半導体 | イプロスものづくり

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エアベアリングステージ

PRエアステージLBTシリーズ

エアステージLBTシリーズ Class1クリーンルーム対応ストロークは50ｍｍ～500ｍｍエンコーダは用途により1um～0.05umまで選択可能真直度、平面度は0.5um/300mm ピッチング、ヨーイングは±2arc sec コイル、マグネット、エンコーダ無しの状態から全て組込み済み状態での納入も可能半導体検査装置用途として海外での納入実績は豊富にあり国内では初めての紹...

メーカー・取り扱い企業： TOYO ROBOTICS株式会社
3分で分かる！マンガ「安全で効率的な液体用のサンプル採取方法」

PRサンプル採取の作業時間を大幅に短縮可能！安全性と利便性に追求したデザ…

「1時間程度かかる作業をもっと短縮して効率良くサンプル採取したい」、「作業者や環境への影響を考慮しつつ確実なサンプル採取を行いたい」など、既存設備における手作業でのサンプル採取にお困りの方必見です！スウェージロックの『流体サンプリング・システム』ならサンプル品質を維持しつつ、安全かつ効率的なサンプル採取を可能にします。主に石油化学、ファインケミカル、半導体向け電子材料・薬液のサンプル採取におけ...

メーカー・取り扱い企業：スウェージロック・ジャパン
【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、 半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。...
メーカー・取り扱い企業：日本カンタム・デザイン株式会社
ローノイズ、ロースペックル半導体レーザー

パビリオン社製のローノイズ半導体レーザーをご紹介

当社では、パビリオン社製の『ローノイズ半導体レーザー』を取扱っています。 半導体レーザーシステムメーカーである同社では、長年の経験を活かし数多くの半導体レーザーを世に送り出してます。特に、ローコヒーレンシー、ローノイズの特...

メーカー・取り扱い企業：オーテックス株式会社
光ファイバー可視光出力半導体レーザー/バイオサイエンス

オプトジェネティクスや蛍光照明用光源のLD:Laser Diode(エ…

光ファイバー出力可視光半導体レーザー光源はオプトジェネティクスや蛍光照明用の光源として使用されます。レーザーにも種類があり、LD:Laser Diode(エルディー)と呼ばれる半導体レーザーです。 Doric社製の半導体レ...

メーカー・取り扱い企業：ライミス有限会社
半導体、セラミックス、学術研究や開発、原子分解能での観察などに！

アズサイエンスおすすめ

分野にお使いいただける、日本電子株式会社商品を3つご紹介いたします。〇JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡　シンプルに、使いやすくしたコストパフォーマンス重視の製品です。初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。〇JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡　日本電子独自の技術で開発...
メーカー・取り扱い企業：アズサイエンス株式会社松本本社
超音波顕微鏡超高速スキャン超音波映像装置

KSI社製の超音波顕微鏡　「V シリーズ」超高速スキャンが半導体分野…

ksi_ultrasonic_principle/ 従来比、約１.５倍の高速スキャン、高SNでの撮像を実現した新デザインプローブおよび新型アンプも採用。本シリーズの応用範囲は幅広く、半導体における複合ウェハ、半導体チップ、半導体パッケージ、LED、めっき、塗装など様々な分野で使用されています。例えば半導体分野においては、非破壊検査ツールとして使用され、X線では検出されにくい剥離/ク...

メーカー・取り扱い企業：株式会社日本レーザー
卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

試料の観察や元素分析が可能！半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段となっています。卓上型SEMの"帯電軽減モード"なら、FE-SEMでは観察できない試料も観察、分析が可能。半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイエンス、生物分野でも活用できます。【特長】 ■半導体、電子部品などの導電性のある試料は主に通常/導電体モードで　SEM観察がお勧め ■プラス...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
DPSS:半導体レーザー「Oxxius」

高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能

半導体レーザー「Oxxius」は、出力安定度が高く円ビームで低ノイズな半導体レーザーシステムです。さらにTTLにて、立ち上がり立ち下がり共に約12nsec,アナログでは2MHzまで変調可能です。【特徴】 ○高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能 ○ビーム真円度　＞90％ ○電源内蔵型詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...

メーカー・取り扱い企業：オーテックス株式会社
半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

1.3メガSWIRカメラ搭載！チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハやチップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、近赤外画像でありながら、高解像画像の取得が可能。 SWI...

メーカー・取り扱い企業：株式会社清和光学製作所
可視光半導体レーザ用　コリメータレンズ　ＣＯ６３シリーズ

可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計。

コリメータレンズ　ＣＯ６３シリーズは可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計された中口径非球面、小口径非球面ガラスコリメータレンズです。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...【特徴】 ※ＣＯ６３－Ａ０６非球面ガラスコリメータレンズ ○中口径非球面ガラスコリメータレンズ ○可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計された中口径非球面ガラスコリ...

メーカー・取り扱い企業：エーエルティー株式会社
【測定事例】　半導体レーザ電極部の熱伝導性評価　【TM3】

半導体レーザ電極部を評価！！

半導体 電極部の熱物性評価ができます。事例では、Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と、そうではない部分がありますが、サーマルマイクロスコープTM3で評価することで、熱浸透率の違いが観察されています。これは絶縁層による放熱性定価を可視化したことになります。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ベテル　ハドソン研究所
【光学機器／半導体／電子部品】精密加工と精密測定！

最短半日見積り／光学機器用部品、装置用部品の制作はお任せ下さい。

計測・検査装置や顕微鏡、内視鏡などの観察装置等、光学機器や装置用部品の制作はお任せください。 ◎アルミ、黄銅（真鍮）、樹脂等、取り扱い材質も豊富にございます。　艶消しアルマイト、黒アルマイトはもちろん、各種表面処理も一括で承ります。 ◎鏡胴枠部品、光学用ワッシャの様な光学機器部品の製作実績がございます。　当社では、材料持ち+全加工+精密寸法測定まで行います。 ◎特に多品種少量、開発部...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エージェンシーアシスト京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)
可視光半導体レーザ用　コリメータレンズ　CO67-AO37

非球面プラスティックコリメータレンズ。CO67-AO37。

コリメータレンズ　CO67-AO37は可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計されたガラスコリメータレンズです。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...【仕様】 ○設計波長：670nm ○焦点距離：4.60mm ○ＮＡ：0.40 ○カバーガラス（設計値）：0.25mm（BK7） ○作動距離（BFL）：2.28mm ○有効径：φ3.7mm ...

メーカー・取り扱い企業：エーエルティー株式会社
ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れがあったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができます。また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
4波長高出力レーザーエンジン　『iChrome MLE』

MLE は異なる3つの波長の半導体レーザと1台のDPSS レーザーをコ…

iChrome MLE は異なる3つの波長の半導体レーザと1台のDPSS レーザーをコンパクトな筐体に一体化したマルチカラーレーザー光源です。各レーザは高い効率でファイバ結合され偏光面保存/SMファイバで出力されます。本体にはインテリジェンスなマ...

メーカー・取り扱い企業：トプティカフォトニクス株式会社営業部
クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法：クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
半導体産業・トレンチ測定向けAFM・SPMプローブ・カンチレバー

狭い溝構造にも入り込む高いアスペクト比のSPM・AFMプローブ！

当製品は、ライン＆スペース、トレンチといったレーザー顕微鏡で測定が難しい深さ方向の定量測定に適しています。今お使いのプローブでの表面形状再現性が低いとお悩みではないでしょうか。探針先端の開き角により溝の形状が正しく測定されていないケースは、先端アスペクト比の高いプローブをお使いいただくことで改善されます。【特長】 ■レーザー顕微鏡で測定が難しい高さ方向の定量測...

メーカー・取り扱い企業：株式会社NanoAndMoreジャパン本社
顕微鏡用部品　

顕微鏡・半導体等の検査に使用するメカニカルステージの開発・製造もお任せ…

【その他製品一覧】 ■半導体装置部品　素材：アルミニウム ■半導体装置部品　素材：アクリル、ジュラコン ■機械部品　素材：真鍮 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：有限会社品川製作所
スキャン方式FFP計測装置

スキャン方式FFP計測装置

　FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現して...

メーカー・取り扱い企業：プレサイスゲージ株式会社
光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

ELやLEDなどの発光素子、フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・データ収集を行うシステ...

メーカー・取り扱い企業：シナジーオプトシステムズ株式会社
プローバー用導電性ナノプローブ

プローバー用導電性ナノプローブ

マイクロおよびナノスケールでの多探針を用いたサンプル表面へのプロービングは、半導体デバイスの故障解析のための表面電気特性測定等、半導体デバイスの研究開発および生産の分野で活用されています。近年、デバイス構造の微細化に伴い、検査用プローブの先鋭化、表面酸化膜の抑制などプローブに要...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ユニソク
10X光学ズームマイクロスコープAZ9T/AZ9C

本体と連携してチャンバー内のリアルタイム観察・記録が可能なマイクロスコ…

マウント） ■鏡体全長：AZ9T 約2500g/ AZ9C 約2000g ・ズーム比10倍レンジは、接眼視野Φ10.6mm～Φ1.06mmと3μm以下の分解能を達成・作動距離90mmは、半導体検査・チャンバー内観察・ピンセット作業・輻射熱対策などの多岐にわたるアプリケーションに対応・開口絞り機構により、コントラストや焦点深度の調整が自由・AZ9Tカメラ直筒とAZ9C三眼鏡筒（2...

メーカー・取り扱い企業：日精株式会社本社
NFP計測装置

NFP計測装置

NFP1006は光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmまで計測可能...

メーカー・取り扱い企業：プレサイスゲージ株式会社
遠赤外線マイクロスコープ

ご要望の対物距離や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを提案いたしま…

『遠赤外線マイクロスコープ』は、遠赤外線顕微鏡レンズと当社カメラを組合わせた、高倍率の遠赤外線カメラです。加冷却熱源との組合せで、半導体部品の非破壊検査などに好適。顕微鏡レンズのラインアップも充実しておりますので、ご要望の対物距離（WD：ワークディスタンス）や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを提案いたします。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ビジョンセンシング
近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』

故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします

『PElR2000HR 20X・50X』は、2000nmで80％以上の透過率を維持した対物レンズです。 半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします。高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを透過してくる赤外光で観察が可能です...

メーカー・取り扱い企業：株式会社清和光学製作所
近紫外対物レンズ『UV/DUV Plan APO20X・50X』

半導体回路やLCDのリペアなどの薄膜加工に最適な長作動距離対物レンズ

物レンズです。可視域と近紫外で使用する波長において、ピントが合うように補正されていいます。近紫外域の分光透過率を高く設計しており、顕微鏡に取付けてYAGレーザを併用することで、半導体回路やLCDのリペアなどの薄膜加工に最適です。【特長】 ■明視野観察用 ■分光透過率を高く設計 ■薄膜加工に最適 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社清和光学製作所
SEM用極高真空装置

SEM用極高真空装置

●特徴本装置は細く絞った電子プローブで試料上を走査し、試料内部から発生する二次電子で結像させることにより表面形状観察をCRTで観察を行う電子検出形表面分析装置です。半導体の側長、検査装置、マスク描画装置などに応用されます。...

メーカー・取り扱い企業：北野精機株式会社
【半導体製造装置関連】自動両面マスク露光機

ウェハ搬送ロボットによる全自動搬送2マガジン対応の自動マスク露光機。

500万画素CCDによるアライメント精度±1.0µm。...掲載装置は参考品となっております。類似品または全く新しい装置の作成に対応致しますので、先ずはお気軽にお問合せ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ライズワン
株式会社スペリア　事業紹介

21世紀の社会ニーズの医療・情報各分野に極的な事業展開をはかっています…

株式会社スペリアは、精密まき線のプロとして特殊コイル製造を行ったり、機械装置組み立て事業として電子顕微鏡ユニット組み立てや半導体関連ユニットの超精密組み立てなどを行っている会社です。また、半導体製造装置用の洗浄槽などの樹脂加工や合理化機械設備等の設計から製作まで一貫しての受注も行っております。【事業内容】 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社スペリア
REFLX 反射型対物レンズ

標準的な透過型対物レンズで問題となる色収差や透過材料自体による光吸収の…

色収差や透過材料自体による光吸収の影響を取り除くことによって、紫外や赤外において高スループット、高解像力を必要とするアプリケーション ‐ 例えばFTIR分光やエリプソメトリー、フォトリソグラフィ、半導体検査など - に最適となります。　 ■19~31mmの作動距離をラインナップ ■一点集光またはイメージングアプリケーションに向けたEO自社設計品 ■能動的アライメントにより最善性能を実現 ■超広...

メーカー・取り扱い企業：エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社
【測定分野】　微小サイズ　【TM3】

薄膜と微小領域の熱物性測定に。微小サイズ粒子も自在に測定可能

ーザにより周期加熱 ○従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能【その他の特長】 ○ＳｉＣ複合材料の評価 →粒子サイズは約１００μｍ、粒子はＳｉＣ（シリコンカーバイド） →次世代半導体材料（ワイドバンドギャップ半導体）、研磨用砥粒などに利用 ○樹脂中に埋め込んだフィラーの熱伝導率測定 →フィラー単独の熱物性値管理が可能 →さらなる熱伝導性向上に必要不可欠なデータが得られる...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ベテル　ハドソン研究所
電子顕微鏡関連機器　電子線描画用パターン発生装置 SPG-724

お使いのSEMの機能を損なうことなく電子線描画が可能です。

電子線描画装置用パターン発生装置 SPG‐724は、半導体を製造するためのものではなく微細回路・微小光学部品・ナノマシンの研究開発を行うためのものです。電子線発生と偏向は、SEMそのもので行っています。SPC‐724をSEMに取付けることで、観察用の...

メーカー・取り扱い企業：サンユー電子株式会社
株式会社マイクロサポート　製品総合カタログ【中文繁体】

【高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体】などの分野における不良…

マイクロサポートでは、高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体市場において、特に品質管理、先端材料研究における様々な微小分析にフォーカスした試料準備ソリューションを提供しています。使いやすく、柔軟性に富み、満足のいく結果のご提供に加え、ソフトウェアや...

メーカー・取り扱い企業：株式会社マイクロサポート本社営業部・開発部
ピコ秒パルス＆CW発振ダイオードレーザー QuixXシリーズ

ピコ秒＆CWの両発振が可能な一体型ダイオードレーザー。375～2090…

100MHz 〇プログラマブル・遅延ジェネレータ：外部デバイスと容易に同期〇高ビーム品質＆高効率ファイバカップリングピコ秒パルス発振と、変調機能付きCW(連続波)発振の両方が可能な半導体レーザーです。パルス発振では最短パルス幅 50 ps、繰返し周波数最高100MHz 。最新の高機能エレクトロニクスの採用により、高い安定性と低ノイズを実現。ピコ秒パルス発振でのパルス間ジッタは ...
メーカー・取り扱い企業：株式会社日本レーザー
超音波顕微鏡『SAM』

非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』をご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の不具合検出に大変威力を発揮します。非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、剥離等の検出ができます。【仕様(抜粋)...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

ーを動かす周期信号とカンチレバーの振動との間の位相遅れをマッピングし、形状には現れない物性の違いを可視化します。【特長】 ■微小プローブによる高分解能でのイメージング ■導体、半導体、絶縁体を問わず測定可能 ■微小な触圧によりほぼ非破壊で測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
アズサイエンスおすすめ商品のご紹介

医学・生物学の分野や、金属、半導体、セラミックスなど様々な分野で活用で…

ここでは、アズサイエンスおすすめ商品である日本電子株式会社の電子顕微鏡を3製品をご紹介いたします。 ■JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡　上位機種の機能をよりシンプルに、使いやすくしました。初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。分析業務のためのソフトが一つになっています。 ■JCM-7000 NeoS...
メーカー・取り扱い企業：アズサイエンス株式会社松本本社
実体顕微鏡用白色LEDリング照明【明るく見やすい】

5000ルクスで十分な明るさを持つ顕微鏡用リング照明。被写体が明るく照…

用。均一な発光を実現　• miniUSBケーブルで電源供給　• 紫外線や熱が少なく被写体を痛めにくい　• 軽量で薄型　• 長寿命で省電力 ■ 用途　• 基板検査　• 半導体検査　• 各種目視検査　• 精密作業　• 微小物質の観察　• 標本観察 ■ 適合実体顕微鏡　• 先端部φ41〜53mmの実体顕微鏡に取り付けることができます。　• 別...

メーカー・取り扱い企業：エーシック株式会社
『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM（透過電子顕微…

TEM（透過電子顕微鏡法）は、薄片化した試料に電子を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中！写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。【掲載内容（一部）】 <TEM...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
赤道儀用デジタルコンパス POLE FINDER NS-10

天体観測・撮影時におけるポータブル赤道儀の極軸合わせをサポート。北極星…

＜amazonで購入可能です。下記アドレスです＞日本国内仕様です重さ120g、サイズ5cm角と軽量・コンパクト。付属の固定プレートでハンディー赤道儀と三脚の間に取り付けます。内蔵の半導体9軸センサーにより、即座に極軸方向に合わせ込めます。バックライト式液晶ディスプレイで、暗所でも極軸合わせをスムースにおこなえます。本製品の概要 ◎天体観測・撮影時におけるポータブル赤...

メーカー・取り扱い企業：株式会社カーネル・ハード・エンジニアリング
透過型電子顕微鏡用試料ホルダー

多くの分野における基礎研究をはじめ、新製品の開発やその評価などに幅広く…

野精機では、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）の実験的な機器・部品を幅広く提供しています。これらの製品は、生物、高分子、セラミックス、半導体、金属など多くの分野における基礎研究をはじめ、新製品の開発やその評価などに幅広く利用されております。　特にTEMホルダーは、研究者の要求に独自のアイデアを注入し、共同で開発され試料内部の形...

メーカー・取り扱い企業：北野精機株式会社
TEMホルダー「透過型電子顕微鏡用試料ホルダー」

御客様の仕様に合わせて試作開発を承っております。

機では、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）の実験的な機器・部品を幅広く提供しています。これらの製品は、生物、高分子、セラミックス、半導体、金属など多くの分野における基礎研究をはじめ、新製品の開発やその評価などに幅広く利用されております。特にTEMホルダーは、研究者の要求に独自のアイデアを注入し、共同で開発され試料内部の形態...

メーカー・取り扱い企業：北野精機株式会社
両面顕微鏡システム『TOMOS-50』

表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました

『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの表裏位置ずれ計測システムです。表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フローベル
コンパクト4色レーザーコンバイナ『iChrome CLE』

効率的＆コンパクト4色レーザーコンバイナ：バイオフォトニクス＆顕…

されます。 405, 488, 561 及び 640 nm それぞれの波長において最大50 mW のファイバー端出力が保証されています。561 nmではトプティカ社独自開発のFDDL(第二高調波半導体レーザー)技術が用いられています。全てのレーザーラインは最大1MHzの高速で直接変調が可能で、低消費電力、OFFの状態ではいわゆる”ゼロフォトン”に例えられる完全消灯"Complete OFF"が...

メーカー・取り扱い企業：トプティカフォトニクス株式会社営業部
原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』　

最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

ボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能　およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を　ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：パーク・システムズ・ジャパン株式会社
デジタルマイクロスコープDSX1000（EVIDENT）

マクロからミクロまで、マルチ対応力 半導体ウエハなどの薄型・微細…

・23～8,220倍の観察倍率を実現し、マクロからミクロ領域まで幅広く観察できます。・被写界深度が深く観察距離も長い対物レンズにより、凹凸のあるサンプルも苦にしません。・観察の自由度を向上させる斜め観察、θ回転によりサンプルを様々な角度から観察できます。 ...◆瞬時に欠陥を見つけ出す、マルチアプローチ倍率と観察方法を簡単＆瞬間的に切替・すべてのレンズ・倍率で多彩な観察方法に適応...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ナガタ