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116件 - メーカー・取り扱い企業
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286件
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InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察
Csコレクタ（球面収差補正機能）付きSTEM装置により、超高分解能観察（分解能0.10nm）が可能となりました。原子量に敏感なHAADF※-STEM像は多元系結晶構造を直接理解できる有効なツールです。今回、酸化物半導体中微粒子の評価を行いましたので紹介します。異種材料界面・化合物界面の原子配列、粒界偏析評価などに応用できます。 ※High-Angle Annular Dark-Field： 原子...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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クラス最高の解像度 管球メンテナンスフリー
Ｘ線検査装置で世界の半導体・基板検査のマーケーットリーダーであり、欠陥検出を簡単に行うことで品質の向上に貢献します。 英国アイルズベリーを拠点とするNordsonDAGEでは、Ｘ線発生器、電源、ディテクターの主要部品を自社で設計、製造しています。 世界最高レベルでの検査ソリューションを提供します。...本機の特徴 ・ノードソン・デイジ社製メンテフリー仕様、シールド・トランスミッシブ管Ｘ線...
メーカー・取り扱い企業： オーヨー株式会社
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問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。
断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案 試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応 観察・分析のアウトソーシ...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。
走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス
高い加工精度と広い加工領域を実現！冷却機能でダメージを軽減しながらの加…
CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材において平...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。
【最小焦点寸法：0.25μmでの高分解能観察】 焦点寸法が最小で0.25μm（理論値）であるため、数ミクロン～数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。 【X線管電圧：30kV～160kVの幅広い透過力】 X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。 【多方向からの観察】 ...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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機械研磨では潰れて観察できない構造をきれいに面仕上げします。
イオンミリング装置とは試料の表面に非常に弱いアルゴンイオンビームを照射することで、観察・分析用の研磨・エッチングを行う断面研磨装置です。 従来の機械研磨では、銅やアルミ材などの軟質材では研磨面が潰れたり、ダレが発生し、セラミックやシリコンなどの硬質材では割れやクラックが発生しましたが、イオンミリング装置ではこれらの問題を解消し、きれいで損傷のない観察面が得ることができます。 イオンミリング装置...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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多彩な機器を用いた高分子材料の形態観察・物性評価を提供！
当社では、高分子材料の『形態観察・物性評価サービス』を提供しております。 内部や表面の微細構造、結晶構造・非晶構造の観察や熱的・レオロジー的 性質の評価、成形品断面の樹脂流れの観察による成形加工性評価と 規格に基づく機械的特性、電気的特性、耐環境特性、成形性などの 試験を実施します。 【分析例】 ■ポリマーアロイの分散状態観察 ■ポリマーのミクロ相分離構造観察 ■結晶ラメラ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所
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X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…
当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【掲載内容（抜粋）】 ■BGAはんだクラック解析事例（X線透視観察） ■表面実装LED ■チップ抵抗の観察事例 ■リフローシュミレータ ■マイクロフォンの観察事例（X線...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹…
ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。 【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え方...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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不良箇所を推測しながら的を絞って観察！素早く結果を報告し課題の早期解決…
当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察でき...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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組織観察、母材成分調査等を追加することも可能！実績豊富な専門家が調査内…
壊れるはずがないのに壊れた！ものづくりに関するその"困った"に 川重テクノロジー株式会社がお応えします。 当社は、お客様の課題解決へ向け、実績豊富な専門家が調査内容を提案。 起点、進展方向、破壊形態の特定等を行う「基本コース」と、起点部欠陥、 組織観察、母材成分調査等を追加することが可能な「詳細コース」をご用意しております。 また、損傷に関する情報を頂ければ、調査に反映可能で...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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表面解析サービス
IHI検査計測社が取り扱う 表面解析サービスのご紹介です。 表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価 経年変化/健全性評価の観点で重要となっています 【主要設備】 ○FE-SEM/EDS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍 ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測
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観察サービス｜JTL
観察サービスの概要 観察サービスは、試料の表面・断面を拡大観察して形態・組織等の観察を行う『表面・断面観察サービス』と、試料内部を非破壊で観察する『非破壊内部構造観察サービス』の二つに分けれられます。 一部の装置で寸法測定・各種計測機能が付いておりますので、観察と同時に計測評価を行うことも可能です。 評価の目的、試料の材質・サイズ・状態に合った最適な観察方法をご提案させていただきます...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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産業用 CTスキャンデータ活用事例集【内部検査/観察/設計】
非破壊検査/観察にご利用いただけるX線CTスキャナの活用事例をご紹介！
製品を傷つけることなく製品の表面と内部を一度に観察可能なCTスキャナは、幅広い業界や部署で活用いただけます。 本資料では、CTスキャナで取得したデータの検査・活用事例を画像を中心にご紹介いたします。 [内容] ・鋳造製品の内部品質(ボイド)検査 ・電子基板の内部観察 ・内部形状を含むリバースエンジニアリング(CADデータ化) ※下記ボタンより資料をダウンロード頂けます。 ※弊...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムクリエイト
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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…
FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScatte...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。
2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観察・質量分析等の破壊を伴う分析手法を主として受託サービスを展開しておりましたが、電子デバイスを破壊せず観察し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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金属組織の観察など、観察前の試験・試料調整から一連の調査を受託します。
金属顕微鏡を用いて、金属やセラミックスなどの組織観察・状態確認を実施致します。 弊社所有の金属顕微鏡は倒立型金属顕微鏡装置で、光をサンプルへ均一に照射し、サンプルを透過または反射した光を捉えて観察を行います。 サンプルの透過率または反射率の違いにより観察像のコントラストが得られる、もっとも一般的な観察方法です。 厚みや大きさのある金属試料・素材などの切断面を観察する用途に利用されます。......
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…
進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察 【受託依頼 フロー】 1） お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室
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測定温度の間隔を細かくすることで、⽣成する温度も知ることが可能！高温X…
物質は、加熱や冷却により化合形態や結晶構造が変化し、高温X線回折装置に より観察することができます。 当社所有の装置では、半導体検出器による超高速（数分）の測定、 室温から1200℃までの測定などが可能。また、昇降温速度、 保持時間を設定できます。 塩化カリウム（KCl）と塩化亜鉛（ZnCl2）を混合して、温度を変化させて 測定した例では、塩化カリウム（融点776℃）と塩化亜鉛...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…
ＦＩＢ加工観察装置によるＳＩＭ像の３Ｄ再構築解析の受託を始めました！ 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます！ 【半導体デバイスの故障解析やワーク断面・積層構造を高精度高...
メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社
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各種試料調整装置により観察・分析に必要な前処理を実施します。
各種の観察・分析の前に必要とされる、切断・樹脂包埋・断面研磨・エッチング・蒸着・薄膜加工・試料溶解などの試料調整を実施致します。 特に研磨に関しましては、様々な材質・形状・目的に合った手法にて研磨が可能ですので、まずはご相談下さい。 観察・分析をお客様にて実施される場合、試料調整のみを行って、試料を納品させていただくことも可能です。...試料調整装置の概要 各種の観察・分析の前に必要とさ...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察
低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます
密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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プラズマFIB装置を用いて断面を観察！広く破壊されている様子が確認され…
RC-IGBT（Reverse-Conducting IGBT）を用いた、故障解析事例をご紹介します。 今回はシステムレベルの規格として広く用いられるIEC61000-4-2に倣って、 人体からの放電を模擬したESD破壊の再現実験を行いました。 チップ表面の観察後に、ロックイン発熱解析を行い、微小な故障箇所を特定。 プラズマFIB装置を用いて断面を観察した結果、表面のクレーター...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評…
精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。...【非破壊解析】 非破壊でしか得ることのできない製品の内部構造に関する情報を調査・提供します。 [設備] S...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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有機・無機材料の局所分析はお任せください！
当社では、新しく開発される材料の微小領域を対象とした局所分析を行う 『形態観察サービス』を提供しております。 有機・無機材料の局所分析は、電子線やイオンを使用する方法によって 結晶構造や元素分析、さらに結合状態をナノメータで解析します。 これらの情報と材料の特性・機能の関係を調べることから、 新素材の可能性を明らかにし、開発の前進に貢献します。 【分析例】 ■セラミックス、金...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所
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X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT（コンピュータートモグラフィ）測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料の接触状態や、空孔を有する材料内部における液体の存在状態などの評価...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
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様々な測定器を駆使し、測定及び試験を行っております！
ハイライトでは、各種測定器を活用し測定及び試験を行っております。 測定及び試験できる寸法につきましては、 材質、形状により測定及び試験できないものもありますので、 詳細については当社までご連絡ください。 【測定器、観察機器、試験機器】 ■デジタルマイクロスコープ VHX-2000 ■エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-7000 ■原子吸光分析装置 アナリティクイエナジャ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイライト
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サンプル内部の観察・検査・計測に、Ｘ線検査受託サービスをご紹介
当社のX線検査受託サービスは、多種多様なサンプルに対応し、内部の観察・…
多種多様なサンプルの極小サンプルから大きいサイズまで、最適な条件で撮影いたします。撮影データは三次元データ化し、詳細を確認できるほか、三次元解析ソフトウェアによってさらに細かな分析が可能です。 サンプルの内部状態の観察・検査・計測だけでなく、異物の位置関係の確認、検体の割れ、欠陥等の嵌合状態のチェックなど、多くの用途に対応します。 また、装置のレンタルサービスも行っているため、「大量の...
メーカー・取り扱い企業： コムスキャンテクノ株式会社
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総合的な見地より原因の追究、考察を報告書にしてお送りするサービスです。
「材料調査」では、お客様が調べてみたい材料の成分、硬さ、強度、組織などの評価および破損、腐食、異物付着などの諸問題について、分析データ、強度特性、物理特性あるいは組織評価を行い総合的な見地より原因の追究、考察を報告書にしてお送りするサービスです。 破損や摩耗、腐食などのさまざまな問題点を最新鋭の機器で調査し、その原因を究明します。 【調査】 ○SEM観察 ○マイクロスコープ観察 ○金...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社キグチテクニクス
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化学薬品メーカーならではの経験と提案力を活かし、形態観察・異物・Roh…
問題の原因調査や対策の立案には、正確な分析・解析が重要です。 試料には液体から固体、油性から水性など様々な形態があり、試料によって最適な前処理や分析手法を選択する必要があります。 伯東は、60年の化学薬品メーカーならではの分析経験から、様々な試料に対する最適な手法を選択することが可能です。また、高機能な分析機器を有しており、ハイレベルな分析や解決・対策案をご提案することが出来ます。 社内...
メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社
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開発スピードアップに貢献！各種分析装置も取り揃えております！
「手間暇のかかる作業に時間を取られる」「検査や評価の精度に疑問を 持っている」などのお悩みはござませんか？ クオルテックにお任せ下さい。開発スピードアップに貢献します。 観察・分析装置は、実体顕微鏡・デジタルマイクロスコープ・蛍光顕微鏡を 保有。この他、レーザー顕微鏡、3D測定マクロスコープ、AFM、FE-SEM、 EDX、FT-IR GC-MS、XRF等、 各種分析装置も取り...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ
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引張試験/硬さ試験/成分分析/組織観察 試験片準備からアフターフォロー…
様々な資料に対応した総合検査サービスです。 資料素材の切り出しから、熱処理、試験片機械加工、材料試験、成績書提出、アフターフォローまで付帯行有無すべてを受託しています。 実体試験の場合、X線検査や浸透探傷検査と連携し、悪条件での性質を確認することも可能です。 ...【引張り試験】 試験片の断面積を決定する為に、平行部の中央の断面寸法を測定する。試験片を試験機に取り付け、試験条件...
メーカー・取り扱い企業： TANIDA株式会社 かほく本社工場
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【Webデモ実施中】独自の可視化システムにより、粒子・気流の高感度な可…
微粒子可視化専用の超高感度カメラ・LED光源・画像処理ソフトの組み合わせで 目に見えない微粒子を映像としてリアルタイムに可視化し録画する「微粒子可視化システム」のLED光源モデル『Type-D』です。 『Type-D』の特徴 ■ 微粒子可視化 一般的に微粒子の可視化には不向きとされるLEDですが、精密な光学設計によって微粒子可視化に最適なLED光源を実現しました。 ■ 表面異物の観察...
メーカー・取り扱い企業： 新日本空調株式会社 ソリューション事業部
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…
発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います
当社では、新しい分析機器を駆使して分析・解析を行っております。 異物調査に関しこれまでに蓄積されたデータと経験から、 お客様に迅速かつ的確なご報告・アドバイスが可能。 食品などへの異物混入のクレームでお困りの方など お気軽にご相談ください。 【サービス内容】 ■外観・形状観察 ■無機成分分析 ■有機成分分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社分析センター 第一技術研究所
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実装プロセス目視観察から信頼性評価まで！自社技術者による迅速な解析、評…
沖電気工業株式会社が行う、解析・信頼性評価についてご紹介します。 長年蓄積したノウハウと、充実した解析・信頼性評価設備を使用して 自社技術者による迅速な解析、評価を実施。 実装プロセス目視観察では、CT機能付きX線検査装置によるはんだ接合部や、 リフローシミュレータ装置による加熱プロセスの観察を行っています。 その他にも、実装組成状態分析や信頼性評価なども実施しています。 ...
メーカー・取り扱い企業： 沖電気工業株式会社 EMS事業部
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接触回数によってプローブ先端ではどのような変化が起こっているのか？
「実際に何が起こっているのか…？」実験を通じて、数値化や可視化（画像取得）をサポートします。 【実験例】 ・100万回の耐久試験 ・10万回毎に測定物との接触抵抗値の測定 ・5万回毎にプローブの先端を電子顕微鏡で確認 ・数種類の材質のプローブで耐久試験を実施 ・測定物への接触痕の観察 ・300A連続通電時の測定物とプローブとの接点温度の測定 など 装置・測定器の組合せによ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンケイエンジニアリング 本社
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パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…
株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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超音波探傷は微小な隙間や内部の状態を観察するのに有効！良品解析事例のご…
超音波探傷装置でIC内部の剥離を見ることは知られていますが、 複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 その為、IC以外の製品でも剥離状態を確認する事ができ、今まで エックス線では透過してしまい観察できないものでも観察できる 場合があります。 下記カタログでは、写真を用いて解析事例をご紹介しています。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 断面観察、成分分析等の...
メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社
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技術情報誌 202102-02 微小部赤外分光イメージング分析
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 微小部赤外分光分析において、高空間分解能装置の開発が進んでいる。本稿では、従来技術の延長線上にある顕微ATRイメージングと、赤外光の回折限界を越えた空間分解能を有する光熱変換赤外分光法（O-PT-IR法）を用いた微小部赤外分光イメージング技術の適用例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．赤外分析の高空間分解能化 ３．O-PTIR法の微小部組成分 ４．顕微ATRイメージング...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
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パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…
チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す熱ストレスへの耐久性を 評価するために、「パワーサイクル試験」の重要性が増しています。 当社では、試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で 実施しています。 また試験サービスだけではなく、試験装置の開発・販売も 行っておりますので、ご用命の際はお気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■複数のサンプルを同時に試験できる...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上！
X線CT測定ではサンプルの三次元構造を非破壊で観察することが可能です。 しかし、X線ビームを使用する性質上、金属を多く含むサンプルの測定においてはメタルアーチファクトと呼ばれる暗い線状の虚像が発生することがあり、 内部構造の測長や画像解析における妨げとなります。 本資料では試料の材質情報と物理モデルを基にCT画像再構成の最適化を行った事例をご紹介します。 本技術によりアーチファクトを低...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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目的に応じた設備で、断面試料作製及び分析を実施します。
試料内部評価の際は、断面試料作製後、分析を実施します。 断面試料作製では、機械研磨、イオンミリング（CP）、ミクロトームなどの様々な手法があります。 試料作製後に、SEM、FE-EPMA等の装置にて分析を実施します。 いずれも解析目的に応じて最適な方法をご提案します。...【特徴】 ●ご依頼内容に応じた最適な研磨方法 試料状態や解析目的に応じて、最適な断面作成方法を実施致します。 通常...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解…
試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメリットをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡の特長 ・メリット／デメリット ・こんな観察にお勧め ■SEM（走査電子顕微...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SI...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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高温下でのセル特性・耐久性を把握！様々な視点から解析することが可能
当社では、トラックやバスといった商用車向け燃料電池のライフサイクル 向上に向けた劣化解析を行っております。 高温下での部材の劣化挙動を様々な視点から解析することができ、 条件に合わせた評価装置のカスタマイズが可能。 また、これまでの知見を活かした適切な条件設定をご提案することができ、 電極(触媒やアイオノマー)観察と組み合わせた統合解析が可能です。 【特長】 ■高温域(1...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社KRI
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X線顕微検査装置を利用し、さまざまな非破壊内部観察を行っています。
愛工舎では、2013年5月より、X線検査受託サービスを開始致しました。 マース東研X線検査株式会社製 X線検査装置（TUX-3200N）により、直径400mmの大型ステージでの高倍率の撮影やステップ送り機能撮影が可能です。 試料郵送、試料持込み・立会いともに、対応可能です。 各種不具合の解析、異物検査、組立状態などの確認、動作解析などのご利用例があります。 【特長】 ○分解能0.4μ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社愛工舎 七宗工場
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【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…
弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIB...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【分析事例】（X線CTによる）セラミックス基板の導通不具合調査
供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察！クラック進展状態の…
当社で行った、不具合原因調査についてご紹介いたします。 試験設備にマイクロフォーカスX線透視システム（アンドレックス MX-4） と透視画像処理装置（ユニハイト UH-12）を使用。 試験内容は、X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および 高倍率透視観察と、クラック進展状態の観察です。関連リンク先では、試験 結果の図と透視像を掲載しております。 【試験内容】 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ
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AFMでは極めて微小な表面形態（凹凸）を捉えて測⾧することが可能です
AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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貯留層地質の解釈ツールとして！薄片観察やX線回折分析など、岩石鉱物分析…
石油資源開発株式会社では、様々な岩石学的手法を最大限に活用して、 石油および地熱の探査・開発に応用しています。 岩石鉱物分析上まず始めに実施すべき「薄片観察(ブルーレジン圧入)」を はじめ、「X線回折分析(XRD)」や「流体包有物マイクロサーモメトリー」など、 豊富な分析をご用意しております。 【探査および評価作業】 ■薄片観察(ブルーレジン圧入) ■X線回折分析(XRD) ...
メーカー・取り扱い企業： 石油資源開発株式会社
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