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    【電子部品加工】セラミック・ガラス等の切断・研磨・研削加工

    PRセラミックやガラスなどの加工はお任せください!当社でご提供する切断加工…

    株式会社ディー・アール・エス(DRS)では、セラミック・ガラス等の 電子部品加工を行っております。 ワークにダメージを与えずに高精度切断が可能な「マルチワイヤソー 切断加工」や遊離砥粒及び固定砥粒による板状素材の両面、及び 片面研磨を行う「ラッピング研磨加工」をご提供。 また、高速回転主軸による「マシニングセンタ加工」も実施しております。 【サービス内容(抜粋)】 ■切断...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ディー・アール・エス(DRS)

  • 【スーパーマイクロシーブ】5ミクロンの丸穴微細加工技術とは? 製品画像

    【スーパーマイクロシーブ】5ミクロンの丸穴微細加工技術とは?

    PR従来の微細穴加工の工法とは異なる セムテックエンジニアリング 独自の技…

    従来のエッチング、レーザー、ドリル、フライス、放電加工では行えない、精度の高い微細な穴加工が行えます。 弊社のスーパーマイクロシーブはエレクトロフォーミング技術による加工により生成されています。 『穴径 5μm~30μm以上の加工』 製造過程で混在する粗粒子を個数レベルで完全に除去できます。 『最小ピッチ 穴径+10μmの狭さ』 一枚面積における穴数が多いため高効率の分級が可能です。 ...

    • 資料 4-8         説明資料 ?  使用例1 液晶パネル用  スペーサ.png
    • 資料 4-9         説明資料 ?  使用例2 ファインピッチ接続  ACF.png
    • 6-2 説明資料 ? 分級前 FPIA 粒径測定 .jpg
    • 6-3    説明資料 ?  分級後   FPIA 粒径測定.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社セムテックエンジニアリング

  • フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』 製品画像

    フィルムフレームテストハンドラ『4170-IH』

    搬送精度と測定部テーブルの耐荷重を向上!WLCSP、マルチサイト、一括…

    『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム テストハンドラです。 測定前にビジュアルによる位置補正(xyzθ)をすることにより、 デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テセック

  • 検査装置 製品画像

    検査装置

    小型硝子基板外観検査装置や電子部品6面外観検査装置をご紹介

    「電子部品6面外観検査装置」の取り扱いもございます。 【ウエハー・チップ外観検査装置 特長】 ■2インチ~12インチ対応 ■Siウエハー・化合物・ガラス等対応 ■反りWafer・ダイシング後CHIP検査 ■自動判別機能/マップデータ保存機能 ■分解能:1.5μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 大日商事株式会社

  • ピッカーハンドラー『KIG-3000』 製品画像

    ピッカーハンドラー『KIG-3000』

    豊富な検査項目!独自の縦型ロータリーヘッド方式で高速かつ安定性を実現し…

    『KIG-3000』は、最大処理能力0.35S/個の高速対応が可能な ピッカーハンドラーです。 ダイシング済みのウエハーからデバイスをピックアップして(反転マーク) 反転後、トレイ収納やテーピングが可能。 独自の縦型ロータリーヘッド方式により、高速かつ安定性を実現しました。 【特長】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社AXIS TECHNOLOGY

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