［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

超微量分析サービス

クリーンルームの環境評価分析も承ります！

を用いた『超微量分析サービス』を 提供しております。 試料に含まれるきわめて微量の元素やイオンの種類・濃度を調べ、 純度評価や超微量不純物の分析を実施します。 【分析例】 ■シリコンウエハ表面の微量金属および陰イオンの分析 ■高純度試薬中の微量金属の分析 ■セラミックスの中の微量特定有害金属の分析 ■RoHS指令関連分析 ■クリーンルーム中の金属元素および陰イオンの分析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所