• 【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ  ※カタログ進呈 製品画像

    【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ ※カタログ進呈

    PRラボスケールでの高精度塗布を実現。低粘度から高粘度まで、実験・試作段階…

    『リサーチコータ』は、液晶や有機ELディスプレー製造工程で 数多くの採用実績を誇る「コーターデベロッパー」の高度な塗布技術を ラボスケールに展開したスリットコータ(ダイコータ)です。 塗布部にはスリット式塗布装置「リニアコータ(TM)」を搭載。 1~10,000mPa・sの低粘度から高粘度の塗布材料を、ガラス基板、樹脂基板、 フィルム、金属箔など様々な基材に高精度にスリットコートでき...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SCREENファインテックソリューションズ

  • 蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo(デオポ)』 製品画像

    蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo(デオポ)』

    PR装置全体をコンパクト化し組立た状態で運搬する為設置工事を簡略化 !生…

    『Deopo(デオポ)』は、従来の蓄熱燃焼式脱臭装置「RTO」の3塔式と回転式の 優れている要素を併せ持ち、ワンユニットにパッケージ化した装置です。 VOCの処理効率は98%以上、温度効率は95%以上の性能を持ち、従来品に比べ、 パージ部分の体積を最小にすることによりコンパクト化することが出来ました。 また、工場で組立した状態で運搬可能なサイズなので、標準装置の場合は 現地の荷降...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーマルプラント

  • MTF調芯コリメーター式アクティブアライメント装置 製品画像

    MTF調芯コリメーター式アクティブアライメント装置

    【動画有】カメラのタクト短縮、品質向上が可能! 組立調整が短時間で完…

    ラモジュールの5軸自動調整及びMTF解像度のオンライン測定 ○測定方式   :MTF測定エッジファンクション ○光学特性   :有限~無限遠(指定)正投影方式 ○カメラ波長範囲:400~700nm   ※オプションでIR(850nm、940nm)対応可能 ○対象レンズ画角:40~190° ○調芯時間   :10s(UV硬化時間などは除く) ○固定方式   :調芯後にUV接着 ○光源...

    メーカー・取り扱い企業: 京立電機株式会社

  • マイクロレンズ用透過波面収差測定検査装置 製品画像

    マイクロレンズ用透過波面収差測定検査装置

    マイクロレンズの評価を行う際に形状は問題なく出来ているようでも、実際に…

    となっています。弊社は、独自の技術を用いマイクロレンズの透過波面収差測定を行い、マイクロレンズ評価を行うシステムをご提供いたします。干渉計を用い、対応レンズ径範囲30μm〜500μm、対応波長633nm/1310 nm/1550 nmでのユーザカスタマイズを行い、システムを設計・製作いたします。 1310 nm/1550 nmを用いることにより、通信分野マイクロレンズの評価も可能となります。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプトデザイン

  • 【画像・計測用】青色/緑色系レーザー光源 製品画像

    【画像・計測用】青色/緑色系レーザー光源

    ご要望により各種光学系に対応!青色/緑色系波長で長寿命で安定した性能が…

    対象物に対応出来る波長・出力が 新たにラインアップ。 青色/緑色系波長で従来より長寿命で安定した性能が得られます。 【特長】 ■波長・出力(その他の波長にも応じます。)  ・405nm:35mW.100mW  ・450nm:100mW  ・520nm:50mW.80mW ■高反射対象物の検査に有効 ■簡易外部焦点調整 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトレックス

  • 【紫外域対応】配光測定システム BaseSpion 製品画像

    【紫外域対応】配光測定システム BaseSpion

    ベンチトップ型UV対応配光測定装置

    ド:5°/step(C-planeあたり20秒) 角度分解能HIGHモード:0.1°/step(C-planeあたり5分) 分光器タイプ:高感度透過型1024ピクセル 波長範囲:360-830nm 【LabSensor UV-VIS】 波長範囲:190-850nm(2048ピクセル)...

    メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社

  • 反射率・表面色測定システム 製品画像

    反射率・表面色測定システム

    反射率・表面色測定システム

    どです。本システムは、反射率・表面色オンラインモニタリングし、その値をエクセルに出力することが可能です。 システム構成例 ■ 分光器: 高感度分光器AvaSpec-2048-USB2、360nm〜780nm ■ 光源: ハロゲン光源AvaLight-HAL、360nm〜2500nm ■ アクセサリー: リフレクションプローブ、積分球、標準反射板など ■ ソフトウェア: 基本ソフトウェ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • LED測定システム 製品画像

    LED測定システム

    LED測定システム

    ができます。また、アヴァンテス社では光源の提供もしておりますので、柔軟な測定をご希望の方にもお薦めです。 システム構成例 ■ 分光器: 高感度分光器AvaSpec-2048-USB2、360nm〜780nm ■ 光源: ハロゲン光源、360nm〜2500nm ■ アクセサリー: ファイバー、積分球など ■ ソフトウェア: 分光放射照度測定用ソフト、エクセル出力用ソフトなど ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • 高速・高精度複屈折測定装置『ABR-100』 製品画像

    高速・高精度複屈折測定装置『ABR-100』

    従来の10倍速以上の高速測定へ!ABRの信頼はそのままに、高速測定が可…

    【その他の特長】 ■測定範囲 ・複屈折位相差:0~260nm ・主軸方位:±90deg. ■繰り返し精度 ・複屈折位相差:±0.03nm / ±0.10nm ・主軸方位:- / ±0.5deg. ■測定時間:0.1秒/点(位相差と主軸方位の同時計測...

    メーカー・取り扱い企業: ユニオプト株式会社

  • 赤外LED配光測定システムOP-GONIO-NIR-SR100 製品画像

    赤外LED配光測定システムOP-GONIO-NIR-SR100

    配光特性の測定が近赤外域でも可能!!

    オーシャンフォトニクス社製の『OP-GONIO-NIR-SR100』は、900~1700nmの近赤外LEDの配光特性を測定する”小型赤外LED測定用配光測定システム”です。 サンプルを水平方向(Φ)と鉛直方向(θ)の2軸制御を行い、自動かつ簡易的にサンプルの配光特性が可能になります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • ファイバー入射型分光器用光源、光ファイバー、アクセサリー 製品画像

    ファイバー入射型分光器用光源、光ファイバー、アクセサリー

    分光器と組み合わせてあらゆる計測用途に対応する校正・計測用光源や光ファ…

    AvaLight-HAL-S-MINIは、可視域~近赤外域でベストな光源が得られるタングステン・ハロゲン光源 特長 ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波長レンジ:360-2500nm ●外部へのファイバー出力 ●カラー計測に最適 AvaLight-DH-Sは、重水素・ハロゲン光源で紫外から近赤外まで広範囲に対応なパワフルで万能型の光源 特長 ●重水素とハロゲンを組...

    メーカー・取り扱い企業: フォトテクニカ株式会社

  • センサ分光感度測定システム『VC-250』 製品画像

    センサ分光感度測定システム『VC-250』

    光量リアルタイムフィードバック機構により、基本的なリファレンス測定は不…

    【仕様(抜粋)】 ■測定項目:分光感度・量子効率・I-V特性(オプション) ■波長範囲:300~1300nm(~1700nm拡張可) ■単色光部 光源:キセノンランプ+ハロゲンランプ(光合成方式) ■単色光部 照射面積:10×10mm(40×40mm対応可) ■波長純度:約10nm(可変可能) ...

    メーカー・取り扱い企業: 分光計器株式会社

  • 光計測・センシング用光スイッチユニット 製品画像

    光計測・センシング用光スイッチユニット

    光信号計測や光センシング機器、光通信機器の光路切替や相互接続に最適なオ…

    要は次の通りで、筐体サイズは光コネクタ数に依存します。(ラックマウント2RUまで) カスタム仕様対応検討も可能ですので仕様詳細と併せお尋ね下さい。 【対応仕様】 1.光信号波長域:標準1260nm~1640nm        (カスタム対応350nm~2100nmの範囲でレンジ指定) 2.ファイバ種:SMF及びMMF(製品による) 3.コネクタ種:FC/APC,UPC、SC/APC,U...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファーストライト

  • 分光測定装置 OCM-510 シリーズ 製品画像

    分光測定装置 OCM-510 シリーズ

    光源の質と量の測定を追求した分光測定装置です。

    ライトトリガ機能)を搭載し、パルス発光の測定にも対応。 ✔外部同期信号入力機能(スタートイントリガ機能)を搭載し、外部機器と簡単に同期。 ✔波長範囲に応じて3モデルをご用意(通常:300~800nm・UN:200~950nm・VN:350~1100nm)。 ✔メカニカルシャッタ搭載モデルもご用意(オプション)。 ✔PCとの通信インタフェースにUSBまたはLANを採用。 ✔分光器制御と色計...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプトコム

  • UV/VIS使い捨てキュベット『CVDシリーズ』 製品画像

    UV/VIS使い捨てキュベット『CVDシリーズ』

    透過測定、蛍光測定に適した使い捨て分光測定用キュベット。

    『CVDシリーズ』は、2次汚染のリスクを防ぐ使い捨てキュベットです。 「CVD-UV」は、波長範囲220 - 900 nmに対応した紫外域測定用キュベット。 また「CVD-VIS」は、波長範囲350 - 900 nmに対応した 可視域測定用キュベットとなります。 どちらのキュベットとも1 cm角のキュベットと...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 卓上型真空紫外分光光度計『KV-202』 製品画像

    卓上型真空紫外分光光度計『KV-202』

    従来の真空対応タイプに比べコンパクト・高分解・高安定性を実現しました!

    分離し、一方は光源の変化を補整するモニター用 として検出。もう一方は試料に照射するセミダブルビーム方式を採用し、 高安定な透過率スペクトル測定が可能です。 【特長】 ■波長120~300nm(真空紫外領域)の透過スペクトル測定 ■窒素パージ型分光器採用で、高分解&高安定を実現 ■特殊フィルムや特殊基板などの評価に好適 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ...

    メーカー・取り扱い企業: 分光計器株式会社

  • EVERFINE社 UV光源放射測定システムPCE-2000UV 製品画像

    EVERFINE社 UV光源放射測定システムPCE-2000UV

    ・低価格、高感度&高精度測定! ・UV A/B/C対応(200~45…

    Everfine社が誇るUV光源放射測定システム。 200~450nmの測定に対応。 積分球はφ0.3m/φ0.5mが選択可能。 検出器:TE冷却アレーCCD 積分時間:9ms~60s 入力:光ファイバー 波長精度:±0.1nm...

    メーカー・取り扱い企業: アンテナテクノロジー株式会社

  • PIV用 YAGレーザー: Vlite 製品画像

    PIV用 YAGレーザー: Vlite

    135, 200mJ@15Hz 380, 500mJ@10Hz ≥20…

    ・高出力エネルギー:10mJ~500 mJ @ 532 nm ・kHz時に50mJ出力 ・オプションで355nm、266nmの選択が可能 ・繰返しは途切れることなく調整が可能 ・均一なビームプロフィルデザイン ・短いジッターにより高い精度での同期が...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムスクェア 東京営業所

  • レーザー誘起ブレークダウン分光分析計 レンタル 製品画像

    レーザー誘起ブレークダウン分光分析計 レンタル

    Arガスパージ機能で元素周期表の軽元素を現場で測定可能なLIBZアナラ…

    【仕様】 ○技術:レーザー誘起ブレークダウン分析 ○レーザー規格:IEC60825-1に基づいたClass3B(1064mm)に準拠 ○測定範囲:Z-200(185~675nm), Z-100 (240-650nm) ○分析元素:H(水素)~U(ウラン)※一部条件付 ○LOD(検出限界):元素によって異なる(ppm~) ○分析時間:2秒~(測定対象によって異なる) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レックス

  • 絶対量子効率計測システム『QE-SA100』 製品画像

    絶対量子効率計測システム『QE-SA100』

    レバーの上下でサンプル設置が簡単!安定した測定が可能な量子効率計測シス…

    【仕様】 ■素子数:2048(H)×64(V) ■素子温度:-15℃(一定) ■素子メーカー:浜松ホトニクス社 ■波長範囲:380nm~780nm ■光源:450nm LED ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ラムダビジョン 営業

  • 高濃度測定用分光光度計『OD-10』 製品画像

    高濃度測定用分光光度計『OD-10』

    サンプルへの入射光は擬似平行光になっており、装置由来の干渉を低減してい…

    まな低透過率のサンプル測定に好適。 ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式の組み合わせにより 高精度測定が可能となりました。 【特長】 ■可視光領域(波長350~700nm)において、光学濃度OD10までの測定が可能 ■サンプルの多重反射光や装置の迷光を低減 ■サンプルへの入射光は擬似平行光 ■装置由来の干渉スペクトルが低減 ※詳しくはPDF資料をご覧いた...

    メーカー・取り扱い企業: 分光計器株式会社

  • 小型分光吸光度測定器『Absorptlyzer』 製品画像

    小型分光吸光度測定器『Absorptlyzer』

    高信頼性・迅速・簡易的!用途に応じた場所で測定可能な小型分光吸光度測定…

    【仕様】 ■波長分解能:1.3〜3.4nm、2.3nm(平均値) ■電圧:5V ■最大消費電力:0.5W(USB電源) ■測定波長域:450-650nm ■カスタム/OEM対応可 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イグシス

  • 分光イメージングユニット 製品画像

    分光イメージングユニット

    スキャニング操作を加えることにより、2次元データ取得が可能!

    【仕様 SPECT-100vis(可視タイプ)】 ■測定波長域(nm):380-780 ■逆線分散(nm/mm):116.35 ■波長分解能:3.5nm(20μslit) ■最小読み幅 *2):約0.43nm ■空間解像度 *1):約600本/全体幅 *...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分光応用技術研究所 本社

  • 光測定装置『Effect Optical System II』 製品画像

    光測定装置『Effect Optical System II』

    LED開発のスピード、作業性、製品の品質向上に貢献します。

    「Effect Optical System II(EOS-II)」は、光計測と電気計測を一発かつ短時間で実現する、LED光計測に完全特化した測定装置です。 200~850nmの幅広い波長領域を精確に解析し、LED開発のスピード、作業性、製品の品質向上に貢献します。 分光器とシステムソースメーターの連動により、容易に光学特性と電気特性が得られます。 【特徴】 ○...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イフェクト

  • レーザブレークダウン分光分析装置 LIBS2500plus 製品画像

    レーザブレークダウン分光分析装置 LIBS2500plus

    レーザブレークダウン分光分析装置

    0plusレーザブレークダウン分光分析装置は、一般的 なレーザ誘起ブレークダウン分光法を用い、リアルタイムで微量元素の測定を可能に したシステムです。低価格ながら広帯域(測定バンド幅:200-980nm)、高波長分解能 (〜0.1nm FWHM)でのスペクトル分析、評価を可能にします。またシステムでのご提供 はもちろんのこと、分光器部分(LIBS2500plus)、レーザ、サンプルチャンバなど個々...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 吸光グレーティングマイクロプレートリーダSH-1000Lab 製品画像

    吸光グレーティングマイクロプレートリーダSH-1000Lab

    1nm刻みの高度設定!コストに優れたプレートリーダー

    波長選択 200〜1,000nmより1nmステップで自由設定! コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ ◆特徴◆ ・干渉フィルター方式に比べ、コストパフォーマンスに優れています ・172種類のマイクロプレート、...

    メーカー・取り扱い企業: コロナ電気株式会社

  • スペクトル分光測色計『OSK 97UH TSC420』 製品画像

    スペクトル分光測色計『OSK 97UH TSC420』

    不透明度、白色度指数、黄色度指数など!30種類のテストパラメータ搭載

    偏差ΔE*ab≤0.03 ・平均:dE*ab≤0.04 ・最大:dE*ab≤0.06(白いタイルを5秒間隔で30回測定した場合) ■光源:LED+UV ■開口部:40mm ■波長間隔:10nm ■波長範囲:400-700nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: オガワ精機株式会社

  • 【KTM】測定器 フォトディテクタ Si/Si-UV/Ge 製品画像

    【KTM】測定器 フォトディテクタ Si/Si-UV/Ge

    ジェンテックエレクトロオプティクス社製フォトディテクタ

    測定レンジはピコW、200nmから1.65μmまでの波長が測定可能で、0.2秒の高速応答性を持つフォトディテクタです。...

    メーカー・取り扱い企業: カンタム・ウシカタ株式会社

  • 紫外LED測定用積分球システム 製品画像

    紫外LED測定用積分球システム

    200nm~紫外LED特性評価が可能

    ■測定波長範囲:200-400nm ■LED光束:1mW-2000mW ■6インチスペクトラロン積分球 ■電子冷却裏面入射型高精度分光器 ■NMIトレーサブルXe放射束標準 ■サンプル点灯用電源 ■温調付サンプルホルダ ...

    メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社

  • ギガヘルツ・オプティック社 レーザーパワーメーター 製品画像

    ギガヘルツ・オプティック社 レーザーパワーメーター

    ギガヘルツ・オプティック社 レーザーパワーメーター

    ● 測定範囲:  1)0.0026μ〜500mW  2)60〜10dBm ● 波長範囲:  1)400〜1100nm(Silicon)  2)800〜1800nm(InGaAs)  3)250〜1800nm(Si & InGaAs) ● 積分球(50、30、8mm)付きなのでミスアライメントの心配もなく、フ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • レーザーブレイクダウン分光分析システム 製品画像

    レーザーブレイクダウン分光分析システム

    レーザーブレイクダウン分光分析システム

    ルデータを、LIBSソフトウェアに送り、原子・分子・イオンのデータベースをもとにデータの解析を行います。 システム構成例 ■ 分光器: 高感度分光器AvaSpec-2048-USB2、200nm〜900nm ■ レーザー: Big Sky Ultra Nd:YAG、50mJ@1064nm ■ ソフトウェア: LIBS用ソフト、エクセル出力用ソフトなど ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • 蛍光分光分析システム 製品画像

    蛍光分光分析システム

    蛍光分光分析システム

    分析システムは、工業分野、環境分野、製薬分野、バイオ分野などさまざまな分野でのニーズにお応えいたします。 システム構成例 ■ 分光器: 高感度分光器AvaSpec-2048-USB2、360nm〜1100nm ■ 光源: LED光源、470nmなど ■ アクセサリー: 蛍光分析プローブ、キュベットなど ■ ソフトウェア: 蛍光分析用ソフト、エクセル出力用ソフトなど ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • 分光エリプソメーター GES5E 製品画像

    分光エリプソメーター GES5E

    薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

    半導体 ○太陽電池 ○有機EL ○LED ○ポリマー ○フラットパネルディスプレイ(FPD) ○医療、バイオ ○PETフィルム ○燃料電池 ○グラフェン 【仕様】 ○波長範囲:190nm-2400nm ○測定スピード:全波長範囲 1秒~ 【オプション】 ○FTIR ○ポロシメーター ○マイクロスポット ○コンペンセーター ○自動マッピング・ステージ ○シート抵抗 ○...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 光周波数コム 製品画像

    光周波数コム

    光周波数測定、長さ計測、テラヘルツ波発生などに利用できる光周波数コム

    【仕様】 ■中心波長:1560 nm±20 nm ■出力:≧3 mW、≧50 mW (ファイバアンプオプション) ■スペクトル帯域:≧15 nm ■パルス幅:≦200 fs (チャープ補正時) ■基準周波数源:マイクロ波周波数...

    メーカー・取り扱い企業: ネオアーク株式会社 東京営業部

  • ギガヘルツオプティック社 LED光測定器(照度) 製品画像

    ギガヘルツオプティック社 LED光測定器(照度)

    LEDの分光照度分布、特性を即表示! ドイツのDKD/PTBから認定さ…

    ADC 最大照度測定値:199,999lx(ノイズ量≦0.01lx) 照度校正不確実性:±2.2% <スペクトルセンサー> ダイオードアレイ:256pixel CMOS 波長域:380nm~750nm 積分時間:5.2s~30s センサーシャッター速度:100ms 測定速度:≦5ms (@199,99 lx)、≦1s (@100 lx) <一般仕様> マイクロプロセッサ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • ギガヘルツ・オプティック社 積分球 製品画像

    ギガヘルツ・オプティック社 積分球

    ギガヘルツ・オプティック社 積分球

    ● 反射材料  1.硫酸バリウム(波長:300〜2400nm、反射率:〜97%)  2.OP.DI.MA.(波長:250〜2500nm、反射率:95〜98%)  3.ゴールド(波長:800nm〜20μm、反射率:〜95%) ● 大きさ:φ8〜1700m...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • 逆投影式MTF測定装置 製品画像

    逆投影式MTF測定装置

    レンズの解像性能評価用装置!カメラでの誤差影響が極小!受入検査にもご使…

    式  ※無限も可能 ○レンズポジション:X、Y、Z軸 自動位置決め ○測定サイクル  :3s ○光源      :ハロゲンランプファイバ光源(スペクトル補正)  ※オプションでIR(850nm、940nm)対応可能 ○空間周波数   :0~600 c/mm ○MTF測定精度  :±3% ○繰り返し精度  :±2% ○外形寸法    :レンズの仕様による ●詳しくはお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 京立電機株式会社

  • 【中古】光ファイバ増幅器 AMONICS 製品画像

    【中古】光ファイバ増幅器 AMONICS

    中古計測器:電気計測/絶縁抵抗/信号発生/電力測定:光関連

    【特長/仕様】 特長/仕様はメーカーカタログから一部抜粋。詳細はお問合せ願います。 ●特長確認中です。 ●仕様 ・波長範囲:1570nmから1610nm ・最大出力:22dBm(代表値) ・利得:21/25/30dB切替え ・雑音指数:6.0dB(代表値) ・シングルモードファイバー ・FC/UPCコネクタ(入/出力)※詳...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メジャー

  • 2波長ラインスキャンカメラ『BVC3220/3221LM』 製品画像

    2波長ラインスキャンカメラ『BVC3220/3221LM』

    オプションとしてSWIRレンズ6機種をご用意!SWIR帯域を2つに分け…

    ン、  レンズマウントにはM52マウントを採用 ■SWIRレンズ6機種、20mm、24mm、28mm、35mm、50mm、105mmをご用意 ■SWIR帯域を2つに分けた分光カメラ ■900nm~1680nmの間の任意の2波長を取り扱うカメラも特注品として製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ブルービジョン

  • 4センサーラインスキャンカメラ『BVC6200LM』 製品画像

    4センサーラインスキャンカメラ『BVC6200LM』

    -3dBから+12dBのゲイン設定!3種類の動作モードに対応する4セン…

    映像出力は、カメラリンク・ミディアムコンフィグレーション8ビット×4 R/G/B/SWIRとなっております。 【特長】 ■新開発ラインスキャンカメラ用色分解プリズム光学系 ■400nm~1680nm間で4波長選択のカスタム対応が可能 ■4096画素、7μm正方画素、CMOSセンサ×3 ■1024画素、12.5μm正方画素、SWIRセンサ×1 ■ピクセルクロック 80MHz、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ブルービジョン

  • 分光楕円偏光解析装置 分光エリプソメータMASS-105 製品画像

    分光楕円偏光解析装置 分光エリプソメータMASS-105

    多層膜など多くのパラメーターが一度に解析!小型・高速分光エリプソメータ

    数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法(RQ法) ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・50 度手動可変 ○波長領域:360~900nm ○波長分解能:1.5nm ○寸法:300W×400D×450H mm ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社

  • 吸光度測定用標準試料『STAN-ABS』 製品画像

    吸光度測定用標準試料『STAN-ABS』

    特殊な取り扱い・保管・廃棄の必要はなし!希釈または特別な調整なしで使用…

    電荷のサブミクロン固体球からなる ポリマーベースの標準試料です。 ブラウン運動で結合された固体球サイズの小さい標準試料のため、 ポリマー球の分散が均一です。 紫外域用(200-450nm)の「STAN-ABS-UV」と可視域用(400-900nm)の 「STAN-ABS-VIS」をご用意しております。 【特長】 ■NIST準拠 ■安定性 ■非毒性 ■簡便性 ※...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 透過・吸光度測定用フローセル『FIA-Z-SMAシリーズ』 製品画像

    透過・吸光度測定用フローセル『FIA-Z-SMAシリーズ』

    生産ラインの検査用、装置組み込み、OEM に適した蛍光測定用フローセル

    吸光度測定用フローセルです。 SMA 905の光ファイバを使用し、サンプルへ光源からの光を照射。 その透過光を分光器へ導きます。 また光ファイバ接続口には波長範囲210 - 2000 nmに対応した石英の窓が 取り付けられています。 【特長】 ■サンプルへ光源からの光を照射し、透過光を分光器へ導く ■波長範囲210 - 2000 nmに対応した石英の窓を搭載 ■様々な材...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 照度計『LUMACHECK』 製品画像

    照度計『LUMACHECK』

    軽量でコンパクト!ユニークなシステム設計で、校正の詳細を保存する検出器

    01%/C (0 to 50C)以下 ・照射範囲:UV-A - 0 - 10000 uW/cm2, Visible - 0 - 10000 lux ・スペクトル範囲:UV-A - 315-400nm, Visible - 460-680nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 栄進化学株式会社

  • 濃厚系粒度分布測定器『APS-100/Zeta-APS』 製品画像

    濃厚系粒度分布測定器『APS-100/Zeta-APS』

    サンプルの希釈が不要!粒度分布の形状を仮定せずに測定可能

    「APS-100」は、は超音波の減衰率を測定することにより、濃厚系サンプルの粒度分布を計測します。 サンプルを希釈することなく、撹拌またはポンプ循環しながら、広い粒子径範囲(10nm~100μm)の測定ができます。 「Zeta-APS」は、APS-100 にZeta Acoustic(ESA)の機能を付加した粒度分布/ ゼータ電位測定両用機です。 一度のサンプルセットで...

    メーカー・取り扱い企業: 日本インテグリス合同会社

  • イメージング分光器『MK-300』 製品画像

    イメージング分光器『MK-300』

    非点収差を極限まで減らし、波長両端で発生していた解像度低下を大幅に改善…

    【仕様(抜粋)】 ■逆線分散:2.58nm/mm ■光学系:収差補正型特殊光学系 ■明るさ:F=4.4 ■波長分解能:半値幅0.2nm(3pixels以内) ■迷光:5×10^-3以下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

    メーカー・取り扱い企業: 分光計器株式会社

  • BWT Beijing社 レーザーダイオード 総合カタログ 製品画像

    BWT Beijing社 レーザーダイオード 総合カタログ

    高品質ファイバー結合レーザーダイオードを提供致します!

    eijing社はアメリカと中国のジョイントベンチャーです。 アメリカの品質管理と中国の生産力を生かし中国北京にてファイバーカップル LDの製造を行っております。 LDの波長域は405-9XX nmまで広く対応しているだけでなく、LD電源まで フルサポートしております。 2009年3月より日本市場への販売を弊社有限会社ブロードバンドと代理店契約を 締結し拡販を進めております。 BWT ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ブロードバンド

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