• 電流導入端子 製品画像

    電流導入端子

    PR高真空、超高真空へ の電流導入端子です!

    米国MPFプロダクト社の電流導入端子のご紹介です。 ■MIL丸型、C-Sub型のマルチピン、熱電対、高電流・高電圧タイプ、同軸タイプ等各種電流導入端子を取り扱っております。 ■電流導入端子と併せて使用するコネクタ、ケーブル等もお取り扱いがございます。 ■標準品のカスタマイズ(フランジの変更、ピン長さの変更等)にも対応しております。まずはお問い合わせ下さいませ。 ※詳しくはカタログを...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社テクサム

  • 【スーパーマイクロシーブ】5ミクロンの丸穴微細加工技術とは? 製品画像

    【スーパーマイクロシーブ】5ミクロンの丸穴微細加工技術とは?

    PR従来の微細穴加工の工法とは異なる セムテックエンジニアリング 独自の技…

    従来のエッチング、レーザー、ドリル、フライス、放電加工では行えない、精度の高い微細な穴加工が行えます。 弊社のスーパーマイクロシーブはエレクトロフォーミング技術による加工により生成されています。 『穴径 5μm~30μm以上の加工』 製造過程で混在する粗粒子を個数レベルで完全に除去できます。 『最小ピッチ 穴径+10μmの狭さ』 一枚面積における穴数が多いため高効率の分級が可能です。 ...

    • 資料 4-8         説明資料 ?  使用例1 液晶パネル用  スペーサ.png
    • 資料 4-9         説明資料 ?  使用例2 ファインピッチ接続  ACF.png
    • 6-2 説明資料 ? 分級前 FPIA 粒径測定 .jpg
    • 6-3    説明資料 ?  分級後   FPIA 粒径測定.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社セムテックエンジニアリング

  • 半導体レーザー装置 製品画像

    半導体レーザー装置

    ビームクオリティーの良い回折限界の円形ビーム

    マイクロレーザーシステムズ社(Micro Laser Systems)のLepton IVはスイッチを入れるだけですぐに使用出来る装置です。ヒートシンクは不要です。出力はゼロからフルパワーまで調整が出来ます。アクセサリーに、ビームエクスパンダー、集光レンズ、フィルター、ポラライザー、ビームスプリッターなどを用意出来ます。...波長 375nm から1550nm ビームサイズ 3 - 4mm ...

    メーカー・取り扱い企業: FITリーディンテックス株式会社

  • 小型 高性能 飛行時間型質量分析計 製品画像

    小型 高性能 飛行時間型質量分析計

    小型・高性能を実現した飛行時間型質量分析計。ガス組成をリアルタイムで、…

    ◆飛行時間型残留ガス分析器 IonTamerシリーズ 小型・高性能を実現した飛行時間型質量分析計。ガス組成をリアルタイムで、高分解能、高感度にモニター可能。半導体、ソーラーパネル製造、OLEDディスプレイ、光学、真空コーティング工程(CVD、PVD、ALD)の研究開発にご使用いただけます。 IonTamerの装置は、ネットワーク経由で完全に制御・操作。直感的なソフトウェアで、測定データ...

    • STT-software-solution_v2-0_2500-1440x0-c-default.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 機械装置の設計・製作 製品画像

    機械装置の設計・製作

    最短半日見積り/半導体・食品・印刷・生産設備等の自動化、省力化はお任せ…

    検査装置の導入で、生産精度の向上や省力化を実現できます。 当社では、御社のニーズに合わせたオリジナルの装置を 設計から据付まで一括で承ります。 ◎検査装置関連の製作ラインナップ ・X線検査装置 ・印刷検査装置 ・圧漏れ検査装置 ・外観画像検査装置 ・パーツフィーダ(自動供給装置)等 外観検査装置について言えば、ビール瓶、金属部品、薬品パッケージ等、 対象も広く、検出する欠陥の種類も幅広く存在...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社 営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

  • 光学機器部品(測定機器部品、カメラ内外装部品 等) 製品画像

    光学機器部品(測定機器部品、カメラ内外装部品 等)

    最短半日見積り/「材料持ち」「全加工」「表面処理込み」で部品1個から調…

    光学機器は、光の直進や屈折、反射、干渉などを利用する精密機器です。 その部品加工には高い精度が求められます。 また、光の乱反射や散乱を防ぐ為、黒色の表面処理が必要になります。 ◎液晶製造装置・半導体製造装置 ◎カメラの内外装部品 ◎測定機器部品 等   処理に於いては、例えば、黒アルマイトで膜厚管理が難しい 剥がれ・色抜けがある・・・という事もあります。 その場合、低温黒色クロム処理なら薄膜(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社 営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サ...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザーマークハンドラー『MK625』 製品画像

    レーザーマークハンドラー『MK625』

    半導体フレームへレーザーマークする装置。独自のグリップ搬送機構により、…

    『MK625』は、工具不要の簡単なパーツ交換で多数の品種に対応可能な レーザーマークハンドラーです。 マガジンに収納されるICストリップフレームを一枚ずつ取り出し、方向、 表裏の確認後レーザーマーキングし、マーク確認の後マガジンへ収納します。 各種レーザー発振器を搭載でき、マーキング前のフレーム方向、表裏確認機構を 標準装備しております。 【特長】 ■簡単なパーツ交換で多...

    メーカー・取り扱い企業: 綜和機電株式会社

  • 半導体 簡易型 測定 マークハンドラー 『TM226』 製品画像

    半導体 簡易型 測定 マークハンドラー 『TM226』

    簡易型 測定検査  測定 マーク 分類 収納 する装置です。

    プラステイックステイックに収められた ICデバイス デイスクリートデバイスを取り出し 接続されたテスターで電気的特性を測定して、レーザーマーキングする 簡易型 常温 測定 マーク ハンドラー です ...装置仕様 供給   プラステイックステイック       10本 オペレーターが10本セットします。 測定   ケルビンコンタクトまたはICソケット圧接 レーザーマーク   方...

    メーカー・取り扱い企業: 綜和機電株式会社

  • 日本ミルテック 基板外観検査装置 総合カタログ 製品画像

    日本ミルテック 基板外観検査装置 総合カタログ

    プリント基板実装&半導体外観検査装置の総合カタログです。

    SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務などを行っている、日本ミルテック株式会社の「基板外観検査装置 総合カタログ」です。 次世代微細チップ部品03015の完全検査を実現した「基板実装向け3DAOI装置 MV-9」をはじめ、さまざまなSMT実装業界及び半導体業界向け外観検査装置を掲載しております。 【掲載製品】 ○基板実装向け3DAOI装置 MV-9/MV-7 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ミルテック株式会社

  • 【展示会情報】JISSO PROTEC 2024  製品画像

    【展示会情報】JISSO PROTEC 2024

    電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC…

    平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。 来る2024年6月12日 ~ 6月14日の期間 東京ビッグサイトで開催されます「電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024」に弊社ブースを出展する運びとなりました。 上下のフライングプローブを同時使用した 最大6プロープのコンビネーション検査で基板上面・下面への同時コンタクト検査が可能なインサーキットテスタ...

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    • IPROS6582471960949309218 (1).jpg
    • スクリーンショット 2023-11-01 154419.jpeg
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    メーカー・取り扱い企業: タカヤ株式会社 事業開発本部

  • 非接触厚さ測定装置 OZUMA22  製品画像

    非接触厚さ測定装置 OZUMA22 

    半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素砒素)、…

    半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素(Ga)砒素(As))、ガラス、金属等の高精度非接触厚さ測定装置のOZUMAが新しくなりました。 非接触厚さ測定装置OZUMA22は半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム(Ga)砒素(As))等の裏面研磨工程における厚さ管理用として、あるいは各製造工程における厚さ管理用として非接触測定で御使用いただけます。...エア...

    メーカー・取り扱い企業: 佐々木工機株式会社

  • Enovasense Field Sensor 製品画像

    Enovasense Field Sensor

    高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

    フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約11万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長  ・非接触で下記が測定できます。    ☆不透明体の厚みマッピング...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 1インチ干渉計『KNC-1』 製品画像

    1インチ干渉計『KNC-1』

    生産現場での小径レンズ検査に適しています!

    【仕様】 ■構成:フィゾー型レーザー干渉計 ■光源:637nm半導体レーザー ■口径:φ1インチ(φ25.4mm) ■参照レンズ性能:λ/15以上 ■外形寸法(本体):(H)290mm×(W)100mm×(L)250mm ■重さ:約2kg ■映像出力:ノート...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清原光学

  • ウエハ・チップ外観検査装置 製品画像

    ウエハ・チップ外観検査装置

    表裏同時検査可能!1台でマクロ検査・ミクロ検査どちらもできるウエハ・チ…

    「ウエハ・チップ外観検査装置 HM-256シリーズ」は、3CMOS 320万画素カラーカメラを標準採用することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。 ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。 【特長】 ■品種毎に可変の画像分解能(1.5~5µ)で検査...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

  • インラインシステム『TM288P』 製品画像

    インラインシステム『TM288P』

    小型半導体 電気測定検査 マーキング 外観検査 テーピングする装置。 …

    『TM288P』は トレイ供給、測定、マーキング、外観検査、テーピングを すべて一体化可能なインラインシステムです。 トレイに収納されている半導体素子を、接続テスターにより常温測定後、外観検査を行います。 接続テスターからの測定結果によりマーキングし、測定結果および、 外観検査の結果に基づき、パッケージをテーピングに収納します。 【特長】 ■高速動作、0.4sec/1個~0...

    メーカー・取り扱い企業: 綜和機電株式会社

  • 周波数チューナブルテラヘルツ光源 製品画像

    周波数チューナブルテラヘルツ光源

    最大2.7THzまでのテラヘルツ周波数をチューナブルで利用可能!欲しい…

    トプティカ社の『TeraScan』チューナブルテラヘルツ光源は半導体レーザーを持ちいた周波数ドメイン発生方式により、0.1THzから最大2.7THzまでの周波数レンジにおいて、欲しい周波数のみをピンポイントで取得できる画期的なテラヘルツ光源です。 ・0.1~2....

    メーカー・取り扱い企業: トプティカフォトニクス株式会社 営業部

  • レーザ焼き入れ受託加工 製品画像

    レーザ焼き入れ受託加工

    温度モニタリングとレーザ出力のフィードバック制御を用いたレーザ焼入れ

    レーザ焼き入れ中に、加工点の表面温度のモニタリングを行い、常に加熱温度が一定となるよう、レーザ出力のフィードバック制御を行い、高品質なレーザ焼入れを実現します。 また、ビームサイズを任意に可変できるズームホモジナイザーも搭載しており、レーザ焼き入れ中にプログラム上でビームサイズを変えて、ワーク形状やワーク体積に合わせた最適なレーザ焼入れを行います。 〇半導体レーザを用いたレーザ焼き入れ(1...

    メーカー・取り扱い企業: 前田工業株式会社 本社

  • ゼータ電位・粒径分布測定装置『ZEECOM(ZC-3000)』 製品画像

    ゼータ電位・粒径分布測定装置『ZEECOM(ZC-3000)』

    見える粒子計測で微粒子1個1個のゼータ電位測定!ブラウン運動による粒径…

    布) ■ゼータ電位測定範囲:-200~200mV ■モビリティー:-20~20cm2/sec・V ■ゼータ電位測定粒子サイズ:0.02μm~100μm ■光源:LED(透過・光散乱)/半導体レーザー(光散乱) ■カメラ白黒CCDビデオカメラ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロテック・ニチオン

  • レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 MT3000 IIシリーズ 製品画像

    レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 MT3000 IIシリーズ

    デモ/分析受付中 同一モジュールで4機種ラインアップ!独自のトリレーザ…

    『MT3000 IIシリーズ』は、マイクロトラックに3本の半導体レーザを 搭載し、ワイドレンジ・高分解能を実現した粒子径分布(粒度分布)測定装置です。 粒子の光散乱情報から正確に粒子径情報を検出する為には、0~360度の 光散乱情報を検出する必要があります。 マイクロトラックでは独自のトリレーザーシステムを採用することにより、 すべての散乱光を連続して検出することが可能な機構と...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • FA/マシンビジョンフィルター 製品画像

    FA/マシンビジョンフィルター

    光源とカメラの特性に合わせた適切なフィルターを提供。 白黒/カラー両…

    大きな入射角による波長シフトを抑えた「Stable Edge」を採用、LEDや半導体レーザーなどの光源とカメラの特性に合わせたクリアな画像を得られます。 高い透過率を保持しながら、従来の干渉フィルターに比べてより丈夫で薄型、様々なマウントでのお届けが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムスクェア 東京営業所

  • 結晶欠陥検出装置 フォトルミネッセンスイメージング装置 製品画像

    結晶欠陥検出装置 フォトルミネッセンスイメージング装置

    ウエハの全面測定での欠陥検出に

    フォトルミネッセンス画像と分光情報の同時取得可能な画期的な製品...フォトルミネッセンス法 (Photo Luminescence)とは分光測定法の一種で、検査対象に光やレーザー等を照射したときに、検査対象が光子(Photon)を吸収した後に再発光する現象を観察する手法です。 フォトルミネッセンスイメージング装置は、高い解像度でフォトルミネッセンス画像(PL画像)を取得するだけではなく、分光情報も...

    メーカー・取り扱い企業: 西華デジタルイメージ株式会社

  • 株式会社タクト 会社案内 製品画像

    株式会社タクト 会社案内

    幅広い分野に活用できる製品・ソフトウェア開発製造のことなら、お任せくだ…

    株式会社タクトは、各種検査装置、自動化FAシステムなど、幅広い分野と 業界に対応できる製品・ソフトウェアの開発製造を行っている会社です。 エレクトロテストや回路設計などの技術で、ニーズに柔軟に対応いたします。 【事業内容】 ■各種検査装置、自動化FAシステム、エージング装置、紫外線照射装置等の  製品・ソフトウェアの開発製造 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社タクト

  • 自動化・半自動化・省力化提案サービス 製品画像

    自動化・半自動化・省力化提案サービス

    既存ラインの自動化をいかに行うかという点について構想を練り、ご提案いた…

    当サービスでは、半導体・電子部品業界に向けて数多くの搬送装置 (ローダー・アンローダーなど供給装置)を納品してきた当社の 実績を活かし提案を行っております。 従来は組付け装置のみだった装置にレーザーマーキング機能を付加する、 溶着工程と検査工程を同時に行える装置を設計製作するなど、お客様の 製造現場の生産性向上に寄与する提案を、構想段階から行うことに注力。 組立、搬送、検査、刻...

    メーカー・取り扱い企業: タカキ製作所株式会社 本社/本社工場

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ8mm~ 回転数:18,000rpm(従来比20%up) 有効測定長:20...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSGB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:回折光、直接光 対象口径:制限なし 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ4mm~ 回転数:10,000rpm 有効測定長:50mm サンプリング...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • 【守口市 切削加工】金属加工 製品画像

    【守口市 切削加工】金属加工

    守口市 旋盤加工 マシニング加工【コストダウンはフィリール株式会社にお…

    ♦材質 A2017 (アルミ) ♦業界 半導体製造装置 液晶製造装置 ♦加工方法 マシニング加工 旋盤加工 ♦表面処理  - (日本国内) ♦個数 500個 ♦説明 半導体製造装置のアルミ精密部品となります。 マシニング加工での製作です。 ※是非一度お見積りのご依頼をいただき、御社のご要望にお応えします。 まずはホームページをご覧の上お気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: フィリール株式会社 本社

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