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PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…
ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...
メーカー・取り扱い企業: ティー・ケイ・エス株式会社
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PR扱いやすい液状の樹脂。短時間のUV照射で無色透明な硬化物が得られます。…
【特徴】 ■高屈折率から低屈折率まで幅広く樹脂を取り揃えています。 ■硬化物は高耐熱&高硬度。切削加工、リフロー、各種無期膜の蒸着が可能です。 ■諸特性をカスタマイズします。光硬化性、基材との密着性、離型性など。 ■ハイブリッドレンズ、マイクロレンズアレイ、回折格子(DOE)などにご使用いただけます。 ※左記の写真:光硬化性樹脂を使った表面形状(例) 東京理科大学谷口研究室作成....
メーカー・取り扱い企業: オーウエル株式会社
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インライン型膜厚計の分析例について紹介します。
膜厚の管理は製品の信頼性を左右するだけでなく原材料の削減にも貢献します。可搬型蛍光X線分析装置「OURSTEX100FA」は工場の製造工程で膜厚の分析を行うことが可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社
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膜厚測定の現場ニーズに応える高性能膜厚計
蛍光X線膜厚測定器「XRF-2000series」は、 ●レーザーを用いた3次元オートコントロールステージが、 正確な位置出しと高精度測定を実現 ●モジュール化された内部構造と高寿命X線チューブが...
メーカー・取り扱い企業: 日本アレックス株式会社
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【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方
薄膜・微細領域も高精度かつ短時間で測定する蛍光X線膜厚測定装置をご紹介…
高機能化・高性能化が求められるようになっています。 部品メーカーにとっては、今後も市場のニーズに対応し続けるため、 その品物の品質管理を考え直す必要があります。 当資料では、蛍光X線膜厚測定装置についてご紹介。 蛍光X線による分析・測定は非破壊で、前処理などの必要もなく、 短時間で結果を得ることが可能です。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■エレクトロ...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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様々な測定器を駆使し、測定及び試験を行っております!
00 ■原子吸光分析装置 アナリティクイエナジャパン cotrAA300 ■EDXエネルギー分散型X線分析装置 TM3000 ■システム金属顕微鏡 オリンパスBX51M&SZX7 ■蛍光X線膜厚測定装置 Fisher XDLM237 ■高度測定装置 アカシHM-122 ■ISO型塩水噴霧試験機 SUGA STP-90 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せくだ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイライト
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立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察!チップ抵抗の観察事例をご…
X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。 チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に有効。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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