『熱硬化型焼結銅ペースト』半導体パッケージの高集積化に貢献

PR低抵抗・高放熱を実現する銅ペースト。200℃以上の加熱で焼結し、大気硬…

当社の『熱硬化型焼結銅ペースト』は、半導体パッケージに対し 低抵抗・高放熱といった優れた性能を付与できる樹脂含有型ペーストです。 さらに200℃以上の加熱で焼結するほか、大気硬化も可能です。 半導体パッケージの高集積化などへの対応に必要な特性を備えています。 【特徴】 ■銀ペーストと同等の電気的特性を保持しながら、イオンマイグレーションを低減 ■独自の特殊処方で硬化中の酸化を防ぎ、大気硬化によ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ADEKA

資料『次世代半導体の今を説く～SiC・GaN解説～』【進呈中！】

PR次世代半導体SiC・GaNの新情報がここに！

エネルギーの効率的な利用と環境への配慮が今後ますます重要となる中で 従来のシリコン半導体よりも優れた特性を持つ次世代半導体が大きな注目を浴びています。 その中でSiC(シリコンカーバイト)・GaN(窒化ガリウム)の特徴や課題を解説しております。 次世代半導体に触れ、未来の製品開発のヒントとなれば幸いです。ぜひご活用ください。 技術革命の先駆けとなる情報が今すぐあなたの手に。お見逃しなく！ ...

メーカー・取り扱い企業： ジェルグループ【株式会社ジェルシステム／株式会社ナカ アンド カンパニー】

半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品：表面実装型 ICパッケージ（BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA） 、イメージセンサ、センサ製品　等 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター

複素誘電率（複素屈折率）の周波数依存性を計測可能な唯一の装置です。

テラヘルツエリプソメーターとは、光と電磁波の強化周波数である1THz,波長300μm前後の帯域で従来赤外線やミリ波と呼ばれ、この波長域の入射による反射楕円偏光の解析で、半導体の様々な電気的特性を算出する装置です。テラヘルツ波は透過性と物質の同定能力を備え、電波より短波長で微小観察に最適です。低エネルギーですので分子間の結合状態の観察にも応用可能です。西華デジタルイメー...

メーカー・取り扱い企業： 西華デジタルイメージ株式会社

マクロ光学検査装置

世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載したマク…

• 独自開発の超低ノイズセンサーにより非常に高いS/N比で画像取得 • 専用の画像処理アルゴリズムで従来では成しえなかった微小な表面凹凸の定量化が可能 ＜アプリケーション例＞ • 半導体ウエハーのバンプ形状検査 • 半導体チャックの塵検出 • ガラス表面のキズ、ムラ検出 • 表面が微小な凹凸物の形状管理 ...

メーカー・取り扱い企業： 東京エレクトロン デバイス 株式会社

事業案内　検査事例の紹介「半導体」

300mmウェハを１面4秒で検査可能

株式会社テクノスの自動外観検査事例「半導体」をご紹介します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

＜薄膜金属加工製品向け＞欠陥検査装置・欠陥部材除去装置

薄膜金属加工製品の欠陥検査・欠陥部材除去を自動化。製造コスト・人件費の…

★Prest Kappar（欠陥検査装置） 半導体の検査技術および微細化製品の搬送技術を巧みに使用し、 幅広い薄膜金属加工シートの欠陥検出で活躍。 隣り合った製品同士を比較する独自アルゴリズムにより、レシピ作成も容易に行えます。 ★Ra...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Enovasense Field Sensor

高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

溶接部など、従来Ｘ線、ＣＴスキャンが必要な箇所の欠陥検知にも適用可能。 　・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション 　自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体分野。 　コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜、溶接部など様々なアプリケーションで使用可能です。 ※詳しくはPDFダウンロードまたはお問い合わせよりご確認ください。...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

【品質検査の大幅なコスト削減を実現】圧力コントローラPACE

Druckの圧力コントローラは高速圧力校正と制御安定性を同時に実現。品…

ン事例】 ■車載用圧力センサの生産効率の向上事例（下記を参照） ■生産ラインの計測試験の自動化（詳しくは技術資料を参照） ■製造ラインの拡大事例（車載用圧力センサの事例を参照） ■自動車、半導体、電子機器製造、流体制御研究などの分野で幅広く使われています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、ドラックまでお気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

株式会社ラポールシステム　会社案内

計測・制御・通信・メカトロニクスを柱に先端技術分野に大きく貢献していき…

【取扱製品】 ■画像処理関連技術 　・エッジ欠陥検査装置 　・ガラス外観検査装置 　・BGA/CSP外観検査装置 ■半導体（通信／MEMS）関連技術 　・GEMドライバ 　・EES(Equipment Engineering System) 　・半導体装置向けT-BOX(Translator Box) 　・膜...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラポールシステム

IC高精度外観検査装置『LI900W』

半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー　車載製品 実績NO.1

『LI900W』は、車載用IC等の高精度な検査が求められる製品の外観検査に適した装置です。 〇寸法検査 　JEITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。 　2D検査：全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径　等 　3D検査：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高　等 〇高精度欠陥検査 　高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

ウェハ欠陥検査装置

ウェハ搬送ロボから自動外観検査装置まで、半導体用各種装置をご紹介！

伊藤忠マシンテクノスが取り扱う、アテル株式会社の『ウェハ欠陥検査装置』を ご紹介します。 全ての裏面プロセスを全自動で欠陥検出可能な「ウェハ裏面(表面)専用自動 欠陥検出装置」をはじめ、「ウェハ外観検査マクロミクロ装置」や 「卓上ローダー・ソーター装置」など、多種多様な装置を取り揃えております。 【ウェハ裏面 欠陥検出内容】 ■バックグラインド工程による加工時の欠陥 ■ハンド...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社

産業用CT micromelx neo/nanomelx neo

現場での使用に効率的でコンパクトな2D X線および3D CTスキャナの…

『micromelx neo/nanomelx neo』は、1つのシステムで 高分解能2DX線技術と3Dコンピュータ断層撮影(CT)スキャン機能を提供し、 電子機器の半導体、PCBA、リチウムイオンバッテリーなどの電子部品の 非破壊検査(NDT)を実現します。 革新的なエンジニアリングに加えて非常に高い位置決め精度を 備えており、プロセスおよび品質管理、故...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

周波数チューナブルテラヘルツ光源

最大2.7THzまでのテラヘルツ周波数をチューナブルで利用可能！欲しい…

トプティカ社の『TeraScan』チューナブルテラヘルツ光源は半導体レーザーを持ちいた周波数ドメイン発生方式により、0.1THzから最大2.7THzまでの周波数レンジにおいて、欲しい周波数のみをピンポイントで取得できる画期的なテラヘルツ光源です。 ・0.1～...

メーカー・取り扱い企業： トプティカフォトニクス株式会社 営業部

外観検査ソフトウェア『VIS ImageAnalyzer』

ソフトウェアを利用して既存設備を活かして外観検査の自動化を実現しましょ…

電子部品や半導体チップなどの外観検査でこのようなお悩みはありませんか？ ■オペレーターの熟練度により検査結果がにバラつきがあり、欠陥の見落としや過検出が減らない ■どこまでを不良と判断すればよいのか、基準...

メーカー・取り扱い企業： 三谷商事株式会社 ビジュアルシステム部

高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

【サンプル評価可能！】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易！3D…

高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。 　3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

レーザー傷検査装置『穴ライザー　外径タイプ』

レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

【基本仕様】 型式：SG-LSRA 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：直接光 対象口径：φ20～30mm 回転数：15,000rpm 有効測定長：～L40mm ...

メーカー・取り扱い企業： ANALYZER株式会社

発塵検査装置

清浄度検査に新提案、エアブローで発塵・付着粒子を迅速検査

測定条件構築に便利で、ルーティン検査にも対応致します。 装置は、用途に合わせて測定粒子0.1～5.0μm用と0.3～5.0μm用の2種類をご用意しております。アメリカのシリコンバレーを中心に半導体産業向けの高度クリーンルーム内で使用する機材の部品洗浄、技術開発、生産、保守を手掛ける創業1988年のクリーン技術専門企業の発塵検査装置です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

自動外観検査装置 ニューロイメージングシステム

極めて高い精度で対象物の表面検査をすることを実現

構造に着目する(傷検査)と色覚(色検査)がおろそかになり、また逆に色覚に注意を向けると微小構造を見逃します。この問題を、ニューロイメージセンシングはプロセッサを並列処理させることで解決しています。半導体製造時において、深い被写界深度と低コントラスト微小欠陥の可視化が可能な画期的な装置です。...

メーカー・取り扱い企業： 西華デジタルイメージ株式会社

FA/マシンビジョンフィルター

光源とカメラの特性に合わせた適切なフィルターを提供。 白黒/カラー両…

大きな入射角による波長シフトを抑えた「Stable Edge」を採用、LEDや半導体レーザーなどの光源とカメラの特性に合わせたクリアな画像を得られます。 高い透過率を保持しながら、従来の干渉フィルターに比べてより丈夫で薄型、様々なマウントでのお届けが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エムスクェア 東京営業所

結晶欠陥検出装置 フォトルミネッセンスイメージング装置

ウエハの全面測定での欠陥検出に

n）を吸収した後に再発光する現象を観察する手法です。 フォトルミネッセンスイメージング装置は、高い解像度でフォトルミネッセンス画像（PL画像）を取得するだけではなく、分光情報も得られます。そのため半導体ウエハの結晶欠陥の位置を確認することが可能です。装置はエントリーモデルから、ウエハの全面測定やカラーフォトルミネッセンス画像、量産工程用のモデルなど各種モデルをラインナップしております。...

メーカー・取り扱い企業： 西華デジタルイメージ株式会社

電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』

電子部品の初期故障品を見極め！高発熱対応型や省スペース型など多様な品揃…

大村技研の『バーンインシステム』は、半導体デバイスや電子部品に温度や 電気的ストレスを加え、初期故障品の選定に役立つシステムです。 量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで、デバイス品種/処理数、 印加信号等のニーズに沿った...

メーカー・取り扱い企業： 大村技研株式会社

検査装置　オンライン自動外観検査システム「スーパー5000K」

カメラ１台で1,200mmの視野幅を一括検査

する「時空トライアングル・プロセス」 ◯目視の116.5倍の検出精度に加え、 　ヒビなどの線欠陥・スジムラを強力に検出する「進化したトレモア・プロセス」 ◯鉄鋼や自動車などの大きなものから、半導体のウエハなどのサブミクロンオーダーの検査まで、 　枚葉物から長尺物、円筒形状、円盤、立体形状まで、 　対象物の大きさや形にとらわれず検査することが可能 ◯カメラ１台で1,200mmの視野幅を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

株式会社エム・アイ・エル　会社概要・アプリケーション例

欠陥検査に特化した波形処理！地合い変化の大きい背景から微細欠陥を検出し…

エム・アイ・エルは、画像処理技術を駆使した欠陥検査用画像処理装置の 開発・製造・販売メーカーです。 当初は、液晶及び半導体検査が主流でしたが、独自の欠陥検出技術を生かし、 汎用画像処理との差別化を行い、近年は食品（包装不良）、自動車 （金属表面外観）、ガラス・樹脂容器（異物）等市場拡大を図っています。 導入...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エム・アイ・エル

欠陥検査ポイント丸わかりアプリケーション事例集

食品包装・容器や各種部品などの欠陥判定ポイントがわかる！自動外観検査の…

当社は液晶及び半導体検査からスタートし、独自の欠陥検出技術を磨いてまいりました。 汎用的な画像処理とは違う、高い欠陥検出技術を軸に近年は 食品（包装不良）、自動車（金属表面外観）、ガラス・樹脂容器（異物）等へ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エム・アイ・エル

モジュール検査装置　CM8200（指紋認証モジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

た検査装置になります。になります。基本は指紋認証センサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、あらゆる外観検査に対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査まであらゆる欠陥を検査することが可...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

レーザー傷検査装置『穴ライザー　NEO』

レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

【基本仕様】 型式：SG-LSDC-6-203 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：直接光 対象口径：Φ8mm～ 回転数：18,000rpm（従来比20%up） 有効測定長：...

メーカー・取り扱い企業： ANALYZER株式会社

レーザー傷検査装置『穴ライザー　極細タイプ』

レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

【基本仕様】 型式：SG-LSDC 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：直接光 対象口径：Φ4mm～ 回転数：10,000rpm 有効測定長：50mm サンプリ...

メーカー・取り扱い企業： ANALYZER株式会社

レーザー傷検査装置『穴ライザー　外径用ワーク回転タイプ』

レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

【基本仕様】 型式：SG-LSGB 方式：光学スキャニング方式 光源：赤色半導体レーザー（波長635nm～670nm 最大40mW） レーザークラス：クラス2～3B 検出成分：回折光、直接光 対象口径：制限なし 回転数：制限なし 有効測定長：制限なし サンプリング...

メーカー・取り扱い企業： ANALYZER株式会社