膜 | イプロスものづくり

絞り込み条件

製品分類

メーカー・取扱い企業

ダイヤモンドライクカーボン膜（DLC）コーティング加工

PR金属から樹脂まで幅広く対応。金型や摺動部品の耐摩耗性向上に。メッキの代…

『PEKURIS COAT』は、当社独自のプラズマイオン注入成膜装置を使用し、潤滑性に優れたDLC膜をワークに形成するコーティング加工です。イオン注入効果により、高密着成膜が容易で、ステンレス鋼や工具鋼、アルミ合金等にも成膜可能。また、低温での処理が可能で、融点の低い樹脂やゴム、アルミなどにも対応しております。 DLCコーティングでお困りの方は、ぜひお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社栗田製作所本社・京都事業部
高圧ジェットで高速レジスト剥離！半導体製造用リフトオフ装置

PR【超高圧ジェットでメタル＆レジスト除去】ASAP専用ノズルで、枚葉によ…

【特長】 ■最大20MPaの超高圧ジェットを噴射 ■リフトオフ時のバリの除去 ■メタルの再付着なし！ ■薄いウエーハでも割れる心配なし ■レジスト、ポリマー、マスクの洗浄としても使用可能 ■薬液のリサイクルシステム（オプション）超高圧ジェットリフトオフは熱やプラズマの影響で取れづらくなったレジストをきれいに除去可能！昔はDIPプロセスで簡単に除去できていたものがだん...
メーカー・取り扱い企業：株式会社エイ・エス・エイ・ピイ
ご希望者全員プレゼント！医薬品・医療機器 MST分析事例集

医薬品・医療機器に関する分析事例をまとめて掲載！ご希望者全員に無料プレ…

価　　　・臓器断面の組成分布評価　　　・毛根の成分分析　　　・毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価　　　・クライオSEM観察～ミクロな世界を覗いてみよう～　　　・クライオSEMによる塗膜乾燥過程の構造観察　　　・液状・半固形製剤の形態観察　　　・GC/MSによる未知成分の定性分析 ■医療機器分野　　　・歯のエナメル小柱の断面観察　　　・粉体異物の複合解析　　　...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の発光を検出。発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
『設備校正サービス』

◆◆メーカーでしか出来ないと思っていませんか？　現地校正なら是非大王電…

ダイヤルゲージ、シリンダゲージ ○トルク・質量類 →トルクレンチ、トルクドライバ、トルクメータ、　プッシュプルゲージ、フォースゲージ ○その他機械計器 →回転計、ストロボスコープ、　膜圧計、力量計、動歪計、静歪計 ○環境理化学計器 →振動計、騒音計、風速計、水質計、照度計、比重計 ○計装機器 →差圧伝送器、圧力伝送器、圧力計、電磁流量計、渦流量計 ○その他 →温湿度記...

メーカー・取り扱い企業：大王電機株式会社
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

します。・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可）・0.1nmφ～の細い電子線プローブで測定が可能・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【目的別事例】商品の開発・改良に向けた試作をしたい

お客様のビジネスアイデアを確実に具現化！無溶剤UV硬化性塗料の評価事例…

当社に「無溶剤UV硬化性の塗料を、特殊PETフィルムの上に数ミクロンのウェット膜を塗布して、UV硬化性の評価を行ないたい」というお客様からのご要望・ご相談をいただきました。このケースでは、UV積算光量と塗布厚みの限界が解っていないことや塗布厚みを得るための版選定...

メーカー・取り扱い企業：株式会社康井精機
EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

とで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評価可能・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

箇所の特定を行う手法です。・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。・コンタクトの抵抗異常を特定可能。・配線ショート箇所を特定可能。・DC電流経路を可視化。・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【故障解析事例】静電気破壊の再現実験

プラズマFIB装置を用いて断面を観察！広く破壊されている様子が確認され…

【半導体チップの故障原因】 ■IGBT製造上の問題・ゲート絶縁膜破壊・接合リーク ■実装、使用上の問題・静電気破壊・アバランシェ破壊など ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業：株式会社クオルテック
【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始

有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！従来より空間分解能…

有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。 MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
＼無料プレゼント！／食物アレルギー（アレルゲン）検査基礎知識集

食物アレルギー表示制度の概要や通知法に記載の検査方法を弊社独自にわかり…

～10営業日お時間をいただき多検体処理することで、お手頃な価格帯を実現しています。【PCR法 DNA抽出法について】オリジナルを含む4種類からお選びいただけます。 ◆CTAB抽出 ◆シリカゲル膜抽出 ◆イオン交換樹脂抽出 ◆VB高精製抽出 ※「VB高精製抽出」はDNA精製力を高めつつ、価格を抑えた当社オリジナルの抽出法です。...

メーカー・取り扱い企業：ビジョンバイオ株式会社
【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検出され、そこからリークが起きていることが示唆されました。測定法：X線CT 製品分野：製造装置・部品、高分子材料、日用品分析目的：形状評価、膜厚評価、構造評価、故障解析・不良解析、劣化調査・信頼性評価、製品調査詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

した。分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。測定法：SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野：パワーデバイス分析目的：微量濃度測定・形状評価・膜厚評価・構造評価・製品調査詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

SiO2膜の不純物の評価

アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

STEMにより、AlGaN/GaN界面近傍の結晶整合性を確認しました。また、EELSにより組成分布の評価を行いました。測定法：TEM・EELS 製品分野：パワーデバイス分析目的：構造評価・膜厚評価詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】リチウムイオン二次電池　Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

にサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来の形状を評価できました。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

析、(2)結晶面方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用した例を示します。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】有機EL素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメントイオンが得られ、Slope面のTOFSIMS分析が有機多層膜の成分分析手法として有効な手段であることが確認されました。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】二酸化ケイ素の構造解析

非晶質（ガラス）二酸化ケイ素（SiO2）のラマン散乱分光法による構造解…

二酸化ケイ素（SiO2）は半導体における絶縁膜・FPDの基板材料・光学材料・医療機器から装身具に至るまで幅広く用いられていますが、非晶質であるガラスとして構造解析を行うことは非常に困難です。ガラス中でSiO2が環状に結合することに着目し、ラマン...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加していた現象を見出しました。このようにTOF-SIMSでは元素分析では得られない、無機物の分子情報の深さ方向分布を評価することが可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

ーザー）の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差やバンドの曲りを反映していると考えられます。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価

温度保持中の脱ガス強度の変化を調査できます

TDSは高真空中で試料を昇温、または温度を一定に保持した状態で、脱離するガスをリアルタイムに検出する手法です。 Si基板上SiN膜について350℃で温度を保持し、H2の脱離量を調査した例を示します。単純昇温では500℃付近に脱ガスピークが確認されましたが、350℃で温度保持中はH2の検出強度は低下し、再昇温時に脱ガスピーク...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】Siウエハの保管状態による表面汚染評価

フッ酸処理で酸化膜を除去したSiウエハの汚染・酸化の評価

試料搬送時の汚染及び酸化の影響についての知見は、検出深さがnmオーダーの表面分析において重要です。そこで、保管方法の違いによる汚染･酸化の影響をSiウエハにおいて検討致しました。薬包紙・アルミホイル保管では、一般的に見られる二次汚染による有機物のピークは弱い傾向が見られます。試料保管・搬送時にアルミホイルのつや無し面で包んで保管すると、他の保管方法に比べて汚染、酸化を抑制することができます。....

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】低分子シロキサンの定量分析

アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します

シリコーン製品からアウトガスとして発生するシロキサンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチル...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】XPSによる抗菌コートの評価

各種表面処理を検証可能

ウィルス等に対する抗菌・殺菌効果を示す一方で、人体に対してはほぼ無害であることが知られており、無機系抗菌成分として広く使用されています。試料表面に抗菌成分として存在するAgに着目して、抗菌コート膜の有無や耐久性を評価した事例をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能

のデータ信号配線とゲート電極配線の交差部（4μm×10μm）を、基板側から分析（SSDP-SIMS）した例を示します。基板側から測定（SSDP-SIMS）を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜などの影響がないデータの提供が可能となります。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】CMOSセンサの総合評価

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

CMOSセンサチップをそれぞれ取り出し、評価した事例をご紹介します。目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM,SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
アスベスト事前調査｜資格者要件義務化に対応【資格者100名以上】

その工事、アスベストの事前調査はできていますか？調査から対策までワンス…

ポンプ」・国産ディーゼルエンジンとドイツ製プランジャーポンプを組み合わせた高性能ユニット・最高245MPaの出力で、徹底的な防音・防振対策により低騒音を実現「ろ過器」・親水性PTFE膜を採用。ろ過精度0.15μm・99％の高清浄度を実現...

メーカー・取り扱い企業：エヌエス環境株式会社営業本部
技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

n-situ TEMとの併用も可能となる。【目次】 ASTARを用いたACOM-TEM法 ASTARを用いた分析例【図表】図１～４各手法における計測系の構成（模式図） Au蒸着膜におけるASTAR測定結果劣化電池セル内LiNi1/3Co1/3Mn1/3O2におけるSTEM観察およびASTAR測定結果...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター
［RBS］ラザフォード後方散乱分析法

固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

n Analysis）とも呼びます。・BからUまでの元素の分析が可能(HFSによりHも可) ・標準試料を用いることなく定量分析が可能・深さ方向の組成分布が得られる・他手法で得られた膜厚情報より、密度の算出が可能・重元素ほど感度がよく、精度が高くなる傾向にある・非破壊分析...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
ＰＶ（太陽電池）各種評価事例集

太陽電池（ＰＶ）の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO　2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。 [掲載内容] 有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価や、電極直下のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例、成膜したCIGS薄膜の組成について、ICP-MSで高精度に定量した事例、CIGSとCdSがヘテロエピタ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
［GDMS］グロー放電質量分析法

特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

す。分析値は主成分元素と目的元素のイオン強度と、RSFから算出した値であり、半定量値です。・微量元素（ppbレベル）から主成分レベルまでのバルク分析が可能・μmオーダーの深さ方向分析、薄膜分析が可能・導電性材料、及び補助電極を用いることで半導体材料、絶縁物材料も分析が可能・質量分解能が高く、妨害イオンの除去が可能・水素と希ガスを除く、Ｌｉ以下のほとんどの元素について測定が...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
技術情報誌 201901-02 ナノメートルスケール局所構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

M:金属型）、各チューブのRBMスペクトル図３　AFM-Ramanスペクトル、D/G比分布図４　交点のAFM-Ramanスペクトル図５　近接場ラマンの光学系図６　SiO2/SiC積層膜図７　SiO2/SiC界面近傍の応力解析...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター
「鉄細菌　顕微鏡観察」鉄細菌（鉄バクテリア）の検出・観察を受託

鉄細菌の種類（Gallionella，Leptothrix，Sphae…

細菌は鉄バクテリアや鉄細菌と呼ばれます。鉄細菌等を含めた糸状微生物 (主に糸状細菌) は、溶存鉄を含む地下水が湧き出ている場所から検出されたり、微生物腐食、活性汚泥のバルキング (膨化) や生物膜の閉塞の原因生物となり、排水等の生物的処理施設を維持管理するうえで問題となります。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社テクノスルガ・ラボ
硬さ試験機による受託サービス｜JTL

硬さ試験機を用いて試料の材質・構造に合わせた硬度測定を行います。

ック・プラスチック・ゴム（一般ゴム・硬質ゴム）・エラストマー（中硬さ・高硬さ）が主になりますが、その他の材料にもご対応可能です。（※一部の材料、構造体にはご対応できないことがあります。）【薄膜・微小領域・低荷重の測定にもご対応】マイクロビッカース硬さ試験機は試験力を0.4903mNから19610mNまで任意で選択することが可能なため、コーティングやメッキのような薄い膜や、ICのボンデ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

■電気容量変化によるキャリア分布の可視化探針と半導体との接触箇所はMOS構造となり、半導体表面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動による...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
IT技術『ライフサイエンス分野における実験研究サポート』

薬剤候補化合物探索のための実験を速やかに開始できるようにサポート

【myPrestoについて】 ○AMED、経済産業省及びNEDOからの委託で実施されたプロジェクトの中で開発された、医薬品開発支援の分子シミュレーションシステム ○タンパク質等のモデリング、膜蛋白の計算、薬物ドッキング・薬物スクリーニング等を高速に行うことができる【バイオモデリングリサーチ　サービス紹介】 ○その他、研究用の計算機プログラム作成、データ解析等、お客様のご要望に応...

メーカー・取り扱い企業：株式会社バイオモデリングリサーチ
シミ分析の受託サービス｜JTL

試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。

の広がり具合を調査マッピング分析により、シミの広がり具合を調査できます。元素を濃度で色付けすることにより、視覚的にサンプルの状態を把握することが可能です。 ●薄いシミも分析可能酸化膜等の、ナノオーダーの非常に薄いシミも分析可能です。 ESCA/XPSを用いることにより、表面nmからの分析に対応しております。また、イオンスパッタリングにより、深さ方向の分析も可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
分離・分析関連業務

目的物質の抽出・分離、精製の各プロセスの策定および最適化検討試験を受託…

たい」などのお悩みをお持ちの方、当社にお任せください。目的物質の抽出・分離、精製の各プロセスの策定および最適化検討試験を受託いたします。分離方法は各種クロマトグラフィーおよび膜分離で、分析・分取の各目的への対応が可能です。【受託試験の流れと実験項目】 1.ご相談/ご依頼 2.前処理方法のスクリーニングと最適化検討 3.分離、分析方法のスクリーニングと最適...

メーカー・取り扱い企業：株式会社テクノプロ　テクノプロ・R＆D社本社
受託成膜・受託分析

各種成膜・表面処理・塗布加工や、受託測定のことなら当社へお任せください

アイゲート株式会社は『受託成膜・受託分析』を承っております。「受託成膜」では、Si、ガラス、フィルムなどの真空成膜加工が可能なほか、エッチングや表面処理、塗布加工にも対応。また「受託分析」では、高性能水蒸気・...

メーカー・取り扱い企業：アイゲート株式会社本社
【素材の受託分析・耐久試験分析】MSE受託試験

素材耐久分析、試験などまず精密比較してみませんか？材料の強さ傾向、多層…

パルメソでMSE試験を行います。試験したいもののサンプルをお預かりして、お客様のニーズに合わせてセッテングでき評価コメント付きのレポートとして提出いたします。まずはMSE試験を試してみたいという方から、開発品の条件スクリーニングを行いたいという方まで大変好評いただいております。試験の様子をご覧いただきたいお客様には、来社いただいての立ち合い試験も行っております。その場でデータ取得までを...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パルメソ
密着性・傷つきやすさの評価 - スクラッチ試験

　測定レンジの異なる3種類のスクラッチ試験機により、密着性や傷つきやす…

【評価項目】・薄膜の密着性の評価・ペイント、塗膜などの傷つきやすさの評価【関連規格】・ISO20502:Fine ceramics (advanced ceramics, advanced techn...

メーカー・取り扱い企業：ナノテック株式会社
【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。ぜひPDF資料をご一読ください。弊社では...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
測定器、観察機器、試験機器

様々な測定器を駆使し、測定及び試験を行っております！

00 ■原子吸光分析装置アナリティクイエナジャパン cotrAA300 ■EDXエネルギー分散型X線分析装置 TM3000 ■システム金属顕微鏡オリンパスBX51M＆SZX7 ■蛍光X線膜厚測定装置 Fisher XDLM237 ■高度測定装置アカシHM-122 ■ISO型塩水噴霧試験機 SUGA STP-90 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せくだ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ハイライト
塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞

共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調査が可能！ラマン分光分析装置…

当社では、塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞を行っております。塗装不良のひとつとして仕上げ面に異物が混入し、突起状に観察される「ブツ」があります。この原因としては塗料に起因する塗...

メーカー・取り扱い企業：株式会社大同分析リサーチ
【受託分析・試験事例】寿命設計は劣化度の正確な測定から

ものつくりは地球にサステナブルな国際目標SDGｓに多大な制限を受けます…

してMSE試験法を開発しました。【MSE試験でできること】・セラミックス・金属・樹脂・ゴム材料を同じ尺度で比較できる・硬さ（ヤング率）モードや靭性（脆さ）モードの特性も可視化・薄膜多層膜等の表面から内部までの連続した分布データを取得・応用して、材料の劣化のよる機械的特性の低下度も精密に試験可能様々な材料開発プロセス開発の高速スクリーニングや材料強さのDB作成に...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パルメソ