• 金型離型剤『フロロサーフ FG-5093シリーズ』 製品画像

    PR圧倒的な離型性。刷毛・スプレーで塗布が簡単。膜厚はわずか数nm、再塗布…

    『フロロサーフ FG-5093』は、特殊なフッ素樹脂を 不燃性のフッ素系溶剤に溶解させた金型離型剤です。 塗布することで、表面の成形樹脂の付着力が低減され、 複雑・精密な形状でも抜群の離型性を発揮します。 持続性に優れ、数千ショットに及ぶ連続離型の実績があるほか、 刷毛・スプレー等で再塗布すれば性能が再び復活します。 【特長】 ■型素材に反応して強力に密着し、連続離型が可...(つづきを見る

  • 背負って歩くだけで3Dスキャン!ウェアラブルレーザースキャナ 製品画像

    PR【計測時間が三脚式3Dスキャナの約1/10】簡単・迅速・便利!軽量のレ…

    『HERON』は、レーザースキャナーを背中に装着し、計測したい場所を 歩くことで周囲の3Dデータが取得できるレーザースキャナです。 オペレーターはタブレット端末で計測状況をリアルタイムに確認できるため、 現場に戻って再計測するという無駄な作業は無くなります。 データの処理は基本的にデスクトップソフトウェアにて自動化され、 後工程に使用される汎用的なデータにエクスポートされます。 ...(つづきを見る

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像カタログあり

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また...(つづきを見る

  • [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法 製品画像カタログあり

    ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

    して検出することになります。このような局所的な抵抗を広がり抵抗と呼びます。 ■ダイヤモンドコート探針 SSRM では、主に、ダイヤモンドコートされたシリコン製の探針を用います。この先端は数十nm 程度まで先鋭化されており、特に尖りの部分は数nmの鋭利さを持ちます。SSRMはこの微細な探針の直下のキャリアを検出するため、高分解能の計測が可能です。 ...(つづきを見る

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像カタログあり

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm)...(つづきを見る

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定量が可能 ・主成分...(つづきを見る

  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Che...(つづきを見る

  • ウルトラミクロトーム加工 製品画像カタログあり

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

    ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。 室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固...(つづきを見る

  • Arイオンミリング加工 製品画像カタログあり

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...(つづきを見る

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像カタログあり

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サン...(つづきを見る

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像カタログあり

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能...(つづきを見る

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像カタログあり

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    れます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可) ・0.1nmφ~の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...(つづきを見る

  • [UV-Vis]紫外可視分光法 製品画像カタログあり

    UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

    定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率測定では、試料中の成分に特有の透過特性を評価できます。 ・紫外~可視~近赤外領域(波長域約190nm~約3000nm)における吸収スペクトル・透過スペクトルの取得が可能。...(つづきを見る

  • 膜分析の受託サービス|JTL 製品画像カタログあり

    メッキや薄膜、多層膜の分析を多彩な手法で適切に実施致します。

    SEMで観察します。 膜厚が約10μmまでなら、凹凸のない研磨が可能です。それ以上の薄膜の観察をご希望の場合は、イオンミリング(CP加工)を推奨します。 ・イオンミリング(CP加工):100nmオーダーでの観察 イオンミリング(CP加工)を行い、観察では100nmオーダーで観察可能です。 イオンビームによる加工は材料の硬さの違いに影響されにくく、硬軟質の複合材料でも凹凸が非常に少ない研...(つづきを見る

  • [SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法 製品画像カタログあり

    SMM は、固体金属探針(Pt 製) を用いて計測試料を走査し、その凹…

    、マイクロ波は探針から遠ざかると急激に減衰するため、反射に寄与する領域は探針の直下に限定されます。この反射に寄与する領域の大きさが空間分解能とみなせます。キャリア濃度の高い領域では、空間分解能は10nm 程度まで小さくなりますが、キャリア濃度の低い領域では、数百nmに低下します。...(つづきを見る

  • CTスキャン受託サービス 製品画像カタログあり

    産業用CTスキャナによる非破壊検査・三次元測定

    【phoenix nanotom m】 X線管タイプ ナノフォーカス・オープンチューブ 最大管電圧/最大出力 180 kV / 15 W 倍率 1.5 - 300 倍 最小検出能 200 nm 最小ボクセルサイズ 300 nm 最大試料径 240 mm 最大試料高さ 250 mm 最大試料重量 3 kg 試料稼動範囲(Y軸/Z軸) 250 mm / 400 mm...(つづきを見る

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像カタログあり

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能...(つづきを見る

  • [SIMS]二次イオン質量分析法 製品画像カタログあり

    二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含ま…

    ・高感度(ppb~ppm) ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い(主成分元素から極微量不純物まで) ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数~数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析...(つづきを見る

  • 白色干渉計測法 製品画像カタログあり

    非接触・非破壊で3次元測定可能

    三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊で三次元測定が可能 ・広い視野(50μm×70μm ~ 5mm× 7mm) ・高垂直分解能(0.1nm) ・広いダイナミックレンジ(<150μm)...(つづきを見る

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の...(つづきを見る

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像カタログあり

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    ■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面に近づくと探針の振動振...(つづきを見る

  • 粉末素材【粉砕テスト、委託粉砕も承ります】 製品画像カタログあり

    「ナノパウダー」の作製や、「扁平磁性粉末」の作成に対応する装置を完備!

    【ビーズミルの特長】 ■微小ビーズによるナノ領域まで粉砕 ■100~150nmレベルまで粉砕 ■水系、アルコール系溶媒による粉砕 【スプレードライヤによる乾燥造粒化】 <概略仕様> ■溶剤蒸発量:4kg/h(水系も可) ■雰囲気:N2、Air ■噴霧方式:...(つづきを見る

  • シミ分析の受託サービス|JTL 製品画像カタログあり

    試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。

    けすることにより、視覚的にサンプルの状態を把握することが可能です。 ●薄いシミも分析可能 酸化膜等の、ナノオーダーの非常に薄いシミも分析可能です。 ESCA/XPSを用いることにより、表面nmからの分析に対応しております。また、イオンスパッタリングにより、深さ方向の分析も可能です。 ...(つづきを見る

  • 認定校正サービス 製品画像

    国際MRA対応 JCSS認定校正事業者です。

    各種EMCアンテナ、測定器、イミュニティ-用シミュレータの校正が可能です。 標準器のトレーサビリティ-をNPL(英国)、NMI(豪州)両国際標準に直接つなぐことで信頼性の高い不確か性を実現致します。 大阪計測センターにANSI C63.5 2006年版(付録H)適合のグランドプレーン(サイズ30m×20m)を保有しております。 試験所のシステム全てを校正管理するトータル校正サービスも行な...(つづきを見る

  • 短時間で広範囲!  超音波探傷検査  『フェイズドアレイ検査』 製品画像カタログあり

    腐蝕検査の先駆け! 短時間で広範囲に検査ができ、鋼材の損傷・腐蝕の定量…

    フェイズドアレイ検査とは、超音波探傷法を活用して 塗膜や錆の除去など下処理が不要で、かつデータ取り込後持ち帰り評価も可能。 通常の超音波装置に比べ、作業性にも優れています。 (※オリンパス製【Olympus Omniscan-MX2】使用) 【お客様の課題】 水管の表面錆がひどく、内部減肉を定量的に調査したいが、 通常超音波測定の結果は点の測定結果となる。 ...(つづきを見る

  • X線透視・CTシステム【ハイコントラストな内部検査を実現!】 製品画像カタログあり

    ハイコントラストな内部検査を実現したX線透視・CTシステム!3次元画像…

    テスコ株式会社では、お客様のサンプルにあわせたシステムを最適化して納入します。3次元画像も充実し、ハイコントラストな内部検査を実現します。測定ワークフローをマクロで自動化対応も可能です。ラインナップ多数ありますので、対象サンプルや用途に応じて、出力や機能をお選びいただけます。 【ラインアップ例】 ■高出力X線透視/CTシステム ■高出力マイクロフォーカスX線透視/CTシステム ■マイク...(つづきを見る

  • 非破壊検査 の 超音波探傷検査  『フェイズドアレイ検査』 製品画像カタログあり

    腐蝕検査の先駆け!! 短時間で広範囲に検査ができ、鋼材の損傷・腐蝕の定…

    弊社は、モノ作りのステージにおいて非破壊検査技術サービスを提供し、安全性・信頼性確保の為の役割を担っております。 フェイズドアレイ検査とは、超音波探傷法を活用して塗膜や錆の除去など下処理が不要で、かつデータ取り込後持ち帰り評価も可能です! 通常の超音波装置に比べ、作業性にも優れています! (※オリンパス製【Olympus Omniscan-MX2】使用) 【特長】 ◆ 検査時間の...(つづきを見る

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