• オーダーメイド型スパッタリング成膜装置 製品画像

    オーダーメイド型スパッタリング成膜装置

    PR難しい材料、様々な基板形状、用途にも!非常に幅広い基板サイズに対応可能

    当社では、研究・試作から量産まで対応可能な「オーダーメイド型 スパッタリング成膜装置(PVD)」を取り扱っております。 フレキシブルエレクトロニクス、光通信技術、薄膜太陽電池や バッテリー等の薄膜デバイスの研究開発から量産まで装飾や 表面保護のためのコーティングにも対応。 サンプルサイズ、成膜対象マテリアル、バッチプロセス等、お客様の 用途に応じて組み立てることが可能です。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

  • 高性能充填機『4軸オーーーガ』 製品画像

    高性能充填機『4軸オーーーガ』

    PRまるで、充填機界の4WD!計量フィードバック方式により、精度が向上しま…

    『4軸オーーーガ』は、パワフルでスピーディな高性能充填機です。 容器に均一な充填が可能で、タッチパネル採用により、操作性・ 視認性も向上。 またオプションとして、主軸 スクリューWC溶射や、スクリュー先端 ゲート内面コーティング、容器高さ検知機能などをご用意しております。 【特長】 ■大幅にスピードアップ ■よりコンパクトに ■タッチパネル採用による操作性・視認性向上 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 讃光工業株式会社

  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSD法によるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

    パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径の半化を 比較することができます。 【特長】 ■個々の結晶の方...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像

    【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

    各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効…

    Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ろう付け(銀ろう)接合事例 製品画像

    ろう付け(銀ろう)接合事例

    母材を溶かさず精密部品の接合

    などにより最適な方法を選択します。 今後も様々な材料を試していきたいと考えております。 また、単に接合するだけでなく形状加工も含めたご提案も可能ですので、ご相談ください。 ■断面画像 CuCu(銅+銅) W+Cu(タングステン+銅) Mo+Cu(モリブデン+銅) Mo+Mo(モリブデン+モリブデン)...

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    メーカー・取り扱い企業: 岳石電気株式会社

  • 【メタライズろう付事例】フィードスルー 製品画像

    【メタライズろう付事例】フィードスルー

    高温での高絶縁・形状安定性を確保!1.0×10^-11Pa・m3/s以…

    メタライズ(金属化)、ろう付、溶接までの対応が可能です。 気密性は1.0×10^-11Pa・m3/s以下を保証。高温での高絶縁・形状安定性を確保します。 接合金属はコバールを主として、Mo、Cu-W、Cu、Ni、インバー等の 接合実績を保有しています。(通常は膨張係数の近いコバールを使用します) 【事例概要】 ■自社でモリブデンマンガンメタライズ、ろう付、溶接までの対応が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社友玉園セラミックス

  • 【分析事例】プラスチック製グリル表面の欠陥調査 製品画像

    【分析事例】プラスチック製グリル表面の欠陥調査

    何らかの原因でCuメッキが異常成長!その上にNiメッキが施されたと推察…

    当社で行った、プラスチック製グリル表面の欠陥調査についてご紹介します。 表面観察では、欠陥の一部は表面から伸びており、その伸張した突起物が もげたと思われる跡が認められ、その跡の中心はCuでありその周囲にNiを検出。 断面観察では、Cu部内の空孔は大きく、欠陥直下および欠陥の極近傍の Cu/プラスチックに間隙があり、この間隙部からC(Mg,Si)が検出されました。 結果...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • フラットミリングとSEM観察 製品画像

    フラットミリングとSEM観察

    フラットミリングとSEM観察

    り緻密に観察できます。 【特徴】 ○アルゴンイオンの均一な照射によってSEM観察にも耐える完璧な覆面仕上が可能です。 ○5mm径の広い範囲を均一にスパッタエッチングでき、50nm/min(Cu)の高いミリングレートで処理します。 ○安定した放電電流(2~6kV)によって再現性のよい試料を提供できます。 ○光学顕微鏡に比べ分離機・焦点深度に優れ、微小領域の観測に適しているFF-SFM、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 成分均一性試験向けラマン分光計 QTRam (B&W Tek)  製品画像

    成分均一性試験向けラマン分光計 QTRam (B&W Tek)

    成分均一性試験、配合均一性試験に最適な製薬向けラマン分光計 QTRam

    迅速かつ非破壊式の定量分析を可能な成分均一性試験向けラマン分光計です。固体剤型の製薬の混合比率および活性物質含油量の均一性を試験最適です。ビルトインのタブレット PC 上で、21 CFR Part 11 に準じた定量分析用ソフトウェアによって操作できます。コンパクトな形状により、同時に錠剤とカプセルの活性物質含有量の均一性のアットライン分析またはラボ分析が可能となります。 ...QT-Sam...

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    メーカー・取り扱い企業: メトロームジャパン株式会社

  • インライン型膜厚計の分析例 製品画像

    インライン型膜厚計の分析例

    インライン型膜厚計の分析例について紹介します。

    蛍光X線膜厚計を成膜装置に装着して性能評価を行った結果、 ○搬送に伴うフィルムの位置変動による誤差は、レーリー散乱線とのX 線強度比をとることで  補正が可能であることがわかりました。 ○Cu、Ni 及びCr 膜の検出下限は、Cu が1.5nm であり、Ni 及びCr は、1nm 以下と  高感度で得られました。 ○測定精度は静的精度及び動的精度ともCV=5%以下であり、極薄膜を高感...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

  • ARL EQUINOX 100 X線回折装置(XRD) 製品画像

    ARL EQUINOX 100 X線回折装置(XRD)

    全回折パターンをリアルタイムに同時取得できる、独自のCPS検出器を搭載…

    界のQA/QCのルーチン分析、大学などの教育機関において、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移に関する解析などを実現します。 ARL EQUINOX 100には、独自のCPSCPS(Curved PositionSensitive)検出器を搭載しており、全回折パターン(~110°/2θ)を短時間かつ同時に測定できます。また、薄膜測定(GIXRD、XRR)が可能で、測定に応じて多種多...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • NOVA社 半導体・プリント基板向けめっき液自動分析装置 製品画像

    NOVA社 半導体・プリント基板向けめっき液自動分析装置

    ワールドワイドでの採用実績多数。各種電解・無電解めっき、Cuダマシン工…

    当社では、大手半導体・電子部品メーカーで使用されております NOVA社製の「半導体めっき液自動分析装置」を取り扱っております。 ※2023年イスラエルの半導体向け測定機器メーカーのNOVA社がAncosys社を買収、CMD部門(ケミカル計測事業部)に統合。 各工程におけるめっき液自動分析装置として、以下のラインナップがございます。 後工程、アドバンスドパッケージ―Nova ANCO...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

  • 多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0 製品画像

    多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

    1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム

    1 nm^-1 ~ 49.3 nm^-1 ・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm ・X線源:Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr) ・検出器:Dectris社製 Eiger2 R 1M ・温度範囲: -150℃ ~ +600℃ ・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス ・フッ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン

  • 小角X線散乱装置 SAXSpace 製品画像

    小角X線散乱装置 SAXSpace

    圧倒的なX線強度で液体/ペーストを素早く分析

    nm^-1 ~ 24.5 nm^-1 (※1) ・観測可能な面間隔: 0.15 nm ~ 209 nm ・X線源: Primux 3000 sealed tube X-ray source (Cu、 Mo) ・検出器:Dectris社製 Mythen2 R 1K ・温度範囲: -150℃ ~ +600℃ ・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス (※1 オプションの...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン

  • 排ガス水銀測定法における自動前処理装置を用いた業務効率化の検討 製品画像

    排ガス水銀測定法における自動前処理装置を用いた業務効率化の検討

    排出ガス中の水銀測定の自動化による業務効率化。ヒューマンエラーも減少

    、内部標準試薬の添加、メスアップに至るまでを 全自動で行うことができる装置です。 百々らの報告によると、DEENAを用いた水試料分解処理における重金属類 (Al,Fe,Mn,Ba,Cd,Cr,Cu,Pb,Zn)の添加回収試験では、非常に良好な回収率を得ることができました。 また、シリンジモジュールについても、回収率が高い精度であり、 内部標準液の添加に適用できることが確認されています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: ビーエルテック株式会社

  • 金属分析装置(発光分光分析装置)『OSK 75GQ M4000』 製品画像

    金属分析装置(発光分光分析装置)『OSK 75GQ M4000』

    低いアルゴン消費量で経済的!優れた密閉性で内部のアルゴン純度が長期間維…

    『OSK 75GQ M4000』は、優れたアルゴン循環技術を用いる 金属分析装置です。 Fe、Al、Cuおよびその他の基材の分析可能。 また、迅速で正確な定量分析や金属材料の品質管理と科学研究が可能で、 より正確な分析結果を得る、未知サンプルの定量分析が可能な インテリジェント・プログラムを...

    メーカー・取り扱い企業: オガワ精機株式会社

  • エッチング処理による金属間化合物の観察例 製品画像

    エッチング処理による金属間化合物の観察例

    奥方向と表面から化合物の状態を観察!加⼯、前処理、観察⼿法や組み合わせ…

    なることがあります。 はんだの接合部を断面から2次元で観察することがあるかと思いますが、 3次元的に化合物がどのように成長しているか疑問に思われたことは ありませんか。 当資料では、Cuパッドとはんだの接合部の観察例をご紹介。 「断面観察」と「平面観察」を掲載しております。 【掲載内容】 ■断面観察  ・エッチング処理前  ・エッチング処理後 ■平面観察 ※詳...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • くし形電極加工(オーダメイドでパターンチップを作成します)。 製品画像

    くし形電極加工(オーダメイドでパターンチップを作成します)。

    各種金属を薄膜〜パターン加工した「くし型電極チップ」です。 電極構成…

    膜実績 真空蒸着・スパッタリング加工を用いて、多様な金属や誘電体での成膜が可能です。基板についても、実績種類は豊富です。最適な薄膜構成をご提案致します。 ■金属/合金単層膜 Au、Ag、Pt、Cu、Ti、Cr、Ni、Al、DLC、ITO、その他金属、合金等 ■誘電体膜 各種金属酸化物、窒化物、絶縁膜等 ■対応基板 各種ガラス、樹脂、フィルム、 各種ウェハー(Si、SiC、Ge、GaN...

    メーカー・取り扱い企業: 安達新産業株式会社 本社

  • ポータブル蛍光エックス線分析計『Innov-X』 製品画像

    ポータブル蛍光エックス線分析計『Innov-X』

    測定時間は1測定あたり5~20秒程度!非破壊にて迅速かつ信頼性の高い分…

    【仕様】 ■測定元素:Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hfなど ■X線管球:管電圧10~35kV・管電流5~50μA ■検出器:Si Pinダイオード FHWM250eV以下 at5.90keV ■電源:Li-ionバッテリー ■合金ラ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本非破壊検査株式会社

  • 携帯型・金属成分分析装置『LIBS-Vela』 製品画像

    携帯型・金属成分分析装置『LIBS-Vela』

    早い・軽い・簡単を実現!アルミニウム合金中のLi、銅合金中のBeなどを…

    【仕様】 ■測定可能な元素:Li,Be,C,Mg,Al,Si,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Se,Zr,Nb,Mo など (蛍光X線で測定が不可能なLi,Beなどの軽元素が測定可能) ■軽元素Beの検出限界:<10ppm(0.001%) ■測定時間:1秒 ■重量:1.25k...

    メーカー・取り扱い企業: フジトク株式会社

  • レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『LIBS』 製品画像

    レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『LIBS』

    金属の成分分析が可能!放射線を使用しないレーザー誘起ブレークダウン分光…

    【仕様(抜粋)】 ■測定可能な元素:Li,Be,C,Mg,Al,Si,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Se,Zr,Nb,Moなど (※蛍光X線では測定が不可能な軽元素も測定可能) ■炭素検出限界:0.008% ■炭素検出範囲:0~1% ■スペクトロメーター:190~620nm ■前...

    メーカー・取り扱い企業: 日本非破壊検査株式会社

  • 無線型腐食モニタリングシステムAircorr【デモ機貸出中】 製品画像

    無線型腐食モニタリングシステムAircorr【デモ機貸出中】

    無線で腐食の加速試験をリアルタイムモニタリング

    価 ◇書物・絵画等の保存・展示施設内の大気腐食性評価 AirCorrセンサー 金属材料,厚さ ・ Fe/Steel 250µm 厚さ ・ Zn/Zinc 50µm 厚さ ・ Cu/Copper 50µm 厚さ...

    メーカー・取り扱い企業: デルフトハイテック株式会社

  • 卓上粉末X線回析装置『AXRD』 製品画像

    卓上粉末X線回析装置『AXRD』

    幅広い測定条件に対応!コンパクトでメンテナンスが容易な卓上用の粉末X線…

    発散:1.0°(固定)  ・散乱X線除去:1.0°(固定)  ・ソーラースリット、受光:0.04mm ■到達可能なピーク幅:< 0.05° 2θ ■X線管  ・標準:1500W 高精度焦点CuセラミックX線管  ・焦点の仕様:通常、広域、長高精度  ・陽極の仕様:Cr、Co、Mo ■X線管の冷却:内部水冷ラジエータおよびタンク ■X線電源:600W ■寸法(幅×奥行き×高さ):...

    メーカー・取り扱い企業: プロトマニュファクチュアリング株式会社

  • 『X線回折試験』 製品画像

    『X線回折試験』

    環境粉じんの定量分析にも最適!高温下での測定も可能なX線回折装置!

    【仕様】 ■ターゲット:Cu、Co、Cr ■試験温度:室温~1500 ℃(常用:1300 ℃まで) ■最大定格出力:18 kW (ローターフレックス型) ■ゴニオメータ:試料水平型 ■微小部測定:最小φ400 μm ...

    メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社

  • 【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物 製品画像

    【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

    はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

    SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、 粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しました。 Cuパッド/はんだ界面にはCu6Sn5やAg4Sn等...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 金属 「鉄−フォイル」の粉砕事例 製品画像

    金属 「鉄−フォイル」の粉砕事例

    レッチェの粉砕機を使用した金属 「鉄−フォイル」の粉砕事例

    レッチェの粉砕機を使用した金属 「鉄−フォイル」の粉砕事例です。 試料:Fe-foil(Cu、Nb、Si、B) 5X17cm ・使用機種  :遊星ボールミルPM100 ・パラメーター:550rpm、10分 ・アクセサリー:タングステンカーバイド製ジャー250ml+同20mmΦボー...

    メーカー・取り扱い企業: ヴァーダー・サイエンティフィック株式会社

  • 【EBSDによる解析例】ネジ 製品画像

    【EBSDによる解析例】ネジ

    ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

    EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が大...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】ビア 製品画像

    【EBSDによる解析例】ビア

    EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

    積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • めっき液中の銅イオンの定量【電位差自動滴定装置】 製品画像

    めっき液中の銅イオンの定量【電位差自動滴定装置】

    銅イオン電極を用いて、キレート滴定によるめっき液中の銅イオンを測定した…

    銅イオン(Cu2+)の定量は、光度プローブを用いた光度滴定が 一般的に活用されていますが、懸濁物を含む試料や、着色した試料は、 光度滴定による測定が困難な場合があります。 銅イオン電極を用いた測定では、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIRANUMA

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