wafer | イプロスものづくり

【無料プレゼント】MIRS法を応用した新たなアプローチである製品をご紹…

シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価がますます重要となっています。当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たなアプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiのグループとの研究成果を製品化したものです。【掲載内容】 ■は...

メーカー・取り扱い企業：ブルカージャパン株式会社オプティクス事業部

パワーデバイス『ウエハーレベルバーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚、または12枚のウエハーの同…

『wafer level burn-in』は、GaN、SiCデバイスをウェーハでバーンインでき、パワーモジュールの検査ロースを大幅にカットできる設備です。最大6枚、または12枚のウエハーの同時バーン...

メーカー・取り扱い企業： Semi Next株式会社

蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計されたモデルです。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ

Wafer ESDテスター「HED-W5000 series」

Wafer上で波形保証の実現

開発プロセス、WaferやチップレベルでのESD試験の必要、且つ重要性が増している中、今後、飛躍的にそのニーズは高まるものと予測されています。本装置は、完成品パッケージのESD試験で蓄積された技術の集大成として開発され、ついにWafer・LevelでのESD試験を可能にしました。【ラインナップ】 ○HED-W5040 ○HED-W5000M 詳しくはお問い合わせ、またはカタロ...

メーカー・取り扱い企業：阪和電子工業株式会社

研究・開発・評価用『TEG Wafer』

評価用標準TEG Waferをご用意！お客様の用途に合わせたTEG作成…

当社では、PKG開発、実装工法開発、実装＆検査装置開発、材料開発等の評価用標準『TEG Wafer』をご用意しております。お客様のご用途に合わせたTEGウェハ（チップ）作製も承ります。また、基板サイズΦ300mm（12インチ）でのご提供も開始しました。【標準TEG Wafer(TEG-A)】 ■Pad config：Area ■Baseschip size：□10mm ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アシストナビ

自動接触角計　SImage AUTO 300 wafer

300mmウェハー対応自動接触角計

Model Simage AUTO 300 wafer 対象サンプルサイズ axφ300mm, 測定範囲 0＜θ＜ 180 ° 角度分解能 0.1° 接触角解析公式接線法(Auto mode) θ/2 法(Manual mode) 拡張収縮法 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エキシマ横浜ラボ

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する原子間力顕微鏡です。正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ原子間力プロファイラー。サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自...

メーカー・取り扱い企業：パーク・システムズ・ジャパン株式会社

Wafer ESD試験器「HED-W5100D」

Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能！

WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。【特徴】 ...

メーカー・取り扱い企業：阪和電子工業株式会社

ウエーハ外観検査装置 Wafer Inspection

貴社検査工程の標準化・自動化にお役立て下さい！

Siウエーハだけでなく、従来難しかったサファイア等の透明基板に発生する微小欠陥（異物・キズ等）を検出できます。従来肉眼でバラツキが多かった検査工程を自動化・標準化できます。 ...（外観検査対象　具体例）　シリコン・化合物ウエーハ、サファイア・石英ガラス等の各種基板（検査項目　具体例） □　マイクロクラック（表裏面・エッジ） □　チッピング、スクラッチ、ピット等の傷 □...

メーカー・取り扱い企業：大日商事株式会社

MWC6000

WLP（Wafer LevelPackage）に最適の実装装置 MWC6000を販売開始しました。MWC6000は300mmサイズのWaferに高精度の実装が可能でステージは石定盤と空気浮上で平坦度を1um以下にしています。またXY軸ともリニアモータ駆動で高速処理が可能です。X軸はデュアルmotor駆動でX軸の両側で駆動されています。また精度を出すために全軸に高精度のガラススケール（ハイデンハイン...

メーカー・取り扱い企業： AJI株式会社

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長１．シリコンウェハ（6インチ角以下） ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。 ...● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

VWP5040A　VCSELプロービングウェハテスタ

光学特性、電気特性を自動測定可能！マルチビームVCSELに対応したオー…

本装置はVCSELレーザーダイオードのWAFER状態で常温(20℃)～高温(95℃)環境下での電気特性、光学特性を自動で測定するＬＤテストウエハープローバです。＜特長＞ ■ウェハー状態でマルチビームVCSELの特性を自動測定します。 ■ ALPHAXの測定技術とMPIのVCSEL WAFER PROBERをドッキング。 ■ MPIは代表的な台湾のLEDプローバメーカーです。 ■ 測...

メーカー・取り扱い企業：アルファクス株式会社

超音波映像装置

MEMSデバイス向け非破壊不良検査装置。試作品の接合界面評価から量産品…

『超音波映像装置』は、MEMSデバイス向け非破壊不良検査装置です。日立ハイテクは、開発・試作～少量生産向けの「FineSATシリーズ」からウェハ全自動検査向けの「Wafer LINE」まで対応が可能。豊富なオプションでお客様のシチュエーションにマッチしたご提案をさせていただきます。【特長】 ■解析機能を高めた64bit処理システム　標準仕様で最大4億点、オプシ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社日立ハイテク

TLP試験器「HED-T5000 series」

保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...【特徴】 ○最先端試験モードの装備...

メーカー・取り扱い企業：阪和電子工業株式会社

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等のパワーデバイスに対し最適な前処理を行い裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－　各種サンプル形態に対応します。　Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－　IR-OBIRCH...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

硫酸銅めっき液添加剤測定装置『QUALILAB ELITE』

硫酸銅めっき浴の分析に不可欠な測定装置！めっき添加剤二成分・三成分に対…

PWB・Wafer・その他電子部品用めっき液はもちろん、配線めっき・Viafill・Damacine・Bumpなどの各種メッキに対応。回転数のレンジを広げることで、より多くの新規添加剤を分析できます。また、“Get Me Expert”機能により、現場サポートへすぐに連絡可能。全世界のケミカルメーカーが市販している添加剤に対応しています。【特長】 ■ ＰＷＢ・Ｗａｆ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社サーマプレシジョン

各種デバイス、素子向け『ウエハーレベルバーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚、または12枚のウエハーの同…

『wafer level burn-in』は、Si、GaN、SiC、セラミック等のデバイスをウェーハでバーンインでき、デバイスのバーイン効率を大幅アップ！最大6枚、または12枚のウエハーの同時バーン...

メーカー・取り扱い企業： Semi Next株式会社

CHRocodile 2IT DW1000

アナログI出力付！CHRocodile 2IT DW1000をご紹介し…

【ドープウェハー各種測定結果】 ■Dopped wafer ・P-(1-150Ω・cm) ・N-(1-200Ω・cm) ・P+(0.01-0.02Ω・cm) ・P++(0.005-0.01Ω・cm)980μmは除く ■Note：スラリーは測定...

メーカー・取り扱い企業：プレシテック・ジャパン株式会社

Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

チＭＥＭＳラインを有するオムロン　野洲事業所（滋賀県野洲市）にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします。ＵＲＬ：https://www.ites.co.jp/wafer/foundry.html ■特徴・お客様設計仕様に基づく試作・製品設計段階でのプロセス提案から参画しての試作・量産ラインの構築・生産量強化のためのセカンドファブの立ち上げ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ウェハ外観検査装置『Cosmo Finder』

ローコスト、省スペースに高速な外観検査を実現！AI搭載のウェハ外観検査…

定）・輝度ムラ、断線、パターン認識（OK,NG判定）・寸法（穴・長短径） ■検出方法・顕微鏡画像処理方式（高速パターンマッチング、AI分類、輝度抽出） ■検出時間：約10min/wafer（6インチウェハ、分解能0.69umの時） ■検出感度：約2um以上 ■カメラ：2/3型500万画素CMOSカメラ ■光源：白色LED ■オートフォーカス：レーザー三角測距式、合焦時間1...

メーカー・取り扱い企業：三谷商事株式会社ビジュアルシステム部

検査装置

小型硝子基板外観検査装置や電子部品6面外観検査装置をご紹介

大日商事株式会社が、取扱う『検査装置』についてご紹介します。「ウエハー・チップ外観検査装置」は、高速スループットにて省力化実現しマイクロクラックや異物検査、パターン欠陥などの検査が可能です。「小型硝子基板外観検査装置」は、スマートフォンなど小型硝子基板の微細な傷・汚れなどの外観不良を検出できます。また、チップ部品を高速6面検査ができ、1分間に約1500個の処理が可能...

メーカー・取り扱い企業：大日商事株式会社

外観検査、自動テーピング装置　iSort

ダイシングウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リー…

ダイシングされたWaferから５面、６面の外観検査を行い、テーピング、リール、トレーに移し替える半導体のソーター装置になります。ダイシング後のダイを目視で検査することは難しく、自動機によりキズやゴミなどを検査し、良品、不良品を判定し、移し替えることが可能です。【特長】 ● ８”、１２”、切り込みウェハー/フィルムフレー（WLCSP,BGA,eWLB、QFNなど） ● テーピング、J...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。...★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

バンプ形成検査装置

過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用！さまざまな種類をラインアッ…

マルチ照明技術を備えたバンプ検査機のご紹介です。 MULTI照明組合技術を通じた不良検出では、過検出＆未検出の最小化のために照明構造適用。 PCB製品の全LayerをCAM Master Data上で検査し、 Parameter入力可能で、設定時間短縮可能です。【CAM MASTER技術】 ■PCB製品の全Layer を CAM Master Data 上で検査　P...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ラットコーポレーション本社：営業部・業務部

『R*evolution V』

ON-WAFER処理のためのインテリジェントプロセスコントロール

『R*evolution V』は、実績のある低磁場トロイダルプラズマ技術、高度な通信機能、高精度パワー制御機能を一体化した製品です。当シリーズのリモートプラズマソースは、フォトレジストストリップや様々な表面処理など、酸素ラジカルベースのアプリケーションに適しています。またEtherCAT通信プロトコルにより、クリティカルなプラズマソース動作パラメータをプロセスツールや...

メーカー・取り扱い企業：日本エム・ケー・エス株式会社

【ウェハ素子】レーザートリミング装置『PLT-20』

ウェハで形成された製品を電気特性検査しながら、レーザーにて特性の追い込…

オプション） ■様々な電子デバイス素子のウェハトリミング・計測に応用可能詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※レーザ　マーキング　ウエハトリミング　wafer　ウェハ調整　 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＰＦＡ

太陽光発電 (PV) ウェーハ試験機の世界市場動向分析2023

太陽光発電 (PV) ウェーハ試験機に関するグローバル市場分析、市場規…

2023年10月26日に、QYResearchは「グローバル太陽光発電 (PV) ウェーハ試験機に関する調査レポート, 2023年-2029年の市場推移と予測、会社別、地域別、製品別、アプリケーション別の情報」の調査資料を発表しました。太陽光発電 (PV) ウェーハ試験機の市場生産能力、生産量、販売量、売上高、価格及び今後の動向を説明します。世界市場の主要メーカーの製品特徴、製品規格、価格、販売収...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

太陽光発電（PV）ウェーハ検査機の世界市場調査レポート2023

太陽光発電（PV）ウェーハ検査機に関するグローバル市場分析、市場規模、…

2023年10月26日に、QYResearchは「グローバル太陽光発電（PV）ウェーハ検査機に関する調査レポート, 2023年-2029年の市場推移と予測、会社別、地域別、製品別、アプリケーション別の情報」の調査資料を発表しました。太陽光発電（PV）ウェーハ検査機の市場生産能力、生産量、販売量、売上高、価格及び今後の動向を説明します。世界市場の主要メーカーの製品特徴、製品規格、価格、販売収入及び世...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

東洋電子工業株式会社会社案内

協創をイノベーションに！半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応…

東洋電子工業は、半導体製造で蓄積した技術を駆使して、お客さまと「協（とも）」に「創る」ことにフォーカスしたサービスを心を込めてご提供するEMSのパートナーです。マイコンを使った組込システム等のハードウェア・ソフトウェアニーズに柔軟にお応え。また、半導体のプロセス技術と生産性を統合化した取り組みや、テスト技術と多様なカテゴリーのテスターラインアップを用いて、様々な...

メーカー・取り扱い企業：東洋電子工業株式会社