• オーダーメイド型スパッタリング成膜装置 製品画像

    オーダーメイド型スパッタリング成膜装置

    PR難しい材料、様々な基板形状、用途にも!非常に幅広い基板サイズに対応可能

    当社では、研究・試作から量産まで対応可能な「オーダーメイド型 スパッタリング成膜装置(PVD)」を取り扱っております。 フレキシブルエレクトロニクス、光通信技術、薄膜太陽電池や バッテリー等の薄膜デバイスの研究開発から量産まで装飾や 表面保護のためのコーティングにも対応。 サンプルサイズ、成膜対象マテリアル、バッチプロセス等、お客様の 用途に応じて組み立てることが可能です。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

  • 『はんだ不濡れ事例集 Vol.2』 製品画像

    『はんだ不濡れ事例集 Vol.2』

    PRはんだ不濡れ・はんだはじきのトラブル事例を多数収録。原因・解決策を分か…

    はんだ付け不良の大きな原因のひとつは「はんだ不濡れ」です。 部品電極や基板パッドに溶融したはんだがなじまず、 正常に接合されない状態のことを言います。 この不良にフォーカスした事例集の第2弾を制作いたしました。 発生原因や対策など事例を交えて掲載した、 プリント基板の実装・はんだ付けに関わる方にとって必読の一冊です。 ※事例集は「PDFダウンロード」からすぐにご覧いただけます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社弘輝(KOKI)

  • 【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 製品画像

    【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

    下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

    異物分析について、従来は下地の影響により顕微FT-IR分析やラマン分析では解析が困難でしたが、マイクロサンプリングツールの導入により、その影響を低減することが可能となりました。 2種の異物に関する解析例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 光学測定受託サービス 製品画像

    光学測定受託サービス

    材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性、発光体の配光特性な…

    よる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性(透過散乱測定、反射散乱測定)を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定 「紫外可視近赤外分析光度計による分光透過率・反射率測定」 紫外可視から近赤外域までの測定範囲をカバーし、物性の分光特性を解析...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベストメディア

  • 技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み 製品画像

    技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    2.LDI-MS 3.TOF-SIMS 4.LA-ICP-MS 5.NanoSIMS 6.おわりに 【図表】 図1~図14 ラット肝臓のMALDI-MSイメージング イオン化支援基板を用いたMSスペクトル、LDI-MSイメージング ラット小脳・毛髪のイオンエッチングのTOF-SIMSイメージング マウス脳および脊髄のLA-ICP-MSイメージング 毛髪断面・免疫染色したマ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 粉体摩擦試験装置/粉体強度試験装置 製品画像

    粉体摩擦試験装置/粉体強度試験装置

    電池材料/AM材料/医薬材料など様々な粉体の”摩擦特性””強度特性””…

    ●粉体摩擦試験装置 粉体の“摩擦特性”を高精度に測定することができ、 流動性/付着性/充填性などあらゆる特性を評価できます。 1mL~測定が可能で、粉体層/粉体-基板/温度条件などご要望に応じた測定が可能です。 ●粉体強度試験装置 粉体の“強度特性”を高精度に評価することができ 粒子の圧壊力や、弾性評価(ヤング率)を評価できます。 10nN~10Nの広範...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイテクノライズ

  • 【医療業界の皆様へ】商品・パーツ設計・開発から製造まで請負います 製品画像

    【医療業界の皆様へ】商品・パーツ設計・開発から製造まで請負います

    医療機器の生産、販売でお困りの企業様へ!国内流通前の最終出荷検査も実施…

    【業務詳細】 ■設計・開発  ・小型・中型の商品やパーツ/医療機器の設計・開発/基板の回路設計等 ■材料調達  ・開発した商品のパーツ(成形・プレス・板金加工・塗装等)の調達 ■製造(組み立て)/検査  ・開発した商品の製造  ・製品の受託製造  ・製品に組み込むパーツ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニオン電器

  • 【ファブレスメーカー様へ】商品の設計・開発から製造まで請負います 製品画像

    【ファブレスメーカー様へ】商品の設計・開発から製造まで請負います

    “製造工場を持っていない”等でお困りの企業様へ!部分的な形態でも業務を…

    【業務詳細】 ■設計・開発  ・小型・中型の商品やパーツ/医療機器の設計・開発/基板の回路設計等 ■材料調達  ・開発した商品のパーツ(成形・プレス・板金加工・塗装等)の調達 ■製造(組み立て)/検査  ・開発した商品の製造  ・製品の受託製造  ・製品に組み込むパーツ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニオン電器

  • 商品・パーツの設計・開発から製造まで請負います 製品画像

    商品・パーツの設計・開発から製造まで請負います

    国内流通前の最終出荷検査も実施!一貫生産や部分的な形態でも業務を請け負…

    【業務詳細】 ■設計・開発  ・小型・中型の商品やパーツ/医療機器の設計・開発/基板の回路設計等 ■材料調達  ・開発した商品のパーツ(成形・プレス・板金加工・塗装等)の調達 ■製造(組み立て)/検査  ・開発した商品の製造  ・製品の受託製造  ・製品に組み込むパーツ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニオン電器

  • 受託測定 依頼測定ご利用条件 製品画像

    受託測定 依頼測定ご利用条件

    レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定。熱を使ったデュアルモード観察が…

    固体材料 →試料外形:□10mm t=3mm以内(それ以外は要相談) →表面形状:鏡面研磨が必要(微小粒子の場合は包埋が必要) →表面処理:スパッタが必要 →参照試料    薄膜の場合は、基板上の薄膜の測定 ○熱物性測定装置 サーモウェーブアナライザ TA3 →測定対象:固体材料 →試料外形:□20mm t=0.1mm以上(それ以外は要相談) →表面形状:極端な凹凸がないこと ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

  • プレ・コンプライアンステストサービス 製品画像

    プレ・コンプライアンステストサービス

    回路設計、ASIC/FPGA設計、基板作成、障害解析などを高品位でご提…

    株式会社メディアロジックでは、USB3.0ならびにSATA 6Gbpsのプレ・コンプ ライアンステストサービスを行っております。 お客様の被測定機器のUSB/SATAのチャネル測定を行いレポート、 また改善提案などの技術サポートを行います。 【テスト概要】 ■USB3.0 プレ・コンプライアンステスト  ・USB-IF Electric Test Specification R...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メディアロジック

  • 電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介! 製品画像

    電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介!

    ワンストップサービスできめ細かく対応!

    ■澱粉粒の状態比較観察による機能性食品の証明 ■ネガティブ染色法によるエマルジョンの形状観察 ■歯の超薄切による結晶解析 ■セラミックスの内部構造解析及び元素分析による新素材研究 ■IC基板の断面観察による検査 ■ガラスコーティング膜の断面構造解析 ■凍結切片法による、ゴム素材の構造解析 ■ネガティブ染色法によるリポソームの層構造の観察 ■バクテリアの形態観察...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • センシング導入実績 製品画像

    センシング導入実績

    繊維材切断面外観検査や組付け部品欠品検査など!さまざまな検査を行ってお…

    査 ■加工機可動監視カメラシステム ■薬液自動調合装置 ■穴径測定装置 ■印字検査装置 ■王冠キズ検査 ■耐電圧試験装置 ■2Dピッキングシステム ■3Dピッキングシステム ■制御基板外観検査 ■アルミ材メッキ後外観検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社九州テクノロジー 本社

  • 【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

    FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

    FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ・ピラーの径:φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 製品ティアダウン 製品画像

    製品ティアダウン

    お客様製品や競合他社製品をコスト/トレンド/供給性視点で解析調査・分析…

    ジェイチップコンサルティング株式会社では、お客様より提供される製品や 一部基板assyを解体分析し、調査分析報告致します。 また、全ての部品についてメーカー/型番を特定してBOMリストを作成し、 コスト/トレンド/供給性視点での分析を行います。 ご要望が有れば、...

    メーカー・取り扱い企業: ジェイチップコンサルティング株式会社

  • 部分放電・コロナ放電の受託検査サービス 製品画像

    部分放電・コロナ放電の受託検査サービス

    部分放電・コロナ放電による絶縁不良を防ぐ、高周波・高電圧部品のトラブル…

    部分放電・コロナ放電は電界が高い場所で気体がイオン化し、火花が発生する現象です。いまだ知名度は低いのですが、絶縁性能を劣化させ寿命に影響します。高電圧のプリント基板やコネクタ、接続ケーブルなどは要注意。省エネのため導入が広がっているインバータ制御装置も部分放電・コロナ放電の温床になります。原因不明の絶縁不良にお悩みの方には、割安な受託検査がオススメ。詳細はお問...

    メーカー・取り扱い企業: アドフォクス株式会社

  • 電子部品などの市場流通品リスク調査サービス 製品画像

    電子部品などの市場流通品リスク調査サービス

    市場流通品に潜むリスク有無を調査!お客様のご要望に合わせた適した調査プ…

    市場流通品は、中身のチップが異なる部品を加工した偽造品や、 基板から取り外した再利用品を使用しているなどの問題が 潜んでいる可能性があります。 当社では、富士通で数多くの部品を採用してきた経験から、 それらのリスクに対し、製品の出来栄えを中心とした良...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • 検査技術 製品画像

    検査技術

    精密加工部品の「サブミクロン単位」の測定・判定・検査

    【その他得意分野】 ■センサ・測定機器を使用したデータ収集・処理技術 ■マイコン制御による電子制御技術 ■IC・LSlを活用した基板開発技術 ■PLCの演算処理を使用した高度な制御技術 ■旧式PLCから新型PLCへの設備更新サポート ■測定に関する治具設計技術 ■光学関連の開発技術 ※詳しくはPDFをダウンロードし...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社緑星

  • 有限会社久保精機 事業紹介 製品画像

    有限会社久保精機 事業紹介

    複写機内蔵部の磁性体ローラの外装金属スリーブ加工に携り、培った研磨技術…

    近年では、CAD・CAMの導入から、顧客ニーズに対応した オリジナル商品のご提案や商品化まで実施しています。 また、提案力を活かして電子基板の開発や組み立て加工にチャレンジして、 お客様からの信頼にお応えすべく努力しています。 その他、大手企業の外注として検査・加工・組み立てにも対応しています。 【事業内容】 ■機械部品...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社久保精機

  • 【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用 製品画像

    【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用

    当社独自の技術を用い前処理方法を最適化!異種多層の観察・解析が可能

    【測定事例】 ■対象:パソコン用の増設メモリ(DRAM)基板 ■部位:パッケージ部品(SOP)のリード部 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • SEM-ECCI法によるGaNの転位観察 製品画像

    SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

    SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に!単結晶GaNの測…

    の転位観察は主に透過電子顕微鏡(TEM)やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。 【測定事例】 ■供試材:単結晶GaN(サファイア基板上にGaNを成膜したウェハ) ■面方位:C面(0001)±0.5° ■GaN膜厚:4.5±0.5μm ■測定条件:後方散乱モード ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 業務サービス ウェハーテスト&レーザートリミング 製品画像

    業務サービス ウェハーテスト&レーザートリミング

    お客様が満足される品質とサービス

    約されます。これにより更なる短TATでの対応が可能になります。 ◯テスト環境の設定やテスターの稼動情報は、無線端末からオンラインで管理されます。 ◯半導体後工程(パッケージ組立)や電子機器組立(基板実装)との一貫した対応もいたします。 ●詳しくはお問い合わせください...

    メーカー・取り扱い企業: アルス株式会社 本社工場、第2~第5工場

  • 【資料】受託分析サービス 非破壊観察 製品画像

    【資料】受託分析サービス 非破壊観察

    半導体や電子部品の不具合箇所の特定や、新素材の電流分布の測定に有効!

    当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 非破壊観察」について詳しく解説しております。 磁場顕微鏡で行うプリント基板配線パターン内の電流経路観察や、 超音波顕微鏡でのウェーハ貼り合わせの密着性観察(反射法)などの 事例を多数掲載。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■磁...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝ナノアナリシス株式会社

  • 材料分析 製品画像

    材料分析

    使用材料の規格との比較、管理基準との比較などの分析を行っております。

    【特長】 ○他社製品の材料の特定 ○めっき液中の構成元素分析 ○基板上のはんだ組成分析 ○グリス劣化の分析 ○使用材料の規格との比較 ●詳しくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コーエキ

  • 株式会社愛工舎 事業紹介 製品画像

    株式会社愛工舎 事業紹介

    微細部品切削加工、非破壊検査のご用命は愛工舎へ

    愛工舎は、NC微細切削加工を得意とし、電子部品(半導体・プリント基板など)の通電検査用コンタクトプローブの部品、医療機器部品、産業機器部品の微細部品加工を行っております。 安定した高品質で高精度なNC微細切削加工品は、電子部品通電検査分野、医療分野、産業機器分野な...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社愛工舎 七宗工場

  • 【開発力向上支援】フレキシブル基板・FPC・フレキ基板 FPC 製品画像

    【開発力向上支援】フレキシブル基板・FPC・フレキ基板 FPC

    開発技術担当者様に寄り添い、更なる開発力向上の為の提案・支援を致します…

    基板解析サービス(回路調査、部品調査、仕様調査等) ・信頼性、環境試験サービス ・コンサルティングサービス(熱解析・対策構築、FPC立上げ支援) ・開発、生産支援ツール提案販売(JTAGバウンダリ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック   フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア

  • フライングリード フレキシブル基板 (FPC/フレキ基板) 製品画像

    フライングリード フレキシブル基板 (FPC/フレキ基板)

    信頼性の高い接続が可能なフレキシブル基板です。

    ン幅を細くする事で、ワイヤーボンディングのように、 相手側の回路やデバイスに信頼性の高い接続が可能になります。 プローブ等、高密度で高い信頼性を必要な部分に使用されています。 フレキシブル基板, フレキ基板, FPC, フレキ, リジットフレキ 高耐熱, メンブレンスイッチ, フレキシブル基板, フレキ, FPC, プリント基板 フレキシブル基板, フレキ基板, FPC, フレキ, ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック   フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア

  • バンプ付き フレキシブル基板・FPC・フレキ基板 FPC 製品画像

    バンプ付き フレキシブル基板・FPC・フレキ基板 FPC

    導通検査のフレキシブル基板・フレキ基板・FPCです。 FPC

    FPC配線上にCi-Niバンプを形成しました。 主に、フリップチップ実装等のベアチップ実装、 ファインピッチ端子の導通検査、試験用冶具としてご使用頂いています。 FPC フレキシブル基板, フレキ基板, FPC, フレキ, リジットフレキ 高耐熱, メンブレンスイッチ, フレキシブル基板, フレキ, FPC, プリント基板 フレキシブル基板, フレキ基板, FPC, フレキ, ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック   フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア

  • ノイズ対策 シールド付 フレキシブル基板・FPC・フレキ基板 製品画像

    ノイズ対策 シールド付 フレキシブル基板・FPC・フレキ基板

    ノイズ対策構造のフレキシブル基板・FPC・フレキ基板です。

    伝送信号の高速化による、 FPCの放射ノイズに対する、ノイズ対策構造のフレキシブル基板です。 高速回路の影響で放射されるノイズの抑制が重要です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック   フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア

  • PCB基板・FPC基板解析サービス<各層写真> 製品画像

    PCB基板・FPC基板解析サービス<各層写真>

    基板を各層ごとに除膜して配線情報を抽出!用途が限定される基板についても…

    当社のPCB基板・FPC基板解析サービスでは、基板を各層ごとに除膜して 配線情報を抽出します。 車載用基板のご依頼が多いですが、スマートホンのような高密度実装基板や 高周波やカメラモジュールのセラミック基...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック

  • PCB基板・FPC基板解析サービス<部品表> 製品画像

    PCB基板・FPC基板解析サービス<部品表>

    レイアウト上の搭載位置などを確認可能!コスト調査を目的とした部品表のみ…

    当社のPCB基板・FPC基板解析サービスでは、基板から取り外した部品について調査し、 品種や素子定数の特定を行います。 部品番号は、「回路図」や「搭載部品位置」と共通の番号なので、部品の仕様、回路での 使...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック

  • PCB基板・FPC基板解析サービス<回路図・ブロック図> 製品画像

    PCB基板・FPC基板解析サービス<回路図・ブロック図>

    フラットな回路図(まとめなし)での納品可能!PDFの回路図とEDIFに…

    当社のPCB基板・FPC基板解析サービスでは、抽出した配線情報から フラットな回路図を作成し、電源ノードやメイン経路などを見極めながら、 動作が把握しやすいように機能的にまとめていきます。 アウトプットは...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック

  • 【分析事例】SiC基板の品質評価 製品画像

    【分析事例】SiC基板の品質評価

    結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

    SiCパワーデバイスは、電力損失を抑え、小型で大電力を扱える電力変換素子として期待されています。 デバイスを製造する上で必要になるSiC基板の品質評価が課題になっています。SiC基板を結晶方位、面内欠陥分布、表面凹凸および不純物についての評価し、数値化・可視化する方法を提案いたします。 測定法:XRD・AFM・PL・SIMS 製品分...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 表面実装電子部品の断面観察サービス 製品画像

    表面実装電子部品の断面観察サービス

    実装基板上の電子部品のはんだ接合状態、部品の内部構造を詳細に観察するこ…

    当社では『表面実装電子部品の断面観察』を行っております。 機械研磨後の断面観察により、実装基板上の電子部品のはんだ接合状態 (クラックやボイド有無)、部品の内部構造を詳細に観察することが可能。 「SOP部品」では、断面全体像から半田接続部まで詳細な観察ができ、 「アルミ電解コンデン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析 製品画像

    東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析

    故障した基板の動作不具合部品や物理的不具合箇所を特定します。

    基板の機能検査、ストレス検査やはんだ付け部分の信頼性評価を行い、故障した基板の故障部位の特定(解析)とその修理を短納期で対応します。また、不具合の原因を特定しフィードバックすることで量産品の歩留り向上や市場品質向上に貢献します。...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 本社

  • 受託測定サービス:評価用に特定箇所の接触抵抗を測りたい! 製品画像

    受託測定サービス:評価用に特定箇所の接触抵抗を測りたい!

    組み上がった製品の特定部分の接触抵抗だけ確認できます

    創業40年、様々な測定条件やワークの電気接触抵抗を測定し、ご希望の測定を実現できるコンタクトプローブを製作してきました。 組み上がった製品(部品、基板など)の一部品の接触抵抗だけを測定したい…などのご要望にも対応できます。 電気測定に関するご質問やご不明点がございましたら、遠慮なくホームページからお問合せ下さい。 ★http://www....

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

  • 【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価 製品画像

    【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価

    適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減

    。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。 下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。下地の影響の無い無機結晶上にサンプリングを行うことで、異物の情報が得られ、異物はフラックスと同定されました(図2)。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 『Mech D&A News vol.2010-3』 製品画像

    『Mech D&A News vol.2010-3』

    【特集】多層基板の熱粘弾性反り解析技術の開発

    インでは、 実用設計の分野の中から興味深い問題を選び、構造解析の適用方法を 紹介することを目的として、『Mech D&A News』を発行しております。 『vol.2010-3』では、多層基板の熱粘弾性反り解析技術の開発について 特集しています。 熱膨張係数の温度依存性を考慮した手法のほか、板厚、材料定数を 与えることで、瞬時に反り量と応力を求めることができる 「粘弾性積層板...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メカニカルデザイン

  • 【資料】しるとくレポNo.4 #インターフェイス回路 製品画像

    【資料】しるとくレポNo.4 #インターフェイス回路

    開発設計を促進!カスタム計測とインターフェイス回路

    ご興味のある方はご連絡お待ちしております。 【掲載内容(抜粋)】 ■カスタム計測をキーワードとしたサービスの提供 ■インターフェイス回路とは ■インターフェイス回路(アナログ絶縁回路基板)構成イメージ ■インターフェイス回路(アナログ絶縁回路基板)製作基板 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

  • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(HBM・MM)試験受託サービス

    半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気…

    加等  多様な印加条件に対応します。 ■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、  VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析

    薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能

    されており、CIGS組成の組成分布の制御が重要になっています。 成膜したCIGS薄膜の組成について、ICP-MSで高精度に定量した事例、SIMSで深さ方向に濃度分布を評価した事例、およびXRFにて基板面内の濃度分布を評価した事例を紹介します。 測定法:SIMS・ICP-MS・XRF・エッチング 製品分野:太陽電池 分析目的:組成評価・同定・組成分布評価・膜厚評価・製品調査 詳しくは資...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS太陽電池の各層の相互拡散評価 製品画像

    【分析事例】CIGS太陽電池の各層の相互拡散評価

    表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です

    。SIMS分析を行う上で、表面の凹凸は深さ方向分解能の低下を招きます。表面からの測定では表面凹凸及びノックオンの影響により、CIGS中へCd, Zn, Oなどが拡散しているように見えます(図3)が、基板側(裏面側)から測定することにより、Cd, Zn, OなどのCIGS層中への顕著な拡散がないことがわかります。(図4) 相互拡散の他にも、主成分(Cu, In, Ga, Se)の組成変化、不純物(B...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価

    照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

    ます。その製造工程では、結晶欠陥の無い高品質なGaN結晶の作製が求められるため、イオン注入などによるダメージやその回復度合いの確認は重要な評価項目となっています。 本資料ではXAFSによってGaN基板へのイオン注入によるダメージを評価した事例をご紹介します。 GaN表面近傍における結晶構造の乱れや、膜中のN2、格子間Nを高精度で検出することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価 製品画像

    【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価

    割断サンプルで50nm薄膜を可視化

    造を明瞭に評価することが可能です。積層構造の評価やトレンチやホールの内壁の元素分析に加え、機械加工やイオンビーム加工を併用することで、薄い合金層や元素の拡散・偏析等も評価可能です。 本事例ではSi基板上に成膜された薄膜について、AES分析を用いて評価したデータをご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂の定性 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂の定性

    TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

    エポキシ樹脂は、優れた機械特性・耐薬品性・電気絶縁性を有することから、プリント基板やIC封止材など電子部品用途として、広く使用されています。エポキシ樹脂の原材料に一般的に用いられるビスフェノール類の試薬について、TOF-SIMSで測定したデータを取得しました。 MSTではサンプ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TDSによる脱離成分の推定 製品画像

    【分析事例】TDSによる脱離成分の推定

    複数質量の脱ガスパターンを比較します

    比(m/z)に対して複数の成分が検出されることがあります。このような場合でも、複数の質量について測定を行い脱ガスパターンを比較することで、昇温加熱により脱離した成分を推定することが可能です。 Si基板上W膜のTDS分析結果を例に、水とアンモニア(m/z=17)、有機物とアルゴン(m/z=40)の成分推定方法について説明します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • LSIパッケージ設計/評価解析 受託サービス 製品画像

    LSIパッケージ設計/評価解析 受託サービス

    製品開発のトータルコーディネートが可能!LSIパッケージの設計・評価解…

    半導体チップを外部環境から"守る"、電気信号を基板へ"伝える" LSIパッケージの設計・評価解析を委託できるサービスのご紹介です。 単なる評価解析の結果報告で終わることなく、WTIが保有する 「LSIパッケージ設計技術」「シミュレーション...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

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