チップ抵抗ネットワーク1005×4

PR実装コストの低減を実現！電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワーク

当製品は、電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワークです。 部品搭載回数の減少による実装コストの低減を実現。 最高使用電圧は25V、定格電力は1/16Wです。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様(抜粋)】 ■素子数：4 ■回路記号：D（独立回路） ■包装数量：10,000 アイエイエム電子ではチップ抵抗ネットワークを始め各種厚膜チップ抵抗器を製造販売しております。 ※詳...

メーカー・取り扱い企業： アイエイエム電子株式会社

プラズマを用いた官能基修飾による表面改質で新たな機能を提供

PR難めっき樹脂・難接着樹脂へ「非粗化による直接めっき」や「接着剤レス直接…

弊社改質技術では、基材表面へ官能基を強固に結合して付与することで、 一般的なプラズマ表面処理（有機物除去、一時的な親水性の向上など）ではできない表面改質処理を提供できます。 【特長】 ○低誘電材および難めっき材への非粗化直接めっき技術 　フッ素樹脂、LCP、COP、ポリイミド樹脂などへ非粗化でシード層が介在しない直接銅めっきが可能 ○難接着材の非粗化接着剤レス・直接接着技術 　各種フッ素樹脂、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電子技研

真空型赤外分光システムを用いたIRRAS法による有機単分子膜解析

【無料プレゼント】SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。

有機分子の化学吸着によって形成される単分子膜、SAMに関する 研究が注目されています。 当社製品は、試料の設置後、2～3分で分光内部を真空にすることができ、 短時間で測定を開始することが可能です。 当資料では、大気の影響を除去...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

膜厚測定

膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します

オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および...

メーカー・取り扱い企業： オーシャンフォトニクス株式会社

顕微ラマンによる多層材料分析

ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可…

当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能！非接触・非破壊でエピ…

『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！ 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率（N,K値）波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

超高速分光スペクトル測定装置　分光器 DTSP-150

ローノイズでコンパクト！裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用

分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィ...

メーカー・取り扱い企業： ディスク・テック株式会社 本社

分光楕円偏光解析装置　分光エリプソメータMASS-105

多層膜など多くのパラメーターが一度に解析！小型・高速分光エリプソメータ

分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター（膜厚、屈折率、吸収係数）が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易　…

『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

大気中光電子分光装置 『AC-3』

大気中で遠紫外線領域(4.00-7.00eV)での光電子測定が可能な光…

『AC-3』は、最高被占軌道近傍の状態密度や仕事関数、イオン化 ポテンシャルを大気中で簡単に測定可能な大気中光電子分光装置です。 またナノメートルオーダーの極表面の情報や極薄被膜の膜厚(0-20nm) を測定することもできます。 【特長】 ■真空中に持ち込めない、粉状や液体状の試料も測定可能 ■1回の測定時間はわずか5分程度 ■イオン化ポテンシャルを大気中で簡...

メーカー・取り扱い企業： 理研計器株式会社 本社

分光測色計／品番 M396M-2600DK

測定すべきターゲットを的確にとらえます

少ない測定ができ、色材の配合比の管理やCCMに適しています。 ●SCEは、正反射光を除去する方式で目視に近い測定結果が得られます。 プラスチック・塗料・樹脂・電気製品・ディスプレイの反射防止膜（ARコート）・肌の色など ●測定すべきターゲットを的確にとらえます。明るいファインだと持ちやすいスタイリッシュボディポータブルでありながら、φ8mmとφ3mmの2つの測定径を切替可能で、サン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シロ産業

カーボンコーターＶＣ－３００

ＥＤＳ（ＥＤＸ）・ＥＰＭＡ・ＸＭＡ用導電処理・ＦＩＢ用保護膜作成・カー…

VC-300シリーズはロータリポンプ排気、ピラニゲージで真空度を監視しながら行うので確実なカーボン蒸着ができます。カーボンはφ0.5の替え芯タイプなので、削る必要がなく周囲はいつも清潔です。また、電極部が高温にならないので、連続蒸着時に火傷する心配はありません。 省スペース、低価格を実現。 ... 試料室サイズ＝内径120mm×深さ140mm。硬質ガラス製。  試料台サイズ＝直径10...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社真空デバイス

自動楕円偏光解析装置　レーザーエリプソメータMARY-102

小型・低価格・高精度・使い易さを追求した自動楕円偏光解析装置。

レーザーエリプソメータMARY-102はレーザー光による偏光解析法を用いてシリコンやガラス基板の光学特性、又はそれらを基板上の薄膜の膜厚や光学特性（屈折率など）を測定します。MARY-102は、ファイブラボ株式会社の光計測技術を基に、小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されました。 シミュレーション機能等を充実させた研...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

高濃度測定用分光光度計『OD-10』

サンプルへの入射光は擬似平行光になっており、装置由来の干渉を低減してい…

『OD-10』は、従来の分光光度計では測定が出来なかった光学濃度OD10まで 測定が出来る分光光度計です。 多層膜フィルタ・高濃度フィルタ・遮光フィルム・高濃度溶液など さまざまな低透過率のサンプル測定に好適。 ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式の組み合わせにより 高精度測定が可能と...

メーカー・取り扱い企業： 分光計器株式会社

脱保護反応解析装置　PAGAシリーズ

フォトレジストの高度な評価を行う、さまざまな装置を提供します。

R室内にベークプレートを配置し、加熱しながら官能基の変化を観察できます。 ○紫外線(248nm)照射装置も搭載されており、露光中における酸発生のメカニズムなどの解析にも利用できます。 ○レジスト膜厚75nmでの測定を可能。 ○EUVリソのような超薄膜レジストプロセスの解析に最適。 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業： リソテックジャパン株式会社

ポータブルSD-OCTシステム

非接触・非破壊・非侵襲の精密イメージングをコンパクト筐体で実現

フィックグレーティングを搭載しており、位相雑音の少ないクリアな画像モニタリングを可能としております。 用途は生体イメージングを始め、従来非破壊では得られなかったバルク材料中心の内部欠陥等が測定出来、膜厚測定等の産業用途計測器としてご使用頂けます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティー・イー・エム

グロー放電発光分光分析装置 GDS900

手軽に多層膜成分分析

最新鋭のグロー放電発光分光分析装置 ...■詳細仕様■ 光学部 焦点距離：0.75 m、900本 / mm、リトロー型マウンティング ホログラフィック　ルール　回折格子 検出器 16,000 active pixels ( 14.0 mm W x 0.9 mm H pixel サイズ) CCD 検出器 スペクトル範囲 160 nm～460 nm 分解能 50 pm ( 0.050 ...

メーカー・取り扱い企業： LECOジャパン合同会社

ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロールにてノンストップで膜厚を多点測定可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

分光楕円偏光解析装置　分光エリプソメータMASS-103

サンプル水平置きタイプで、多彩なサンプルに対応が可能！

用 ○解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →オプティカルエンコーダとホールモータの組み合わせにより高再測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準の数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式：回転位相子法 ○光源：150Ｗ Ha ランプ ○ビーム経：約φ1～5mm ○入射角：約70・60・...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

マイセック　ダイジェストカタログ　2021＜分析機器関係＞

クラウドAIラマン分光器など！ラボ用分析機器とプロセス用分析機器を多数…

赤外分光光度計「UH4150」 ■クラウドAIラマン分光器 ■ハンドヘルド蛍光X線分析装置「X-MET8000シリーズ」 ■エネルギー分散型蛍光X線分析装置「EA1400」 ■高性能蛍光X線膜厚計「FT160シリーズ」 ※ダウンロードいただけるPDF資料はダイジェスト版です。 　完全版をご希望の方はお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マイセック