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15件 - メーカー・取り扱い企業
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PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…
ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...
メーカー・取り扱い企業: ティー・ケイ・エス株式会社
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PR【技術の実用化に向けて協力企業を募集中!】 導電性フィルムや、全固体…
当社で開発した「マイクロ粒子のシート化技術」についてご紹介いたします。 マイクロ粒子を熱プレスとUV硬化により、 両端を露出させた状態で樹脂膜中に単層で埋め込む技術です。 この技術により、マイクロ粒子の両端を複合膜の上下両面から露出させることができ、各種マイクロ粒子がもつ熱・電気・イオン伝導性などを損なわず、粒子本来の性能を発揮させられます。 これは粒子を複合膜に埋没させない特許技...
メーカー・取り扱い企業: 日榮新化株式会社
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インライン型膜厚計の分析例について紹介します。
膜厚の管理は製品の信頼性を左右するだけでなく原材料の削減にも貢献します。可搬型蛍光X線分析装置「OURSTEX100FA」は工場の製造工程で膜厚の分析を行うことが可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社
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電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…
『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です…
『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能…
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能!
高精度かつ高い検出感度!現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…
『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できま...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリン…
V-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約1...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも…
『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方
薄膜・微細領域も高精度かつ短時間で測定する蛍光X線膜厚測定装置をご紹介…
高機能化・高性能化が求められるようになっています。 部品メーカーにとっては、今後も市場のニーズに対応し続けるため、 その品物の品質管理を考え直す必要があります。 当資料では、蛍光X線膜厚測定装置についてご紹介。 蛍光X線による分析・測定は非破壊で、前処理などの必要もなく、 短時間で結果を得ることが可能です。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■エレクトロ...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・…
『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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当社保有の要素技術を結集!軽元素から中重元素分析まで幅広い高感度測定が…
エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 軽元素から中重元素分析まで、幅広い高感度測定が可能。 オイル中のS、CI分析や、セメント・焼却灰中の軽元素分析、 フィルム上の微量軽元素分析、膜厚分析などに適しています。 【特長】 ■コンパクトで可搬性に優れる ■L線専用2重湾曲モノクロメーター搭載 ■Pd-Lα単色励起により軽元素の検出感度が向上 ■高性能SDD検出器・高計...
メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社
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貴金属に対する真偽判定や品質管理に!非破壊で素早く精度よく測定が可能で…
【その他特長】 ■X-RAY XAN 250 ・素早く・非破壊式により正確に貴金属の成分分析が可能 ・金やジュエリーなどを精密かつ正確に表面の素材分析と膜厚を測定 ・金の含有量だけでなく、その成分分析まで行うために好適 ・ニッケル、カドミウムまたは鉛などのような元素も検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東栄産業
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自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置
簡便性の 向上に貢献します。 【適用分野】 ■RoHS対象元素の分析 ■鉱物及び合金(銅、ステンレス鋼等)の成分分析 ■金、白金、銀等の貴金属及び各種宝石の含有量試験 ■金属のメッキ膜厚の測定 ■主にRoHS関連産業、貴金属及び宝石加工産業、銀行、試験機関、電気メッキ産業 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社T&S
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精密機器のことなら当社におまかせください
【取扱製品】 ■レーザー機器 ・半導体レーザー装置 ・半導体レーザー励起固体レーザー装置 ・フラッシュランプ励起固体レーザー装置 など ■光学機器 ・顕微鏡 ・蛍光X線膜厚測定器 ・色差計・光沢度計 ・リードフレーム全自動外観検査装置 など ■高周波電源 ・半導体工場向けおよび研究機関向け高周波電源 ・高周波増幅器 ・整合器 など ※詳し...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アライズテクノロジー
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