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ソフトウェアを使って業務課題・経営課題を解決しませんか？

PR省人化・時間短縮・見える化・IoT/AI・トレサビ・自動化・生産性/品…

「ソフトウェアを導入する」ということを難しく考えていらっしゃいませんか？実は、身の回りのものを簡単に使えるようにしてくれる、便利なものなんです。ソフトウェアを活用して「どの様に省人化・時間短縮できるのか」「効率の良い業務が実現できるのか」解決事例・開発事例でご紹介！働く環境をソフトウェアで改善してみませんか？興味のある方必見！是非、課題解決事例や開発事例をダウンロードして下...

メーカー・取り扱い企業：株式会社TCC
近赤外線ヒーター（ヒートビームシリーズ）

PRハロゲンランプヒーターより放射される光（近赤外線）を照射し、高温・急速…

近赤外線ヒーター　ヒートビームシリーズは、特殊高効率ハロゲンランプから照射される近赤外線を利用し、ライン状やスポット状または、面状の熱源が得られるヒーターユニットです。反射鏡は特殊金メッキを施し、熱効率が高くコンパクトな設計。熱源にはハロゲンランプを使用する事により、最大1200℃までの加熱と2mm～3mm程度の集光が可能です。ハロゲンランプから照射される輻射熱を利用しているので、非接...
メーカー・取り扱い企業：株式会社ハイベック
パワーサイクル試験：空冷システム

恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能！信頼性試験をご紹…

【パワーサイクル試験原理】 ■試験期間の短縮や高い信頼性の確認ができる ■試験品のチップ温度をリアルタイムで測定しながら試験を行う ■任意の温度を設定して印加ON/OFFができる ■時間での設定や両者の組合せも可能 ■恒温槽を使用することで、さらに強制的な冷却が行えるため、　より強い付加を加える事が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業：株式会社クオルテック
アバランシェ試験/連続アバランシェ試験

パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体…

【仕様】 ■オンオフ時間制御：0.2us単位 ■電圧：～600V ■電流：1000A以上 ■サイクル回数：1億回以上 ■同時に試験可能なデバイス数：6 ■シングルパルスアバランシェ試験：　シングルパルスでアバ...
メーカー・取り扱い企業：株式会社クオルテック
紫外線洗浄改質装置【回転機構を取付可能。むらなく照射！】

密着性、濡れ性の向上に！コンパクト設計の紫外線洗浄改質装置『OZB-0…

機化合物の分解、洗浄及び改質を行う紫外線洗浄改質装置です。均一性に優れた平面グリッド管ランプを採用。操作スイッチ及び安定器電源一体型のコンパクト設計となっています。また、照射時間の設定調整機能及びランプ寿命積算計付きです。【特長】 ■均一性に優れた平面グリッド管ランプを採用 ■操作スイッチ及び安定器電源一体型のコンパクト設計 ■付属試料台はオールステンレス製を...

メーカー・取り扱い企業：株式会社たけでん UVシステム G
『ノイズ対策ノウハウ集』無料プレゼント！

ACラインのノイズ対策から分解能とノイズの関係性まで。電子・電気回路設…

ドプリアンプ　-ノイズ- ■各機器・装置の性能を左右する測定値の　電圧信号変換における分解能とノイズの関係性 ■測定抵抗体を用いた温度測定における分解能とノイズの関係性 ■信号処理における時間領域での分解能とノイズの関係性産機メーカー様に特化した電子部品・半導体・コネクターなどのECサイトがオープン！　 ☆新規会員登録キャンペーン実施中☆ ↓　　↓　　↓　　↓　　↓　　↓　　...

メーカー・取り扱い企業：株式会社オリナス東京営業所、名古屋営業所、京都営業所、大阪営業所、香港
PIND試験装置　微粒子衝撃雑音検出装置

デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。

イン波27～265Hz 加速度：0～20Gピーク加振機：22.7kgf、19mmp-p、190cm/sec 増巾器：240Ｗ最大搭載重量：20G ピーク時、200グラム ○衝撃作用時間：サイン波100μsec以下加速度：1000±200G、0～2000G調整アプリケーション：オート or マニュアル軸：振動と同じ ○検出器ウルトラソニックトランスデューサー：感度...

メーカー・取り扱い企業：エア・ブラウン株式会社電子機器部
バーンイン装置

様々なご要望に対応した装置を提供致します

近年、大容量化されるメモリやSD、マイクロSD等のカード類はテスト時間が膨大に掛かる様になりました。そこで、当社ではテスト時間短縮を目的としたバーンインを行いながら出来得る可能なテストを『テストバーンインシステム』開発によりテスト時間短縮を実現しました。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社藤田製作所
RFID測定およびコンサルティングサービス -レポートを提示-

独自の『LabVIEW』計測技術を用いた複数規格対応『RFID総合試験…

グ・リーダーの信号をシュミレート・開発から生産までスムーズに対応・ISO・EPC Global仕様、セキュアRFIDプロトコル完全対応 ■測定サービス・10:00~17:00 測定時間6時間・13:00~17:00 測定時間4時間・レポートオプション(測定データの開示) ■コンサルティングサービス・RFIDの有識者によるコンサルティングサービスを提供しております...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
【課題解決事例】作業工程ごとの物の移動、保管に悩んでいる

人・時間・場所、すべてを圧縮でき生産性が飛躍的に向上した事例をご紹介！

ら加工まで出来る様になった為、生産の効率が飛躍的に向上しました。【事例概要】 ■お悩み：加工とカットが別工程 ■ご提案：自動搬入、切断、穴あけを一元化した加工機を提案 ■効果：人・時間・場所、すべてを圧縮でき生産性が飛躍的に向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：フジ産業株式会社
水銀プローバ　CV/IV測定システム

水銀プローバ　CV/IV測定システム

れた水銀プローブ方式を用いたCV/IV測定システムです。Si、化合物、SOI、バルクといった様々なウェハの特性を測定できます。【特長】 ◆電極作製が不要。水銀自体が電極となるため、コスト／時間の掛かる　パターン形成工程が不要。バルク、又は絶縁膜を形成した状態で測定　可能 ◆オートマチックシステム。最大49箇所の測定サイトを指定しC-V、I-V 　特性、TDDB、Vdb、Q...

メーカー・取り扱い企業：雄山株式会社東京支店
パーソナルＬＣＲメータ

オートレンジおよびオートモード機能装備

　　　Ｃ・・・0.1pF〜1999μF 　　　　　　Ｒ・・・1mΩ〜1999kΩ　　　　　　Ｄ・・・0.001〜1.999 ●Ｌ、Ｃ、Ｒ3 1/2桁、D3 1/2桁、LED表示 ●サンプリング時間：約10回／秒（自動レンジ切替時間：１ステップ１００ms） ●Ｌ、Ｃ、ＲおよびＤ、アナログ電圧出力（フルスケールDC2V）...

メーカー・取り扱い企業：アデックスエール株式会社
イレイザーディスク（eRaser Disk）

ステージ上のパーティクルをインラインクリーニング　ウェハ型ステージクリ…

グ（ダミーラン）によるパーティクルの除去がおこなわれていますが、ダミーランでも除去できないパーティクルは、装置を停止して人手によるクリーニング作業をおこないます。しかしながら、装置復旧までには多くの時間を要しているのが実状です。クリエイティブテクノロジーはこのような状況を打開するため、半導体製造装置向けのインラインステージクリーニングツールとしてウェハ型ステージクリーナー「イレイザーディス...

メーカー・取り扱い企業：株式会社クリエイティブテクノロジー
半導体カーブトレーサ　「CS-5400」

1500A/5kVにローコストで対応！最新のパワーデバイスに対応した「…

リエーションの充実を図りました。【特長】 ●1500A/5kVにローコストで対応 ●ビューモードにより、印加電流・電圧の波形をモニタ可能 ●クラス最高の高電圧モード性能 ●試験・評価時間を短縮させる、直感的でわかりやすい操作性 ※詳細はダウンロードより！...

メーカー・取り扱い企業：岩崎通信機株式会社
HL-720　チューブ搭載IC３次元外観検査装置

HL-720　チューブ搭載IC３次元外観検査装置

と表面をヘッドに搭載された移動CCDで２次元スキャンし、ICを吸着後、固定CCD上で３次元外観検査を行い、アウト側のチューブにICを格納します。チューブ院とアウトが交互に動くので、IC吸着、格納時の時間のロスが軽減されます。また、チューブの装脱着も簡単な操作で行えます。毎時最大で８０００個のリードの検査とマークの検査が可能です。...

メーカー・取り扱い企業：ファルコン電子株式会社横浜本社、台湾、香港、蘇州書込み工場
マルチノズル搭載高速デバイス自動書込み装置

マルチノズル搭載高速デバイス自動書込み装置

４個マルチノズルを搭載し、UPH(時間あたり生産量）２０００個を実現した高速自動書込み装置です。トレー、チューブ、テープのいずれのデバイス搬送媒体にも対応可能です。自動書込みのみならず、ICテスト、媒体の変換、オプションでマーキングにも...

メーカー・取り扱い企業：ファルコン電子株式会社横浜本社、台湾、香港、蘇州書込み工場
ガスフィルター用ジャケットヒーター

２００℃の高温でガスフィルターをベーキングする画期的なベーキングヒータ…

(株)ピュアロンジャパン製ジャケットヒーターです。コントローラーユニットには、加熱防止インターロック機能と断線検出機能がついているため安全です。フィルターから簡単に着脱できます。温度・時間などの設定は遠隔操作できるデジタル式コントローラーにより操作が簡単です。ヒーターユニットは薄型・軽量でスペースを取りません。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ピー・ジェイ
TDDB測定用プローバー

TDDB測定用プローバー

TDDB測定用専用プローバーです。専用セラミックカードを使用すれば、8インチウエハーの全面一括コンタクト測定が可能で、測定時間の短縮に大きく役立ちます。...

メーカー・取り扱い企業：イーエスジェー・プローブテクノロジー・ジャパン株式会社
MWC6000

MWC6000

振動をサーボアルゴリズムでキャンセルして従来比1／40にしています。これにより装置の設置場所の制約がなくなり、より自由度のあるレイアウトが可能です。またこの機能により動作速度も速くなり各位置への移動時間が150msと従来比1／2になりました。また位置決め精度も400nmで高精度化と高速化を両立しています。この装置のアプリケーションはWaferレベルの高精度部品実装とWaferレベルで光学部品を製...

メーカー・取り扱い企業： AJI株式会社
驚異的超高速・高精度・ディジタル抵抗チェッカ

Ｄ，Ｆ，Ｇ，Ｊ，Ｋ級、チップ、メルフ、リードタイプ抵抗の選別機、テーピ…

低測定電力） ●超高速：0.7msec. ●熱起電力キャンセル測定により高精度／高安定度 ●アナログ部〜ディジタル部アイソレーションにより耐ノイズ向上により高安定度 ●レンジごとに測定値積分時間設定機能により超高速・高安定測定可能 ●絶対値測定：0.00mΩ〜199.99MΩおよび%測定：5mΩ〜109MΩ[±99.99%] ●コンタクト・チェック測定前／測定後／ＯＦＦの選択可能 ●...

メーカー・取り扱い企業：アデックスエール株式会社
自動旅客数カウントシステム市場調査報告書

世界の自動旅客計数・情報システム市場調査は、予測期間2023-2035…

自動乗客カウントと情報システム市場は、タイプ別（自動乗客カウントシステム、乗客情報システム）、技術別（立体視、赤外線、飛行時間、その他）、アプリケーション別（電車と路面電車、バス、フェリー）および地域別に分割されます。地域に基づいて、自動乗客カウントおよび情報システムの採用は、アジア太平洋地域で著しく増加しています。この背...

メーカー・取り扱い企業： SDKI Inc.
Dynamic Tester『ST-2400』

半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です

T-2400』は、パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。一回のパルス印加で最大10個までの波形解析条件が設定でき、評価時間の短縮が可能。試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作。また、試験結果は、測定データ(CSV形式)、波形データは(CSV形式・JPG形式)にて保存さ...

メーカー・取り扱い企業：嶺光音電機株式会社
ED SCOPE Til　イーディースコープタイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。 ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社
X線検査装置『アドオン型CTユニット』

画像再合成時間が約10秒！標準型X線装置内部に組込可能な3次元CTユニ…

『アドオン型CTユニット』は、標準型X線装置内部に組み込み可能な 3次元CTユニットです。 CT画像の再合成とレンダリングソフト（3次元表現）を一体化、欠陥など3次元立体画像として表示できます。フォーカシング機能により、回転軸キャリブレーションが不要です。【特長】 ■演算処理高速化・画像高品質化を実現 ■画像再合成が約10秒＜500×500画素・深さ8Bit＞ ■現在...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部
太陽電池セル外観検査装置

出力線のズレ、セル間のピッチ、セルのカケ・クラックなどを高精度で検査

求に柔軟な対応が可能 ○インライン検査、オフラインでの検査装置等、ご相談を承ります［検査項目］ ○セル割れ・セル欠け・フレーム傷・異物付着・タブずれ・気泡　など［検査能力］ ○画像処理時間：10sec/module（仕様による） ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン
『試験装置･テストベンチ室』

ご近隣への騒音問題の解決や作業者への騒音負荷の軽減をはかります！

撃試験機、耐久試験機、摩擦試験機、各テストベンチ、ダイナモ等、設備メーカー様との打合せ、図面の提出、付属ポンプ等機器を併せたトータルでのご提案試験状態を確認できるよう、窓やカメラの設置、24時間運転によるご近隣への騒音問題の解決や作業者への騒音負荷の軽減をはかります。レイアウト変更による解体、移動、復元や、部分的な改造といった要求にも対応可能です。【特長】 ■ご近...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ジェイ・エス・ピー
ボールレールシステム (リニアガイド)【ASK-Bosch 】

リニアガイド・高性能、高荷重のサーキュラーコンタクトタイプボールガイド…

ブロックとレールに完全な互換性があり、商品およびメンテナンスの管理が容易。ステンレスのばね鋼による１枚のカバーが全ての取付け穴を保護することにより、取付時間とコストの節約に貢献します。...

メーカー・取り扱い企業：鍋清株式会社
マップフレーム用　レーザーマーキング装置　『MK621』

マップフレーム対応　レーザーマーキング装置

高位置精度マーク機の場合フレーム入れ替え時間　８sec～１０sec 画像処理で　フレームの位置　傾きを検出し　マーク時　Ѳ補正も含む　マーク位置補正を行えます。　マーク位置精度　　レンジで　50μ・・( レーザー発振器の能力による ...

メーカー・取り扱い企業：綜和機電株式会社
TDDB(酸化膜破壊)試験

寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用…

当社で行う、TDDB(酸化膜破壊)試験をご紹介いたします。半導体の酸化膜に電圧を継続的にかけていると、時間が経つにつれ酸化膜の破壊が発生します。これを酸化膜破壊(TDDB：Time Dependent Dielectric Breakdown)といい、半導体の寿命や信頼性を考える上で、最...
メーカー・取り扱い企業：株式会社クオルテック
FOURPロードポートN2パージ改造

現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを…

3種類のパージ 1. ロード時のパージ 2.　開放時のパージ 3.　アンロード時のパージ...POINT： 1．Power: AC110V, 15A （Port一つ毎につき、電源ソケットが一つ必要です。機台の必要容量は15A。） 2. Gas: XCDA tube: 3/8”, 6Kg/cm2 （実際には5Kg/cm2まで使用可能です。200L/min; Port　一つ毎につ...
メーカー・取り扱い企業：株式会社トリコ東京支店
高照度LED照明装置 SELONE　N

ウェハ、レンズ、ガラス基板表面目視検査に適しています。

【特徴】・長時間20,000時間・アパーチャーの切換えで最適な照射径を選択できます。　（φ4、6、8、10、12、14）・アルミニウム製ランプハウスで軽量かつ高い放熱性・185LEのオプションパーツ...

メーカー・取り扱い企業：セナーアンドバーンズ株式会社
Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人
プローブに原子を採用した表面分析装置（CAICISSの発展版）

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パスカル
膜厚測定装置『LF-1000』

ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置

1700)nm(波長範囲は仕様による) ■測定膜厚範囲 150Å ～50(250)μm(測定膜厚は仕様による) ■光学定数測定範囲 1000Å ～5(10)μm(測定範囲は仕様による) ■測定時間 0.3～3 秒以内（膜種によって異なる） ■繰返し再現性 ±10Å以内あるいは±0.3％以内どちらか大きい数値 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ラポールシステム
L負荷試験装置

半導体検査装置や測定器の設計制作を得意とする当社におまかせ

DS電源：±(1%+0.5A)以内　・VG1電源：±(1%+0.1A)以内　・VG2電源：±(1%+0.1A)以内 ■電源制限　・設定電流：0A～40A 　・分解能：1A 　・検出時間：99uSmax　1uSステップ ■クランプ電源　・出力電圧：999Vmax　1.0Vステップ　・設定精度：±(1%F・S+10V) ※詳細については、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：エルゴ電子株式会社
表面分析機器『TOFLAS-3000』

電気的に中性な原子ビームを採用！帯電の問題を解決した表面分析機器

『TOFLAS-3000』は、入射プローブとしてイオンではなく電気的に中性な原子ビームを用いた飛行時間型原子散乱表面分析装置です。本製品を使用することにより、半導体，金属のみならず絶縁体表面の組成および原子配列の解析も可能です。また、帯電（チャージアップ）の問題も解決します。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パスカル
ECU(電源制御ユニット)テスタ ECOIC-E2 卓上タイプ

卓上タイプのECU(電源制御ユニット)テスタ

（外部）・ソースメジャーユニット：バイポーラ出力　±20V・±5A ・7 1/2桁デジタルマルチメータ：電圧±300V・電流±1A・抵抗4Wire ・高速デジタイザ（DUTY比・ON/OFF時間）：100MHｚ　2ch同時・カウンタ（PWM出力・周波数計測）：40MHｚ　8ch ・アナログ出力（振幅電圧・波形出力）：20KHｚ32ch ・アナログ入力（振幅電圧・波形入力）：20KH...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
テストソリューション『PCR』

ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリュ…

適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウン...

メーカー・取り扱い企業：株式会社JMT
ピコプローブ　ＭＯＤＥＬ　35（FETプローブ/インターナルノード用）

電圧測定に最適！プローブの浮遊容量が極小＋インピーダンスが無限！

●MODEL35は、先進の高周波回路設計に携わる技術者の高度で厳しい要求を満たすために開発された高性能FETプローブです。 ●十分なDC性能と14㎰の立上り・立下り時間、さらに入力抵抗1.25MΩと入力容量0.05㎊の性能を有しています。 ●信号の減衰比は50Ω入力のオシロスコープ入力で10:1となります。 ●入力...

メーカー・取り扱い企業：エヌピイエス株式会社
RFアンプICテスター -高速・高精度パワーアンプテストを実現-

厳しい予算にも余裕で対応できます。RFアンプICテスター

実現 <2>. 最大14 GHzのRFベクトル信号解析 <3>. 最大6.6 GHzのRFベクトル信号生成　 <4>. 各種ハンドラ対応 <5>. 1台で多様なRFテストが可能・電力対時間（ PVT ）・エラーベクトル振幅（ EVM ）・隣接チャンネル漏れ電力比（ ACLR ）・リーク電流・高調波・解放/短絡　　・・・など ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人
ウェハーピックアップ型高速ハンドラー『RS-evo』

最小0.4×0.2mm、t0.1mm以下の薄型製品にも対応

o』は、12インチウェハーにも対応したWLCSP、ベアダイ向けのウェハーピックアップ型高速ハンドラーです。 12インチウェハーからのピックアップハンドラーとして、 70,000UPH（1時間に7万個）を実現。また、6面外観検査にも対応しております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■ダメージレス受け渡し（特許技術） ■超小型WLCSP、ベアダイ...

メーカー・取り扱い企業：上野精機株式会社
低温/高温フルレンジコントロールハンドラ3110-FT

超低温（-70℃）対応ハンドラ、SLT対応

留り監視機能スクレ多自動再測定と自動リトライ機能リアルタイムにトレイ状態表示チラーを接続 TSD（温度検知ダイオード）温度盛業可能低温/高温特性評価の最良システム最大処理数：最大500個/時間オプション 1～10kgのコンタクト力制御ソケット温度制御機能（STCM）システムレベルテスト（SLT）可能...

メーカー・取り扱い企業：クロマジャパン株式会社
780nmフェムト秒ファイバレーザ『FF ultra 780』

2光子リソグラフィおよび半導体検査のためのフェムト秒ファイバーレーザー

深く統合することを可能にします。優れた空間ビームプロファイルは、比類のない集光性と解像度を保証し、あなたのアプリケーションの真の可能性を引き出すことが可能です。十分な出力、短パルス、極めてクリーンな時間パルス形状に加え、分散補償とパワー制御のオプションを備えた FemtoFiber ultra 780 は、次世代の 2 光子重合および半導体分析に最適な選択肢となります。...

メーカー・取り扱い企業：トプティカフォトニクス株式会社営業部
ダイソータ・テストハンドラ『LT-evo』

テスト、6面外観検査、レーザーマーキング、テーピングの一貫機

『LT-evo』は、世界最高クラスの速さを誇るダイソータ・テストハンドラです。 70,000UPH（1時間に7万個）の生産性と、超小型製品（0.4mm×0.2mm）のダメージレス搬送（特許技術）を実現し、6面外観検査にも対応しています。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【特長...

メーカー・取り扱い企業：上野精機株式会社
比抵抗率計

取付時間の短縮によるコスト低減につながります。

(株)ピュアロンジャパン製比抵抗率計です。セル本体はケーブルとコネクタ接続方式になっており配管などへの取付作業時にケーブルが邪魔になりません。セル部の構造はボディと外極部とが一体構造になっており内部への液侵入などの心配もございません。トランスミッター部は従来品と比較し小型・軽量化を実現しており、セル部とはコネクタ中継による接続方式になっておりますので任意の場所に容易に取付が可能です。...【...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ピー・ジェイ
ローコスト高精度圧力センサー

コンパクトな構造・高精度にして低価格

【特徴】 ○圧力感知部にSUS316Lを採用しました。 ○耐蝕性に優れ液体などにも幅広く使用可能です。 ○コネクタ接続方式の採用により取付時間の短縮化しました。 ○圧力センサーの交換も容易です。 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ピー・ジェイ
半導体製造装置振動モニター -変位データを長期間ロギング-

長期間にわたり除振台の変位データをロギングする低コスト半導体製造装置振…

半導体製造ラインでの不良の原因となる振動について、除振台に変位計、加速度計を設置して最大10Hzで長期間連続集録 ■集録したデータは画面上にそのまま/周波数解析してグラフ表示する他、1時間毎のCSVファイルとして出力 ■本システムで保存したデータを解析・表示するオプション有り...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
自動化・省力化、製造工程便利アイテムをご紹介！【資料一斉公開中】

新しい発想で自動化・省力化に貢献！特殊工法により、様々な製造現場で活躍…

いる… ・面貼りしているが、精度が出ない… ・量産で自動化を検討している… ・テープの種類が多くて、手貼りが面倒... 【例えば…材料交換、段取りの手間がある現場では？】・材料交換に時間が掛かる… ・機械停止を防ぎたい… ・作業する人が変わると品質が変わる... このような問題に様々な視点からご提案致します。まずは、一度お気軽にご相談下さい！ ...

メーカー・取り扱い企業：三井金属計測機工株式会社 FAソリューション関連事業
セミオートマチックダイソータ『System DE35-ST』

少量多品種の生産に好適！オペレータのスキルを必要としない操作性に優れた…

■使用トレー：2インチトレー/4インチトレー ■精度：±127 ミクロン　(実測値±50ミクロン） ■ダイピックアップ加重：10 g以下 (調整可能) ■スループット：700～1300 / 時間（チップサイズによる） ■装置サイズ：830(D) ×1120 (W) ×762 (H) mm ■装置重量：70 kg ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：ヒューグルエレクトロニクス株式会社
自動配線ツール「Simplify DA PKG / PCB」

高品質レイアウトデザインを提供します！高性能パッケージ専用自動配線ツー…

[SimplifyDA PKG] ○BGA(フリップチップ、ワイヤボンド)に対応 ○テストケース　→ネット数: 1117 　→信号層数: 4 　→初回結線率: 100% 　→配線所用時間: 3分 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...

メーカー・取り扱い企業： ATEサービス株式会社
ユニバーサルプログラマ　MODEL1883

膨大な種類のプログラマブルデバイス対応したコンパクト設計のデバイスプロ…

小型で大容量デバイスの高速書込みが可能な1個書きタイプのユニバーサルプログラマです。MODEL1882の基本性能を受け継ぎ、かつ、パワフルなFPGAコアへの変更に伴い大容量メモリへのプログラミング時間短縮(20-70%)を実現しました。...

メーカー・取り扱い企業：ミナト・アドバンスト・テクノロジーズ株式会社
ナノパルスレーザー照射分析機

ナノパルスレーザー照射分析機

相変化材料表面を高速精密スキャンニング制御を行いながら、レーザーの出力とパルス時間を変化させ、多様なエリア状態での材料の相変化条件と物性の評価することを目的とした超精密レーザー分析装置...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ウェル
ギャングプログラマ　MODEL516

次世代メモリに対応した量産用16個書き超高速ギヤングプログラマ

・バッファメモリには1024Gbit(SSD:128GB)を、標準で搭載・シリアルATA対応のインタフェース搭載により、次世代シリアルデバイスに　対応・USB3.0対応で、データの転送時間を大幅に短縮可能・ソケットユニットの交換により、1.2V～5.0Vのデバイスを幅広くサポート・操作性の優れたオペレーションソフトを採用・コンカレント方式とオートスタート機能をサポート ...

メーカー・取り扱い企業：ミナト・アドバンスト・テクノロジーズ株式会社
Dynamic Tester『ST-6527B』

複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます

　・Vce最大出力電圧：1700V 　・Vclamp最大出力電圧：2000V ■測定負荷　・L負荷：6種類　・R負荷：5種類 ■ゲートドライバー電源、ゲートドライバー、Rg 　・放電時間：5ms/15V以下　・ドライバー出力ピーク電流：4A　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：嶺光音電機株式会社
光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

TiO2細孔率測定・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル【特徴】・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point) 【仕様】・測定可能細孔サイズ（直径）；0.5~65nm ・スポットサイズ；1.2*0.8mm ・測定サンプル構成：単層／多層ともに測定可・サン...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社
SIVAテストフレームワーク

半導体のテストフェーズを統一化して作業効率UP

　SIVAは半導体テストに特化したテストフレームワークです。統一フレームワークで管理することで、プログラムの再利用性を高め、新規テストの開発も少ない時間とコストで製作を可能にします。開発から生産まで統一フレームでテストするため、高い品質管理を行えます。　ペリテックではLabVIEWプログラム言語で機能ごとにモジュール化したプログラムを作成し...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パスカル
【課題解決事例】生産効率を上げて大量受注に対応できるようにしたい

加工時間が半分になり加工精度も向上！長尺加工機の導入事例をご紹介します…

り、検討をご依頼されました。そこでノコ付き長尺加工機「FB6000-12ATC-C」を提案。その結果、一連の作業工程が自動化になったことで作業工程が短縮され、それによって加工時間がそれまでの半分になり、人の作業から機械の作業へ以降したことで加工精度も向上し且つ精度のばらつきもなくなりました。【事例概要】 ■お悩み：既存の生産力では大量受注に対応できない ■ご...

メーカー・取り扱い企業：フジ産業株式会社
ED SCOPE　イーディースコープ

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。 ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社
PV-Cell外観検査システム

独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出可能！

始め、搬送部分も自社工場にて製作 →御要求に柔軟な対応が可能［検査項目］ ○割れ・欠け・傷・シミ・クラック・異物付着・断線 ○色味、色ムラ・パターン欠け・変形［検査能力］ ○画像処理時間：500msec/cell ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン
【課題解決事例】手作業によるけがきなど生産効率を改善したい

機械導入の効果は抜群！けがきなしで品質の均一化がはかれるようになった事…

す。同社は、人がボール盤で穴あけ加工しているため生産効率が悪いという課題をお持ちでした。そこでノコ付き長尺加工機「FB6000-12ATC-C 」を提案。手作業に比べ加工時間が半分になったこと、一度セットすればあとは自動で加工が完了すること、人件費の削減や、その分が利益となって会社に還元されることなど機械導入の効果は抜群ですが、中でも一番大きいメリットと感じ...

メーカー・取り扱い企業：フジ産業株式会社