• Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】 製品画像

    Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】

    PR「液晶」「LCDコントローラIC」でお困りのお客様、お気軽にご相談下さ…

    ◆必見◆ ・LCDコントローラICの入手でお困りのメーカー様 ・他社製LCDコントローラICの生産中止等でお困りのメーカー様 ・液晶の生産中止や仕様変更などでお悩みのメーカー様 〇小ロット、長期生産のお客様向けの製品です。 〇液晶の生産中止、LCDコントローラICのデバイスの生産中止に対して強力な解決案となっています。 〇弊社製品は基本的に1pcsからご購入可能です。 【S...

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    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ケニックシステム 東京オフィス

  • 函館電子の技術紹介『Auスタッドバンプ加工』 製品画像

    函館電子の技術紹介『Auスタッドバンプ加工』

    PR少量加工に対応可能。実装面積を抑えられ、製品の小型化に貢献。正確・迅速…

    当社は半導体製造で実績があり、IC一貫製造で培った技術をもとに 『Auスタッドバンプ加工』をはじめとした半導体の組み立て加工を手掛けています。 正確・高品質で、スピーディーかつリーズナブルな加工体制を実現しており 仕様や用途に合わせて条件出しを行った上で、少量品から対応できます。 【特長】 ■実装面積を小さく抑えられ、製品の小型化が可能 ■直径25μmの極小径加工が可能 ■パ...

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    メーカー・取り扱い企業: 函館電子株式会社

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    ・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品:表面実装型 ICパッケージ(BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA) 、イメージセンサ、センサ製品 等 ■2D...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 車載用半導体IC向け  2D/3D外観検査装置 製品画像

    車載用半導体IC向け  2D/3D外観検査装置

    車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現!3D/2D寸法検査で高精度欠…

    デバイス全方向検査が可能な、車載用半導体ICの 高機能外観検査装置です。 3D/2D寸法検査により、リード、ボール、モールド面の表裏面の高精度欠陥検査が可能。 25Mカメラと7ch・ボリューム個別制御でMax20枚の高速撮像がで...

    メーカー・取り扱い企業: 日精株式会社 本社

  • ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』

    余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能! 基本機能に特化し、省スペース…

    『LI700E』は、ICパッケージの端子平坦度、端子曲がり等の規定寸法検査、及び異物付着等の欠陥検査を行い、良品と不良品に分類収納します。 【特長】 ■受入検査/ロム書き後の品質保証に最適 ■検査項目はJEI...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • HL-720 チューブ搭載IC3次元外観検査装置 製品画像

    HL-720 チューブ搭載IC3次元外観検査装置

    HL-720 チューブ搭載IC3次元外観検査装置

    HL-720はチューブに搭載されているICを、高精度3次元画像計測方式で、効率的かつ精密にリードの外観検査、マーク検査、表面検査を行うシステムです。システムの工程は次に通りです。まず、チューブ側にあるICのマークと表面をヘッドに搭載された移...

    メーカー・取り扱い企業: ファルコン電子株式会社 横浜本社、台湾、香港、蘇州書込み工場

  • ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

    省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検…

    『LI700E』は、ICパッケージの端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠 陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を 実施し良否判定/選別をします...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • IC外観検査装置 製品画像

    IC外観検査装置

    IC外観検査装置

    CSP/BGA/WLCSPの半田バンプを高速、正確に検査します。従来方式と異なる画期的な画像処理装置を搭載しています。 バンプ径が小さく、狭いピッチ程従来機と差がでます。 PVI-500は1トレー供給タイプの単体機で、小ロットの検査に向いています。検査ユニットは2D、3D両方搭載可能です。...CSP/BGA/WLCSPの半田バンプを高速、正確に検査します。従来方式と異なる画期的な画像処理装置...

    メーカー・取り扱い企業: 新光エンジニアリング株式会社

  • LabVIEW+IMAQvision画像処理例 IC外観検査装置 製品画像

    LabVIEW+IMAQvision画像処理例 IC外観検査装置

    LabVIEW+IMAQvision画像処理例 [IC外観検査装置]

    ■概要 ・透明フィルムにパッケージされたICチップの外観検査を行う装置 ・リールに巻かれたフィルムパッケージを順番に検査して反対側のリールに巻き取る ■検査項目 ・足の曲がりと欠損・刻印の有無と汚れ ・チップの欠けとキズ・逆向き ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

  • 基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』 製品画像

    基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』

    過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。

    です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます(反射型位相シフトモアレ法)。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の検査を実施します。 従来の2Dの検査より不良検出が大幅に向上し、その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ミルテック株式会社

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    ウエーハチップ自動外観検査装置『CIシリーズ』

    ダイシング後ベアチップの個片外観検査装置 各種用途に合わせてライン…

    搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。 対象製品例)パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ <CI8000> ■全6面検査モデル(表面、裏面、側面の全6面検査) ■最速 8000CPHの高処理能力 ■高精細な検査を実現するステージを搭載 <...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像

    高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

    【サンプル評価可能!】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D…

    高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。  3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 簡易外観装置『LI330』 製品画像

    簡易外観装置『LI330』

    組立工程における工程能力管理の課題を解決!数値による解析と定量化を実現…

    『LI330』は、IC製造工程での能力管理用簡易外観装置です。 成形金型異常・劣化の兆候などを高精度測定し、 数値による解析と定量化を実現します。 また、金型の寿命管理と延命化を実現。金型交換サイクルの ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール) 製品画像

    モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール)

    CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

    査装置になります。基本はイメージセンサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、さまざまな外観検査に対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品で...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

  • 協立テストシステム株式会社 基板検査機器 製品ガイド 製品画像

    協立テストシステム株式会社 基板検査機器 製品ガイド

    実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。

    【製品ラインナップ】 ○インサーキットテスター ○外観計測検査装置 ○ファンクションシステム構築環境ソフト ○Function検査モジュール ○インライン型全自動テスター ○IC・BGAテスター ○バーンインボードテスター ○ICTテストフィクスャー ○ファンクション検査冶具 ○ワンショット画像チェッカー ○X線自動検査装置 ○Agilent Medalist ...

    メーカー・取り扱い企業: 協立テストシステム株式会社

  • 『テーピング品外観検査装置』 製品画像

    『テーピング品外観検査装置』

    作業負担を大幅に軽減!高速・低価格・コンパクトなテーピング品外観検査装…

    【仕様】 ■対象ワーク種:チップトランジスタ、コンデンサ、ダイオード、小ピンIC他 ■対象テープ種:エンボス他 ■対象テープ幅:8mm(※4mm,12mm) ■送りピッチ:4mm(※1mm,2mm,8mm) ■対応リール:180mmφ、330mmφ ■検査速度:Max...

    メーカー・取り扱い企業: 三谷商事株式会社 ビジュアルシステム部

  • 協立テストシステム株式会社 事業紹介 製品画像

    協立テストシステム株式会社 事業紹介

    協立テストシステムはあらゆる基板の検査に対応させていただきます。

    ビス 【製品ラインナップ】 ○インサーキットテスター ○外観計測検査装置 ○ファンクションシステム構築環境ソフト ○Function検査モジュール ○インライン型全自動テスター ○IC・BGAテスター ○バーンインボードテスター ○ICTテストフィクスャー ○ファンクション検査冶具 ○ワンショット画像チェッカー ○X線自動検査装置 ○Agilent Medalist ...

    メーカー・取り扱い企業: 協立テストシステム株式会社

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