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36件 - メーカー・取り扱い企業
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338件 - カタログ
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PR自律動作によるキーボードエミュレーション機能を標準実装。プログラムレス…
当社の『HID対応マルチプロトコルRFIDリーダライタ』は、USBのHID(Human Interface Device)クラスに対応しています。キーボードエミュレーション機能を標準実装しており、自律動作でICタグのIDやユーザーメモリを読取り、USB接続したデバイスに自動で入力が可能です。 また、ISO/IEC15693、FeliCa、ISO/IEC14443TypeAなどの各種ICタグ規...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アートファイネックス 福井本社、東京支社
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Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】
PR「液晶」「LCDコントローラIC」でお困りのお客様、お気軽にご相談下さ…
◆必見◆ ・LCDコントローラICの入手でお困りのメーカー様 ・他社製LCDコントローラICの生産中止等でお困りのメーカー様 ・液晶の生産中止や仕様変更などでお悩みのメーカー様 〇小ロット、長期生産のお客様向けの製品です。 〇液晶の生産中止、LCDコントローラICのデバイスの生産中止に対して強力な解決案となっています。 〇弊社製品は基本的に1pcsからご購入可能です。 【S...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社ケニックシステム 東京オフィス
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ハロゲン(F、Cl、Br)、硫黄の分析が可能です
燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン(F、Cl、Br)や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることに...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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IC(イオンクロマトグラフ)法でアミン類の測定が可能です
半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC(イオンクロマトグラフ)法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です
イオンクロマトグフ法(IC法)は液体クロマトグラフ法(表1)の1種に分類され、液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 溶離液と呼ばれる移動相に液体試料を導入し、試料中のイオン成分を固定相である分離カラム内で分離させ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…
実績: MEMSセンサ(圧力センサ、加速度センサ、流量センサ、赤外線センサ、音響センサ など) MEMSアクチュエータ(マイクロミラー、RF MEMS など) 各種半導体(IC、パワーデバイス など) 光学素子(アパーチャ、レンズ など) 機能構造(poly-Si TSV など) 加工場所: オムロン株式会社 野洲事業所(滋賀県野洲市) ~ 8インチ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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溶液中の有機酸の定性・定量分析が可能です
などの分野で幅広く利用されています。 特にメッキ液中の有機酸濃度は、使用の過程でバランスが随時変化し、このバランスがメッキの品質に影響を与えることから、精度よく制御することが重要です。 ここではIC法(イオンクロマトグラフィー)を用いた有機酸分析の事例を紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を…
TOC計は、試料中の全炭素量(TC:Total Carbon) 、全有機体炭素量(TOC:Total Organic Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量(TOC)として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量(TC:Total...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…
装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【事例】リニアホールICを用いた磁場の強さ(Oe)検出精度向上
静磁場環境の前提下において、磁気シールドプレートのシールド効果検証に活…
磁場(磁界)の強さ(Oe)に対するシールドプレートの効果検証過程で、リニアホールICを使った検討を実施。 1(Oe)以下での変動状況を捉える必要がありましたが、市場にあるセンサでは単体性能が出ないため、計測側のソフトウエア 処理と高精度計測 モジュールの組み合わせにより、高...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology
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PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)
PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA)光…
PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser d...
メーカー・取り扱い企業: CTflo株式会社
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ダメージを抑えたパッケージ開封方法の開発により、ボンディング形状の観察…
Agワイヤ使用ICの樹脂除去においては、ワイヤの薬品ダメージが 大きいことが問題となります。 当社では、飽和法の原理を用い、ダメージを抑えたパッケージ 開封方法の開発により、ボンディング形状の観察を可能とい...
メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社
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ICを用いて、無機イオンの測定を行い、腐食の原因調査や不具合解析をしま…
アニオン分析サービスでは、IC(イオンクロマトグラフ)を用いてF⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻といったハロゲンに加えてNO₂⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、PO₄³⁻といった無機イオンを測定します。これらの無機陰イオンは腐食の原因となり得る...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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IC、またはICPでハロゲン測定を実施します。
ハロゲン分析サービスでは、F⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻のハロゲン4項目をICまたはICPを用いて分析いたします。 ハロゲンは腐食に影響するため、不具合の原因となることがあります。また、樹脂製品のハロゲンフリー化が進んでいることからもハロゲンを含まない製品の証明としてハロゲ...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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特定の条件下で溶出する元素、イオン、化合物などの測定を実施します。
製品から溶出する不純物として、元素、イオン、有機化合物を測定します。樹脂などの製品に対し、ご指定頂いた条件やご要望に応じた条件で溶出試験を行った後、試験液中の各項目の測定を行います。測定項目に応じてICP、IC、GC-MSといった装置を使用して分析を行います。...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です
・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー(IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このようにICは固体試料表面の腐食成分の評価に有効な手法です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価
注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬(過酸化水素水+鉄イオン共存溶液)により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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