ダイヤモンドライクカーボン膜（DLC）コーティング加工

PR金属から樹脂まで幅広く対応。金型や摺動部品の耐摩耗性向上に。メッキの代…

『PEKURIS COAT』は、当社独自のプラズマイオン注入成膜装置を使用し、 潤滑性に優れたDLC膜をワークに形成するコーティング加工です。 イオン注入効果により、高密着成膜が容易で、ステンレス鋼や工具鋼、 アルミ合金等にも成膜可能。また、低温での処理が可能で、 融点の低い樹脂やゴム、アルミなどにも対応しております。 DLCコーティングでお困りの方は、ぜひお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社栗田製作所 本社・京都事業部

リモートプラズマ・イオンビームスパッタリング装置　

PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…

ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...

メーカー・取り扱い企業： ティー・ケイ・エス株式会社

技術情報誌 202101-04 陽電子によるバリア膜や分離膜評価

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

の空隙）構造の評価が重要になる。そのため、分子レベルの空隙を評価する技術が求められ、陽電子消滅寿命法は強力なツールとなる。本稿では、polyethylene terephthalateおよびシリカ薄膜に対し、陽電子消滅寿命法と他手法を協奏的に活用することで、サブナノ空隙構造と気体輸送特性の関係にアプローチした例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．陽電子消滅寿命測定の原理 ３　結晶化...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層の…

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

反射率や透過率を偏波性能を調べる【分光測定・膜厚評価】

弊社において成膜した製品はもとよりお客様お手持ちの製品の測定、評価も請…

分光測定、光学濃度測定、膜厚測定、形状測定、欠陥観察等の測定を実施可能です。 自社で成膜した製品対しては合否確認の目的をもった測定データを製品に添付しお届け致します。 お客様がお手持ちの製品についても測定のご依頼は可能で...

メーカー・取り扱い企業： 京浜光膜工業株式会社

EPMAによる薄膜の膜厚分布測定

極小領域の膜厚測定が可能に！電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜…

当社ではEPMAによる薄膜の膜厚分布測定を行っております。 薄膜の膜厚測定は主に蛍光X線法やX線反射率法で行われており、X線を入射源と しているためある程度の広い測定領域の平均的な膜厚しか測定できませんでした。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

極薄Fe酸化膜のラマン分光分析

レーザーが侵入する範囲の物質の測定が可能！金属表面の極薄酸化膜の分析が…

当社では、極薄Fe酸化膜のラマン分光分析を行っております。 レーザーが侵入する範囲の物質の測定をすることが可能。金属にはレーザーが 侵入しないため、金属表面の極薄酸化膜の分析ができます。 関連リンク先では、純...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 SiCやGaNより大きなバンドギャップを持つ酸化ガリウム（Ga2O3）は新たなパワーデバイス材料として注目されている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解析、および不純物、欠陥評価を行った事例について紹介す...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価

エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…

he TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数（屈折率・消衰係数）や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【受託分析・試験事例】塗装・コーティング膜の強さが緻密に測定

当方法は受託分析・試験になり、何層も塗り重ねた塗装膜の耐久性を「層の強…

分析・試験分析であり、自分で測ってしまえば済むことですが、 問題は欲しい情報が得られる試験法を選ぶこと自体が大変であるとのこと。 機械的特性（強さ）に限れば、知りたい情報の一つは多層になった膜の 表面から基材（生地）までの連続した強さ及び分布状態で、 もう一つは硬さと脆さ、すなわち擦り傷耐性と衝撃耐性の 2面性の性格をあらわにすることになります。 【MSE試験でできること】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パルメソ

摩擦摩耗試験／トライボロジー試験の受託サービス｜JTL

各種機能部品の摩擦摩耗試験から、摺動面の表面性状の分析など幅広くサービ…

■回転試験 □ボールオンディスク試験：ベアリング、クラッチハブベアリングを想定した試験 □ピンオンディスク試験：開発材、硬質膜、潤滑膜などを想定した試験 □ディスクオンディスク試験：クラッチ材、ブレーキ材などを想定した試験 □リングオンディスク試験：樹脂材、開発樹脂材などを想定した試験 ■往復試験 □ボールオンプレ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［XRR］X線反射率法

XRR：X-ray Reflectivity

、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 （2～300nm 程度） ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下） ・非破壊で分析が可能 ・約1...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

《 特殊表面処理 》　メッキでは無い！極薄膜や複合膜　等

「極薄膜」「複合積層」「薬液に依存しない無機物」を表面処理加工できます…

【出来る事】 　「極薄膜」　　最薄　数nm～から可能 　「複合積層」　複数物質を積層可能（最大50層程度） 　「非浸食」　　母材表面を非浸食で表面処理可能 　　その他、メッキ処理などでは得られない特殊条件で加工致しま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大正光学

ナノテック表面分析センター　受託試験

薄膜表面の機械的特性評価は、薄膜プロセスのキーポイント！

【ラインナップ】 ○硬さ試験：硬さ・ヤング率の評価 ○スクラッチ試験：密着性の評価、傷つきやすさの評価 ○摩擦摩耗試験：摩擦係数の評価、耐摩耗性の評価 ○膜厚測定 ○表面粗さ測定 ○分光エリプソメトリ:膜厚、光学定数の評価 ○EDX分析:摩擦摩耗試験やスクラッチ試験後の試験痕の確認 ○RBS/HFS測定:薄膜を構成する元素の定性・定量評価 ○...

メーカー・取り扱い企業： ナノテック株式会社

受託分析・ＳＥＭ観察受託

受託分析・ＳＥＭ観察受託

各種材料・薄膜の評価試験をナノレベルで実現した最高の測定精度 ツールテック東北社『受託分析・SEM観察受託』 ■□■特徴■□■ ■nano　Hardness　Tester・・・硬さ・ヤング率 ・...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ツール・テック東北

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

どが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元素分布の変化過程...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【受託分析・受託試験事例】マンガで新材料強さ試験の価値をご紹介

薄膜・界面・材料表面の強さの精密計測を実現。新技術でのイノベーションは…

パルメソには材料に関するさまざまなお悩みが寄せられています。 ・薄膜のみの強さが知りたい ・多層膜や傾斜膜の強さの分布が知りたい ・界面の強さの変化が知りたい ・劣化の度合いや分布を知りたい ・プロセスの最適化に向けての情報がほしい ・これまでの試験法でわ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パルメソ

リポソームの多層膜の観察

脂質多層膜の観察を受託します。

リポソームなど多層膜の観察を、ネガティブ染色法によるTEM観察が可能です。その他、樹脂包埋法でも行います。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

液膜安定性測定

表面張力計を用いた新たな液体膜(泡膜)持続性評価方法 ～コーティング…

ラメラ長測定に代わる新たな液体膜の評価方法を考案！ 〇表面張力計DyneMasterシリーズ用　オプションとして販売。 〇官能評価では明瞭な差異がある試料でも、表面張力やラメラ長測定で差異が見えづらく、定量的な評価がで...

メーカー・取り扱い企業： 協和界面科学株式会社

【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

．NRAによる軽元素の高感度測定 ４．重元素の質量分解能向上 ５．まとめ 【図表】 図1～図8 RGB各画素で取得したRBSスペクトル 各元素の質量分解能と感度（理論計算値） SiON膜(100 nm)/Si基板：RBSスペクトル、NRAスペクトル IGZO膜(300 nm)/Si基板：RBSスペクトル IGZO膜のGa/Zn比の比較...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】液晶ディスプレイの劣化分析

液晶、配向膜、シール材、TFTなどを総合的に評価します。

液晶表示パネルの劣化メカニズム解明は、パネルの長寿命化にかかせない重要なテーマです。 劣化症状のうち輝度の低下は、液晶、配向膜、シール材、TFTと多岐に渡った要因が考えられます。 表面・構造・組成・計算科学等を複合的に分析します。良品と不良品のわずかな差異をとらえ、総合的な評価を行うことで、液晶ディスプレイの劣化メカニズ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

イオンミリング装置による受託サービス｜JTL

機械研磨では潰れて観察できない構造をきれいに面仕上げします。

料の結晶を観察する際に化学エッチングを行い、金属組織を出すことが通常ですが、本装置のアルゴンイオンエッチング作用により、結晶状態の観察や結晶方位解析用の断面試料調整を行うことが可能です。 【薄膜・多層膜・合金層の高倍率観察/分析が可能】 ・通常の機械研磨では厳しい、薄膜や多層膜、合金層の高倍率（100,000倍程度まで）観察、分析に耐えうる研磨面仕上がりを得ることが可能です。 ・試料へ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【測定事例集】赤外分光分析(ナノスケール空間分解能)

多層膜組成分析をはじめ粘着剤上の異物分析などの測定事例を多数ご紹介しま…

当資料は、株式会社日本サーマル・コンサルティングが行っている 『赤外分光分析(ナノスケール空間分解能)』の受託測定のご案内を まとめた測定事例集です。 断面から薄膜層の同定が可能な「多層膜組成分析」や、サブミクロンサイズの 異物分析が可能な「ガラス基板上のウォーターマークの組成分析」など、 様々な測定事例を図表を用いて詳しく掲載しております。 ぜひご...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本サーマル・コンサルティング

蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．断面TEM、平面ST...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能！当社のX線光電子分光分析をご…

ステンレス鋼は耐食性に優れることが知られています。耐食性の優劣には、 不動態皮膜の厚さや濃度が深く関わっており、それらをX線光電子分光分析 （XPS）で調べることができます。 SUS430 製部品を機械研磨して使用し、短期間で錆が発生した例では、 錆発生品と正常品につ...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

『設備校正サービス』

◆◆メーカーでしか出来ないと思っていませんか？　現地校正なら是非大王電…

ダイヤルゲージ、シリンダゲージ ○トルク・質量類 →トルクレンチ、トルクドライバ、トルクメータ、 　プッシュプルゲージ、フォースゲージ ○その他機械計器 →回転計、ストロボスコープ、 　膜圧計、力量計、動歪計、静歪計 ○環境理化学計器 →振動計、騒音計、風速計、水質計、照度計、比重計 ○計装機器 →差圧伝送器、圧力伝送器、圧力計、電磁流量計、渦流量計 ○その他 →温湿度記...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

します。 ・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可） ・0.1nmφ～の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【目的別事例】商品の開発・改良に向けた試作をしたい

お客様のビジネスアイデアを確実に具現化！無溶剤UV硬化性塗料の評価事例…

当社に「無溶剤UV硬化性の塗料を、特殊PETフィルムの上に数ミクロンの ウェット膜を塗布して、UV硬化性の評価を行ないたい」というお客様からの ご要望・ご相談をいただきました。 このケースでは、UV積算光量と塗布厚みの限界が解っていないことや 塗布厚みを得るための版選定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社康井精機

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

とで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定可能。 ・DC電流経路を可視化。 ・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検出され、そこからリークが起きていることが示唆されました。 測定法：X線CT 製品分野：製造装置・部品、高分子材料、日用品 分析目的：形状評価、膜厚評価、構造評価、故障解析・不良解析、劣化調査・信頼性評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

した。 分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。 測定法：SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：微量濃度測定・形状評価・膜厚評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】リチウムイオン二次電池　Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

にサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来の形状を評価できました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによる抗菌コートの評価

各種表面処理を検証可能

ウィルス等に対する抗菌・殺菌効果を示す一方で、人体に対してはほぼ無害であることが知られており、無機系抗菌成分として広く使用されています。 試料表面に抗菌成分として存在するAgに着目して、抗菌コート膜の有無や耐久性を評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

n-situ TEMとの併用も可能となる。 【目次】 ASTARを用いたACOM-TEM法 ASTARを用いた分析例 【図表】 図１～４ 各手法における計測系の構成（模式図） Au蒸着膜におけるASTAR測定結果 劣化電池セル内LiNi1/3Co1/3Mn1/3O2におけるSTEM観察およびASTAR測定結果...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［GDMS］グロー放電質量分析法

特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

す。分析値は主成分元素と目的元素のイオン強度と、RSFから算出した値であり、半定量値です。 ・微量元素（ppbレベル）から主成分レベルまでのバルク分析が可能 ・μmオーダーの深さ方向分析、薄膜分析が可能 ・導電性材料、及び補助電極を用いることで半導体材料、絶縁物材料も分析が可能 ・質量分解能が高く、妨害イオンの除去が可能 ・水素と希ガスを除く、Ｌｉ以下のほとんどの元素について測定が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201901-02 ナノメートルスケール局所構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

M:金属型）、各チューブのRBMスペクトル 図３　AFM-Ramanスペクトル、D/G比分布 図４　交点のAFM-Ramanスペクトル 図５　近接場ラマンの光学系 図６　SiO2/SiC積層膜 図７　SiO2/SiC界面近傍の応力解析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

■電気容量変化によるキャリア分布の可視化 探針と半導体との接触箇所はMOS構造となり、半導体表面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。 この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動による...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【素材の受託分析・耐久試験分析】MSE受託試験

素材耐久分析、試験などまず精密比較してみませんか？材料の強さ傾向、多層…

パルメソでMSE試験を行います。試験したいもののサンプルをお預かりして、お客様のニーズに合わせて セッテングでき評価コメント付きのレポートとして提出いたします。 まずはMSE試験を試してみたいという方から、開発品の条件スクリーニングを行いたいという方まで大変好評いただいております。 試験の様子をご覧いただきたいお客様には、来社いただいての立ち合い試験も行っております。その場でデータ取得までを...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パルメソ

密着性・傷つきやすさの評価 - スクラッチ試験

　測定レンジの異なる3種類のスクラッチ試験機により、密着性や傷つきやす…

【評価項目】 ・薄膜の密着性の評価 ・ペイント、塗膜などの傷つきやすさの評価 【関連規格】 ・ISO20502:Fine ceramics (advanced ceramics, advanced techn...

メーカー・取り扱い企業： ナノテック株式会社

測定器、観察機器、試験機器

様々な測定器を駆使し、測定及び試験を行っております！

00 ■原子吸光分析装置 アナリティクイエナジャパン cotrAA300 ■EDXエネルギー分散型X線分析装置 TM3000 ■システム金属顕微鏡 オリンパスBX51M＆SZX7 ■蛍光X線膜厚測定装置 Fisher XDLM237 ■高度測定装置 アカシHM-122 ■ISO型塩水噴霧試験機 SUGA STP-90 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せくだ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイライト

塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞

共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調査が可能！ラマン分光分析装置…

当社では、塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞を 行っております。 塗装不良のひとつとして仕上げ面に異物が混入し、突起状に観察される 「ブツ」があります。この原因としては塗料に起因する塗...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【受託分析・試験事例】寿命設計は劣化度の正確な測定から

ものつくりは地球にサステナブルな国際目標SDGｓに多大な制限を受けます…

してMSE試験法を開発しました。 【MSE試験でできること】 ・セラミックス・金属・樹脂・ゴム材料を同じ尺度で比較できる ・硬さ（ヤング率）モードや靭性（脆さ）モードの特性も可視化 ・薄膜多層膜等の表面から内部までの連続した分布データを取得 ・応用して、材料の劣化のよる機械的特性の低下度も精密に試験可能 様々な材料開発プロセス開発の高速スクリーニングや 材料強さのDB作成に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パルメソ