについては特定できないことがあります。この場合、ICのチップを取り出すことで、 チップマーキングによるメーカーの確認や機能推定も承りますので、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック

【分析事例】エポキシ樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

エポキシ樹脂は、優れた機械特性・耐薬品性・電気絶縁性を有することから、プリント基板やIC封止材など電子部品用途として、広く使用されています。エポキシ樹脂の原材料に一般的に用いられるビスフェノール類の試薬について、TOF-SIMSで測定したデータを取得しました。 MSTではサンプルの測...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2

微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、E…

パッタ膜の評価 　・分析事例 ■イオンミリングによる微小部断面加工 　・目的：イオンミリング法によりワイヤ中央付近で断面を作製しての観察 　・手法：イオンミリング、FE-SEM 　・試料：ICチップワイヤボンディング部で加工 　・結果：ワイヤ（25μm）中心にて断面作製・観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社