『HID対応マルチプロトコルRFIDリーダライタ』

PR自律動作によるキーボードエミュレーション機能を標準実装。プログラムレス…

当社の『HID対応マルチプロトコルRFIDリーダライタ』は、USBのHID(Human Interface Device)クラスに対応しています。キーボードエミュレーション機能を標準実装しており、自律動作でICタグのIDやユーザーメモリを読取り、USB接続したデバイスに自動で入力が可能です。 また、ISO/IEC15693、FeliCa、ISO/IEC14443TypeAなどの各種ICタグ規...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アートファイネックス 福井本社、東京支社

ICタグによるクリーンウェア管理サービス

PRICタグによりウェア管理業務を省力化！ 洗濯回数が把握できるようにな…

当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社菱進

液晶パネルに実装されたICチップ表面観察

観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ！回路面を明…

精密平面研磨を応用してガラス基板配線や導電粒子を削り取り、ダメージの 少ない状態でICチップ回路を観察した事例を紹介いたします。 ガラス基板側から慎重に平面研磨を行い、ICチップの数μm手前までの 部材を削り落とし、回路面の観察を実施。ICチップ回路面は明瞭に確認でき、 高...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

燃焼-イオンクロマトグラフィ－分析(燃焼-IC)

ハロゲン（F、Cl、Br）、硫黄の分析が可能です

燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン（F、Cl、Bｒ）や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることに...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例

IC（イオンクロマトグラフ）法でアミン類の測定が可能です

半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC（イオンクロマトグラフ）法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［IC］イオンクロマトグラフ法

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

イオンクロマトグフ法（IC法）は液体クロマトグラフ法（表1）の1種に分類され、液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 溶離液と呼ばれる移動相に液体試料を導入し、試料中のイオン成分を固定相である分離カラム内で分離させ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

実績：  MEMSセンサ（圧力センサ、加速度センサ、流量センサ、赤外線センサ、音響センサ など）  MEMSアクチュエータ（マイクロミラー、RF MEMS など）  各種半導体（IC、パワーデバイス など）  光学素子（アパーチャ、レンズ など）  機能構造（poly-Si TSV など） 加工場所： オムロン株式会社　野洲事業所（滋賀県野洲市） ～　8インチ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】IC法による溶液中の有機酸の分析

溶液中の有機酸の定性・定量分析が可能です

などの分野で幅広く利用されています。 特にメッキ液中の有機酸濃度は、使用の過程でバランスが随時変化し、このバランスがメッキの品質に影響を与えることから、精度よく制御することが重要です。 ここではIC法（イオンクロマトグラフィー）を用いた有機酸分析の事例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ICチップの外観検査

様々なデバイスをお客様のご要望により短納期で検査納品をいたします

株式会社ニチワ工業では『ICチップの外観検査』を承っております。 検出された欠陥チップは、識別方法としてインク(バッドマーク)の打点や プローバーデータへの出力が可能。また、オペレータによる外観だけでなく 多量少品種...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニチワ工業

［TOC］全有機体炭素測定

TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を…

TOC計は、試料中の全炭素量（TC：Total Carbon） 、全有機体炭素量（TOC：Total Organic Carbon)、無機体炭素量（IC：Inorganic Carbon）を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量（TOC）として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量（TC：Total...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製

FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…

装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【事例】リニアホールICを用いた磁場の強さ（Oe）検出精度向上

静磁場環境の前提下において、磁気シールドプレートのシールド効果検証に活…

磁場（磁界）の強さ（Oe）に対するシールドプレートの効果検証過程で、リニアホールICを使った検討を実施。 　1（Oe）以下での変動状況を捉える必要がありましたが、市場にあるセンサでは単体性能が出ないため、計測側のソフトウエア 　処理と高精度計測　モジュールの組み合わせにより、高...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)

PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA）光…

PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser d...

メーカー・取り扱い企業： CTflo株式会社

【良品解析事例】Agワイヤ使用ICのパッケージ開封

ダメージを抑えたパッケージ開封方法の開発により、ボンディング形状の観察…

Agワイヤ使用ICの樹脂除去においては、ワイヤの薬品ダメージが 大きいことが問題となります。 当社では、飽和法の原理を用い、ダメージを抑えたパッケージ 開封方法の開発により、ボンディング形状の観察を可能とい...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

アニオン分析の受託サービス｜JTL

ICを用いて、無機イオンの測定を行い、腐食の原因調査や不具合解析をしま…

アニオン分析サービスでは、IC（イオンクロマトグラフ）を用いてF⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻といったハロゲンに加えてNO₂⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、PO₄³⁻といった無機イオンを測定します。これらの無機陰イオンは腐食の原因となり得る...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

デバイス、基板の特性評価、機能評価　「EVA100」

測定したい環境に持ち込み、ICや実機の機能・特性評価が可能に。 アナ…

当社は、アドバンテスト社製の複合型計測器「EVA100」を用いた ICや実機、基板、モジュールのテスト・評価サービスを提供しています。 デジタルICに加え、アナログICや、ADC/DACを搭載したミックスドシグナルICの テスト・評価に対応。「EVA100」に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社プリバテック

ハロゲン分析の受託サービス｜JTL

IC、またはICPでハロゲン測定を実施します。

ハロゲン分析サービスでは、F⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻のハロゲン4項目をICまたはICPを用いて分析いたします。 ハロゲンは腐食に影響するため、不具合の原因となることがあります。また、樹脂製品のハロゲンフリー化が進んでいることからもハロゲンを含まない製品の証明としてハロゲ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

ス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

溶出試験の受託分析｜JTL

特定の条件下で溶出する元素、イオン、化合物などの測定を実施します。

製品から溶出する不純物として、元素、イオン、有機化合物を測定します。樹脂などの製品に対し、ご指定頂いた条件やご要望に応じた条件で溶出試験を行った後、試験液中の各項目の測定を行います。測定項目に応じてICP、IC、GC-MSといった装置を使用して分析を行います。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【導入事例】製品トレサビリティと自動化を両立した検査システム

測定プログラム起動機能と外部生産管理システムの連携を柔軟なカスタマイズ…

航空機部品メーカーに検査システムを導入した事例ご紹介します。 全数検査と製品1品1品のトレーサビリティ管理が義務付けられた航空機部品の 量産現場に導入、ICタグのシリアル情報を活用して測定プログラム起動機能と 外部生産管理システムの連携を柔軟なカスタマイズで実現。 製造記録と連動しながら専門性高いの統計解析機能が威力を発揮し、要求以上の 解析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トレサ

【分析事例】プリント基板からの溶出成分の分析

液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です

・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー（IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このようにICは固体試料表面の腐食成分の評価に有効な手法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬（過酸化水素水＋鉄イオン共存溶液）により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素量測定

固体中の有機体・無機体炭素量を評価することが可能です

全有機体炭素測定計（TOC計）は、試料中の全炭素（TC：Total Carbon） 、無機体炭素（IC：InorganicCarbon）をそれぞれ分けて定量することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

テストオペレーションサービス

お客様のニーズに合わせたトータルソリューションを提供します！

　・専用クリーンルームによるテスト環境 　・経験豊富なエンジニアリングサポート ■アナログ（RF、パワー） 　・先進のテスト保有によりテストコスト削減 　・幅広いテスト環境（LSIリニアIC・電源制御IC〜RFLSIまで対応） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テラプローブ

清浄度分析の受託サービス｜JTL

ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します…

清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

ESD/Lu・CDM・GL試験

熊本事業所にて承っております

数：1024ピン 　◇印加電圧　　：　0～±4000V 　　　　　　　　　（5Vステップ) ゲートリーク試験 【適合規格】　◇AEC-Q100-006　 【試験内容】 高温下でICに高電圧を加えることが でき、表面実装型のICのゲートリーク （電気的、熱的誘導による寄生ゲート 　漏洩）をテスト、高温下に置かれた 　ICに電界をかけ、ゲートリーク発生　の有無を調べます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

【資料DL可：FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画

FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…

能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 この事例では FIB装置で実際にシリコン基板上へパターンをどのように描画するか を紹介しています。 尚、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおりです。 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を適切に短納期で行い、お客様...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

＜資料DL可＞【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法

FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…

面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※なお、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよび...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

作製を紹介しています。 ・円形：φ5μm ・ピラーの高さ：700nm/650nm/600nm ・ピラーの径：φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 を短納期で行い、お客様のICおよびLSI...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【良品解析事例】超音波探傷装置による非破壊検査

超音波探傷は微小な隙間や内部の状態を観察するのに有効！良品解析事例のご…

超音波探傷装置でIC内部の剥離を見ることは知られていますが、 複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 その為、IC以外の製品でも剥離状態を確認する事ができ、今まで エックス線では透過してしまい観察...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察！数値による評価が可能とな…

IC等におけるワイヤーボンディング部の接合状態を正しく評価するためには、 接合面での金属間化合物の生成状態を観察する必要があります。 金属間化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングさ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

樹脂材料（半導体 LED用途）の分析

樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能！

株式会社アイテスでは、樹脂材料（半導体 LED用途）の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

東洋電子工業株式会社 会社案内

協創をイノベーションに！半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応…

【特長】 ■半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応 ・光技術 ・ハードウェア開発 ・ソフト開発 ・Si IC-LSI組立・検査 ・低価格での量産 ・IC Waferテスト ・組立・実装 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 東洋電子工業株式会社

ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション

パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…

良の原因解明、詳細な不良解析を行う ■信頼性試験 ・多様な信頼性試験装置を保有(恒温恒湿、ヒートショック、複合振動、塵埃など) ■パネルの評価・解析 ・パネル画素回路、ドライバ回路、ドライバICの接合状態を調査、解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【技術資料】6フッ化リン酸リチウムに含まれる微量陽イオンの測定

【IC：イオンクロマトグラフィー】二次電池(バッテリー)電解質に使われ…

イオンクロマトグラフィーにより、二次電池（蓄電池）の電解質として使われている6フッ化リン酸リチウム（LiPF6）に含まれる微量陽イオンの測定を行った結果をご紹介しております。 陽イオンの連続サプレッション後、電気伝導度検出器検知により、サンプル中に含まれる微量陽イオンを測定。 「分析方法」や「分析パラメータ」、「装置構成」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■カラム ■溶液 ...

メーカー・取り扱い企業： メトロームジャパン株式会社

【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析

IC：イオンクロマトグラフィー

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 また、固体（部材）表目に付着しているこれらの成分は、純水に浸して抽出することで測定します。 MSTでは液体試料に含まれるイオンや有機酸の定性・定量分析、部材表面から溶出するイオン量評価、部材の腐食原因調査が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託観察・分析サービス｜JTL

問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。

-EPMA,XRF,RBS/ERDA,ESCA/XPS,SIMS,AFM,ナノインデンテーション,FE-SEM,SEM,デジタルマイクロスコープ,金属顕微鏡,STEM,TEM,Raman,XRD IC,GC,HPLC,GC-MS,GC-MS/MS,LC-MS,LC-MS/MS,ICP-MS,ICP-AES,FT-IR,マイクロプレートリーダー ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

分析サービス｜JTL

解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評…

グ、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

高度試験センター『東京テストラボ　上野原サイト』

「電池試験」および「大型振動試験」に対応！高度試験センターを上野原に開…

、電池試験および大型振動試験の最新技術・設備を採用した「高度試験センター」を開設しました。 山梨県上野原市に新たに開設しました「高度試験センター」は、東京都心から中央自動車道で45分、東名高速厚木IC、関越自動車道鶴ヶ島JCTからも圏央道で45分という便利なロケーションにあり、関東圏のみならず広域のお客様からのご要望にお応えできます。 また、現在の東京テストラボからも車で約15分の距離にあり、...

メーカー・取り扱い企業： ＩＭＶ株式会社

水分析

安定操業への貢献のために！様々な水を貯留層評価や操業トラブルの解決に役…

【分析・評価】 ■前処理・湿式分析 ■機器分析(IC、ICP、LC、IRMS) ■地層水の分類と油ガス貯留層水つき評価 ■スケール析出リスクの評価 ■坑井刺激作業の評価 ※詳しくは弊社ホームページ／技術サービス（https://www.j...

メーカー・取り扱い企業： 石油資源開発株式会社

硬さ試験機による受託サービス｜JTL

硬さ試験機を用いて試料の材質・構造に合わせた硬度測定を行います。

【薄膜・微小領域・低荷重の測定にもご対応】 マイクロビッカース硬さ試験機は試験力を0.4903mNから19610mNまで任意で選択することが可能なため、コーティングやメッキのような薄い膜や、ICのボンディングパッドや金属組織の結晶粒のような小さな面の測定が可能です。 【切断・研磨などの試料調整も実施】 硬度測定を正確に行うには、試料調整により試料を成形し、測定面を平滑にする必要があ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

腐食分析の受託サービス｜JTL

金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析により、お客様の問題解決をサポートし…

を比較分析ができます。 ●錆の原因調査、予防、防止 鉄鋼・非鉄部材で錆が発生した場合、製造工程で使用する水、洗浄液、切削油に含まれるClやSが原因となることがあります。 このような分析にはICが活用できます。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」 はんだ内部に潜む問題…

本事例の目的/手法/結果は以下です。 ●目的：熱衝撃試験後の IC 実装 はんだ の 内部歪みを調査 ●手法：SEM EBSD 法（断面形成後の結晶方位解析 ●結果：はんだ内部に歪みが分布している様子を認識 詳細はカタログダウンロードいただければ幸いです...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料進呈中！】株式会社ビオラ　リワーク・リボール入門編

BGAリワーク・リボール入門編！0.4〜0.8mmピッチBGA30,0…

【BGAリボール手順】 　1.IC取り外し 　2.残半田除去 　3.半田ペースト印刷 　4.半田ボール搭載 　5.IRヒーターにて加熱 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ビオラ

超微量分析サービス

クリーンルームの環境評価分析も承ります！

【主な分析機器】 ■高分解能誘導結合プラズマ質量分析装置（HR-ICP-MS） ■誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS） ■誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP-AES） ■黒鉛炉原子吸光分析装置（GFAAS） ■イオンクロマトグラフ（IC）　など...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所

理化学分析

異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います

【分析装置】 ■元素、組成分析 ・CHN、原子吸光、ICP発光、 ・ICP/MS、IC、TOC、蛍光X線 ■化合物の構造解析と同定 ・GC、GC/MS、Py-GC/MS、HPLC、LC/MS、 ・FT-IR、ラマン分光、NMR、UV、XRD ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレハ分析センター