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PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…
ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...
メーカー・取り扱い企業: ティー・ケイ・エス株式会社
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PR【紹介資料進呈中】会員数の増加とJSAマーク普及など各種情報発信のため…
当工業会は、一般市販の次亜塩素酸水に関するJSA規格準拠の 認定マークの付与に関する規定を2024年4月1日より改定いたします。 この改定による当工業会の目指す新たな方向性は、会員数の増加と JSAマーク普及など各種情報発信のための基盤の強化です。 これらの改定により、より多くの企業が次亜塩素酸水の"JSA規格準拠"の 認定マークを取得し、その信頼性を証明できることを期待しています。 【改定...
メーカー・取り扱い企業: 一般社団法人 次亜塩素酸化学工業会 本部事務局
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故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
スキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはP...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
ッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタ...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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19万8千円で、最大倍率140倍!手の平サイズの顕微鏡、新たに「色計測…
【用途例】 ◎工業部品検査 ◎基盤検査 ◎紫外蛍光観察 ◎紙幣鑑定 ◎宝石鑑定 ◎考古学出土品観察 ◎屋外生体研究 ◎昆虫観察 ◎各種教育 など多数...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社スペクトラ・コープ
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製品の欠陥を自動的に識別・検出します!
【検査プログラム事例】 ■細胞数量カウント ■バイアルキャップ破損識別 ■注射針キャップ未装着検出 ■微生物分類検査 ■半導体基盤不具合検出 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 山口産業株式会社
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