医療向け「生体情報モニタ用アーム」米国製

PR第71回日本麻酔科学会にも出展！日本光電、フクダ電子ほか主要メーカーの…

ICWUSAは米国を代表する業務用モニターアームメーカーです。 医療、医薬、工業分野で幅広くご利用いただいています。 生体情報モニタ用アームは ・日本光電 ・フクダ電子 ・Philips ・ドレーゲル ・GEヘルスケア ・Mindray などの主要メーカー製に対応します。 ウォールチャネル、麻酔器、シーリングペンダントなどに取付可能です。 生体情報モニタ用以外にも病院でご使用いただけるモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アクアス

夏場の金型対策に！【無料】配管洗浄デモンストレーションのススメ

PR金型配管洗浄デモンストレーションを日本全国無料で実施中！配管内を内視鏡…

＼本格的な夏到来！／ このようなお悩みはありませんか？ ●糸引き、ヒケ、反りといった成形不良率の増加 ●歩留まり率の低下 ●成形品の冷却時間の延長 ●成形サイクルの長期化 ●電気代、水道代、材料費の増加 原因は、温調配管（冷却管）に詰まったアレ！ 配管洗浄でスカット解決！ ＼夏場の金型対策に！／ 日本全国無料で実施中！ 【1】無料！内視鏡チェックサービス ...

メーカー・取り扱い企業： ソマックス株式会社

Druck 半導体アプリケーション用圧力センサ

半導体製造装置の流量制御に必要な高精度の圧力センサ各種。モジュールのカ…

【SEMICON JAPAN2021に出展いたしました】 多くのお客様にブースにお寄りいただきありがとうございました。 【半導体製造装置の流体制御に】 半導体製造工程においてはプロセスガスの高精度な流量制御が不可欠です。厳しい条件下で高いパフォーマンスを発揮する各種圧力センサ、カスタマイズできるモジュール機能などをご提供しております。 【注目製品】 新製品：温度変化に強いADRO...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

ED SCOPE Til　イーディー スコープ タイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。 ・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。 ・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。 ・スクラッチ、クラック、ディンプル、ウォーターマーク、スリップ、ソーマーク、ボイド、異物...等の検出。 ・自動タイリングステージにより...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピストンリング株式会社

パワー半導体　ICテスター　CTT3700

低価格、高精度を実現するために日本メーカーのテスターから海外メーカーの…

の供給何がささやかれる中、工場の増産ラインが強化されています。様々な半導体製造装置が使用される中で、製造された製品は最終的に電気的特性のテストをしなければなりません。パワー半導体の大きな市場でもある日本。電気的特性のテスターも日本メーカーが供給しているなかで、なかなかテスター自体の価格が下がってこないのが、現状。CCTECHの CTT3700は2000V/100A対応のMOSFET、ダイオード、...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Druck 半導体製品の圧力校正試験の自動化に

半導体製造装置やMEMS圧力センサの計測試験/ライン検査に圧力コントロ…

【MEMS圧力センサの校正検査工程の自動化に】 現在高需要の車載圧力センサ。ドラックの圧力コントローラPACEでエンド・ライン検査を効率化しませんか？試験を自動化することで生産コストが各段に削減できます。生産ラインの拡張の機会にぜひご相談ください。 ■複数チャンネルの圧力計測・校正に：圧力コントローラ PACE シリーズ ■圧力制御スピード：他社製品の最大5.5倍 ■ポータブルに使...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、 半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。...【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano-FTIR） ...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

超コンパクト半導体励起UVレーザー

266nm CW（連続波）レーザー 10mW - 550mW @ 2…

■コンパクト・安価 超コンパクト半導体励起UVレーザー“FQCW 266シリーズ”は、紫外光CWレーザーのこのような欠点を解消するため、マイクロチップ技術の粋を集めて開発され、コンパクト・軽量・空冷式で安価なCWレーザーです。 ■測定用に使い易いレーザー 超コンパクト半導体励起UVレーザー“FQCW 266シリーズ”の発振波長は紫外域の266nmで、殊に測定装置用の光源として使用しやすい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

高電圧コネクタ

高電圧コネクタ

日本コネクト工業の製作する高電圧コネクタは、耐電圧が数KVから30KV程度までの耐電圧を用意しています。2極、3極と様々なタイプに適合し、信号・高電圧・高電流の複合タイプも製作出来ますので、お客様の仕様に合わせたカスタマイズが可能です。コネクタによっては、安全性を考慮し誤接続防止構造を採用しており、プラグ・ソケットをどちらのハウジングに入れても使用できるように設計されています。各種ケーブルも用意しており...

メーカー・取り扱い企業： 日本コネクト工業株式会社

資料無料進呈中！半導体ICテスターの選定方法について

低価格、高機能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。選定ポイン…

CCTECH 社は海外の半導体ICテスターメーカー。中国に本社を構え、日本にも サポートセンターをもち手厚いサポートをすることで有名。 現在、パワー半導体のICテスター、アナログミクスト系のテスターから、 ICをテスター部に搬送するハンドラー、プローバーなども開...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ／デジタル（測定はアナログ、データ処理はデジタル） ロックイン平均法を採用したユニークなシステ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定！オプションにより表面抵抗測…

当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI層の厚み、PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定。 「SRP2000」は、プローブのコンディショニング、ベベルアングルの測定、 標準サンプルのデータ入力などが全...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...【アプリケーション】 ・Low-k膜の細孔率測定 ・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定 ・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ライフタイム測定装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロック...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

ウェハーを割らずにそのままで測定可能です。...結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...LSTは、CCDカメラを使用し、切断されたウェハーサンプル断面の結晶欠陥を測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

太陽電池のブロック/ウェハー/セルのマッピング測定可能な装置もご提供可能です。...比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

PN判定器

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触／非破壊にてＰ／Ｎ判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...PN判定器 PN-100は、半導体材料を非接触/非破壊にて P/Nタイプ判定いたします。 シリコン端材、スクラップを含むシリコンインゴット原料のPN判別用途に最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

薄膜太陽電池パネル測定装置

薄膜太陽電池パネル測定装置

フラットパネルディスプレイ製造マーケットでは、品質管理用途にて非常に多くの実績がございます。...太陽電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。 　- 分光エリプソ(膜厚、光学特性) 　- ライフタイム測定 　- シート抵抗測定 　- 比抵抗測定 　- ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

シリコンブロック内部異物検査装置

シリコンブロック内部異物検査装置

ワイヤーソー等でシリコンブロックをスライスする際に、事前にIRB-30にて内部異物箇所を検査し、対応して頂くことによって、ワイヤーソーのダメージ、断線を抑えることが可能です。 ...IRB-30は、赤外線を使用し、シリコンブロックの内部異物(主にSiC, SiNなど)を検査する装置です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

インライン型ウェハー測定モジュール

インライン型ウェハー測定モジュール

インラインでのウェハー/セルの全数検査、ソーティングが可能です。...結晶系太陽電池向け品質管理、製造歩留向上のためのインライン全自動ウェハー測定モジュールです。　 搬送用ベルト上でノンストップにてライフタイム、比抵抗/厚さ、シート抵抗を測定します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロール分光エリプソメータ

QCモニタリングにて非常に多くの実績があります。...ロールツーロールにてノンストップで膜厚を多点測定可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体重力式テストハンドラ　C8/C9シリーズ

半導体検査装置へ部品を搬送する装置。重力式の搬送装置となります。搬送と…

半導体検査装置へ部品を搬送するには、スループットが重要な選定項目になります。CCTECHのC8、C9シリーズは重力式の搬送装置、ハンドラーになります。C8シリーズは搬送のみ、C9シリーズは搬送と外観検査両方をサポートしております。外観検査は２つのカメラを使用し、半導体パッケージの外観を検査します。...● スループット： 　〇 C8：7000 ~ 25000 UPH 　〇 C9：10000 ~...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

CM2030はイメージセンサーカメラモジュールの外観検査対応の検査装置になります。基本はイメージセンサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、さまざまな外観検査に対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。 ...● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体検査用部品『プローブカード』

半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優…

『プローブカード』は、半導体の製造工程の中で、ウエハーテストとよばれる 電気的な検査を行う工程で用いられます。 当社の主力製品「アドバンストプローブカード(Mタイププローブカード)」は、 半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに 優れています。 スマートフォンにも搭載されているDRAMやNAND型フラッシュメモリー等の 検査に使われています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本電子材料株式会社

半導体プローバー　CP12

従来のプローバーから大幅にサイズダウン、価格を下げたウルトラローコスト…

従来のサイズから小型化を求めた省スペースタイプのプローバーになります。スループットの大幅な改善と光学の技術によるウェハーアライメント、また、テストアプリケーションを介し、プローバー機能とテスト機能に効率よくアクセスすることにより、ソフトウェアの開発期間を大幅に短縮します。...● プローバー寸法：1,620x1,240 mm ● 対応ウェハー：8", 12" ● 対応ダイサイズ：350um ~...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動テーピング装置　AT468

半導体、ダイ、パッケージソーター。チューブ、トレイ、テーピング/リール…

AT468は様々な入出力に対応した半導体、ダイ、パッケージソーターになります。チューブ、トレイ、テーピング/リールから取り出し外観検査を行ったのちに、チューブ、トレイ、テーピング/リール梱包する装置になります。 ...● チューブ、JEDECトレー、ボールフィーダー、テーピング/リール対応 ● 対応パッケージ：SOIC,QFN、TSSOP、MEMS等 ● 検査項目 　〇 銅などがむき出...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

JPV法（ジャンクション・フォト・ボルテッジ法）を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

自動テーピング装置　Hexa EVO+

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピン…

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの３Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。 多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。 【特長】 ● 100mm以下のパッケージの外観検査 ● スループット、90,000 uph ● デュアルテーピング出力対応 ● 自動位置補正 ● 欠陥部品...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。...★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

アナログミクストIC　テスタ　CTA82890D

電源関連IC、オペアンプ、モータードライバーなどのアナログ半導体から、…

アナログミクストIC向けの電気的特性検査用のテスタ。電圧、電流の検査精度が非常に高いのが特徴。バッテリ監視ICやアナログ関連、アナログデジタル混載の製品に使用することが可能です。...● 最大電圧1000V、最大電流１０Aまでのフローティングソースをサポート ● 352チャンネルのVIソースの配分が可能 ● 100MHz出力可能なデジタルボードの搭載が可能 ● AWG機能、可視化されたオシロ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

パワー半導体テスタ　CTT3280

Siレベルの低電圧向けのディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サ…

CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。...● テストヘッド内に13枚のモジュールの搭載が可能 ● 1000V/10A、パラメータテスト用に16サイトを...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

サブストレート、メモリ向けハンドラー　CSシリーズ

CSシリーズはPick & Placeタイプのサブストレート向け、メモ…

CSシリーズはPick & Placeタイプのサブストレート向け、メモリ向けハンドラになります。...● スループット：1600 ~ 2100 ● ジャムレート：<1/5000 ● 筐体サイズ：2700 x 1670 x 1880(LWH) ● 入出力：トレー入力、トレー出力 ● テストサイト：16、64サイト...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

アナログテスタ　CTA8280

CTA8280はアナログ製品に特化したICテスタになります。電圧、電流…

CTA8280FはCCTECH社の２世代目のアナログテスターになります。使用用途は電源関連IC、オペアンプ・パワーアンプ、モータドライバーなどのあらゆるアナログ分野の半導体に最適です。 ...● ８チャネルのフローティング、VIモジュール、２チャンネルの高電圧VIモジュールをサポート ● 最大電圧±1000V（±20mA）、±50V（±10A)ローティングソースをサポート ● AWG機能...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

ボンディングツール・ウェッジツール

テクノアルファはワイヤボンダのシェアで世界トップクラスを誇るK＆Sのワ…

テクノアルファはワイヤボンダのシェアで世界トップクラスを誇るKulicke ＆ Soffa社のワイヤボンダ、及びワイヤボンダ用消耗品の日本代理店です。 Kulicke ＆ Soffa社は様々なパッケージ用に幅広いレンジのウェッジボンディングツールを中国蘇州の自社工場で製造し安定した供給体制を確保すると共に、高品質のワイヤボンド用消...

メーカー・取り扱い企業： テクノアルファ株式会社

3Dチャートによる高速・高精度カメラ検査技術【技術資料進呈】

カメラモジュールのアクティブアライメントの新技術、3Dチャートを使用し…

イメージセンサとレンズの位置決めを行うアクティブアライメントに現行は２Dチャートを用い、数回、撮像することでフォーカスを合わせる手法がとられています。 そこに３Dチャートを用い、前面と奥行きのフォーカスを一度に合わせこみレンズの位置決めを行う根本原理になります。 今回はアクティブアライメントの根本原理の３Dチャートの紹介になります。 今回の技術ハンドブックにおいては、下記の内容を紹介して...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

株式会社上野精機長野 事業紹介

自社技術と世界の技術を応用展開！お客様の新製品の開発や生産性の向上に貢…

持つ装置を開発・製造しています。 当社の培われたノウハウはオリジナル技術・応用技術として装置開発に採用され、 お客様の生産性アップを実現し、製品販売競争力にも大きく寄与。 自社技術と、日本はもとより世界の新技術を応用展開し、お客様の新製品の 開発、信頼性および生産性の向上に貢献しています。 【業務内容】 ■電子部品の検査・特性試験などを行う装置の開発や製造 　・室温検査機...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社上野精機長野

TOTAL TEST SOLUTION 株式会社精研~会社案内~

モノづくりの未来へ、新たな価値を創造する TOTAL TEST SOL…

独自のスキルはもちろんのこと、協力会社や関係会社とユーザ様との マッチングによりモノづくりにおける様々なサポートもさせて頂いております。 　精研は、常にチャレンジし、新たな価値を生み出し、日本のモノづくりの未来を拓きます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社精研 本社

アルミ精密プレート加工／単品／大阪

A5056加工品・単品・マシニング加工【コストダウンはフィリール株式会…

♦材質 A5056　(アルミ) ♦業界 半導体製造装置 液晶製造装置 ♦加工方法 マシニング加工 旋盤加工 ♦表面処理 　－　(日本国内) ♦個数 1個 ♦説明 半導体製造装置のアルミ精密部品となります。 マシニング加工での製作です。 ※是非一度お見積りのご依頼をいただき、御社のご要望にお応えします。 ...

メーカー・取り扱い企業： フィリール株式会社 本社

Stepper装置用のLaser修理のご案内

ステッパー装置用のレーザー修理でお困りの場合、弊社にご相談ください。

1986年の会社創設以来､日本の先端の技術を支える半導体装置設備関連事業を展開しており、半導体製造装置関連で様々な修理ノウハウを持ち合わせております。 今回はステッパー装置用のレーザー修理をご案内させていただきます。 A...

メーカー・取り扱い企業： アローズエンジニアリング株式会社

自動旅客数カウントシステム市場調査報告書

世界の自動旅客計数・情報システム市場調査は、予測期間2023-2035…

基づいて、自動乗客カウントおよび情報システムの採用は、アジア太平洋地域で著しく増加しています。この背後にある理由は、信頼性が高く、時間に縛られた、安全な輸送サービスを提供することです。インド、中国、日本などの国は人口の多い国であり、安全で信頼できる旅行を保証するためにスマートな輸送ネットワークを構築しています。トランジット事業体への投資が増加しています。 自動乗客カウントと情報システム市場の主要...

メーカー・取り扱い企業： SDKI Inc.